本技術(shù)涉及一種芯片測試，特別是涉及一種芯片測試分選裝置，屬于芯片測試。

背景技術(shù)：

1、芯片是電路小型化的方式，采用一定的工藝，把一個電路中所需的晶體管、電阻、電容和電感等元件及布線互連一起，制作在一小塊或幾小塊半導(dǎo)體晶片或介質(zhì)基片上，然后封裝在一個管殼內(nèi)，成為具有所需電路功能的微型結(jié)構(gòu)，芯片生產(chǎn)時要對其外觀質(zhì)量進(jìn)行測試分選出成品芯片與次品芯。

2、而現(xiàn)有的芯片測試分選裝置，在實際使用時，不能便于對芯片進(jìn)行夾持定位，導(dǎo)致芯片在測試時會發(fā)生移動的，進(jìn)而會影響芯片測試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、本實用新型的主要目的是為了解決不能便于對芯片進(jìn)行夾持定位的問題，而提供一種芯片測試分選裝置。

2、本實用新型的目的可以通過采用如下技術(shù)方案達(dá)到：

3、一種芯片測試分選裝置，包括支撐臺以及安裝在所述支撐臺上安裝有第一連接板，所述第一連接板上安裝有液壓伸縮桿，所述液壓伸縮桿的輸出端安裝有夾持架，所述支撐臺上安裝有電機(jī)，所述電機(jī)的輸出端安裝有放置板，所述第一連接板上安裝有第一支撐腿，所述第一支撐腿上設(shè)置有頂板，所述頂板上安裝有第一連接桿，所述第一連接桿的底部安裝有檢測器，所述支撐臺上安裝有第二連接板，所述第二連接板上安裝有指示燈，所述支撐臺的下方設(shè)置有第一收納箱，所述支撐臺的一側(cè)設(shè)置有第二收集箱。

4、優(yōu)選的，所述夾持架的一側(cè)安裝有第二連接桿，所述第二連接桿上安裝有第二滑塊，所述第二連接板上開設(shè)有與所述第二滑塊相互配合的第二滑槽，所述第二滑塊為t形滑塊，所述第二滑槽為t形滑槽。

5、優(yōu)選的，放置板上安裝有轉(zhuǎn)塊，所述支撐臺上開設(shè)有與所述轉(zhuǎn)塊相互配合的轉(zhuǎn)槽，所述轉(zhuǎn)塊上開設(shè)有多個轉(zhuǎn)腔，所述轉(zhuǎn)腔的內(nèi)部轉(zhuǎn)動安裝有滾珠。

6、優(yōu)選的，所述支撐臺的底部安裝有第二支撐腿，所述第二支撐腿的底部安裝有底板，所述底板上滑動安裝有所述第一收納箱，所述第一收納箱上安裝有第一握把，所述第一握把上安裝有第一防滑墊。

7、優(yōu)選的，所述第一收納箱的底部安裝有第一滑塊，所述底板上開設(shè)有與所述第一滑塊相互配合的第一滑槽，所述第一滑塊為t形滑塊，所述第一滑槽為t形滑槽。

8、優(yōu)選的，所述支撐臺的一側(cè)安裝有第三連接桿，所述第三連接桿上安裝有連接塊，所述第二收集箱上安裝有第三連接板，所述第三連接板的底部安裝有插塊，所述連接塊上開設(shè)有與所述插塊相互配合的插槽。

9、優(yōu)選的，所述第二收集箱的內(nèi)部安裝有多個隔板，所述第二收集箱上安裝有多個第二握把，所述第二握把上安裝有第二防滑墊。

10、本實用新型的有益技術(shù)效果：

11、1、按照本實用新型的芯片測試分選裝置，通過設(shè)置液壓伸縮桿，液壓伸縮桿啟動帶動夾持架移動能夠?qū)Ψ胖冒迳系男酒M(jìn)行夾持，能夠避免芯片在測試時發(fā)生偏移影響測試效果。

12、2、通過設(shè)置電機(jī)，電機(jī)啟動帶動放置板轉(zhuǎn)動能夠?qū)?，不合格的芯片輸送到第一收納箱中，對不合格的芯片進(jìn)行收納放置，通過設(shè)置第二收集箱，能夠便于收納合格的芯片。

技術(shù)特征：

1.一種芯片測試分選裝置，其特征在于，包括支撐臺(1)以及安裝在所述支撐臺(1)上安裝有第一連接板(2)，所述第一連接板(2)上安裝有液壓伸縮桿(9)，所述液壓伸縮桿(9)的輸出端安裝有夾持架(24)，所述支撐臺(1)上安裝有電機(jī)(12)，所述電機(jī)(12)的輸出端安裝有放置板(11)，所述第一連接板(2)上安裝有第一支撐腿(3)，所述第一支撐腿(3)上設(shè)置有頂板(4)，所述頂板(4)上安裝有第一連接桿(5)，所述第一連接桿(5)的底部安裝有檢測器(6)，所述支撐臺(1)上安裝有第二連接板(8)，所述第二連接板(8)上安裝有指示燈(7)，所述支撐臺(1)的下方設(shè)置有第一收納箱(15)，所述支撐臺(1)的一側(cè)設(shè)置有第二收集箱(20)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種芯片測試分選裝置，其特征在于，所述夾持架(24)的一側(cè)安裝有第二連接桿(10)，所述第二連接桿(10)上安裝有第二滑塊(25)，所述第二連接板(8)上開設(shè)有與所述第二滑塊(25)相互配合的第二滑槽，所述第二滑塊(25)為t形滑塊，所述第二滑槽為t形滑槽。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種芯片測試分選裝置，其特征在于，放置板(11)上安裝有轉(zhuǎn)塊(26)，所述支撐臺(1)上開設(shè)有與所述轉(zhuǎn)塊(26)相互配合的轉(zhuǎn)槽，所述轉(zhuǎn)塊(26)上開設(shè)有多個轉(zhuǎn)腔，所述轉(zhuǎn)腔的內(nèi)部轉(zhuǎn)動安裝有滾珠(27)。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種芯片測試分選裝置，其特征在于，所述支撐臺(1)的底部安裝有第二支撐腿(13)，所述第二支撐腿(13)的底部安裝有底板(14)，所述底板(14)上滑動安裝有所述第一收納箱(15)，所述第一收納箱(15)上安裝有第一握把(17)，所述第一握把(17)上安裝有第一防滑墊。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種芯片測試分選裝置，其特征在于，所述第一收納箱(15)的底部安裝有第一滑塊(16)，所述底板(14)上開設(shè)有與所述第一滑塊(16)相互配合的第一滑槽，所述第一滑塊(16)為t形滑塊，所述第一滑槽為t形滑槽。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種芯片測試分選裝置，其特征在于，所述支撐臺(1)的一側(cè)安裝有第三連接桿(18)，所述第三連接桿(18)上安裝有連接塊(19)，所述第二收集箱(20)上安裝有第三連接板(23)，所述第三連接板(23)的底部安裝有插塊(28)，所述連接塊(19)上開設(shè)有與所述插塊(28)相互配合的插槽。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種芯片測試分選裝置，其特征在于，所述第二收集箱(20)的內(nèi)部安裝有多個隔板(22)，所述第二收集箱(20)上安裝有多個第二握把(21)，所述第二握把(21)上安裝有第二防滑墊。

技術(shù)總結(jié)
本技術(shù)公開了一種芯片測試分選裝置，屬于芯片測試技術(shù)領(lǐng)域，包括支撐臺以及安裝在支撐臺上安裝有第一連接板，第一連接板上安裝有液壓伸縮桿，液壓伸縮桿的輸出端安裝有夾持架，支撐臺上安裝有電機(jī)，電機(jī)的輸出端安裝有放置板，第一連接板上安裝有第一支撐腿，第一支撐腿上設(shè)置有頂板，頂板上安裝有第一連接桿，第一連接桿的底部安裝有檢測器。本技術(shù)通過設(shè)置液壓伸縮桿，液壓伸縮桿啟動帶動夾持架移動能夠?qū)Ψ胖冒迳系男酒M(jìn)行夾持，能夠避免芯片在測試時發(fā)生偏移影響測試效果。

技術(shù)研發(fā)人員：楊榮輝,陸小藝
受保護(hù)的技術(shù)使用者：深圳市芯特智能裝備有限公司
技術(shù)研發(fā)日：20240423
技術(shù)公布日：2024/12/26