專利名稱：：大功率ntc熱敏電阻芯片手工分選夾具的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
：本實用新型涉及敏感元件制造
技術(shù)領(lǐng)域：
，特別涉及一種用于大功率NTC熱敏電阻芯片制造的手工分選夾具。
背景技術(shù)：
：功率型熱敏電阻主要用各種電路和電氣裝置的浪涌電流吸收，提高電子設(shè)備的可靠性和使用壽命。功率型NTC熱敏電阻的主要特點是體積大，額定功率大，B值高，電阻值小，結(jié)構(gòu)為圓片形。功率型NTC熱敏電阻的核心是芯片，芯片的性能決定了產(chǎn)品的參數(shù)。為了確保產(chǎn)品的一致性和良品率，在芯片制造過程須對包封前的芯片進(jìn)行分選。對大功率(直徑大于20mm)的芯片通常采用人工分選。由于分選時環(huán)境溫度差引起阻值變化高達(dá)士20%，因此分選精度不能保證，分選的合格的芯片中有相當(dāng)數(shù)量(約20%)超出規(guī)定值。設(shè)計一種精度高、速度快的人手分選夾具乃功率型熱敏電阻制造者所希望的事。熱敏電阻對溫度十分敏感，其電阻值與溫度的關(guān)系可表示為RT=R25eB(1/τ_1/298_15)。當(dāng)B值(材料常數(shù)決定于材料配方)一定時，電阻值的變化將取決溫度。當(dāng)T=250C(即298.15Κ)時，Rt=R25(即熱敏電阻額定值-產(chǎn)品的基本參數(shù))。若T彡25°C，則RT(R250計算表明對于額定阻值R25=5Ω，B=2800Κ的功率型熱敏電阻，當(dāng)環(huán)境溫度增大或減小士3.0°C時，阻值誤差為0.1Ω-0.2Ω。對允許誤差邊緣的芯片即可合格品或不合格品。在此情況，芯片的分選將失去了意義。研究表明，將同批元件的標(biāo)準(zhǔn)片(具有待分選芯片相同的B值，相同的體積，和具有規(guī)定的額定阻值(比如民5=50、100、80))與被分選芯片接入惠斯登電橋相鄰的兩個臂，分選過程中保持電橋平衡，即可消除，由于環(huán)境溫差引起的測量誤差，達(dá)到精確的分選。標(biāo)準(zhǔn)芯片的安裝必與被測元件處在同一位。避免由于標(biāo)準(zhǔn)片與待測片不同位置的環(huán)境溫度差帶來的影響。目前對于功率較小的(如直徑小于20mm)功率型NTC熱敏電阻芯片分選已有自動分選機(jī)，但由于標(biāo)準(zhǔn)片與分選片的距離過大，往往是由于環(huán)境溫度波動，致使標(biāo)準(zhǔn)片與分選片溫差過大，而使自動分選失敗。大功率NTC熱敏電阻芯片(系數(shù)直徑大于20mm)由于體積大，熱時間常數(shù)較長(通常τ>60seC)。對溫度變化響應(yīng)較慢。環(huán)境溫度的變化總是連續(xù)的，緩慢的，在每分選的持續(xù)時間(通常為(l-1.5)SeC)內(nèi)，標(biāo)準(zhǔn)片不會因為環(huán)境溫度變化而引起誤差。因此，對于大功率熱敏電阻分選，勿需將標(biāo)準(zhǔn)片和測試片接入電橋，只需將待測芯片與標(biāo)準(zhǔn)片的阻值進(jìn)行對比，消除其誤差即可。本實用新型提供的夾具乃是根據(jù)這一原理設(shè)計的。
實用新型內(nèi)容本實用新型所要解決的問題是，如何提供一種新型的大功率NTC熱敏電阻芯片手工分選夾具，該手工分選夾具具有結(jié)構(gòu)簡單合理、使用方便、制作成本低、分選方便快捷等優(yōu)點，可測各種NTC熱敏電阻芯片，特別適合直徑大于20mm的大功率NTC熱敏電阻芯片，分選速度1500只/小時，測量精度優(yōu)士3%是一種理想的手工分選結(jié)果。[0007]為達(dá)到上述發(fā)明目的，本實用新型所采用的技術(shù)方案為提供一種大功率NTC熱敏電阻芯片手工分選夾具，其特征在于，所述手工分選夾具包括測試探針架、拉緊彈簧、塑料支架、絕緣底板、公共電極板和標(biāo)準(zhǔn)芯片電極板；所述測試探針架一端設(shè)置有一常閉測量探針，另一端設(shè)置有一常開測量探針，測試探針架中部活動鏈接在塑料支架上；在所述塑料支架與常閉測量探針之間設(shè)置有一拉緊彈簧，拉緊彈簧的一端與測試探針架相連接，拉緊彈簧的另一端連接在絕緣底板上；所述測試探針架在設(shè)置有常開測量探針的一端設(shè)置有一絕緣手柄；所述塑料支架底部與絕緣底板連為一體結(jié)構(gòu)，塑料支架上方與測試探針架鏈接處設(shè)置有測試探針引線；所述常開測量探針下方的絕緣底板上面設(shè)置有公共電極板和公共電極引線，絕緣底板下面設(shè)置有標(biāo)準(zhǔn)芯片電極板；所述絕緣底板上與常閉測量探針相對應(yīng)的位置處設(shè)置有與常閉測量探針相互配合工作的常閉接點；所述公共電極板和標(biāo)準(zhǔn)芯片電極板之間設(shè)置有標(biāo)準(zhǔn)芯片，所述公共電極板上方設(shè)置待分選的NTC熱敏電阻芯片；所述公共電極引線與萬用表的公共極相接通。按照本實用新型所提供的大功率NTC熱敏電阻芯片手工分選夾具，其特征在于所述測試探針架采用黃銅制成。按照本實用新型所提供的大功率NTC熱敏電阻芯片手工分選夾具，其特征在于所述公共電極板和標(biāo)準(zhǔn)芯片電極板均為圓形或方形的紫銅板。由上述的技術(shù)方案可知，本實用新型所提供的大功率NTC熱敏電阻芯片手工分選夾具具有結(jié)構(gòu)簡單合理、使用方便、制作成本低、分選方便快捷等優(yōu)點，可測各種NTC熱敏電阻芯片，特別適合直徑大于20mm的大功率NTC熱敏電阻芯片，分選速度1500只/小時，測量精度優(yōu)士3%是一種理想的手工分選結(jié)果。圖1為大功率NTC熱敏電阻芯片手工分選夾具的結(jié)構(gòu)簡圖。其中，1、測試探針架；2、常閉接點；3、拉緊彈簧；4、塑料支架；5、公共電極板；6、標(biāo)準(zhǔn)芯片電極板；7、待分選的NTC熱敏電阻芯片；8、標(biāo)準(zhǔn)芯片；9、絕緣手柄；10、公共電極引線；11、測試探針引線；12、常閉測量探針；13、常開測量探針；14、絕緣底板。具體實施方式以下結(jié)合附圖對本實用新型的具體實施方式進(jìn)行詳細(xì)的描述。如圖所示，該大功率NTC熱敏電阻芯片手工分選夾具包括包括測試探針架1、拉緊彈簧3、塑料支架4、絕緣底板14、公共電極板5和標(biāo)準(zhǔn)芯片電極板6；所述測試探針架1一端設(shè)置有一常閉測量探針12，另一端設(shè)置有一常開測量探針13，測試探針架1中部活動鏈接在塑料支架4上；在所述塑料支架4與常閉測量探針12之間設(shè)置有一拉緊彈簧3，拉緊彈簧3的一端與測試探針架1相連接，拉緊彈簧3的另一端連接在絕緣底板14上；所述測試探針架1在設(shè)置有常開測量探針13的一端設(shè)置有一絕緣手柄9；所述塑料支架4底部與絕緣底板14連為一體結(jié)構(gòu)，塑料支架4上方與測試探針架1鏈接處設(shè)置有測試探針引線11；所述常開測量探針13下方的絕緣底板14上面設(shè)置有公共電極板5和公共電極引線10，絕緣底板14下面設(shè)置有標(biāo)準(zhǔn)芯片電極板6；所述絕緣底板14上與常閉測量探針12相對應(yīng)的位置處設(shè)置有與常閉測量探針12相互配合工作的常閉接點2；所述公共電極板5和標(biāo)準(zhǔn)芯片電極板6之間設(shè)置有標(biāo)準(zhǔn)芯片8，所述公共電極板5上方設(shè)置待分選的NTC熱敏電阻芯片7；所述公共電極引線10與萬用表的公共極相接通。所述測試探針架1采用黃銅制成。所述公共電極板5和標(biāo)準(zhǔn)芯片電極板6均為圓形或方形的紫銅板。該大功率NTC熱敏電阻芯片分選夾具可根據(jù)工作需要和方便確定其尺寸。該大功率NTC熱敏電阻芯片分選夾具特別之處在于用作對比的標(biāo)準(zhǔn)芯片8與待分選的NTC熱敏電阻芯片7安放在同一位置，消除環(huán)境溫度的差異對測試結(jié)果的影響；測試探針設(shè)計成不測量時始終與標(biāo)準(zhǔn)片接通，萬用表顯示出標(biāo)準(zhǔn)芯片的阻值，以便測試人員觀察標(biāo)準(zhǔn)片阻值隨環(huán)境溫度的變化。測量時(分選時)只需注意測量的阻值與標(biāo)準(zhǔn)芯片阻值的偏差在士15%范圍內(nèi)，即為合格品。下面對采用該大功率NTC熱敏電阻芯片分選夾具進(jìn)行芯片分選的具體實施例進(jìn)行詳細(xì)地描述。實施例I:大功率NTC熱敏電阻芯片手工分選夾具按如下規(guī)格設(shè)計測試探針架1的長為150mm，活動孔距常閉測量探針12的距離為40mm，拉緊彈簧3孔距常閉接點探針的距離為20mm，量探針的長度為15mm；塑料支架4高度為45mm；絕緣底板14厚度為8mm，長度為200mm，寬度為120mm；塑料支架4距常閉接點2端的距離為60mm；公共電極板5長度為120mm，寬度為30mm，厚度3mm的紫銅板；標(biāo)準(zhǔn)芯片電極板6的長度為200mm,寬度為30mm，厚度為3mm的紫銅板。根據(jù)支架的尺寸和位置決定各固定螺絲孔。測量8D-20芯片，其結(jié)果如下表<table>tableseeoriginaldocumentpage5</column></row><table>結(jié)果表明用本實用新型提供手工分選夾具每小時可分選1800片，分選精度為士3.0%，在該類產(chǎn)品士20%的允許誤差范圍內(nèi)，能滿足生產(chǎn)的要求。實施例II用實施例I相同的夾具對3D-25產(chǎn)品(B=2900K)進(jìn)行分選其結(jié)果如下表<table>tableseeoriginaldocumentpage5</column></row><table><table>tableseeoriginaldocumentpage6</column></row><table>結(jié)果表明，隨著分選芯片直徑的增大，分選的精度提高，這是因為芯片的體積增大，熱時間常下降，標(biāo)準(zhǔn)片隨環(huán)境溫度波動變慢，對測試結(jié)果影響減弱的結(jié)果，但隨著芯片直徑增大由于操作上的原因，分選速度會下降。實施例III<table>tableseeoriginaldocumentpage6</column></row><table>[0032]結(jié)果表明，如實施例II一樣，隨著芯片直徑增大，分選精度提高，B值對分選精度基本上沒有影響。實施例IV采用實施例I相同的夾具，對5D-9(B=2600K)產(chǎn)品進(jìn)行分選其結(jié)果如下表<table>tableseeoriginaldocumentpage6</column></row><table>結(jié)果表明，隨著芯片直徑變小，芯片的熱時間常數(shù)變小，測試過程中環(huán)境溫度變化對測試結(jié)果的影響增大，但在允許士20%的誤差范圍內(nèi)，分選結(jié)果仍能達(dá)到要求的精度。根據(jù)實施例I、實施例II、實施例III和實施例IV，本實用新型提供的大功率NTC熱敏電阻芯片手工分選夾具，對直徑大于20mm的產(chǎn)品的分選精度優(yōu)于士3.0%，分選速度大于1500片/小時；分選精度隨芯片直徑的增大而提高，但速度有所下降，根據(jù)實施例提供的結(jié)果表明，本實用新型提供的夾具特別適于實際的大功率NTC熱敏電阻的生產(chǎn)。雖然結(jié)合附圖對本專利的具體實施方式進(jìn)行了詳細(xì)的描述，在本專利所附權(quán)利要求所描述的保護(hù)范圍內(nèi)本領(lǐng)域技術(shù)人員不需要創(chuàng)造性勞動即可進(jìn)行的各種修改或變形仍屬本專利的保護(hù)范圍。權(quán)利要求一種大功率NTC熱敏電阻芯片手工分選夾具，其特征在于，所述手工分選夾具包括測試探針架(1)、拉緊彈簧(3)、塑料支架(4)、絕緣底板(14)、公共電極板(5)和標(biāo)準(zhǔn)芯片電極板(6)；所述測試探針架(1)一端設(shè)置有一常閉測量探針(12)，另一端設(shè)置有一常開測量探針(13)，測試探針架(1)中部活動鏈接在塑料支架(4)上；在所述塑料支架(4)與常閉測量探針(12)之間設(shè)置有一拉緊彈簧(3)，拉緊彈簧(3)的一端與測試探針架(1)相連接，拉緊彈簧(3)的另一端連接在絕緣底板(14)上；所述測試探針架(1)在設(shè)置有常開測量探針(13)的一端設(shè)置有一絕緣手柄(9)；所述塑料支架(4)底部與絕緣底板(14)連為一體結(jié)構(gòu)，塑料支架(4)上方與測試探針架(1)鏈接處設(shè)置有測試探針引線(11)；所述常開測量探針(13)下方的絕緣底板(14)上面設(shè)置有公共電極板(5)和公共電極引線(10)，絕緣底板(14)下面設(shè)置有標(biāo)準(zhǔn)芯片電極板(6)；所述絕緣底板(14)上與常閉測量探針(12)相對應(yīng)的位置處設(shè)置有與常閉測量探針(12)相互配合工作的常閉接點(2)；所述公共電極板(5)和標(biāo)準(zhǔn)芯片電極板(6)之間設(shè)置有標(biāo)準(zhǔn)芯片(8)，所述公共電極板(5)上方設(shè)置待分選的NTC熱敏電阻芯片(7)；所述公共電極引線(10)與萬用表的公共極相接通。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的大功率NTC熱敏電阻芯片手工分選夾具，其特征在于所述測試探針架(1)采用黃銅制成。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的大功率NTC熱敏電阻芯片手工分選夾具，其特征在于所述公共電極板(5)和標(biāo)準(zhǔn)芯片電極板(6)均為圓形或方形的紫銅板。專利摘要本實用新型公開了一種大功率NTC熱敏電阻芯片手工分選夾具，是由測量探針架、塑料絕緣支架、公共電板和標(biāo)準(zhǔn)芯片電極及常閉接點構(gòu)成。該夾具在不分選的任何時間測量探針均與標(biāo)準(zhǔn)芯片接觸，提供標(biāo)準(zhǔn)芯片的阻值和環(huán)境溫度的信息，僅當(dāng)分選時探針才與被分選芯片接觸，借助大功率芯片的長的熱時間常數(shù)，削弱了環(huán)境溫差對測試分選的影響。該夾具可測各種NTC熱敏電阻芯片，特別適合直徑大于20mm的大功率NTC熱敏電阻芯片，分選速度1500只/小時，測量精度優(yōu)±3％是一種理想的手工分選結(jié)果。文檔編號B07C5/344GK201552143SQ20092024335公開日2010年8月18日申請日期2009年11月19日優(yōu)先權(quán)日2009年11月19日發(fā)明者周軍有,唐本棟,陶明德申請人:四川西漢電子科技有限責(zé)任公司