專利名稱：集成電路測試加熱制冷結(jié)構(gòu)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及集成電路IC的成品測試，尤其涉及IC在極端高溫或低溫狀態(tài)下的集成電路測試加熱制冷結(jié)構(gòu)。
背景技術(shù)：
某些集成電路的使用要考慮到極端氣候環(huán)境的影響，在南部極熱溫度可能達到+(50 60) °C，汽車發(fā)動機旁的溫度會達到100多度，而北部極冷溫度可達到-(40 50) °C，有這些情況的存在就必然要考慮到集成電路的高溫和低溫測試。傳統(tǒng)的高低溫測試主要借助物理方式進行加熱和制冷。IC通過導軌進入腔體內(nèi)，高溫加熱是通過加裝在腔體內(nèi)的電熱絲等加熱體對腔體進行加熱，使腔體內(nèi)的IC達到一定的溫度再進行測試，這種方式難以控制且受熱不均勻(如附圖6);低溫制冷是通過液氮方式，將液氮儲存罐中的液氮經(jīng)控制閥注入保溫腔體內(nèi)，液氮揮發(fā)使腔體內(nèi)IC降溫到一定的負溫度，再進行測試(如附圖4和附圖5)。這種通過液氮的制冷方式有很多弊端，運輸和更換儲氣罐既麻煩又有風險，成本也很高，在更換過程中還必須要停止生產(chǎn)，造成大量時間的浪費；隨著儲存罐內(nèi)液氮的消耗，壓力遞減，制冷效果也隨之遞減，很難將保溫腔內(nèi)的溫度恒定在某個溫度；更重要的是，大量液氮揮發(fā)后產(chǎn)生的氮氣排入空氣中，會使空氣中氮氣的含量升高而導致空氣中各氣體成分失衡，造成空氣污染。
發(fā)明內(nèi)容針對以上高溫和低溫難以控制、換氣麻煩、空氣污染等難題，本實用新型改變原有能源提供方式，解決因高溫源和低溫源缺陷產(chǎn)生的不足，提供一種能夠持續(xù)產(chǎn)生高、低溫氣源的集成電路IC加熱制冷結(jié)構(gòu)。實現(xiàn)本實用新型的技術(shù)方案如下:集成電路測試加熱制冷結(jié)構(gòu)，包括:高低溫干燥空氣源箱、供氣管道、回氣管道、IC保溫腔體、IC導軌、溫控器等。所述的高低溫干燥空氣源箱分別連接供氣管道和回氣管道；供氣管道和回氣管道連接IC保溫腔體，高低溫干燥空氣源箱是通過交流電及壓縮機產(chǎn)生高溫或低溫空氣，溫度可以調(diào)節(jié)和設(shè)置，最高溫度可達+200°c正常測試，最低可進行-80°c正常測試；IC保溫腔體包括腔體底和腔體蓋子，整個腔體由耐高低溫材料密封組成，具有絕對保溫效果；IC導軌置于腔體內(nèi)底部，IC進入腔體導軌內(nèi)，經(jīng)過一定的時間達到恒定溫度；腔體內(nèi)由均勻分布的若干個溫控器調(diào)節(jié)和控制溫度。所述的高低溫干燥空氣源設(shè)置為預定溫度后，高溫或低溫空氣自供氣管道進入腔體內(nèi)，加熱、冷卻腔體內(nèi)的1C，再由回氣管道返回到高、低溫干燥空氣源箱，形成一個循環(huán)回路。IC自導軌入口進入腔體內(nèi)的IC導軌中，由腔體內(nèi)的三處溫控器感應(yīng)腔體內(nèi)的溫度，當溫度偏低或偏高時，溫控器會發(fā)出信號給高低溫空氣源箱，以此來調(diào)節(jié)溫度，達到恒溫的效果，溫度偏差范圍可控制在±0.5°C以內(nèi)。據(jù)實際需要設(shè)定IC在腔體內(nèi)的停留時間從而讓IC達到需要的溫度，再在腔體內(nèi)完成測試，然后經(jīng)導軌流出腔體。因此集成電路IC的加熱制冷方式就是將達到恒定溫度的高溫或低溫空氣注入保溫腔體，達到對IC加熱或制冷的目的。本實用新型節(jié)省時間、節(jié)省能源、方便實用、降低了成本，高低溫干燥空氣源可保障生產(chǎn)的連續(xù)、無污染生產(chǎn)。

圖1是本實用新型高低溫測試腔體蓋子打開結(jié)構(gòu)示意圖；圖2是本實用新型高低溫測試正常工作狀態(tài)結(jié)構(gòu)示意圖；圖3是本實用新型高低溫測試腔體蓋子打開局部結(jié)構(gòu)示意圖；圖4是傳統(tǒng)的高低溫測試腔體蓋子打開結(jié)構(gòu)示意圖；圖5是傳統(tǒng)的高低溫測試正常工作狀態(tài)結(jié)構(gòu)示意圖；圖6是傳統(tǒng)的高低溫測試腔體蓋子打開局部結(jié)構(gòu)示意圖。圖中標號說明:1-高低溫干燥空氣源箱 2-回氣管道 3-供氣管道 4-腔體蓋子5-1C導軌6-溫控器7-1C 8-腔體底9-1C保溫腔體
具體實施方式
如附圖1、2、3所示，所述的高低溫干燥空氣源箱I分別連接供氣管道3和回氣管道2 ;供氣管道3和回氣管道2連接IC保溫腔體9，高低溫干燥空氣源箱I是通過交流電及壓縮機產(chǎn)生高溫或低溫空氣，溫度可以調(diào)節(jié)和設(shè)置，最高溫度可達+200°C正常測試，最低可進行-80°C正常測試；IC保溫腔體9包括腔體底8和腔體蓋子4，整個腔體由耐高低溫材料密封組成，具有絕對保溫效果；IC導軌5置于腔體內(nèi)底部，IC進入腔體導軌內(nèi)，經(jīng)過一定的時間達到恒定溫度；腔體內(nèi)由均勻分布的若干個溫控器6調(diào)節(jié)和控制溫度。當高低溫干燥空氣源設(shè)置為預定溫度后，高溫或低溫空氣自供氣管道3進入腔體內(nèi)，加熱、冷卻腔體內(nèi)的IC7，再由回氣管道2返回到高低溫干燥空氣源箱1，形成一個循環(huán)回路。IC7自導軌入口進入腔體內(nèi)的IC導軌5中，由腔體內(nèi)的三處溫控器6感應(yīng)腔體內(nèi)的溫度，當溫度偏低或偏高時，溫控器6會發(fā)出信號給高低溫空氣源箱1，以此來調(diào)節(jié)溫度，達到恒溫的效果，溫度偏差范圍可控制在±0.5°C以內(nèi)。據(jù)實際需要設(shè)定IC7在腔體內(nèi)的停留時間從而讓IC7達到需要的溫度，再在腔體內(nèi)完成測試，然后經(jīng)導軌流出腔體。因此集成電路IC的加熱制冷方式就是將達到恒定溫度的高溫或低溫空氣注入保溫腔體，達到對IC加熱或制冷的目的。其優(yōu)點是不需要更換任何東西，只需要一臺高低溫氣源設(shè)備及測試分選機就能實現(xiàn)，節(jié)省了時間、節(jié)省能源、方便實用、降低了成本，高低溫干燥空氣源可保障生產(chǎn)的連續(xù)、無污染。
權(quán)利要求1.集成電路測試加熱制冷結(jié)構(gòu)，包括:高低溫干燥空氣源箱、供氣管道、回氣管道、IC保溫腔體、IC導軌、溫控器，其特證在于:所述的高低溫干燥空氣源箱分別連接供氣管道和回氣管道；供氣管道和回氣管道連接IC保溫腔體，高低溫干燥空氣源箱是通過交流電及壓縮機產(chǎn)生高溫或低溫空氣，溫度可以調(diào)節(jié)和設(shè)置，最高溫度可達+20(TC正常測試，最低可進行-80°C正常測試。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的集成電路測試加熱制冷結(jié)構(gòu)，其特證在于:所述的IC保溫腔體包括腔體底和腔體蓋子，整個腔體由耐高低溫材料密封組成。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的集成電路測試加熱制冷結(jié)構(gòu)，其特證在于:所述的IC導軌置于腔體內(nèi)底部。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的集成電路測試加熱制冷結(jié)構(gòu)，其特證在于:所述的IC保溫腔體內(nèi)由均勻分布的若干個溫控器調(diào)節(jié)和控制溫度。
專利摘要本實用新型公開了集成電路測試加熱制冷結(jié)構(gòu)，包括高低溫干燥空氣源箱、供氣管道、回氣管道、IC保溫腔體、IC導軌、溫控器等。所述的高低溫干燥空氣源箱分別連接供氣管道和回氣管道；供氣管道和回氣管道連接IC保溫腔體，高低溫干燥空氣源箱是通過交流電及壓縮機產(chǎn)生高溫或低溫空氣，溫度可以調(diào)節(jié)和設(shè)置，最高溫度可達+200℃正常測試，最低可進行-80℃正常測試；IC保溫腔體包括腔體底和腔體蓋子，整個腔體由耐高低溫材料密封組成，具有絕對保溫效果；IC導軌置于腔體內(nèi)底部，IC進入腔體導軌內(nèi)，經(jīng)過一定的時間達到恒定溫度；腔體內(nèi)由均勻分布的若干個溫控器調(diào)節(jié)和控制溫度。本實用新型節(jié)省時間、節(jié)省能源、方便實用、降低了成本，高低溫干燥空氣源可保障生產(chǎn)的連續(xù)、無污染等優(yōu)點。
文檔編號B01L7/00GK203061198SQ201220684549
公開日2013年7月17日 申請日期2012年12月11日 優(yōu)先權(quán)日2012年12月11日
發(fā)明者梁大明 申請人:上海中藝自動化系統(tǒng)有限公司