一種電磁爐自動(dòng)檢測(cè)裝置及方法
【專利摘要】本發(fā)明公開(kāi)了一種電磁爐自動(dòng)檢測(cè)裝置及方法，包括帶有面板(11)的電磁爐(1)，所述面板下方設(shè)置有電磁感應(yīng)線圈(2)，還具有檢測(cè)開(kāi)關(guān)(4)，所述檢測(cè)開(kāi)關(guān)(4)一端貼近或穿過(guò)面板(11)，檢測(cè)開(kāi)關(guān)(4)另一端連線至MCU控制模塊(5)，電磁感應(yīng)線圈(2)連接至加熱驅(qū)動(dòng)及電源模塊(3)，MCU控制模塊(5)連接到加熱驅(qū)動(dòng)及電源模塊(3)；所述檢測(cè)開(kāi)關(guān)(4)用于檢測(cè)面板(11)上是否放置有待加熱物體。本發(fā)明有益于減小電能損耗，檢測(cè)鍋體的過(guò)程中不會(huì)產(chǎn)生電磁輻射。
【專利說(shuō)明】—種電磁爐自動(dòng)檢測(cè)裝置及方法

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及電磁爐檢測(cè)裝置，特別涉及一種電磁爐移鍋?zhàn)詣?dòng)檢測(cè)裝置。另外本發(fā)明還涉及電磁爐檢測(cè)方法，特別涉及一種電磁爐移鍋?zhàn)詣?dòng)檢測(cè)方法。

【背景技術(shù)】
[0002]目前電磁爐已非常普及，將炒鍋或者水壺放在電磁爐上面，啟動(dòng)開(kāi)關(guān)即可迅速加熱。但是在炒菜過(guò)程中有時(shí)需要洗鍋或者顛鍋，這時(shí)鍋將移開(kāi)爐面一段時(shí)間，此時(shí)電磁爐將不停地發(fā)射脈沖檢鍋信號(hào)，依靠有鍋與無(wú)鍋時(shí)的震蕩頻率不同來(lái)進(jìn)行有效識(shí)別。檢測(cè)鍋體，這種過(guò)程會(huì)損耗巨大的能量，并且這種能量損耗也不是用在對(duì)鍋體的加熱。另一個(gè)問(wèn)題在于，這種發(fā)射脈沖檢測(cè)鍋體的過(guò)程會(huì)產(chǎn)生巨大的電磁輻射，對(duì)人體產(chǎn)生一定不良影響。同理，用電磁爐對(duì)水壺加熱的過(guò)程也一樣，比如水燒開(kāi)后，倒水或裝水的過(guò)程，水壺將離開(kāi)電磁爐表面，此時(shí)開(kāi)始電磁爐檢測(cè)，產(chǎn)生能量損耗以及大量電磁輻射。目前急需減小能耗及有效控制電磁輻射，但目前還沒(méi)有較好的方案來(lái)解決這個(gè)問(wèn)題。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明要解決的技術(shù)問(wèn)題是:針對(duì)現(xiàn)有電磁爐在移鍋的過(guò)程中，電磁爐會(huì)檢測(cè)鍋體是否在爐體上面，會(huì)產(chǎn)生大量能量損耗以及巨量的電磁輻射。
[0004]本發(fā)明是這樣實(shí)現(xiàn)的:一種電磁爐自動(dòng)檢測(cè)裝置，包括帶有面板的電磁爐，所述面板下方設(shè)置有電磁感應(yīng)線圈，還具有檢測(cè)開(kāi)關(guān)，所述檢測(cè)開(kāi)關(guān)一端貼近或穿過(guò)面板，檢測(cè)開(kāi)關(guān)另一端連線至MCU控制模塊，電磁感應(yīng)線圈連接至加熱驅(qū)動(dòng)及電源模塊，MCU控制模塊連接到加熱驅(qū)動(dòng)及電源模塊；所述檢測(cè)開(kāi)關(guān)用于檢測(cè)面板上是否放置有待加熱物體。
[0005]所述檢測(cè)開(kāi)關(guān)是以下幾種裝置中的任一種:
[0006]反射式光電開(kāi)關(guān)，通過(guò)距離感應(yīng)檢測(cè)是否有物體靠近；
[0007]磁感應(yīng)開(kāi)關(guān)，通過(guò)磁量變化引起的電平變化來(lái)檢測(cè)是否有物體靠近；
[0008]輕觸開(kāi)關(guān)，通過(guò)物體接觸引起的物理式變化來(lái)檢測(cè)是否有物體靠近；所述輕觸開(kāi)關(guān)為彎矩感應(yīng)開(kāi)關(guān)、壓力感應(yīng)開(kāi)關(guān)、彈簧開(kāi)關(guān)中的任一種。
[0009]所述檢測(cè)開(kāi)關(guān)數(shù)量為三個(gè)以上，所述多個(gè)檢測(cè)開(kāi)關(guān)的上端面位于同一水平面內(nèi)。
[0010]所述加熱驅(qū)動(dòng)及電源模塊與MCU控制模塊之間通過(guò)控制信號(hào)線以及電源供電線進(jìn)行連接。
[0011]一種電磁爐自動(dòng)檢測(cè)方法，包括以下步驟:
[0012]SI)用戶啟動(dòng)電磁爐的步驟；
[0013]S2)檢測(cè)開(kāi)關(guān)開(kāi)始檢測(cè)是否有物體靠近并反饋信號(hào)至MCU控制模塊的步驟；
[0014]S31)如果檢測(cè)開(kāi)關(guān)沒(méi)有檢測(cè)到開(kāi)關(guān)信號(hào)，則MCU控制模塊指令關(guān)閉加熱驅(qū)動(dòng)器的步驟；
[0015]S32)停止加熱，啟動(dòng)定時(shí)計(jì)數(shù)的步驟；
[0016]S4)判斷電磁爐是否接收到用戶手動(dòng)關(guān)閉電源的步驟；
[0017]S41)如果接受到關(guān)閉電源的指令，則跳轉(zhuǎn)至步驟S5)；
[0018]S42)如果沒(méi)有接受到關(guān)閉電源的指令，則定時(shí)計(jì)數(shù)持續(xù)計(jì)數(shù)，并判斷是否達(dá)到預(yù)定時(shí)間T的步驟；
[0019]S43)如果前述計(jì)數(shù)達(dá)到預(yù)定時(shí)間T，則跳轉(zhuǎn)至步驟S5)；
[0020]S44)如果前述計(jì)數(shù)沒(méi)有達(dá)到預(yù)定時(shí)間T，則跳轉(zhuǎn)至步驟S2)。
[0021]S5)整個(gè)電磁爐關(guān)閉，結(jié)束工作的步驟。
[0022]在S2)后、S4)之前還包括以下步驟:
[0023]S33)如果檢測(cè)開(kāi)關(guān)檢測(cè)到開(kāi)關(guān)信號(hào)，則MCU控制模塊指令加熱驅(qū)動(dòng)器開(kāi)啟的步驟；
[0024]S34)啟動(dòng)加熱,關(guān)閉定時(shí)計(jì)數(shù)并清零時(shí)間的步驟。
[0025]還包括，S0)將預(yù)定時(shí)間T預(yù)設(shè)存儲(chǔ)在電磁爐的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器內(nèi)的步驟。
[0026]本發(fā)明的有益效果在于，采用檢測(cè)開(kāi)關(guān)自動(dòng)檢測(cè)爐體上是否有物體，通過(guò)MCU控制模塊及加熱驅(qū)動(dòng)及電源模塊來(lái)實(shí)現(xiàn)智能開(kāi)啟或關(guān)閉電磁感應(yīng)線圈，這樣不僅可以節(jié)約電能，更重要的是可以防止檢鍋的過(guò)程中所產(chǎn)生的大量電磁輻射。

【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0027]圖1為本發(fā)明電磁爐檢測(cè)裝置連接關(guān)系示意圖；
[0028]圖2為本發(fā)明電磁爐檢測(cè)裝置側(cè)面示意圖；
[0029]圖3為本發(fā)明電磁爐檢測(cè)裝置另一方案的側(cè)面示意圖；
[0030]圖4為本發(fā)明電磁爐檢測(cè)裝置的檢測(cè)開(kāi)關(guān)位置示意圖；
[0031]圖5為本發(fā)明電磁爐檢測(cè)裝置的另一種檢測(cè)開(kāi)關(guān)位置示意圖；
[0032]圖6為本發(fā)明電磁爐檢測(cè)裝置的再一種檢測(cè)開(kāi)關(guān)位置示意圖；
[0033]圖7為本發(fā)明電磁爐檢測(cè)方法流程圖。

【具體實(shí)施方式】
[0034]下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明電磁爐自動(dòng)檢測(cè)裝置及方法做進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。
[0035]如圖1、2、3，本電磁爐自動(dòng)檢測(cè)裝置，包括電磁爐1，電磁爐I內(nèi)設(shè)置有加熱器，所述加熱器是電磁感應(yīng)線圈2。電磁爐I上還具有面板11，該面板11可以是黑晶、白晶、塑料等。炒鍋或者水壺放至于面板11上進(jìn)行加熱，電磁感應(yīng)線圈2位于面板11下側(cè)。檢測(cè)開(kāi)關(guān)4 一端貼近或穿過(guò)前述面板11，檢測(cè)開(kāi)關(guān)4另一端連線至MCU控制模塊5。電磁感應(yīng)線圈2連接至加熱驅(qū)動(dòng)及電源模塊3 ;加熱驅(qū)動(dòng)及電源模塊3連接至MCU控制模塊5，加熱驅(qū)動(dòng)及電源模塊3與MCU控制模塊5之間通過(guò)控制信號(hào)線6以及電源供電線7進(jìn)行連接。加熱驅(qū)動(dòng)及電源模塊3包括加熱驅(qū)動(dòng)器以及電源。
[0036]檢測(cè)開(kāi)關(guān)4可以為多個(gè)，優(yōu)選的，檢測(cè)開(kāi)關(guān)4數(shù)量為三個(gè)，三個(gè)感測(cè)點(diǎn)可以形成一個(gè)平面，使檢測(cè)更加準(zhǔn)確、可靠。該檢測(cè)開(kāi)關(guān)4可以是反射式光電開(kāi)關(guān)、磁感應(yīng)開(kāi)關(guān)、輕觸開(kāi)關(guān)等。
[0037]以反射式光電開(kāi)關(guān)為例，當(dāng)用戶開(kāi)啟電磁爐開(kāi)關(guān)后，電磁爐開(kāi)始工作，此時(shí)MCU控制模塊5檢測(cè)反射式光電開(kāi)關(guān)開(kāi)始檢測(cè)面板11上是否有物體靠近，檢測(cè)距離可以依據(jù)需要進(jìn)行調(diào)整。反射式光電開(kāi)關(guān)設(shè)置的位置可以有多種，可在面板11設(shè)置孔111，反射式光電開(kāi)關(guān)端部對(duì)準(zhǔn)前述面板的通孔，由于是非接觸式的，反射式光電開(kāi)關(guān)端部可以設(shè)置于面板內(nèi)如圖4 ;或者面板下方一段距離，如圖6，例如l-5cm。當(dāng)然，反射式光電開(kāi)關(guān)端部設(shè)置于所述面板的通孔內(nèi)，突出于面板、與面板表面齊平也是可以的。另外，如圖5、6，在面板11上局部設(shè)置可光電穿透的蓋板112，反射式光電開(kāi)關(guān)設(shè)置于蓋板112下方。蓋板112可以與面板
11一體式設(shè)置，或者在面板11上挖通孔，然后設(shè)置蓋板112。所設(shè)置的蓋板112可以比面板11更薄以利于光電信號(hào)的穿透，或者與蓋板112與面板11同樣厚也可。如果有物體靠近，MCU控制模塊5通過(guò)前述控制信號(hào)線6指令加熱驅(qū)動(dòng)及電源模塊3，此時(shí)電磁感應(yīng)線圈2開(kāi)始被供電，炒鍋或者水壺就可以被加熱了。如果中間炒鍋或者水壺被移開(kāi)面板11，反射式光電開(kāi)關(guān)將傳遞對(duì)應(yīng)信號(hào)至MCU控制模塊5，MCU控制模塊5控制加熱驅(qū)動(dòng)及電源模塊3停止對(duì)電磁感應(yīng)線圈2供電。該檢測(cè)方式所消耗的電能非常低、穩(wěn)定可靠，并且沒(méi)有普通電磁爐檢鍋時(shí)的那種噪音，也沒(méi)有影響人體的大量電磁輻射，非常環(huán)保、安全。
[0038]以磁感應(yīng)開(kāi)關(guān)為例，當(dāng)用戶開(kāi)啟電磁爐開(kāi)關(guān)后，電磁爐開(kāi)始工作，此時(shí)MCU控制模塊5檢測(cè)磁感應(yīng)開(kāi)關(guān)開(kāi)始檢測(cè)面板11上是否有物體靠近。磁感應(yīng)開(kāi)關(guān)可以設(shè)置于面板11的孔111內(nèi)，或者突出于面板、與面板表面齊平，或者設(shè)置于面板下方一段距離，例如l-5cm。在面板11上局部設(shè)置可電磁穿透的蓋板112磁感應(yīng)開(kāi)關(guān)設(shè)置于蓋板112下方。蓋板112可以與面板11 一體式設(shè)置，或者在面板11上挖通孔，然后設(shè)置蓋板112。所設(shè)置的蓋板112可以比面板11更薄以利于電磁信號(hào)的穿透，或者與蓋板112與面板11同樣厚也可。如果炒鍋、水壺等金屬體靠近，磁感應(yīng)開(kāi)關(guān)的電平發(fā)生變化，MCU控制模塊5通過(guò)前述控制信號(hào)線6指令加熱驅(qū)動(dòng)及電源模塊3，此時(shí)電磁感應(yīng)線圈2開(kāi)始被供電，炒鍋或者水壺就可以被加熱了。如果中間炒鍋或者水壺被移開(kāi)面板11，磁感應(yīng)開(kāi)關(guān)將傳遞信號(hào)至MCU控制模塊5，MCU控制模塊5控制加熱驅(qū)動(dòng)及電源模塊3停止對(duì)電磁感應(yīng)線圈2供電。
[0039]以輕觸開(kāi)關(guān)為例，輕觸開(kāi)關(guān)指物體式開(kāi)關(guān)，可以是彎矩感應(yīng)開(kāi)關(guān)、壓力感應(yīng)開(kāi)關(guān)等。輕觸開(kāi)關(guān)的端部對(duì)準(zhǔn)面板11的孔111，輕觸開(kāi)關(guān)的端部可設(shè)置突出于面板11表面一小段距離或者與面板11表面齊平。當(dāng)用戶開(kāi)啟電磁爐開(kāi)關(guān)后，電磁爐開(kāi)始工作，此時(shí)MCU控制模塊5控制輕觸開(kāi)關(guān)開(kāi)始檢測(cè)面板11上是否放置有物體。如果炒鍋、水壺等放在面板11上，炒鍋、水壺的底面將按壓輕觸開(kāi)關(guān)，這時(shí)通過(guò)彎矩感應(yīng)開(kāi)關(guān)、壓力感應(yīng)開(kāi)關(guān)很容易地判斷出來(lái)。MCU控制模塊5通過(guò)前述控制信號(hào)線6指令加熱驅(qū)動(dòng)及電源模塊3，此時(shí)電磁感應(yīng)線圈2開(kāi)始被供電，炒鍋或者水壺就可以被加熱了。如果中間炒鍋或者水壺被移開(kāi)面板11，彎矩感應(yīng)開(kāi)關(guān)、壓力感應(yīng)開(kāi)關(guān)的參數(shù)發(fā)生變化，將傳遞信號(hào)至MCU控制模塊5，MCU控制模塊5控制加熱驅(qū)動(dòng)及電源模塊3停止對(duì)電磁感應(yīng)線圈2供電。
[0040]前述電磁爐自動(dòng)檢測(cè)裝置可以用如圖2所述的凹爐，也可用于圖3所述的平爐。
[0041]結(jié)合圖7說(shuō)明本發(fā)明電磁爐自動(dòng)檢測(cè)方法。首先是用戶啟動(dòng)電磁爐，此時(shí)，檢測(cè)開(kāi)關(guān)開(kāi)始檢測(cè)是否有開(kāi)關(guān)信號(hào)，并將檢測(cè)結(jié)果反饋給MCU控制模塊。如果檢測(cè)有開(kāi)關(guān)信號(hào)，MCU控制模塊發(fā)指令啟動(dòng)加熱驅(qū)動(dòng)器對(duì)電磁感應(yīng)線圈進(jìn)行供電；開(kāi)始對(duì)炒鍋或水壺加熱，同時(shí)關(guān)閉定時(shí)器。用戶手動(dòng)選擇是否關(guān)閉電磁爐，如果是，則整個(gè)流程結(jié)束。
[0042]開(kāi)始啟動(dòng)電磁爐，此時(shí)，檢測(cè)開(kāi)關(guān)開(kāi)始檢測(cè)是否有開(kāi)關(guān)信號(hào)，并將檢測(cè)結(jié)果反饋給MCU控制模塊。如果沒(méi)有檢測(cè)到開(kāi)關(guān)信號(hào)，MCU控制模塊不啟動(dòng)加熱驅(qū)動(dòng)器；同時(shí)啟動(dòng)定時(shí)，如果計(jì)數(shù)達(dá)到預(yù)定時(shí)間T，例如5分鐘，則MCU控制模塊關(guān)閉整個(gè)電磁爐。在啟動(dòng)定時(shí)期間，如果沒(méi)有達(dá)到預(yù)定時(shí)間T，則檢測(cè)開(kāi)關(guān)會(huì)繼續(xù)檢測(cè)，以確定爐面是否有炒鍋或者水壺等物體，直到達(dá)到預(yù)定時(shí)間T為止，關(guān)閉整個(gè)電磁爐。
[0043]前述預(yù)定時(shí)間T可以預(yù)設(shè)存儲(chǔ)在電磁爐的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器內(nèi)，例如常見(jiàn)的可以把時(shí)間T設(shè)為I到30分鐘之間。
[0044]以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已，并不用以限制本發(fā)明，凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種電磁爐自動(dòng)檢測(cè)裝置，包括帶有面板(11)的電磁爐(I)，所述面板下方設(shè)置有電磁感應(yīng)線圈(2)，其特征在于，還具有檢測(cè)開(kāi)關(guān)(4)，所述檢測(cè)開(kāi)關(guān)(4) 一端貼近或穿過(guò)面板(11)，檢測(cè)開(kāi)關(guān)(4)另一端連線至MCU控制模塊(5)，電磁感應(yīng)線圈(2)連接至加熱驅(qū)動(dòng)及電源模塊(3)，MCU控制模塊(5)連接到加熱驅(qū)動(dòng)及電源模塊(3);所述檢測(cè)開(kāi)關(guān)(4)用于檢測(cè)面板(11)上是否放置有待加熱物體。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電磁爐自動(dòng)檢測(cè)裝置，其特征在于，所述檢測(cè)開(kāi)關(guān)(4)是以下幾種裝置中的任一種: 反射式光電開(kāi)關(guān)，通過(guò)距離感應(yīng)檢測(cè)是否有物體靠近； 磁感應(yīng)開(kāi)關(guān)，通過(guò)磁量變化引起的電平變化來(lái)檢測(cè)是否有物體靠近； 輕觸開(kāi)關(guān)，通過(guò)物體接觸引起的物理式變化來(lái)檢測(cè)是否有物體靠近；所述輕觸開(kāi)關(guān)為彎矩感應(yīng)開(kāi)關(guān)、壓力感應(yīng)開(kāi)關(guān)、彈簧開(kāi)關(guān)中的任一種。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電磁爐自動(dòng)檢測(cè)裝置，其特征在于，所述檢測(cè)開(kāi)關(guān)(4)數(shù)量為三個(gè)以上，所述多個(gè)檢測(cè)開(kāi)關(guān)(4)的上端面位于同一水平面內(nèi)。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電磁爐自動(dòng)檢測(cè)裝置，其特征在于，所述加熱驅(qū)動(dòng)及電源模塊(3)與MCU控制模塊(5)之間通過(guò)控制信號(hào)線(6)以及電源供電線(7)進(jìn)行連接。
5.一種電磁爐自動(dòng)檢測(cè)方法，其特征在于，包括以下步驟: 51)用戶啟動(dòng)電磁爐(I)的步驟； 52)檢測(cè)開(kāi)關(guān)⑷開(kāi)始檢測(cè)是否有物體靠近并反饋信號(hào)至MCU控制模塊(5)的步驟； 531)如果檢測(cè)開(kāi)關(guān)⑷沒(méi)有檢測(cè)到開(kāi)關(guān)信號(hào)，則MCU控制模塊(5)指令關(guān)閉加熱驅(qū)動(dòng)器的步驟； 532)停止加熱，啟動(dòng)定時(shí)計(jì)數(shù)的步驟； 54)判斷電磁爐是否接收到用戶手動(dòng)關(guān)閉電源的步驟； 541)如果接受到關(guān)閉電源的指令，則跳轉(zhuǎn)至步驟S5)； 542)如果沒(méi)有接受到關(guān)閉電源的指令，則定時(shí)計(jì)數(shù)持續(xù)計(jì)數(shù)，并判斷是否達(dá)到預(yù)定時(shí)間T的步驟； 543)如果前述計(jì)數(shù)達(dá)到預(yù)定時(shí)間T，則跳轉(zhuǎn)至步驟S5)； 544)如果前述計(jì)數(shù)沒(méi)有達(dá)到預(yù)定時(shí)間T，則跳轉(zhuǎn)至步驟S2)。 55)整個(gè)電磁爐關(guān)閉，結(jié)束工作的步驟。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種電磁爐自動(dòng)檢測(cè)方法，其特征在于，在S2)后、S4)之前還包括以下步驟: 533)如果檢測(cè)開(kāi)關(guān)(4)檢測(cè)到開(kāi)關(guān)信號(hào)，則MCU控制模塊(5)指令加熱驅(qū)動(dòng)器開(kāi)啟的步驟； 534)啟動(dòng)加熱，關(guān)閉定時(shí)計(jì)數(shù)并清零時(shí)間的步驟。
7.根據(jù)權(quán)利要求5或6任一項(xiàng)所述的電磁爐自動(dòng)檢測(cè)方法，其特征在于，還包括，SO)將預(yù)定時(shí)間T預(yù)設(shè)存儲(chǔ)在電磁爐的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器內(nèi)的步驟。
【文檔編號(hào)】F24C7/08GK104197385SQ201410389562
【公開(kāi)日】2014年12月10日 申請(qǐng)日期:2014年8月6日 優(yōu)先權(quán)日:2014年8月6日
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