專利名稱：一種彩色陰極射線電子管色純測量儀的制作方法
專利說明
一、技術(shù)領(lǐng)域本實用新型屬測試儀器制造技術(shù)領(lǐng)域。
二背景技術(shù)：
彩色電視、電腦監(jiān)視器和示波儀等設(shè)備，均需要用到彩色陰極射線電子管(簡稱彩色CRT或CRT)。色純度偏差反映了電子束轟擊彩色陰極射線電子管三基色熒光粉的位置誤差。由于色純度偏差將會影響彩色CRT還原信號顏色的準確程度，故在制造中對彩色CRT的色純度要求都有一個統(tǒng)一的標準。在各種型號CRT的生產(chǎn)過程中，必須要對每個批次的成品進行測量檢驗?，F(xiàn)有國外所用的各種型號彩色陰極射線電子管色純測量儀，其測量探頭的結(jié)構(gòu)示意圖參見附圖1，測量原理均為在彩色陰極射線電子管上取一單位面積，將其發(fā)出的熒光通過分光鏡(或濾色片)(3)分解為紅、綠、藍三基色光后，用對應(yīng)的光敏元件(4)和相應(yīng)電路接收和放大后生成一個光強信號。通過在測量頭端部的一組電磁線圈(5)中施加一個磁場偏移電流，使轟擊熒光粉的電子束產(chǎn)生橫向偏移，這時所得到的光強信號峰值點實際位置與理論位置的誤差“Δ”(參見附圖2)，即反映了彩色CRT的色純度偏差。
用這種方法進行測量彩色CRT的色純度偏差，對于采用條狀涂布熒光粉工藝的彩電顯像管，只要在一個位置進行測量，即可得到成品的色純度偏差值。但對于采用點狀涂布熒光粉工藝的監(jiān)視器顯示管類產(chǎn)品，僅在一個位置進行測量尚無法正確反映彩色CRT的色純度偏差。因此，通常需要將測量探頭旋轉(zhuǎn)90°后再進行一次測量，才能正確反映彩色CRT的色純度偏差。因此，現(xiàn)有的彩色陰極射線電子管色純測量儀在測試該類產(chǎn)品時的測量效率和測量精度較低。
三
發(fā)明內(nèi)容
本實用新型的設(shè)計目的是開發(fā)一種可在同一位置測量不同座標方向色純度偏差的新型彩色陰極射線電子管色純測量儀。
本實用新型的技術(shù)解決方案為在測量探頭的端部放置兩組互相垂直的電磁線圈(5)和(6)。只要在測量時對兩組電磁線圈分別施加磁場偏移電流，從而可在同一位置測出兩個座標方向的色純度偏差值。
四
圖1為普通色純測量探頭的結(jié)構(gòu)示意圖。圖中(1)為橡膠吸盤，(2)為探頭體，(3)為分光鏡，(4)為光敏元件，(5)為電磁線圈；
圖2為色純測量原理曲線，圖中橫坐標表示偏移電流值，縱坐標表示光強，“Δ”表示光強信號峰值點實際位置與理論位置的誤差；圖3為改進的色純測量探頭結(jié)構(gòu)示意圖。圖中(1)為橡膠吸盤，(2)為探頭體，(3)為分光鏡，(4)為光敏元件，(5)、(6)為電磁線圈，D表示探頭外徑，d表示通光孔直徑。
五具體實施方式
典型實施例探頭外徑D＝80mm，通光孔直徑d＝16mm。用橡膠吸盤(1)將探頭吸附固定在彩色CRT的指定測量位置；(3)采用X型分光鏡，光敏元件(4)采用3只高靈敏度光敏硅二極管，分別接收紅、綠、藍三基色光信號。
測量采用點狀涂布熒光粉工藝的彩色CRT產(chǎn)品時，先將一個磁場偏移電流加在電磁線圈(5)上，將光敏元件(4)上得到的紅、綠、藍三基色光信號，經(jīng)放大、A/D轉(zhuǎn)換、數(shù)據(jù)處理后，即可得到一組彩色CRT在該坐標方向上的色純度偏差值；再將磁場偏移電流加在電磁線圈(6)上，又可得到一組彩色CRT在另一坐標方向上的色純度偏差值，從而正確地反映出采用點狀涂布熒光粉工藝的彩色CRT成品的色純度偏差值。
測量采用帶狀涂布熒光粉工藝的彩色CRT產(chǎn)品時，只需將磁場偏移電流加在電磁線圈(5)或(6)上，一次即可得到采用帶狀涂布熒光粉工藝的彩色CRT色純度偏差值，本實用新型與普通彩色陰極射線電子管色純測量儀相比，由于可在同一位置測量不同座標方向的彩色CRT色純度偏差，大大提高了有關(guān)產(chǎn)品的測量效率和測量精度。
權(quán)利要求1.一種根據(jù)電子束橫向偏移原理設(shè)計的彩色陰極射線電子管色純測量儀，其特征在于在測量探頭的端部放置兩組互相垂直的電磁線圈(5)和(6)。
專利摘要現(xiàn)有各種根據(jù)電子束橫向偏移原理設(shè)計的彩色陰極射線電子管色純測量儀，在測試采用點狀涂布熒光粉工藝的彩色CRT產(chǎn)品時，僅在一個位置進行測量尚無法正確反映被測產(chǎn)品的色純度偏差。因此，需要將測量探頭旋轉(zhuǎn)90°后再進行一次測量，才能正確反映彩色CRT的色純度偏差。本實用新型在測量探頭的端部放置兩組互相垂直的電磁線圈，只要在這兩組線圈中分別施加磁場偏移電流，即可在同一位置測得兩個坐標方向上的色純度偏差值，大大提高了有關(guān)產(chǎn)品的測量效率和測量精度。
文檔編號H01J9/42GK2655415SQ0327830
公開日2004年11月10日 申請日期2003年9月4日 優(yōu)先權(quán)日2003年9月4日
發(fā)明者張小華 申請人:南京聚誠科技有限公司