廣角鏡頭模組的測試設(shè)備及其應(yīng)用
【專利摘要】一廣角鏡頭模組的測試設(shè)備及其應(yīng)用，該設(shè)備選取1200x900mm的大均勻光源,適用于94°?165°范圍的模組測試,并且通過反畸變標(biāo)板,補償大視場角引起的畸變,對于較大對焦距離的模組,通過增距鏡減小實測距離。
【專利說明】
廣角鏡頭模組的測試設(shè)備及其應(yīng)用
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本發(fā)明涉及一攝像模組的測試設(shè)備，尤其涉及一廣角鏡頭模組的測試設(shè)備及其應(yīng)用。
【背景技術(shù)】
[0002]科技的日新月異、各種電子產(chǎn)品的發(fā)展，并且隨著移動互聯(lián)網(wǎng)的發(fā)展，以及多媒體信息設(shè)備的與日倶增，越來越多的產(chǎn)品或設(shè)備對于電子和光學(xué)性產(chǎn)品以及零件品質(zhì)規(guī)格需求不斷的增加，因此對于各種制程的生產(chǎn)效率和品質(zhì)要求也逐漸增高。特別地是，在各種產(chǎn)品的運用中搭配使用鏡頭設(shè)計的產(chǎn)品也因應(yīng)各種的需求而產(chǎn)生。因此，對于鏡頭的開發(fā)也是一門重要的課題?；旧蠈τ阽R頭的使用方式有大概的分類:標(biāo)準(zhǔn)鏡頭、廣角鏡頭、遠(yuǎn)程鏡頭以及魚眼鏡頭等。而這些的鏡頭已經(jīng)不是單純搭配相機(jī)使用，它們更進(jìn)一步地，可以被制成各種的模組，以用于其它的相關(guān)產(chǎn)品，像是便攜式或穿載式的電子產(chǎn)品如手機(jī)、醫(yī)療電子用品如內(nèi)窺鏡以及工業(yè)檢測用的產(chǎn)品。
[0003]本發(fā)明是針對廣角鏡頭模組的制程程序中進(jìn)行改善。因為隨著運動相機(jī)、航拍相機(jī)等大視場角相機(jī)的誕生和推廣，廣角鏡頭模組的需求越來越大;然而，常規(guī)鏡頭模組的調(diào)焦工藝無法滿足廣角鏡頭模組的調(diào)焦，因此針對廣角鏡頭模組的制程，需要制定一種新的調(diào)焦工藝，以滿足其解像力調(diào)試及評定。另外，目前廣角鏡頭模組項目使用在暗箱與普通光源環(huán)境下檢測，出現(xiàn)亮度過曝現(xiàn)象，導(dǎo)致檢測圖像模糊不良嚴(yán)重，而且檢測時的大光源上下升降范圍會受限并且只能透過手動加墊高塊進(jìn)行墊高，調(diào)節(jié)非常不方便，而小均勻光源則不可滑動，需移動檢測工裝(PCIE)，操作效率低。因此，透過本發(fā)明以改善上述問題點。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明的主要目的在于提供一廣角鏡頭模組測試設(shè)備，其適用于廣角鏡頭模組的檢測和調(diào)焦的測試，以解決檢測時亮度過曝和不均勻等問題和調(diào)焦不便利性等問題。換言之，所述廣角鏡頭模組測試設(shè)備提供大均勻光源以便檢測時避免檢測圖像模糊不清，以及透過高度調(diào)節(jié)可適用于各種不同大小視場角的所述廣角鏡頭模組。
[0005]本發(fā)明的另一目的在于提供一廣角鏡頭模組測試設(shè)備，其適用于各種不同視場角的所述廣角鏡頭模組檢測和調(diào)焦，其中視場角為94°至165° (DFOV)。另外，所述廣角鏡頭模組測試設(shè)備亦適用于各種不同AT距離(對焦距離)的所述廣角鏡頭模組檢測和調(diào)焦。
[0006]本發(fā)明的另一目的在于提供一廣角鏡頭模組測試設(shè)備，其提供合適光源以滿足了所述廣角鏡頭模組的測試環(huán)境。
[0007]本發(fā)明的另一目的在于提供一廣角鏡頭模組測試設(shè)備，其定制反畸變標(biāo)版，以解決所述廣角鏡頭模組在測試解像力時大畸變引起的常規(guī)CTF標(biāo)版四角解像力無法測試問題。
[0008]本發(fā)明的另一目的在于提供一廣角鏡頭模組測試設(shè)備，其對于AT距離較大的所述廣角鏡頭模組，定制專用增距鏡，以縮短實際測試距離，實現(xiàn)了所述廣角鏡頭模組的調(diào)焦。
[0009]本發(fā)明的另一目的在于提供一廣角鏡頭模組測試設(shè)備，其能夠適合于不同光如可見光或紅外光廣角鏡頭模組的測試。
[0010]為了達(dá)到以上目的，本發(fā)明提供一廣角鏡頭模組的測試設(shè)備，其包括:
[0011]—工作臺；
[0012]—測試工裝，其設(shè)置于所述工作臺，且待測試的所述廣角鏡頭模組被放置于所述測試工裝上；以及
[0013]—均勻光源組件，其設(shè)置于所述工作臺上并位于所述測試工裝上方，以提供均勻光源。
[0014]在一些實施例中，其還包括一機(jī)架，用于支撐所述工作臺，所述機(jī)架包括一機(jī)架本體，和分別設(shè)置于機(jī)架本體下方的一移動單元和一調(diào)整單元，以便于移動和調(diào)節(jié)所述廣角鏡頭模組測試設(shè)備的水平度。
[0015]在一些實施例中，其還包括一污壞點測試工裝，其可移動地設(shè)置于所述工作臺上并位于所述測試工裝上方。
[0016]在一些實施例中，其包括一控制箱，其被放置于所述機(jī)架上或所述工作臺上，以用于控制所述廣角鏡頭模組的測試設(shè)備。
[0017]在一些實施例中，其包括設(shè)置于所述均勻光源組件上的一防護(hù)罩。
[0018]在一些實施例中，其包括被整平放置于所述均勻光源組件下方的一反畸變標(biāo)版。
[0019]在一些實施例中，其包括架設(shè)于所述廣角鏡頭模組上方的一增距鏡。
[0020]在一些實施例中，其所述工作臺包括一臺面本體和設(shè)置于所述臺面本體上的一滑軌，其中所述污壞點測試工裝透過所述滑軌與所述測試工裝相連。
[0021 ]在一些實施例中，其所述測試工裝包括一出圖工裝，一第一滑塊以及一第二滑塊，其中所述出圖工裝位于所述第一滑塊和所述第二滑塊之間，這樣當(dāng)所述廣角鏡頭模組被設(shè)置于所述出圖工裝上時，通過調(diào)節(jié)所述第一滑塊的相對位置，以滿足不同長度的所述廣角鏡頭模組的固定需求，通過調(diào)節(jié)所述第二滑塊的相對位置，以調(diào)整所述廣角鏡頭模組中心與所述污壞點測試工裝的相對位置和調(diào)整所述廣角鏡頭模組的鏡片中心與所述增距鏡中心使保持一致。
[0022]在一些實施例中，其所述污壞點測試工裝包括一光源裝置以提供一污壞點測試均勻光源，裝置于所述光源裝置上的一軸承，安裝于所述軸承上的一絲桿螺母，連接于所述絲桿螺母的一絲桿，鎖固于所述工作臺的一固定板，分別鎖固于所述固定板上的三固定塊，位于所述光源裝置和所述固定塊之間的兩導(dǎo)柱，分別裝置于所述兩導(dǎo)柱上的兩滾珠導(dǎo)套，以及位于所述光源裝置上的一定位板，這樣所述廣角鏡頭模組在進(jìn)行檢測時，所述污壞點測試工裝根據(jù)需求進(jìn)行與所述廣角鏡頭模組的相對高度調(diào)整。
[0023]在一些實施例中，其所述均勻光源組件包括一電機(jī)，二電機(jī)同步輪，一電機(jī)同步帶，二滾珠絲桿，三絲桿同步輪，一絲桿同步帶，一漲緊輪，一均勻光源裝置，以及四導(dǎo)向軸，其中所述二電機(jī)同步輪分別被安裝于所述電機(jī)和所述二滾珠絲桿其一的底端，所述二電機(jī)同步輪通過所述電機(jī)同步帶相連，所述三絲桿同步輪和所述漲緊輪通過所述絲桿同步帶相連，所述均勻光源裝置于所述滾珠絲桿，并由所述四導(dǎo)向軸協(xié)同支撐，這樣當(dāng)所述電機(jī)帶動所述二滾珠絲桿轉(zhuǎn)動時，通過控制所述電機(jī)的正反轉(zhuǎn)實現(xiàn)所述均勻光源裝置的升降。
[0024]在一些實施例中，其所述均勻光源裝置提供1200x900mm的大均勻光源。
[0025]在一些實施例中，其所述廣角鏡頭模組視場角為94°-165°。
[0026]為了達(dá)到以上目的，本發(fā)明還提供一廣角鏡頭模組調(diào)焦測試方法，包括如下步驟:所述廣角鏡頭模組拍攝一反畸變標(biāo)版得到至少一測試圖像并基于所述測試圖像進(jìn)行調(diào)焦。
[0027]在一些實施例中，所述反畸變標(biāo)版設(shè)置在一大均勻光源下方，其尺寸為1200x900mm。
[0028]在一些實施例中，所述廣角鏡頭模組視場角范圍是94°-165°。
[0029]在一些實施例中，還包括步驟:通過至少一增距鏡以縮短實際測試距離。更具體地，可以是對焦距離大于750mm的所述廣角鏡頭模組，則利用定制專用的所述增距鏡。
[0030]在一些實施例中，還包括步驟:通過至少一電機(jī)的正反轉(zhuǎn)，實現(xiàn)組裝有所述大均勻光源的光源架的升降。更具體地，所述電機(jī)桿通過一同步帶帶動兩側(cè)的至少一絲桿轉(zhuǎn)動，所述絲桿的轉(zhuǎn)動驅(qū)動所述光源架的升降。
【附圖說明】
[0031]圖1是根據(jù)本發(fā)明的一個優(yōu)選實施例的一廣角鏡頭模組測試設(shè)備的透視圖。
[0032]圖2是根據(jù)本發(fā)明的一個優(yōu)選實施例的一廣角鏡頭模組測試設(shè)備的一測試工裝的透視圖。
[0033]圖3和圖4是根據(jù)本發(fā)明的一個優(yōu)選實施例的一廣角鏡頭模組測試設(shè)備的一測試工裝的部份零件拆解透視圖。
[0034]圖5是根據(jù)本發(fā)明的一個優(yōu)選實施例的一廣角鏡頭模組測試設(shè)備的一污壞點測試工裝的爆炸視圖。
[0035]圖6是根據(jù)本發(fā)明的一個優(yōu)選實施例的一廣角鏡頭模組測試設(shè)備的一測試工裝和一污壞點測試工裝以及一工作臺的相對應(yīng)關(guān)系透視圖。
[0036]圖7是根據(jù)本發(fā)明的一個優(yōu)選實施例的一廣角鏡頭模組測試設(shè)備的一均勻光源組件的透視圖。
[0037]圖8是根據(jù)本發(fā)明的一個優(yōu)選實施例的一廣角鏡頭模組測試設(shè)備的一反畸變標(biāo)版的示意圖。
[0038]圖9是根據(jù)本發(fā)明的一個優(yōu)選實施例的一廣角鏡頭模組測試設(shè)備的一增距鏡的示意圖，說明一個1.2m的所述廣角鏡頭模組與所述增距鏡的架設(shè)關(guān)系。
【具體實施方式】
[0039]以下描述用于揭露本發(fā)明以使本領(lǐng)域技術(shù)人員能夠?qū)崿F(xiàn)本發(fā)明。以下描述中的優(yōu)選實施例只作為舉例，本領(lǐng)域技術(shù)人員可以想到其他顯而易見的變型。在以下描述中界定的本發(fā)明的基本原理可以應(yīng)用于其他實施方案、變形方案、改進(jìn)方案、等同方案以及沒有背離本發(fā)明的精神和范圍的其他技術(shù)方案。
[0040]本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)理解的是，在本發(fā)明的揭露中，術(shù)語“縱向”、“橫向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“豎直”、“水平”、“頂”、“底” “內(nèi)”、“外”等指示的方位或位置關(guān)系是基于附圖所示的方位或位置關(guān)系，其僅是為了便于描述本發(fā)明和簡化描述，而不是指示或暗示所指的裝置或元件必須具有特定的方位、以特定的方位構(gòu)造和操作，因此上述術(shù)語不能理解為對本發(fā)明的限制。[0041 ] 可以理解的是，術(shù)語“一”應(yīng)理解為“至少一”或“一個或多個”，即在一個實施例中，一個元件的數(shù)量可以為一個，而在另外的實施例中，該元件的數(shù)量可以為多個，術(shù)語“一”不能理解為對數(shù)量的限制。
[0042]如圖1至圖9所示，是根據(jù)本發(fā)明的一優(yōu)選實施例的一廣角鏡頭模組測試設(shè)備，以用于對一廣角鏡頭模組100的制程工序中進(jìn)行調(diào)焦和檢測。所述廣角鏡頭模組測試設(shè)備可提供大均勻光源為1200x900mm，且大面積光源以及所述設(shè)備的可調(diào)高度適用于視場角94°?165° (DFOV)范圍的廣角鏡頭模組。另外，所述廣角鏡頭模組測試設(shè)備可以補償所述廣角鏡頭模組100的大視場角所引起的大畸變，同時亦可適用于AT距離最大的所述廣角鏡頭模組100。可以理解的是，所述廣角鏡頭模組的整個測試過程可以在一暗箱中進(jìn)行。
[0043]根據(jù)本發(fā)明的實施例，所述廣角鏡頭模組測試設(shè)備包括一機(jī)架10，一工作臺20，一測試工裝30，一污壞點測試工裝40，一控制箱50，一均勻光源組件60，以及一防護(hù)罩70。所述工作臺20位于所述機(jī)架10上方，由所述機(jī)架10所支撐，其中所述工作臺20用于置放所述測試工裝30和所以污壞點測試工裝40，故所述工作臺20被制成一平面。所述測試工裝30設(shè)置于所述工作臺20上，其中待測試的所述廣角鏡頭模組100被放置于所述測試工裝30上。所述污壞點測試工裝40可移動地設(shè)置于所述工作臺20上并位于所述測試工裝30上方。所述控制箱50放置于所述機(jī)架10上，亦可置放于所述工作臺20上。所述均勻光源組件60設(shè)置于所述工作臺20上并位于所述測試工裝30和所述污壞點測試工裝40上方，以提供大均勻光源。所述防護(hù)罩70設(shè)置于所述均勻光源組件60上。換言之，所述工作臺20、所述測試工裝30、所述污壞點測試工裝40、所述控制箱50、所述均勻光源組件60、以及所述防護(hù)罩70全部由所述機(jī)架1所支撐。
[0044]根據(jù)本發(fā)明的實施例，所述廣角鏡頭模組測試設(shè)備還包括一或多個反畸變標(biāo)版80和一或多個增距鏡90，以用于對所述廣角鏡頭模組進(jìn)行調(diào)焦。也就是說，透過定制所述反畸變標(biāo)版80，可以解決所述廣角鏡頭模組在測試解像力時大畸變引起的常規(guī)CTF標(biāo)版四角解像力無法測試問題。而利用定制專用的所述增距鏡90，可以縮短實際測試距離以實現(xiàn)所述廣角鏡頭模組的調(diào)焦。
[0045]本領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)理解，所述機(jī)架10可由各種支撐柱結(jié)構(gòu)、板材、型鋼、鋁擠型、復(fù)合材料以及輕鋼架所制成。值得一提的是，所述機(jī)架10包括一機(jī)架本體，一移動單元和一調(diào)整單元，其中所述移動單元和所述調(diào)整單元，分別設(shè)置于機(jī)架本體下方，以便于搬移所述廣角鏡頭模組測試設(shè)備并調(diào)節(jié)所述廣角鏡頭模組測試設(shè)備的水平度。
[0046]根據(jù)本發(fā)明的實施例，所述工作臺20包括一臺面本體21和一滑軌22。所述滑軌22設(shè)置于所述臺面本體21上并連接于所述控制箱50。另外，所述污壞點測試工裝40被設(shè)置于所述滑軌22上，這樣透過所述滑軌22和所述控制箱50可移動所述污壞點測試工裝40。特別地，所述污壞點測試工裝40透過所述滑軌22與所述測試工裝30相連，這樣透過本發(fā)明的所述廣角鏡頭模組測試設(shè)備可分別進(jìn)行一廣角鏡頭模組正常測試和一廣角鏡頭模組的污壞點測試。當(dāng)進(jìn)行所述廣角鏡頭模組正常測試時，可透過所述滑軌22將所述污壞點測試工裝40移開，亦即所述污壞點測試工裝40透過所述滑軌22移動并使其不在所述測試工裝30上方，故所述污壞點測試工裝40不會影響所述廣角鏡頭模組正常測試。另外，當(dāng)進(jìn)行所述廣角鏡頭模組的污壞點測試時，可透過所述滑軌22將所述污壞點測試工裝40移至所述廣角鏡頭模組正上方，亦即將所述污壞點測試工裝40移至所述測試工裝上方，以進(jìn)行所述污壞點測試。
[0047]根據(jù)本發(fā)明的實施例，如圖2至圖4所示，所述測試工裝30包括一出圖(PCIE)工裝31，一第一滑塊32以及一第二滑塊33。所述第一滑塊32位于所述出圖(PCIE)工裝31上。所述出圖(PCIE)工裝31位于所述第二滑塊33上。也就是說，所述出圖(PCIE)工裝31位于所述第一滑塊32和所述第二滑塊33之間。更進(jìn)一步地說，所述廣角鏡頭模組設(shè)置于所述出圖(PCIE)工裝31上，通過調(diào)節(jié)所述第一滑塊32的相對位置，以滿足不同長度的所述廣角鏡頭模組的固定需求。所述出圖(PCIE)工裝31固定于所述第二滑塊33上，通過調(diào)節(jié)所述第二滑塊33的相對位置，以調(diào)整所述廣角鏡頭模組中心與所述污壞點測試工裝40的相對位置和調(diào)整所述廣角鏡頭模組的鏡片中心與所述增距鏡90中心使保持一致。另外，如圖4所示，所述第二滑塊33還包括一前后滑塊331和一左右滑塊332，其中所述前后滑塊331位于所述左右滑塊332上，這樣所述第二滑塊33可以提供X軸和Y軸的方向移動，也就是說，所述出圖(PCIE)工裝31透過所述第二滑塊33可以進(jìn)行XY軸的調(diào)整。
[0048]根據(jù)本發(fā)明的實施例，所述污壞點測試工裝40包括一光源裝置41，一軸承42，一絲桿螺母43，一絲桿44，一固定板45，三固定塊46，兩導(dǎo)柱47，兩滾珠導(dǎo)套48，以及一定位板49。所述軸承42裝置于所述光源裝置41上。所述絲桿螺母43安裝于所述軸承42上，也就是說所述絲桿螺母43透過所述軸承42安于所述光源裝置41上。所述絲桿44被連接于所述絲桿螺母43。所述三固定塊46分別鎖固于所述固定板45上。所述兩滾珠導(dǎo)套48分別裝置于所述兩導(dǎo)柱47上。所述兩導(dǎo)柱47和所述絲桿44分別位于所述三固定塊46上。所述兩導(dǎo)柱47亦位于所述光源裝置41和所述固定塊46之間。所述定位板49位于所述光源裝置41上，以用于鎖固所述兩導(dǎo)柱47、所述軸承42、所述絲桿螺母43，以及所述絲桿44。這樣通過旋轉(zhuǎn)所述絲桿螺母43可調(diào)整所述光源裝置41的升降。值得一提的是，所述污壞點測試工裝40透過所述固定板45被設(shè)置于所述滑軌22上，因此當(dāng)進(jìn)行所述污壞點測試時，可透過所述滑軌將所述光源裝置41移至所述測試工裝30的上方，亦即是所述廣角鏡頭模組的上方，這樣所述光源裝置41即可提供一小均勻光源以便進(jìn)行所述廣角鏡頭模組的所述污壞點測試。特別地，所述污壞點測試工裝40與所述測試工裝30的相對位置，透過所述滑軌22則進(jìn)行左右移動，透過所述軸承42、所述絲桿螺母43，以及所述絲桿44則進(jìn)行上下的移動。也就是說，在進(jìn)行不同所述廣角鏡頭模組的測試時，由于不同的所述廣角鏡頭模組視場角的差異性，所述污壞點測試工裝40的所述光源裝置41被制成可調(diào)升降機(jī)構(gòu)，即將所述軸承42安于所述光源裝置41上，并將所述絲桿螺母43安裝于所述軸承42上，這樣通過旋轉(zhuǎn)所述絲桿螺母43得以實現(xiàn)所述光源裝置41的升降。
[0049]值得一提的是，所述光源裝置41包括一光源架和一光源元件，其中所述光源元件被裝置于所述光源架上以用于提供所述小均勻光源。所述光源架還用于安裝所述所述絲桿螺母43和所述軸承42。也就是說，所述絲桿螺母43透過所述軸承42安于所述光源裝置41的所述光源架上，并且所述絲桿44被連接于所述絲桿螺母43。另外，所述兩導(dǎo)柱47分別位于所述光源裝置41的光源架和所述固定塊46之間以用于支撐所述光源架。所述三固定塊46則分別位于所述絲桿44和所述兩導(dǎo)柱47的底部，并且所述三固定塊46位于所述固定板45上方。也就是說所述三固定塊46是位于所述固定板45和所述絲桿44跟所述兩導(dǎo)柱47之間。這樣的結(jié)構(gòu)，當(dāng)進(jìn)行所述污壞點測試可根據(jù)所述廣角鏡頭模組的視場角調(diào)整相對應(yīng)光源的距離。換言之，所述污壞點測試工裝40是一可調(diào)升降機(jī)構(gòu)，以用于配合不同所述廣角鏡頭模組的視場角的差異性進(jìn)行所述污壞點測試。
[ΟΟδΟ] 根據(jù)本發(fā)明的實施例，所述均勾光源組件60包括一電機(jī)61，二電機(jī)同步輪62，一電機(jī)同步帶63，二滾珠絲桿64，三絲桿同步輪65，一絲桿同步帶66，一漲緊輪67，一均勻光源裝置68，四導(dǎo)向軸69以及四支撐板。所述均勻光源組件60置于所述工作臺20上。所述二電機(jī)同步輪62分別被安裝于所述電機(jī)61和所述二滾珠絲桿64之一。也就是說，二個所述電機(jī)同步輪62其一耦合于所述電機(jī)61，另一耦合于二個所述滾珠絲桿64中的一個的底端，并且透過所述電機(jī)同步帶63連接二個所述電機(jī)同步輪62。換言之，所述電機(jī)61透過所述二電機(jī)同步輪62和所述電機(jī)同步帶63可帶動所述滾珠絲桿64轉(zhuǎn)動。所述四導(dǎo)向軸69位于所述工作臺20上用于支撐所述均勻光源架68。所述四支撐板其二位于所述滾珠絲桿64底端，另位于所述二滾珠絲桿64的頂端以用于支撐所述二滾珠絲桿64。所述三絲桿同步輪65中的二個分別位于所述二滾珠絲桿64的頂端，更進(jìn)一步地說，所述絲桿同步輪65中的二個分別位于所述二滾珠絲桿64頂端的所述二支撐板上并安裝于所述二滾珠絲桿64上。另外，所述絲桿同步輪65中的第三個則位于所述二滾珠絲桿64頂端的所述支撐板上，亦即有二個所述絲桿同步輪65相同位于所述滾珠絲桿64頂端的二個所述支撐板中的一個，最后一個所述絲桿同步輪65則單獨位于所述滾珠絲桿64頂端的二個所述支撐板中的另一個，最后由所述絲桿同步帶66連接。換言之，透過所述絲桿同步帶66將所述三絲桿同步輪65連接，并且在同一個所述支撐板上的二個所述絲桿同步輪65之間，裝置所述漲緊輪67，其用于將所述絲桿同步帶66拉緊。所述均勻光源裝置68裝置于所述滾珠絲桿64，并由所述四導(dǎo)向軸69協(xié)同支撐。值得一提的，所述二電機(jī)同步輪62通過所述電機(jī)同步帶63相連，三絲桿同步輪65通過所述絲桿同步帶66相連，并且所述二滾珠絲桿64通過所述絲桿同步帶66相連，其中所述漲緊輪67亦通過所述絲桿同步帶66與所述三絲桿同步輪65相連，這樣當(dāng)所述電機(jī)61帶動所述二滾珠絲桿64轉(zhuǎn)動時，可通過控制所述電機(jī)61的正反轉(zhuǎn)實現(xiàn)所述均勻光源裝置68的升降，以此調(diào)節(jié)所述廣角鏡頭模組的對焦距離。
[0051]另外，所述均勻光源裝置68包括一均勻光源架和一均勻光源元件。所述均勻光源元件設(shè)置于所述均勻光源架上，其中所述均勻光源裝置68可提供1200x900mm的大均勻光源，因此當(dāng)進(jìn)行所述廣角鏡頭模組正常測試時，將所述廣角鏡頭模組設(shè)置于所述測試工裝30的所述出圖(PCIE)工裝31上，由所述均勻光源組件60的所述電機(jī)61調(diào)整所述均勻光源裝置68的高度，以進(jìn)行所述廣角鏡頭模組的點亮拍攝大均勻光源標(biāo)版測試，同時亦可滿足所述廣角鏡頭模組的對焦距離。值得一提的是，本發(fā)明的所述廣角鏡頭模組測試設(shè)備的最大對焦距離為750mm。另外，當(dāng)進(jìn)行所述廣角鏡頭模組的污壞點測試，所述廣角鏡頭模組亦設(shè)置于所述測試工裝30的所述出圖(PCIE)工裝31上，在將所述污壞點測試工裝40滑動至所述廣角鏡頭模組上方，以進(jìn)行所述廣角鏡頭模組的污壞點測試。
[0052]根據(jù)本發(fā)明的實施例，所述廣角鏡頭模組測試設(shè)備的所述反畸變標(biāo)版80，其示例如圖8所表示，其從中心往邊緣方向地，對應(yīng)地設(shè)置有拉伸畸變圖案，而待測試的所述廣角鏡頭模組拍攝以后，能夠得到規(guī)則的測試圖案。由于一圖像在透過所述廣角鏡頭模組的所述透鏡時，所述圖像會產(chǎn)生畸變，為了抵消這個畸變，就需要對所述圖像進(jìn)行拉伸扭曲，正常透過所述透鏡后所述圖片呈現(xiàn)出的所述圖像和使用反畸變后透過所述透鏡的圖像對比。因此，所述反畸變標(biāo)版80是根據(jù)所述廣角鏡頭模組的畸變和視場角解像力要求以及對焦距離進(jìn)行制作而產(chǎn)生的。值得一提的，所述反畸變標(biāo)版80被整平地放置于所述均勻光源組件60之下，也就是說其被放置于大均勻光源下。
[0053]根據(jù)本發(fā)明的實施例。本發(fā)明的所述廣角鏡頭模組測試設(shè)備的最大對焦距離為750mm。因此，對于對焦距離大于750mm的所述廣角鏡頭模組，則利用定制專用的所述增距鏡90，以縮短實際測試距離，實現(xiàn)在所述廣角鏡頭模組測試設(shè)備的測試距離范圍內(nèi)調(diào)焦。值得一提的是，可由鏡頭供應(yīng)商提供專用增距鏡圖紙以用于制作所述增距鏡。
[0054]另外，如圖9所示，為說明一個1.2m的所述廣角鏡頭模組與所述增距鏡的架設(shè)。其中所述增距鏡90具有一承靠面91和一鏡筒接觸面92，其分別用于和所述廣角鏡頭模組耦合，并且透過所述增距鏡90使得對焦實際拍攝距離縮小至550mm，以實現(xiàn)在所述廣角鏡頭模組測試設(shè)備的架設(shè)環(huán)境下進(jìn)行調(diào)焦。
[0055]另外，值得一提的是，本發(fā)明還提供一廣角鏡頭模組調(diào)焦測試流程，其包括如下步驟:
[0056](SOl)—光源選取及架設(shè)；
[0057](S02)—反畸變標(biāo)版80制作；
[0058](S03) —增距鏡90使用評估及架設(shè)；
[0059](S04)模組出圖；以及
[0060](S05)調(diào)焦測試。
[0061]根據(jù)步驟(SOl)，透過一廣角鏡頭模組測試設(shè)備的一均勻光源組件60選取合適之光源。并且將一廣角鏡頭模組架設(shè)于所述廣角鏡頭模組測試設(shè)備的一測試工裝30上。所述均勻光源組件60位于所述測試工裝30的上方，并且所述均勻光源組件60具有一光源升降機(jī)構(gòu)以用于調(diào)整所述均勻光源組件60與所述測試工裝30的相對位置。
[0062]根據(jù)步驟(S02)，依據(jù)所述廣角鏡頭模組的畸變和視場角解像力要求以及對焦距離進(jìn)行制作所述反畸變標(biāo)版80。值得一提的，所述反畸變標(biāo)版80被整平地放置于所述均勻光源組件60之下。
[0063]根據(jù)步驟(S03)，本發(fā)明的所述廣角鏡頭模組測試設(shè)備的最大對焦距離為750mm。因此，在進(jìn)行調(diào)焦測試前需先評估待測試的所述廣角鏡頭模組是否需使用所述增距鏡90，若需使用所述增距鏡90則將其架設(shè)于所述廣角鏡頭模組的上方。
[0064]根據(jù)步驟(S05)，在所述模組出圖，所述反畸變標(biāo)版80、所述均勻光源組件60的光源、以及所述增距鏡90都架設(shè)成功之后，可通過一測試軟件實現(xiàn)對所述廣角鏡頭模組進(jìn)行調(diào)焦測試。
[0065]本領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)理解，上述描述及附圖中所示的本發(fā)明的實施例只作為舉例而并不限制本發(fā)明。本發(fā)明的目的已經(jīng)完整并有效地實現(xiàn)。本發(fā)明的功能及結(jié)構(gòu)原理已在實施例中展示和說明，在沒有背離所述原理下，本發(fā)明的實施方式可以有任何變形或修改。
【主權(quán)項】
1.一廣角鏡頭模組的測試設(shè)備，其特征在于，包括: 一工作臺； 一測試工裝，其設(shè)置于所述工作臺，且待測試的所述廣角鏡頭模組被放置于所述測試工裝上；以及 一均勻光源組件，其設(shè)置于所述工作臺上并位于所述測試工裝上方，以提供均勻光源。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的廣角鏡頭模組的測試設(shè)備，還包括一機(jī)架，用于支撐所述工作臺，所述機(jī)架包括一機(jī)架本體，和分別設(shè)置于機(jī)架本體下方的一移動單元和一調(diào)整單元，以便于移動和調(diào)節(jié)所述廣角鏡頭模組測試設(shè)備的水平度。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的廣角鏡頭模組的測試設(shè)備，還包括一污壞點測試工裝，其可移動地設(shè)置于所述工作臺上并位于所述測試工裝上方。4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的廣角鏡頭模組的測試設(shè)備，其中包括一控制箱，其被放置于所述機(jī)架上或所述工作臺上，以用于控制所述廣角鏡頭模組的測試設(shè)備。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的廣角鏡頭模組的測試設(shè)備，其中包括設(shè)置于所述均勻光源組件上的一防護(hù)罩。6.根據(jù)權(quán)利要求1至5中任一所述的廣角鏡頭模組的測試設(shè)備，其中包括被整平放置于所述均勻光源組件下方的一反畸變標(biāo)版。7.根據(jù)權(quán)利要求1至5中任一所述的廣角鏡頭模組的測試設(shè)備，其中包括架設(shè)于所述廣角鏡頭模組上方的一增距鏡。8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的廣角鏡頭模組的測試設(shè)備，其中包括架設(shè)于所述廣角鏡頭模組上方的一增距鏡。9.根據(jù)權(quán)利要求3所述的廣角鏡頭模組的測試設(shè)備，其中所述工作臺包括一臺面本體和設(shè)置于所述臺面本體上的一滑軌，其中所述污壞點測試工裝透過所述滑軌與所述測試工裝相連。10.根據(jù)權(quán)利要求1至5中任一所述的廣角鏡頭模組的測試設(shè)備，其中所述測試工裝包括一出圖工裝，一第一滑塊以及一第二滑塊，其中所述出圖工裝位于所述第一滑塊和所述第二滑塊之間，這樣當(dāng)所述廣角鏡頭模組被設(shè)置于所述出圖工裝上時，通過調(diào)節(jié)所述第一滑塊的相對位置，以滿足不同長度的所述廣角鏡頭模組的固定需求，通過調(diào)節(jié)所述第二滑塊的相對位置，以調(diào)整所述廣角鏡頭模組中心與所述污壞點測試工裝的相對位置和調(diào)整所述廣角鏡頭模組的鏡片中心與所述增距鏡中心使保持一致。11.根據(jù)權(quán)利要求6所述的廣角鏡頭模組的測試設(shè)備，其中所述測試工裝包括一出圖工裝，一第一滑塊以及一第二滑塊，其中所述出圖工裝位于所述第一滑塊和所述第二滑塊之間，這樣當(dāng)所述廣角鏡頭模組被設(shè)置于所述出圖工裝上時，通過調(diào)節(jié)所述第一滑塊的相對位置，以滿足不同長度的所述廣角鏡頭模組的固定需求，通過調(diào)節(jié)所述第二滑塊的相對位置，以調(diào)整所述廣角鏡頭模組中心與所述污壞點測試工裝的相對位置和調(diào)整所述廣角鏡頭模組的鏡片中心與所述增距鏡中心使保持一致。12.根據(jù)權(quán)利要求3所述的廣角鏡頭模組的測試設(shè)備，其中所述污壞點測試工裝包括一光源裝置以提供一污壞點測試均勻光源，裝置于所述光源裝置上的一軸承，安裝于所述軸承上的一絲桿螺母，連接于所述絲桿螺母的一絲桿，鎖固于所述工作臺的一固定板，分別鎖固于所述固定板上的三固定塊，位于所述光源裝置和所述固定塊之間的兩導(dǎo)柱，分別裝置于所述兩導(dǎo)柱上的兩滾珠導(dǎo)套，以及位于所述光源裝置上的一定位板，這樣所述廣角鏡頭模組在進(jìn)行檢測時，所述污壞點測試工裝根據(jù)需求進(jìn)行與所述廣角鏡頭模組的相對高度調(diào)整。13.根據(jù)權(quán)利要求9所述的廣角鏡頭模組的測試設(shè)備，其中所述污壞點測試工裝包括一光源裝置以提供一污壞點測試均勻光源，裝置于所述光源裝置上的一軸承，安裝于所述軸承上的一絲桿螺母，連接于所述絲桿螺母的一絲桿，鎖固于所述工作臺的所述滑軌的一固定板，分別鎖固于所述固定板上的三固定塊，位于所述光源裝置和所述固定塊之間的兩導(dǎo)柱，分別裝置于所述兩導(dǎo)柱上的兩滾珠導(dǎo)套，以及位于所述光源裝置上的一定位板，這樣所述廣角鏡頭模組在進(jìn)行檢測時，所述污壞點測試工裝根據(jù)需求進(jìn)行與所述廣角鏡頭模組的相對高度調(diào)整。14.根據(jù)權(quán)利要求1至5中任一所述的廣角鏡頭模組的測試設(shè)備，其中所述均勻光源組件包括一電機(jī)，二電機(jī)同步輪，一電機(jī)同步帶，二滾珠絲桿，三絲桿同步輪，一絲桿同步帶，一漲緊輪，一均勻光源裝置，以及四導(dǎo)向軸，其中所述二電機(jī)同步輪分別被安裝于所述電機(jī)和所述二滾珠絲桿其一的底端，所述二電機(jī)同步輪通過所述電機(jī)同步帶相連，所述三絲桿同步輪和所述漲緊輪通過所述絲桿同步帶相連，所述均勻光源裝置于所述滾珠絲桿，并由所述四導(dǎo)向軸協(xié)同支撐，這樣當(dāng)所述電機(jī)帶動所述二滾珠絲桿轉(zhuǎn)動時，通過控制所述電機(jī)的正反轉(zhuǎn)實現(xiàn)所述均勻光源裝置的升降。15.根據(jù)權(quán)利要求6所述的廣角鏡頭模組的測試設(shè)備，其中所述均勻光源組件包括一電機(jī)，二電機(jī)同步輪，一電機(jī)同步帶，二滾珠絲桿，三絲桿同步輪，一絲桿同步帶，一漲緊輪，一均勻光源裝置，以及四導(dǎo)向軸，其中所述二電機(jī)同步輪分別被安裝于所述電機(jī)和所述二滾珠絲桿其一的底端，所述二電機(jī)同步輪通過所述電機(jī)同步帶相連，所述三絲桿同步輪和所述漲緊輪通過所述絲桿同步帶相連，所述均勻光源裝置于所述滾珠絲桿，并由所述四導(dǎo)向軸協(xié)同支撐，這樣當(dāng)所述電機(jī)帶動所述二滾珠絲桿轉(zhuǎn)動時，通過控制所述電機(jī)的正反轉(zhuǎn)實現(xiàn)所述均勻光源裝置的升降。16.根據(jù)權(quán)利要求1-5中任一所述的廣角鏡頭模組的測試設(shè)備，其中所述均勻光源裝置提供1200x900mm的大均勻光源。17.根據(jù)權(quán)利要求14所述的廣角鏡頭模組的測試設(shè)備，其中所述均勻光源裝置提供1200x900mm的大均勻光源。18.根據(jù)權(quán)利要求6所述的廣角鏡頭模組的測試設(shè)備，其中所述廣角鏡頭模組視場角為94。-165。ο19.一廣角鏡頭模組調(diào)焦測試方法，包括如下步驟:所述廣角鏡頭模組拍攝一反畸變標(biāo)版得到至少一測試圖像并基于所述測試圖像進(jìn)行調(diào)焦。20.根據(jù)權(quán)利要求19所述的方法，其中所述反畸變標(biāo)版設(shè)置在一大均勻光源下方，其尺寸為 1200x900mm。21.根據(jù)權(quán)利要求19所述的方法，所述廣角鏡頭模組視場角范圍是94°-165°。22.根據(jù)權(quán)利要求19所述的方法，還包括步驟:通過至少一增距鏡以縮短實際測試距離。23.根據(jù)權(quán)利要求19所述的方法，還包括步驟:通過至少一電機(jī)的正反轉(zhuǎn)，實現(xiàn)組裝有所述大均勻光源的光源架的升降。24.根據(jù)權(quán)利要求23所述的方法，還包括步驟:所述電機(jī)桿通過一同步帶帶動兩側(cè)的至少一絲桿轉(zhuǎn)動，所述絲桿的轉(zhuǎn)動驅(qū)動所述光源架的升降。
【文檔編號】G03B43/00GK105892220SQ201610378355
【公開日】2016年8月24日
【申請日】2016年5月31日
【發(fā)明人】陳清清, 柳高烽, 張云鵬, 胡增新
【申請人】寧波舜宇光電信息有限公司