本發(fā)明涉及光纖技術領域，特別是涉及一種光纖刻寫監(jiān)測光路和光纖刻寫裝置。

背景技術：
光纖光柵是指使光纖纖芯的折射率發(fā)生軸向周期性調(diào)制而形成的衍射光柵。由于光纖光柵具有體積小、熔接損耗小、全兼容于光纖、能埋入智能材料等優(yōu)點，其在傳感和通信領域具有廣泛的應用。目前光纖刻寫的技術主要為相位掩模法紫外刻寫，其需要在線監(jiān)測光路、刻寫光路和熔接設備兩部分組成，熔接設備用于熔接待刻寫光纖，待刻寫光纖熔接完成后放入刻寫光路，在刻寫光路對待刻寫光纖進行刻寫的過程中，通過在線監(jiān)測光路對待刻寫光纖進行反射譜和/或透射譜進行監(jiān)測，以保證刻寫出來光纖光柵的一致性更好。但是在對待刻寫光纖進行反射譜和/或透射譜進行監(jiān)測，待刻寫光纖的反射譜和透射譜的光路不相同，因此，通常配備兩套在線監(jiān)測光路進行監(jiān)測，成本非常高。

技術實現(xiàn)要素：
本發(fā)明主要解決的技術問題是提供一種光纖刻寫監(jiān)測光路和光纖刻寫裝置，能夠在第一待刻寫光纖進行刻寫的過程中，監(jiān)測第一待刻寫光纖的反射譜或者透射譜，并且監(jiān)測第一待刻寫光纖的透射譜和反射譜的光路共用光源和光譜儀，節(jié)省成本。為解決上述技術問題，本發(fā)明采用的一個技術方案是：提供一種光纖刻寫監(jiān)測光路，包括：光源，用于發(fā)射檢測光；光環(huán)形器，設置有第一環(huán)形端口、第二環(huán)形端口和第三環(huán)形端口，所述第一環(huán)形端口與所述光源連接，所述第二環(huán)形端口用于連接第一待刻寫光纖的一端，其中，所述檢測光從所述第一環(huán)形端口入射，從所述第二環(huán)形端口出射，輸出到所述第一待刻寫光纖，所述第一待刻寫光纖所反射的反射光從所述第二環(huán)形端口入射，從所述第三環(huán)形端口輸出；第一光開關，設置有第一開關端口、第二開關端口和第三開關端口，所述第一開關端口與所述第三環(huán)形端口連接，所述第二開關端口用于與所述第一待刻寫光纖的另一端連接；光譜儀，與所述第三開關端口連接；在所述第一待刻寫光纖在刻寫形成光纖光柵的過程中，當所述第三開關端口與第一開關端口連通時，所述光譜儀檢測所述待刻寫光纖的反射譜，當所述第三開關端口與第二開關端口連通時，所述光譜儀檢測所述待刻寫光纖的透射譜。其中，所述光纖刻寫監(jiān)測光路還包括合束器和第二光開關；所述第二光開關設置有第四開關端口、第五開關端口和第六開關端口；所述第四開關端口與第二環(huán)形端口連接，所述第五開關端口用于與所述第一待刻寫光纖的一端連接，所述第六開關端口用于與第二待刻寫光纖的一端連接；所述合束器設置有第一分支端口、第二分支端口和合束端口，所述合束端口與所述第二開關端口連接，所述第一分支端口用于與第一待刻寫光纖的另一端連接，所述第二分支端口用于與第二待刻寫光纖的另一端連接；在所述第四開關端口與第五開關端口連通時，所述光纖刻寫監(jiān)測光路用于監(jiān)測所述第一待刻寫光纖的反射譜和透射譜，在所述第四開關端口與第六開關端口連通時，所述光纖刻寫監(jiān)測光路用于監(jiān)測所述第二待寫光纖的反射譜和透射譜。其中，所述第一光開關和第二光開關均為1*2光開關。其中，所述第二光開關還設置有第七開關端口，所述合束器還設置有第三分支端口，所述第七開關端口和第三分支端口分別用于與第三待刻寫光纖的兩端連接；在所述第四開關端口與第七開關端口連通時，所述光纖刻寫監(jiān)測光路用于監(jiān)測所述第三待刻寫光纖的反射譜和透射譜；所述第一光開關為1*2光開關，所述第二光開關為1*3光開關。為解決上述技術問題，本發(fā)明采用的另一個技術方案是：提供一種光纖刻寫系統(tǒng)，包括光纖刻寫監(jiān)測光路、第一待刻寫光纖和刻寫光路，所述光纖刻寫監(jiān)測光路包括光源、光環(huán)形器、第一光開關和光譜儀；所述光源用于發(fā)射檢測光；所述光環(huán)形器設置有第一環(huán)形端口、第二環(huán)形端口、第三環(huán)形端口，所述第一環(huán)形端口與所述光源連接，所述第二環(huán)形端口連接第一待刻寫光纖的一端，其中，所述檢測光從所述第一環(huán)形端口入射，從所述第二環(huán)形端口出射，輸出到所述第一待刻寫光纖，所述第一待刻寫光纖所反射的反射光從所述第二環(huán)形端口入射，從所述第三環(huán)形端口輸出；所述第一光開關設置有第一開關端口、第二開關端口和第三開關端口，所述第一開關端口與所述第三環(huán)形端口連接，所述第二開關端口與所述第一待刻寫光纖的另一端連接；所述光譜儀與所述第三開關端口連接；所述刻寫光路用于向所述第一待刻寫光纖照射刻寫激光，以對所述第一待刻寫光纖進行刻寫形成光纖光柵；在所述待刻寫光纖在刻寫形成光纖光柵的過程中，當所述第一開關端口與第三開關端口連通時，所述光譜儀檢測所述待刻寫光纖的反射譜，當所述第二開關端口與所述第三開關端口連通時，所述光譜儀檢測所述待刻寫光纖的透射譜。其中，所述光纖刻寫監(jiān)測光路還包括合束器和第二光開關；所述光纖刻寫系統(tǒng)還包括第二待刻寫光纖；所述第二光開關設置有第四開關端口、第五開關端口和第六開關端口；所述第四開關端口與第二環(huán)形端口連接，所述第五開關端口與所述第一待刻寫光纖的一端連接，所述第六開關端口與第二待刻寫光纖的一端連接；所述合束器設置有第一分支端口、第二分支端口和合束端口，所述合束端口與所述第二開關端口連接，所述第一分支端口與第一待刻寫光纖的另一端連接，所述第二分支端口與第二待刻寫光纖的另一端連接；所述刻寫光路還用于向所述第二待刻寫光纖照射刻寫激光，以對所述第二待刻寫光纖進行刻寫形成光纖光柵，在所述第四開關端口與第五開關端口連通時，所述光纖刻寫監(jiān)測光路用于監(jiān)測所述第一待刻寫光纖的反射譜和透射譜，在所述第四開關端口與第六開關端口連通時，所述光纖刻寫監(jiān)測光路用于監(jiān)測所述第二待寫光纖的反射譜和透射譜。其中，所述第一光開關和第二光開關均為1*2光開關。其中，所述光纖刻寫系統(tǒng)還包括第三待刻寫光纖；所述第二光開關還設置有第七開關端口，所述合束器還設置有第三分支端口，所述第七開關端口和第三分支端口分別用于與第三待刻寫光纖的兩端連接；所述刻寫光路還用于向所述第三待刻寫光纖照射刻寫激光，以對所述第三待刻寫光纖進行刻寫形成光纖光柵，在所述第四開關端口與第七開關端口連通時，所述光纖刻寫監(jiān)測光路用于監(jiān)測所述第三待刻寫光纖的反射譜和透射譜。其中，所述第一光開關為1*2光開關，所述第二光開關為1*3光開關。其中，所述光纖刻寫系統(tǒng)還包括夾具，所述夾具用來固定待刻寫光纖。本發(fā)明的有益效果是：區(qū)別于現(xiàn)有技術的情況，本發(fā)明通過光環(huán)形器的第一環(huán)形端口與光源連接，光環(huán)形器的第三環(huán)形端口與第一光開關的第一開關端口連接，第一光開關的第三開關端口與光譜儀連接，光環(huán)形器的第二環(huán)形端口和第一光開關的第二開關端口分別與第一待刻寫光纖的兩端連接，其中，從第一環(huán)形端口入射的光只能第二環(huán)形端口出射，從第二環(huán)形端口入射的光只能從第三環(huán)形端口出射，因此，可通過控制第三開關端口是與第一開關端口連通還是與第二端口連通，實現(xiàn)對第一待刻寫光纖是進行反射譜監(jiān)測還是透射譜監(jiān)測，從而實現(xiàn)對第一待刻寫光纖的透射譜和反射譜監(jiān)測復合到一套光路，進而實現(xiàn)光源和光譜儀的共用，節(jié)省成本。附圖說明圖1是本發(fā)明光纖刻寫監(jiān)測光路第一實施方式的示意圖；圖2是本發(fā)明光纖刻寫監(jiān)測光路第二實施方式的示意圖；圖3是本發(fā)明光纖刻寫系統(tǒng)實施方式的示意圖。具體實施方式下面結合附圖和實施方式對本發(fā)明進行詳細說明。請參閱圖1，光纖刻寫監(jiān)測光路20包括光源21、光環(huán)形器22、第一光開關23和光譜儀24。光源21用于發(fā)射檢測光。光環(huán)形器22設置有第一環(huán)形端口221、第二環(huán)形端口222和第三環(huán)形端口223，第一環(huán)形端口221與光源21連接，第二環(huán)形端口222用于連接第一待刻寫光纖10的一端，其中，檢測光從第一環(huán)形端口221入射，從第二環(huán)形端口222出射，輸出到第一待刻寫光纖10，第一待刻寫光纖10反射的反射光從第二環(huán)形端口222入射，從第三環(huán)形端口223輸出。簡而言之，在光環(huán)形器22中，從第一環(huán)形端口221入射的光只能從第二環(huán)形端口222出射，不會從第三環(huán)形端口223出射，從第二環(huán)形端口222入射的光只能從第三環(huán)形端口223出射，不會從第一環(huán)形端口221出射。第一光開關23設置有第一開關端口231、第二開關端口232和第三開關端口233，第一開關端口231與第三環(huán)形端口223連接，第二開關端口232用于與第一待刻寫光纖10的另一端連接。光譜儀24，與第三開關端口233連接。第三開關端口233同一時刻只能與第一開關端口231和第二開關端口232中的一個連通，不能同時與第一開關端口231和第二開關端口232連通，例如：第三開關端233與第一開關端口231連通，或者，第三開關端口233與第二開關端口232連通。在本實施方式中，第一光開關23優(yōu)選為1*2光開關。在第一待刻寫光纖10在刻寫形成光纖光柵的過程中，當?shù)谝婚_關端口231與第三開關端口233連通時，光譜儀24檢測待刻寫光纖的反射譜，當?shù)诙_關端口232與第三開關端口233連通時，光譜儀24檢測待刻寫光纖的透射譜。在第一待刻寫光纖10在刻寫形成光纖光柵時，可以通過光纖光柵監(jiān)測裝置實時監(jiān)測第一待刻寫光纖10的反射譜和/透射譜，進而獲取第一待刻寫光纖10的相關參數(shù)，在第一待刻寫光纖10的相關參數(shù)達到預定參數(shù)，第一待刻寫光纖10的刻寫完成，停止對第一待刻寫光纖10進行刻寫，保證第一待刻寫光纖10所形成的光纖光柵的一致性和準確性，保證光纖光柵的品質(zhì)。進一步的，由于第一待刻寫光柵的透傳光和反射光的光路是不相同的，通常需要配置兩套光路檢測第一待刻寫光柵的反射譜和透射譜，但是在本實施方式中，通過第一光開光和光環(huán)形器22將第一待刻寫光柵的透傳光和反射光復合到一套光路，節(jié)省一套光路，實現(xiàn)光源21和光譜儀24的共用，節(jié)省成本。光纖刻寫監(jiān)測光路20檢測第一待刻寫光纖10的反射譜和透射譜的原理具體為：(1)當需要監(jiān)測第一待刻寫光纖10的反射譜時，將第三開關端口233與第一開關端口231連通，光源21發(fā)射的檢測光從第一環(huán)形端口221進入，從第二環(huán)形端口222出射，輸入至第一待刻寫光纖10，第一待刻寫光纖10反射輸出反射光，反射光從第二環(huán)形端口222進入，從第三環(huán)形端口223出射，接著從第一開關端口231入射，從第三開關端口233出射，最后反射光入射至光譜儀24，光譜儀24測量出第一待刻寫光纖10的反射譜。(2)當需要監(jiān)測第一待刻寫光纖10的透射譜時，將第三開關端口233與第二開關端口232連通，光源21發(fā)射的檢測光從第一環(huán)形端口221進入，從第二環(huán)形端口222出射，輸入至第一待刻寫光纖10，第一待刻寫光纖10傳輸?shù)耐競鞴鈴牡诙_關端口232入射，從第三開關端口233出射，最后入射至光譜儀24，由光譜儀24檢測出第一待刻寫光纖10的透射譜。需要說明的是：光纖刻寫監(jiān)測光路20同一時刻只能監(jiān)測第一待刻寫光纖10的反射譜和透射譜中的一個，但是第一待刻寫光纖10的反射譜和透射譜的監(jiān)測可以自由切換。進一步的，請參閱圖2，光纖刻寫監(jiān)測光路20還包括合束器25和第二光開關26。第二光開關26設置有第四開關端口261、第五開關端口262和第六開關端口263。第四開關端口261與第二環(huán)形端口222連接，第五開關端口262用于與第一待刻寫光纖10的一端連接，第六開關端口263用于與第二待刻寫光纖11的一端連接。合束器25設置有第一分支端口251、第二分支端口252和合束端口253，合束端口253與第二開關端口232連接，第一分支端口251用于與第一待刻寫光纖10的另一端連接，第二分支端口252用于與第二待刻寫光纖11的另一端連接。在第四開關端口261與第五開關端口262連通時，光纖刻寫監(jiān)測光路20用于監(jiān)測第一待刻寫光纖10的反射譜和透射譜，在第四開關端口261與第六開關端口263連通時，光纖刻寫監(jiān)測光路20用于監(jiān)測第二待寫光纖的反射譜和透射譜。通過在光纖刻寫監(jiān)測光路20中設置合束器25和第二光開關26，使得光纖刻寫監(jiān)測光路20具有四條可選光路，以實現(xiàn)對第一待刻寫光纖10和第二待刻寫光纖11的自由切換監(jiān)測，但是光纖刻寫監(jiān)測光路20同一時刻也只能監(jiān)測一條待刻寫光纖，而在第一待刻寫光纖10刻寫的過程中，可以將第二待刻寫光纖11安裝至光纖刻寫監(jiān)測光路20上，在第一待刻寫光纖10刻寫完成后，可以直接切換至監(jiān)測第二待刻寫光纖11，避免在第一待刻寫光纖10刻寫完成后安裝第二待刻寫光纖11造成的刻寫停頓，保證刻寫工作的連續(xù)性，從而提高刻寫效率。若光纖刻寫監(jiān)測光路20只能監(jiān)測一條待刻寫光纖，則在待刻寫光纖完成刻寫，需要停止刻寫工作，將新待刻寫光纖安裝至光纖刻寫監(jiān)測光路20后，再重新開始對新待刻寫光纖的刻寫。為了方便讀者理解，以下又對光纖刻寫監(jiān)測光路20所具有的四條可選光路進行描述：光路1：第三開關端口233與第一開關端口231連通，第四開關端口261與第五開關端口262連通，光源21->第一環(huán)形端口221->第二環(huán)形端口222->第四開關端口261->第五開關端口262->第一待刻寫光纖10->第五開關端口262->第四開關端口261->第二環(huán)形端口222->第三環(huán)形端口223->第一開關端口231->第三開關端口233->光譜儀24。光路2：第三開關端口233與第二開關端口232連通，第四開關端口261與第五開關端口262連通，光源21->第一環(huán)形端口221->第二環(huán)形端口222->第四開關端口261->第五開關端口262->第一待刻寫光纖10->第一分支端口251->合束端口253->第二開關端口232->第三開關端口233->光譜儀24。光路3：第三開關端口233與第一開關端口231連通，第四開關端口261與第六開關端口263連通，光源21->第一環(huán)形端口221->第二環(huán)形端口222->第四開關端口261->第六開關端口263->第二待刻寫光纖11->第六開關端口263->第四開關端口261->第二環(huán)形端口222->第三環(huán)形端口223->第一開關端口231->第三開關端口233->光譜儀24。光路4：第三開關端口233與第二開關端口232連通，第四開關端口261與第六開關端口263連通，光源21->第一環(huán)形端口221->第二環(huán)形端口222->第四開關端口261->第六開關端口263->第二待刻寫光纖11->第二分支端口252->合束端口253->第二開關端口232->第三開關端口233->光譜儀24。需要說明的是：若光纖刻寫監(jiān)測光路20只允許設置兩條待刻寫光纖，則第二光開關26優(yōu)選為1*2光開關。若光纖刻寫監(jiān)測光路20允許設置多條待刻寫光纖，則第二光開關26為1*N光開關(N大于等于1)，合束器25也可以設置更多分支端口，集成多路光，例如：若光纖刻寫監(jiān)測光路20需要允許設置三條待刻寫光纖時，則第二光開關26優(yōu)選為1*3光開關，第二光開關26還設置有第七開關端口(圖未示)，合束器25還設置有第三分支端口(圖未示)，第七開關端口和第三分支端口分別用于與第三待刻寫光纖(圖未示)的兩端連接，在第四開關端口261與第七開關端口連通時，光纖刻寫監(jiān)測光路20用于監(jiān)測第三待刻寫光纖的反射譜和透射譜，又或者，若光纖刻寫監(jiān)測光路20需要允許設置六條待刻寫光纖時，則第二光開關26為1*6光開關，合束器25設置有6個分支端口。在本發(fā)明實施方式中，通過光環(huán)形器的第一環(huán)形端口與光源連接，光環(huán)形器的第三環(huán)形端口223與第一光開關的第一開關端口231連接，第一光開關的第三開關端口233與光譜儀連接，光環(huán)形器的第二環(huán)形端口和第一光開關的第二開關端口232分別與第一待刻寫光纖10的兩端連接，其中，從第一環(huán)形端口入射的光只能第二環(huán)形端口出射，從第二環(huán)形端口入射的光只能從第三環(huán)形端口223出射，因此，可通過控制第三開關端口233是與第一開關端口231連通還是與第二端口連通，實現(xiàn)對第一待刻寫光纖10是進行反射譜監(jiān)測還是透射譜監(jiān)測，從而實現(xiàn)對第一待刻寫光纖10的透射譜和反射譜監(jiān)測復合到一套光路，進而實現(xiàn)光源和光譜儀的共用，節(jié)省成本。本發(fā)明又提供光纖刻寫系統(tǒng)實施方式。請參閱圖3，光纖刻寫系統(tǒng)包括光纖刻寫監(jiān)測光路30、第一待刻寫光纖40和刻寫光路50。光纖刻寫監(jiān)測光路30包括光源31、光環(huán)形器32、第一光開關33和光譜儀34。光源31用于發(fā)射檢測光。光環(huán)形器32設置有第一環(huán)形端口321、第二環(huán)形端口322和第三環(huán)形端口323，第一環(huán)形端口321與光源31連接，第二環(huán)形端口322連接第一待刻寫光纖40的一端，其中，檢測光從第一環(huán)形端口321入射，從第二環(huán)形端口322出射，輸出到第一待刻寫光纖40，第一待刻寫光纖40所反射的反射光從第二環(huán)形端口322入射，從第三環(huán)形端口323輸出。第一光開關33設置有第一開關端口331、第二開關端口332和第三開關端口333，第一開關端口331與第三環(huán)形端口323連接，第二開關端口332與第一待刻寫光纖40的另一端連接。光譜儀34與第三開關端口333連接?？虒懝饴?0用于向第一待刻寫光纖40照射刻寫激光，以對第一待刻寫光纖40進行刻寫形成光纖光柵。在待刻寫光纖在刻寫形成光纖光柵的過程中，當?shù)谝婚_關端與第三開關端口333連通時，光譜儀34檢測待刻寫光纖的反射譜，當?shù)诙_關端口332與第三開關端口333連通時，光譜儀34檢測待刻寫光纖的透射譜。通過第一光開光和光環(huán)形器32將第一待刻寫光柵的透傳光和反射光復合到一套光路，節(jié)省一套光路，實現(xiàn)光源31和光譜儀34的共用，節(jié)省成本。為了提高光纖刻寫系統(tǒng)刻寫光纖光柵的刻寫效率，光纖刻寫監(jiān)測光路30還包括合束器35和第二光開關36。光纖刻寫系統(tǒng)還包括第二待刻寫光纖41。第二光開關36設置有第四開關端口361、第五開關端口362和第六開關端口363。第四開關端口361與第二環(huán)形端口322連接，第五開關端口362與第一待刻寫光纖40的一端連接，第六開關端口363與第二待刻寫光纖41的一端連接。合束器35設置有第一分支端口351、第二分支端口352和合束端口353，合束端口353與第二開關端口332連接，第一分支端口351與第一待刻寫光纖40的另一端連接，第二分支端口352用于與第二待刻寫光纖41的另一端連接?？虒懝饴?0還用于向第二待刻寫光纖41照射刻寫激光，以對第二待刻寫光纖41進行刻寫形成光纖光柵。在第四開關端口361與第五開關端口362連通時，光纖刻寫監(jiān)測光路30用于監(jiān)測第一待刻寫光纖40的反射譜和透射譜，在第四開關端口361與第六開關端口363連通時，光纖刻寫監(jiān)測光路30用于監(jiān)測第二待寫光纖的反射譜和透射譜，實現(xiàn)光纖刻寫監(jiān)測光路30可以在第一待刻寫光纖40和第二刻寫光纖之間自由切換監(jiān)測，進而使得在第一待刻寫光纖40刻寫的過程中，可以將第二待刻寫光纖41安裝至光纖刻寫監(jiān)測光路30上，在第一待刻寫光纖40刻寫完成后，可以直接切換至監(jiān)測第二待刻寫光纖41，避免在第一待刻寫光纖40刻寫完成后安裝第二待刻寫光纖41造成的刻寫停頓，保證刻寫工作的連續(xù)性，從而提高刻寫效率。需要說明的是：若光纖刻寫監(jiān)測光路30只允許設置兩條待刻寫光纖，則第二光開關36優(yōu)選為1*2光開關。若光纖刻寫監(jiān)測光路30允許設置多條待刻寫光纖，則第二光開關36為1*N(N大于等于1)，合束器35也可以設置更多分支端口，集成多路光，例如：若光纖刻寫監(jiān)測光路30需要允許設置三條待刻寫光纖時，則第二光開關36優(yōu)選為1*3光開關，第二光開關36還設置有第七開關端口，合束器35還設置有第三分支端口，光纖刻寫系統(tǒng)還包括第三待刻寫光纖，第七開關端口和第三分支端口分別用于與第三待刻寫光纖的兩端連接，刻寫光路50還用于向所述第三待刻寫光纖照射刻寫激光，以對所述第三待刻寫光纖進行刻寫形成光纖光柵，在第四開關端口361與第七開關端口連通時，光纖刻寫監(jiān)測光路30用于監(jiān)測第三待刻寫光纖的反射譜和透射譜，又或者，若光纖刻寫監(jiān)測光路30需要允許設置六條待刻寫光纖時，則第二光開關36為1*6光開關，合束器35設置有6個分支端口。為了更好地固定待刻寫光纖，光纖刻寫系統(tǒng)還包括夾具(圖未示)，夾具用于夾持固定待刻寫光纖,具體的，夾具用于夾持固定第一待刻寫光纖40、第一待刻寫光纖41和第三待刻寫光纖。光纖刻寫系統(tǒng)中光纖刻寫監(jiān)測光路30與光纖刻寫監(jiān)測光路實施方施中的光纖刻寫監(jiān)測光路20相同，對于光纖刻寫監(jiān)測光路30的詳細結構可參閱光纖刻寫監(jiān)測光路實施方式。在本發(fā)明實施方式中，通過光環(huán)形器32的第一環(huán)形端口321與光源31連接，光環(huán)形器32的第三環(huán)形端口323與第一光開關33的第一開關端口331連接，第一光開關33的第三開關端口333與光譜儀34連接，光環(huán)形器32的第二環(huán)形端口322和第一光開關33的第二開關端口332分別與第一待刻寫光纖40的兩端連接，其中，從第一環(huán)形端口321入射的光只能第二環(huán)形端口322出射，從第二環(huán)形端口322入射的光只能從第三環(huán)形端口323出射，因此，可通過控制第三開關端口333是與第一開關端口331連通還是與第二端口連通，實現(xiàn)對第一待刻寫光纖40是進行反射譜監(jiān)測還是透射譜監(jiān)測，從而實現(xiàn)對第一待刻寫光纖40的透射譜和反射譜監(jiān)測復合到一套光路，進而實現(xiàn)光源31和光譜儀34的共用，節(jié)省成本。以上所述僅為本發(fā)明的實施方式，并非因此限制本發(fā)明的專利范圍，凡是利用本發(fā)明說明書及附圖內(nèi)容所作的等效結構或等效流程變換，或直接或間接運用在其他相關的技術領域，均同理包括在本發(fā)明的專利保護范圍內(nèi)。