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基于平板光子晶體的高偏振度及高消光比tm光開(kāi)關(guān)的制作方法

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基于平板光子晶體的高偏振度及高消光比tm光開(kāi)關(guān)的制作方法
【專(zhuān)利摘要】本發(fā)明公開(kāi)了一種基于平板光子晶體的高偏振度及高消光比TM光開(kāi)關(guān),旨在提供一種便于集成的高偏振度及高消光比TM光開(kāi)關(guān)。它包括上下兩層平板光子晶體相連的一個(gè)整體,上平板光子晶體為一個(gè)TE禁帶的第一平板正方晶格光子晶體,第一平板正方晶格光子晶體的元胞由高折射率旋轉(zhuǎn)正方桿、單個(gè)第一平板介質(zhì)桿和背景介質(zhì)組成,第一平板介質(zhì)桿由高折射率介質(zhì)套管和套管內(nèi)的低折射率介質(zhì)組成,或者由一塊高折射率平板薄膜組成,或者由一塊低折射率介質(zhì)組成;下平板光子晶體為一個(gè)完全禁帶的第二正方晶格光子晶體,第二正方晶格光子晶體的元胞由高折射率旋轉(zhuǎn)正方桿、單個(gè)第二平板介質(zhì)桿和背景介質(zhì)組成,歸一化TM光開(kāi)關(guān)頻率為0.252~0.267。
【專(zhuān)利說(shuō)明】基于平板光子晶體的高偏振度及高消光比TM光開(kāi)關(guān)

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種高偏振度及高消光比TM光開(kāi)關(guān),特別涉及一種基于平板光子晶體絕對(duì)禁帶的高偏振度及高消光比TM光開(kāi)關(guān)。

【背景技術(shù)】
[0002]近年來(lái),隨著信息時(shí)代的到來(lái),通信技術(shù)的速度和信息量急劇增大。光通信技術(shù)給信息化時(shí)代插上了翅膀,但目前在節(jié)點(diǎn)和路由的信息處理依舊需要電路實(shí)現(xiàn),這在速度、容量和功率消耗方面制約了通訊技術(shù)的發(fā)展。采用光子集成光路代替或部分代替集成電路實(shí)現(xiàn)通信路由勢(shì)必成為未來(lái)的發(fā)展方向。
[0003]光子晶體是一種介電材料在空間中呈周期性排列的物質(zhì)結(jié)構(gòu),通常由兩種或兩種以上具有不同介電常數(shù)材料構(gòu)成的人工晶體。
[0004]因?yàn)榻^對(duì)禁帶中的電磁場(chǎng)模式是完全不能存在的,所以當(dāng)電子能帶與光子晶體絕對(duì)禁帶重疊時(shí),自發(fā)輻射被抑制。擁有絕對(duì)禁帶的光子晶體可以通過(guò)控制自發(fā)輻射,從而改變場(chǎng)與物質(zhì)的相互作用以及提高光學(xué)器件的性能。
[0005]可調(diào)光子晶體帶隙可以應(yīng)用于信息通訊,顯示和儲(chǔ)存??梢岳猛獠框?qū)動(dòng)源進(jìn)行高速調(diào)制帶隙變化,這方面已經(jīng)有很多方案提出,諸如:利用鐵磁性材料可以控制磁導(dǎo)率、利用鐵電性材料可以控制介電常數(shù)等。
[0006]目前的光開(kāi)關(guān)多數(shù)利用非線性效應(yīng)來(lái)實(shí)現(xiàn),而非線性效應(yīng)需要使用高功率的控制光,這勢(shì)必消耗大量的能量,在系統(tǒng)的集成度高,通信用戶(hù)數(shù)量龐大時(shí),該能量消耗將變得非常巨大。同時(shí),偏振度的高低將影響信噪比和傳輸速率。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0007]本發(fā)明的目的是提供一種便于集成的平板光子晶體高偏振度及高消光比TM光開(kāi)關(guān)。
[0008]為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明采取以下設(shè)計(jì)方案:
[0009]平板光子晶體高偏振度及高消光比TM光開(kāi)關(guān)包括上下兩層平板光子晶體相連而成的一個(gè)整體;所述上平板光子晶體為一個(gè)具有TE禁帶的第一平板正方晶格光子晶體,所述第一平板正方晶格光子晶體的元胞由高折射率旋轉(zhuǎn)正方桿、單個(gè)第一平板介質(zhì)桿和背景介質(zhì)組成,所述第一平板介質(zhì)桿沿水平方向布置,所述第一平板介質(zhì)桿以整個(gè)上平板光子晶體形成一個(gè)整體,所述第一平板介質(zhì)桿由高折射率介質(zhì)套管和套管內(nèi)的低折射率介質(zhì)組成,或者由一塊高折射率平板薄膜組成,或者由一塊低折射率介質(zhì)組成;所述下平板光子晶體為一個(gè)具有完全禁帶的第二正方晶格光子晶體;所述第二正方晶格光子晶體的元胞由高折射率旋轉(zhuǎn)正方桿、單個(gè)第二平板介質(zhì)桿和背景介質(zhì)組成,所述第二平板介質(zhì)桿沿水平方向布置,所述第二平板介質(zhì)桿以整個(gè)下平板光子晶體形成一個(gè)整體,所述第二平板介質(zhì)桿為高折射率介質(zhì)桿,所述背景介質(zhì)為低折射率介質(zhì);所述高偏振度及高消光比TM光開(kāi)關(guān)歸一化工作頻率為0.252?0.267 (工作頻帶)。
[0010]所述第一和第二平板光子晶體的高折射率旋轉(zhuǎn)正方桿的邊長(zhǎng)分別為0.545?0.554a,其旋轉(zhuǎn)角度為16.01°?35.04°和55°?66.83°,所述第一和第二的平板光子晶體的第一和第二平板介質(zhì)桿的寬度分別為0.075?0.082a。
[0011]所述第一和第二平板光子晶體中的第一和二平板介質(zhì)桿分別距離旋轉(zhuǎn)正方形柱中心0.2a。
[0012]所述第一平板光子晶體中元胞內(nèi)第一介質(zhì)桿中的套管厚度為O?0.004a ;所述套管內(nèi)的低折射率介質(zhì)的寬度為所述第一平板介質(zhì)桿的寬度與所述套管的厚度相減。
[0013]所述高折射率介質(zhì)為硅、砷化鎵、二氧化鈦或者折射率大于2的介質(zhì);所述低折射率介質(zhì)為真空、空氣、冰晶石、二氧化硅、有機(jī)泡沫、橄欖油或者折射率小于1.5的介質(zhì)。
[0014]所述TM光開(kāi)關(guān),第一平板光子晶體位于光路中,第二平板光子晶體位于光路外部為一種開(kāi)關(guān)狀態(tài);第二平板光子晶體位于光路中,第一平板光子晶體位于光路外部,為另一種開(kāi)關(guān)狀態(tài),所述第二平板光子晶體位于光路外一種開(kāi)關(guān)為光路連通狀態(tài);所述第一平板光子晶體位于光路外另一種開(kāi)關(guān)為光路斷開(kāi)狀態(tài)。
[0015]所述TM光開(kāi)關(guān)的歸一化工作頻率(a/ λ )為0.252?0.267,TM偏振消光比為-19dB?-22dB,偏振度最高達(dá)96.5 %,在工作頻帶內(nèi),TE波被阻隔,隔離度達(dá)為-20 ?-36dB。
[0016]所述第一平板光子晶體和第二平板光子晶體在光路中的位置通過(guò)外力調(diào)節(jié),所述外力包括機(jī)械力、電力和磁力。
[0017]本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比,具有如下積極效果。
[0018]1.光開(kāi)關(guān)是集成光路中必不可缺少的元器件,它對(duì)于網(wǎng)絡(luò)的高速運(yùn)行是非常重要的,大帶寬,低能量損耗,高偏振度及高消光比是衡量開(kāi)關(guān)的重要參數(shù)。
[0019]2.通過(guò)調(diào)節(jié)第一平板(上平板)和第二平板(下平板)光子晶體在光路中的位置變化來(lái)實(shí)現(xiàn)光開(kāi)關(guān)功能。
[0020]3.本發(fā)明結(jié)構(gòu)實(shí)現(xiàn)了高消光比TM光開(kāi)關(guān),從而實(shí)現(xiàn)了高消光比的光開(kāi)關(guān)功能。
[0021]4.便于集成的平板光子晶體具有高偏振度及高消光比的TM光開(kāi)關(guān)。

【專(zhuān)利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0022]圖1 (a)是本發(fā)明的基于平板光子晶體的高偏振度及高消光比TM光開(kāi)關(guān)上平板正方晶格光子晶體的元胞結(jié)構(gòu)示意圖。
[0023]圖1 (b)是本發(fā)明的基于平板光子晶體的高偏振度及高消光比TM光開(kāi)關(guān)下平板正方晶格光子晶體的元胞結(jié)構(gòu)示意圖。
[0024]圖2(a)是圖1(a)、(b)所示本發(fā)明基于平板光子晶體的高偏振度及高消光比TM光開(kāi)關(guān)第一種實(shí)施方式的結(jié)構(gòu)不意圖;
[0025]圖2(b)是圖1(a)、(b)所示本發(fā)明基于平板光子晶體的高偏振度及高消光比TM光開(kāi)關(guān)第二種實(shí)施方式的結(jié)構(gòu)示意圖;
[0026]圖2(c)是圖1(a)、(b)所示本發(fā)明基于平板光子晶體的高偏振度及高消光比TM光開(kāi)關(guān)第三種實(shí)施方式的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0027]圖3是實(shí)施例1所示第二平板光子晶體的光子帶結(jié)構(gòu)圖。
[0028]圖4是實(shí)施例1所示第一平板光子晶體的光子帶結(jié)構(gòu)圖。
[0029]圖5 (a)是實(shí)施例2所示歸一化工作頻率(a/ λ )為0.252的TE開(kāi)關(guān)光場(chǎng)分布圖。
[0030]圖5 (b)是實(shí)施例2所示歸一化工作頻率(a/λ)為0.252的TM開(kāi)關(guān)光場(chǎng)分布圖。
[0031]圖6 (a)是實(shí)施例3所示歸一化工作頻率(a/λ)為0.253的TE開(kāi)關(guān)光場(chǎng)分布圖。
[0032]圖6 (b)是實(shí)施例3所示歸一化工作頻率(a/λ)為0.253的TM開(kāi)關(guān)光場(chǎng)分布圖。
[0033]圖7 (a)是實(shí)施例4所示歸一化工作頻率(a/λ)為0.257的TE開(kāi)關(guān)光場(chǎng)分布圖。
[0034]圖7 (b)是實(shí)施例4所示歸一化工作頻率(a/λ)為0.257的TM開(kāi)關(guān)光場(chǎng)分布圖。
[0035]圖8 (a)是實(shí)施例5中所示歸一化工作頻率(a/ λ )為0.26的TE開(kāi)關(guān)光場(chǎng)分布圖。
[0036]圖8 (b)是實(shí)施例5所示歸一化工作頻率(a/ λ )為0.26的TM開(kāi)關(guān)光場(chǎng)分布圖。
[0037]圖9 (a)是實(shí)施例6所示歸一化工作頻率(a/λ)為0.267的TE開(kāi)關(guān)光場(chǎng)分布圖。
[0038]圖9 (b)是實(shí)施例6所示歸一化工作頻率(a/ λ )為0.267的TM開(kāi)關(guān)光場(chǎng)分布圖。

【具體實(shí)施方式】
[0039]下面結(jié)合附圖和【具體實(shí)施方式】對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)的說(shuō)明。
[0040]本發(fā)明基于平板光子晶體的高偏振度及高消光比TM光開(kāi)關(guān),平板光子晶體TM光開(kāi)關(guān),包括連成一個(gè)整體的上下兩層平板光子晶體;如圖1(a)所示,上平板光子晶體為一個(gè)具有TE禁帶第一平板正方晶格光子晶體,第一平板正方晶格光子晶體的元胞由高折射率旋轉(zhuǎn)正方桿、單個(gè)第一平板介質(zhì)桿和背景介質(zhì)組成,第一平板介質(zhì)桿沿水平方向布置,第一平板介質(zhì)桿使整個(gè)上平板光子晶體成為一個(gè)整體,第一平板介質(zhì)桿由高折射率介質(zhì)套管和套管內(nèi)的低折射率介質(zhì)組成,或者由一塊高折射率平板薄膜組成,或者由一塊低折射率介質(zhì)組成,低折射率介質(zhì)為真空、空氣、冰晶石、二氧化硅、有機(jī)泡沫、橄欖油或者折射率小于1.5的介質(zhì)。如圖1(b)所示,下平板光子晶體為一個(gè)具有完全禁帶的第二正方晶格光子晶體,第二正方晶格光子晶體的元胞由高折射率旋轉(zhuǎn)正方桿、單個(gè)第二平板介質(zhì)桿和背景介質(zhì)組成,第二平板介質(zhì)桿沿水平方向布置,第二平板介質(zhì)桿使整個(gè)下平板光子晶體成為一個(gè)整體,第二平板介質(zhì)桿為高折射率介質(zhì)桿,高折射率介質(zhì)為硅、砷化鎵、二氧化鈦或者折射率大于2的介質(zhì),背景介質(zhì)為低折射率介質(zhì);高偏振度及高消光比TM光開(kāi)關(guān)歸一化工作頻率為(a/λ)為0.252?0.267,此工作頻帶為第一平板光子晶體的TM傳輸帶和TE禁帶且為第二平板光子晶體的完全禁帶,或者為第二平板光子晶體的TM傳輸帶和TE禁帶且為第一平板光子晶體的完全禁帶,其中a為第一和第二平板光子晶體的晶格常數(shù),λ為入射波波長(zhǎng)。
[0041]TM光開(kāi)關(guān)的歸一化工作頻率(a/ λ )為0.252?0.267,TM偏振消光比為-19dB?-22dB,偏振度大于96.5 %,在工作頻帶內(nèi),TE波被阻隔,隔離度為_(kāi)20?_36dB。第一平板光子晶體位于光路中,第二平板光子晶體在光路外部為高偏振度及高消光比TM光開(kāi)關(guān)的第一開(kāi)關(guān)狀態(tài),即為光路連通狀態(tài),第二平板光子晶體位于光路中,第一平板光子晶體在光路外部為高偏振度及高消光比TM光開(kāi)關(guān)的第二開(kāi)關(guān)狀態(tài),即為光路斷開(kāi)狀態(tài)。光開(kāi)關(guān)的消光比是指開(kāi)關(guān)兩種狀態(tài),即為光路連通、斷開(kāi)狀態(tài)下的輸出光功率的比值;光開(kāi)關(guān)的偏振度是指開(kāi)關(guān)接通狀態(tài)下,輸出端TE波和TM波光功率之差與這兩個(gè)光功率之和的比值。.
[0042]本發(fā)明可按另一種實(shí)施方式的結(jié)構(gòu)示意圖設(shè)計(jì)出另一種具體結(jié)構(gòu)的平板光子晶體TM光開(kāi)關(guān)。其包括連成一個(gè)整體的上下兩層平板光子晶體,如圖2(a)所示,圖中省略了光子晶體中的旋轉(zhuǎn)正方桿,虛線框?yàn)樾D(zhuǎn)正方桿陣列所在的位置;上平板光子晶體為一個(gè)具有TE禁帶的第一平板正方晶格光子晶體,第一平板正方晶格光子晶體的元胞由高折射率旋轉(zhuǎn)正方桿、單個(gè)第一平板介質(zhì)桿和背景介質(zhì)組成,第一平板介質(zhì)桿沿水平方向布置,第一平板介質(zhì)桿使整個(gè)上平板光子晶體成為一個(gè)整體,第一平板介質(zhì)桿由高折射率套管和套管內(nèi)的低折射率介質(zhì)組成,第一平板光子晶體中元胞內(nèi)第一介質(zhì)桿中的套管厚度為O?0.004a;套管內(nèi)的低折射率介質(zhì)的寬度為第一平板介質(zhì)桿的寬度與套管的厚度相減。下平板光子晶體為一個(gè)具有完全禁帶的第二正方晶格光子晶體,第二正方晶格光子晶體的元胞由高折射率旋轉(zhuǎn)正方桿、單個(gè)第二平板介質(zhì)桿和背景介質(zhì)組成,第二平板介質(zhì)桿沿水平方向布置,第二平板介質(zhì)桿使整個(gè)下平板光子晶體成為一個(gè)整體,第一和第二平板光子晶體中的第一和二平板介質(zhì)桿分別距離旋轉(zhuǎn)正方桿中心0.2a,第一和第二平板光子晶體的高折射率旋轉(zhuǎn)正方桿的邊長(zhǎng)分別為0.545?0.554a,其旋轉(zhuǎn)角度為16.01°?35.04°和55°?66.83°。第一和第二平板光子晶體的第一和第二平板介質(zhì)桿的寬度分別為
0.075?0.082a ;第二平板介質(zhì)桿為高折射率介質(zhì)桿,高折射率介質(zhì)為硅、砷化鎵、二氧化鈦或者折射率大于2的介質(zhì),高折射率介質(zhì)采用硅材料;背景介質(zhì)為低折射率介質(zhì),低折射率介質(zhì)為真空、空氣、冰晶石、二氧化硅、有機(jī)泡沫、橄欖油或者折射率小于1.5的介質(zhì);高偏振度及高消光比TM光開(kāi)關(guān)歸一化工作頻率(a/λ)為0.252?0.267,此工作頻帶為第一平板光子晶體的TM傳輸帶和TE禁帶且為第二平板光子晶體的完全禁帶,或者為第二平板光子晶體的TM傳輸帶和TE禁帶且為第一平板光子晶體的完全禁帶,其中a為第一和第二平板光子晶體的晶格常數(shù),λ為入射波波長(zhǎng),TM偏振消光比為-19dB?-22dB,偏振度最高達(dá)96.5%,在工作頻帶內(nèi),TE波被阻隔,隔離度達(dá)到-20?-36dB。
[0043]本發(fā)明也可以按另一種實(shí)施方式的結(jié)構(gòu)示意圖設(shè)計(jì)出另一種具體結(jié)構(gòu)的平板光子晶體TM光開(kāi)關(guān)。其包括連成一個(gè)整體的上下兩層平板光子晶體,如圖2(b)所示,圖中省略了光子晶體中的旋轉(zhuǎn)正方桿,虛線框?yàn)樾D(zhuǎn)正方桿陣列所在的位置;上平板光子晶體為一個(gè)具有TE禁帶的第一平板正方晶格光子晶體,第一平板正方晶格光子晶體的元胞由高折射率旋轉(zhuǎn)正方桿、單個(gè)第一平板介質(zhì)桿和背景介質(zhì)組成,第一平板介質(zhì)桿沿水平方向布置,第一平板介質(zhì)桿使整個(gè)上平板光子晶體成為一個(gè)整體,第一平板介質(zhì)桿由一塊高折射率平板薄膜組成。下平板光子晶體為一個(gè)具有完全禁帶的第二正方晶格光子晶體,第二正方晶格光子晶體的元胞由高折射率旋轉(zhuǎn)正方桿、單個(gè)第二平板介質(zhì)桿和背景介質(zhì)組成,第二平板介質(zhì)桿沿水平方向布置,第二平板介質(zhì)桿使整個(gè)下平板光子晶體成為一個(gè)整體;第一和第二平板光子晶體中的第一和二平板介質(zhì)桿分別距離旋轉(zhuǎn)正方桿中心0.2a,第一、第二平板光子晶體的高折射率旋轉(zhuǎn)正方桿的邊長(zhǎng)分別為0.545?0.554a,旋轉(zhuǎn)角度分別為16.01°?35.04°和55°?66.83° ,第一和第二平板光子晶體的第一和第二平板介質(zhì)桿的寬度分別為0.075?0.082a ;第二平板介質(zhì)桿為高折射率介質(zhì)桿,高折射率介質(zhì)為硅、砷化鎵、二氧化鈦或者折射率大于2的介質(zhì),高折射率介質(zhì)采用硅材料;背景介質(zhì)為低折射率介質(zhì),低折射率介質(zhì)為真空、空氣、冰晶石、二氧化硅、有機(jī)泡沫、橄欖油或者折射率小于1.5的介質(zhì)。高偏振度及高消光比TM光開(kāi)關(guān)歸一化工作頻率(a/λ)為0.252?0.267,此工作頻帶為第一平板光子晶體的TM傳輸帶和TE禁帶且為第二平板光子晶體的完全禁帶,或者為第二平板光子晶體的TM傳輸帶和TE禁帶且為第一平板光子晶體的完全禁帶,其中a為第一和第二平板光子晶體的晶格常數(shù),λ為入射波波長(zhǎng),TM偏振消光比為-19dB?-22dB,偏振度最高達(dá)96.5 %,在工作頻帶內(nèi),TE波被阻隔,隔離度達(dá)到-20?-36dB。
[0044]還可以根據(jù)圖2(c)所示結(jié)構(gòu)示意圖設(shè)計(jì)出另一種具體結(jié)構(gòu)的平板光子晶體TM光開(kāi)關(guān),其包括連成一個(gè)整體的上下兩層平板光子晶體,如圖2(c)所示,圖中省略了光子晶體中的旋轉(zhuǎn)正方桿,虛線框?yàn)樾D(zhuǎn)正方桿陣列所在的位置;上平板光子晶體為一個(gè)具有TE禁帶的第一平板正方晶格光子晶體,第一平板正方晶格光子晶體的元胞由高折射率旋轉(zhuǎn)正方桿、單個(gè)第一平板介質(zhì)桿和背景介質(zhì)組成,第一平板介質(zhì)桿由一塊低折射率介質(zhì)組成,背景介質(zhì)為低折射率介質(zhì),高折射率旋轉(zhuǎn)正方桿內(nèi)有一條槽,槽中填充低折射率介質(zhì),低折射率介質(zhì)為真空、空氣、冰晶石、二氧化硅、有機(jī)泡沫、橄欖油或者折射率小于1.5的介質(zhì),例如填充空氣;下平板光子晶體為一個(gè)具有完全禁帶的第二正方晶格光子晶體,第二正方晶格光子晶體的元胞由高折射率旋轉(zhuǎn)正方桿、單個(gè)第二平板介質(zhì)桿和背景介質(zhì)組成,第二平板介質(zhì)桿沿水平方向布置,第二平板介質(zhì)桿使整個(gè)下平板光子晶體成為一個(gè)整體,第一和第二個(gè)平板介質(zhì)桿距離旋轉(zhuǎn)正方桿中心0.2a,第一、第二平板晶格光子晶體元胞內(nèi)的高折射率旋轉(zhuǎn)正方桿的邊長(zhǎng)分別為0.545?0.554a,旋轉(zhuǎn)角度分別為16.01°?35.04°和55°?66.83° ,第一、第二平板介質(zhì)桿的寬度分別為0.075?0.082a ;第二平板介質(zhì)桿為高折射率介質(zhì)桿,高折射率介質(zhì)為硅、砷化鎵、二氧化鈦或者折射率大于2的介質(zhì),高折射率介質(zhì)采用硅材料;背景介質(zhì)為低折射率介質(zhì);高偏振度及高消光比TM光開(kāi)關(guān)歸一化工作頻率(a/λ)為0.252?0.267,此工作頻帶為第一平板光子晶體的TM傳輸帶和TE禁帶且為第二平板光子晶體的完全禁帶,或者為第二平板光子晶體的TM傳輸帶和TE禁帶且為第一平板光子晶體的完全禁帶,其中a為第一和第二平板光子晶體的晶格常數(shù),λ為入射波波長(zhǎng),TM偏振消光比為-19dB?-22dB,偏振度最高達(dá)96.5%,在工作頻帶內(nèi),TE波被阻隔,隔尚度達(dá)到_20?_36dB。
[0045]對(duì)于上述三種實(shí)施方式,均以紙面為參考面,上下平板光子晶體通過(guò)框架連接成為一個(gè)整體,受外力而做垂直于運(yùn)動(dòng),實(shí)現(xiàn)光開(kāi)關(guān)功能;由于框架本身不在光輸入和輸出面,即光的輸入和輸出面平行于參考面,因而不影響光的傳播。作為整體的上下平板光子晶體的上下移動(dòng)可以通過(guò)微機(jī)械力、電力和磁力來(lái)實(shí)現(xiàn),例如在框架內(nèi)埋入磁鐵,采用一個(gè)壓力聯(lián)動(dòng)裝置與框架連接,則壓力可以驅(qū)動(dòng)黑色框上下移動(dòng),框架的左右兩邊位于凹槽導(dǎo)軌中,以保證黑框做上下直線往復(fù)運(yùn)動(dòng)。
[0046]實(shí)施例1
[0047]本實(shí)施例中,通過(guò)第一、第二兩個(gè)平板光子晶體得到垂直方向上的不同的光子帶結(jié)構(gòu)圖,圖3為第二平板光子晶體的光子帶結(jié)構(gòu)圖,圖4為第一平板光子晶體的光子帶結(jié)構(gòu)圖,對(duì)比可知,在歸一化工作頻率(a/λ)范圍為0.242?0.281中,該結(jié)構(gòu)實(shí)現(xiàn)了高偏振度及高消光比TM光開(kāi)關(guān),從而實(shí)現(xiàn)了高消光比的光開(kāi)關(guān)功能。
[0048]實(shí)施例2
[0049]本實(shí)施例中,歸一化光子工作頻率(a/λ)為0.252。采用第一種實(shí)施方式,利用三維結(jié)構(gòu)數(shù)值驗(yàn)證,其中包括6層高折射率旋轉(zhuǎn)介質(zhì)桿和由旋轉(zhuǎn)桿和平板連桿構(gòu)成的6層高折射率介質(zhì)脈絡(luò)。由如圖5(a)、圖5(b)數(shù)值模擬結(jié)果得出:開(kāi)關(guān)具有高偏振度并且消光效果很好。
[0050]實(shí)施例3
[0051]本實(shí)施例中,歸一化光子工作頻率(a/λ)為0.253。采用第一種實(shí)施方式,利用三維結(jié)構(gòu)數(shù)值驗(yàn)證,其中包括6層高折射率旋轉(zhuǎn)介質(zhì)桿和由旋轉(zhuǎn)桿和平板連桿構(gòu)成的6層高折射率介質(zhì)脈絡(luò)。由如圖6(a)、(b)數(shù)值模擬結(jié)果得出:開(kāi)關(guān)具有高偏振度并且消光效果很好。
[0052]實(shí)施例4
[0053]本實(shí)施例中,歸一化光子工作頻率(a/λ)為0.257。采用第二種實(shí)施方式,利用三維結(jié)構(gòu)數(shù)值驗(yàn)證,其中6包括層高折射率旋轉(zhuǎn)介質(zhì)桿和由旋轉(zhuǎn)桿和平板連桿構(gòu)成的6層高折射率介質(zhì)脈絡(luò)。由如圖7(a)、(b)數(shù)值模擬結(jié)果得出:開(kāi)關(guān)具有高偏振度并且消光效果很好。
[0054]實(shí)施例5
[0055]本實(shí)施例中,歸一化光子工作頻率(a/λ )為0.26。采用第二種實(shí)施方式,利用三維結(jié)構(gòu)數(shù)值驗(yàn)證,其中包括6層高折射率旋轉(zhuǎn)介質(zhì)桿、和由旋轉(zhuǎn)桿和平板連桿構(gòu)成的6層高折射率介質(zhì)脈絡(luò)。由如圖8(a)、(b)數(shù)值模擬結(jié)果得出:開(kāi)關(guān)具有高偏振度并且消光效果很好。
[0056]實(shí)施例6
[0057]本實(shí)施例中,歸一化光子工作頻率(a/λ)為0.267。采用第三種實(shí)施方式,利用三維結(jié)構(gòu)數(shù)值驗(yàn)證,其中包括6層高折射率旋轉(zhuǎn)介質(zhì)桿和由旋轉(zhuǎn)桿和平板連桿構(gòu)成的6層高折射率介質(zhì)脈絡(luò)。由如圖9(a)、(b)數(shù)值模擬結(jié)果得出:開(kāi)關(guān)具有高偏振度并且消光效果很好。
[0058]以上之詳細(xì)描述僅為清楚理解本發(fā)明,而不應(yīng)將其看做是對(duì)本發(fā)明不必要的限制,因此對(duì)本發(fā)明的任何改動(dòng)對(duì)本領(lǐng)域中的技術(shù)熟練的人是顯而易見(jiàn)的。
【權(quán)利要求】
1.一種基于平板光子晶體的高偏振度及高消光比TM光開(kāi)關(guān),其特征在于,包括上下兩層平板光子晶體相連而成的一個(gè)整體;所述上平板光子晶體為一個(gè)具有TE禁帶的第一平板正方晶格光子晶體,所述第一平板正方晶格光子晶體的元胞由高折射率旋轉(zhuǎn)正方桿、單個(gè)第一平板介質(zhì)桿和背景介質(zhì)組成,所述第一平板介質(zhì)桿沿水平方向布置,所述第一平板介質(zhì)桿以整個(gè)上平板光子晶體形成一個(gè)整體,所述第一平板介質(zhì)桿由高折射率介質(zhì)套管和套管內(nèi)的低折射率介質(zhì)組成,或者由一塊高折射率平板薄膜組成,或者由一塊低折射率介質(zhì)組成;所述下平板光子晶體為一個(gè)具有完全禁帶的第二平板正方晶格光子晶體;所述第二正方晶格光子晶體的元胞由高折射率旋轉(zhuǎn)正方桿、單個(gè)第二平板介質(zhì)桿和背景介質(zhì)組成,所述第二平板介質(zhì)桿沿水平方向布置,所述第二平板介質(zhì)桿以整個(gè)下平板光子晶體形成一個(gè)整體,所述第二平板介質(zhì)桿為高折射率介質(zhì)桿;所述背景介質(zhì)為低折射率介質(zhì);所述高偏振度及高消光比TM光開(kāi)關(guān)歸一化工作頻率(a/λ)為0.252?0.267。
2.按照權(quán)利要求1所述的基于平板光子晶體的高偏振度及高消光比TM光開(kāi)關(guān),其特征在于,所述第一和第二平板光子晶體的高折射率旋轉(zhuǎn)正方桿的邊長(zhǎng)分別為0.545?0.554a,其旋轉(zhuǎn)角度為16.01°?35.04°和55°?66.83° ;所述第一和第二平板光子晶體的第一和第二平板介質(zhì)桿的寬度分別為0.075?0.082a。
3.按照權(quán)利要求1所述的基于平板光子晶體的高偏振度及高消光比TM光開(kāi)關(guān),其特征在于,第一和第二平板光子晶體中的第一和第二平板介質(zhì)桿分別距離旋轉(zhuǎn)正方形柱中心0.2a。
4.按照權(quán)利要求1所述的基于平板光子晶體的高偏振度及高消光比TM光開(kāi)關(guān),其特征在于,所述第一平板光子晶體元胞內(nèi)第一介質(zhì)桿中的套管厚度為O?0.004a ;所述套管內(nèi)的低折射率介質(zhì)的寬度為所述第一平板介質(zhì)桿的寬度與所述套管的厚度相減。
5.按照權(quán)利要求1所述的基于平板光子晶體的高偏振度及高消光比TM光開(kāi)關(guān),其特征在于,所述TM光開(kāi)關(guān),第一平板光子晶體位于光路中,第二平板光子晶體位于光路外部為一種開(kāi)關(guān)狀態(tài),第二平板光子晶體位于光路中,第一平板光子晶體位于光路外部為另一種開(kāi)關(guān)狀態(tài)。
6.按照權(quán)利要求5所述的基于平板光子晶體的高偏振度及高消光比TM光開(kāi)關(guān),其特征在于,所述第二平板光子晶體位于光路外的一種開(kāi)關(guān)為光路連通狀態(tài);所述第一平板光子晶體位于光路外的另一種開(kāi)關(guān)為光路斷開(kāi)狀態(tài)。
7.按照權(quán)利要求1所述的基于平板光子晶體的高偏振度及高消光比TM光開(kāi)關(guān),其特征在于,所述高折射率介質(zhì)為硅、砷化鎵、二氧化鈦或者折射率大于2的介質(zhì)。
8.按照權(quán)利要求1所述的基于平板光子晶體的高偏振度及高消光比TM光開(kāi)關(guān),其特征在于,所述低折射率介質(zhì)為真空、空氣、冰晶石、二氧化硅、有機(jī)泡沫、橄欖油或者折射率小于1.5的介質(zhì)。
9.按照權(quán)利要求1所述的基于平板光子晶體的高偏振度及高消光比TM光開(kāi)關(guān),其特征在于,所述TM光開(kāi)關(guān)的歸一化工作頻率(a/λ)為0.252?0.267,TM偏振消光比為-19dB?-22dB,偏振度最高達(dá)96.5 %,在工作頻段內(nèi),TE波被阻隔,隔離度為-20 ?-36dB。
10.按照權(quán)利要求1所述的基于平板光子晶體的高偏振度及高消光比TM光開(kāi)關(guān),其特征在于,所述第一平板光子晶體和第二平板光子晶體在光路中的位置通過(guò)外力調(diào)節(jié),所述外力包括機(jī)械力、電力和磁力。
【文檔編號(hào)】G02B6/122GK104459988SQ201410756881
【公開(kāi)日】2015年3月25日 申請(qǐng)日期:2014年12月10日 優(yōu)先權(quán)日:2014年12月10日
【發(fā)明者】歐陽(yáng)征標(biāo), 文國(guó)華 申請(qǐng)人:歐陽(yáng)征標(biāo), 深圳大學(xué)
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