一種基板檢測裝置及方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種基板檢測裝置及方法，用以實(shí)現(xiàn)對液晶顯示器外圍電路區(qū)域中的引線的寬區(qū)域和高兼容性檢測。所述裝置包括：轉(zhuǎn)換單元，用于根據(jù)基板的電路引線區(qū)的灰度圖像進(jìn)行灰度計算，并根據(jù)計算得到的電路引線區(qū)中的引線和襯底基板之間的灰度差異，將所述灰度圖像轉(zhuǎn)化為電路引線區(qū)中的引線圖像；判斷單元，用于根據(jù)所述電路引線區(qū)中的引線圖像，對所述電路引線區(qū)中的引線狀態(tài)進(jìn)行判斷。
【專利說明】一種基板檢測裝置及方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及顯示【技術(shù)領(lǐng)域】，尤其涉及一種基板檢測裝置及方法。
【背景技術(shù)】
[0002]在薄膜晶體管液晶顯不器(ThinFilm Transistor Liquid Crystal Display,TFT-1XD)的每個面板(Panel)的設(shè)計中，采用線掃描的方式對Panel中的每一個像素進(jìn)行驅(qū)動。同一行/列的TFT薄膜晶體管由同一根柵極(Gate)/數(shù)據(jù)(Date)線驅(qū)動，Gate/Date交互導(dǎo)通便能精確控制每一個像素。每一行/列的信號線向Panel邊緣引出，便形成了外圍電路，如圖1所示，Date線10的引線組成Date線外圍電路區(qū)域13，Gate線11的引線組成Gate線外圍電路區(qū)域14，Date線10和Gate線11之間的區(qū)域?yàn)橄袼貐^(qū)域12，外圍電路區(qū)域13和14中的引線成蛇形密集排布，最終與Panel的驅(qū)動電路相連。
[0003]在實(shí)際生產(chǎn)過程中，外圍電路區(qū)域中的引線難免會出現(xiàn)異常，如相鄰引線之間導(dǎo)通或引線斷開。當(dāng)外圍電路區(qū)域中的引線出現(xiàn)異常時，將會導(dǎo)致Panel中某一行/列的像素不能正常顯示，會對Panel品質(zhì)有極大的影響?，F(xiàn)有技術(shù)采用的檢測外圍電路區(qū)域中的引線是否出現(xiàn)異常的檢測方法主要有兩種。
[0004]現(xiàn)有技術(shù)采用的第一種檢測方法為分區(qū)域檢測法，在像素區(qū)，由于每個像素基本相同，可以采用臨近像素對比的方法發(fā)現(xiàn)不良像素。通過將外圍電路區(qū)域分割成眾多獨(dú)立的區(qū)域，計算每個區(qū)域不同的重復(fù)單元，可對較規(guī)則的區(qū)域進(jìn)行檢測。如圖2所示，蛇形引線的豎直部分在橫向呈有規(guī)律地重復(fù)，該方法僅能檢測比較規(guī)則，且在水平/垂直方向引線有重復(fù)的區(qū)域，該方法對于較不規(guī)則或引線非水平/垂直分布的區(qū)域則無法檢測，且該方法要求將外圍電路區(qū)域分割成很多小區(qū)域，確定各個小區(qū)域的邊界，在程序設(shè)定方面需要大量的時間。
[0005]現(xiàn)有技術(shù)采用的第二種檢測方法為基于Panel間的對比檢測法，如圖3所示，將同一玻璃基板30上相鄰面板31和32的外圍電路區(qū)域310和320進(jìn)行對比，或?qū)⒚姘?1和32的另一個外圍電路區(qū)域311和321進(jìn)行對比。此方法能避免繁瑣的區(qū)域設(shè)定，但要求兩相鄰的Panel間距離不能太遠(yuǎn)，而對于每張玻璃基板僅有一個Panel的大尺寸產(chǎn)品則是沒有辦法進(jìn)行檢測的。
[0006]綜上所述，現(xiàn)有技術(shù)中檢測外圍電路區(qū)域中的引線是否出現(xiàn)異常的方法均是基于相同圖形/區(qū)域?qū)Ρ冗M(jìn)行檢測的，該檢測方法無法對外圍電路區(qū)域中的引線進(jìn)行寬區(qū)域和高兼容性的檢測。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0007]本發(fā)明提供了一種基板檢測裝置及方法，用以實(shí)現(xiàn)對液晶顯示器外圍電路區(qū)域中的引線的寬區(qū)域和高兼容性檢測。
[0008]根據(jù)本發(fā)明提供的一種基板檢測裝置，所述裝置包括:
[0009]轉(zhuǎn)換單元，用于根據(jù)基板的電路引線區(qū)的灰度圖像進(jìn)行灰度計算，并根據(jù)計算得到的電路引線區(qū)中的引線和襯底基板之間的灰度差異，將所述灰度圖像轉(zhuǎn)化為電路引線區(qū)中的引線圖像；
[0010]判斷單元，用于根據(jù)所述電路引線區(qū)中的引線圖像，對所述電路引線區(qū)中的引線狀態(tài)進(jìn)行判斷。
[0011]由本發(fā)明提供的一種基板檢測裝置，由于該裝置包括用于根據(jù)基板的電路引線區(qū)的灰度圖像進(jìn)行灰度計算，并根據(jù)計算得到的電路引線區(qū)中的引線和襯底基板之間的灰度差異，將所述灰度圖像轉(zhuǎn)化為電路引線區(qū)中的引線圖像的轉(zhuǎn)換單元，用于根據(jù)所述電路引線區(qū)中的引線圖像，對所述電路引線區(qū)中的引線狀態(tài)進(jìn)行判斷的判斷單元，用該裝置在檢測液晶顯示器電路引線區(qū)中的引線時不需要將電路引線區(qū)分成很多小區(qū)域，同時不需要限定Panel間距及每張襯底基板需要由大于一的多個Panel組成，因此采用該裝置能夠?qū)崿F(xiàn)對液晶顯示器電路引線區(qū)中的引線的寬區(qū)域和高兼容性檢測。
[0012]較佳地，所述裝置包括:
[0013]掃描鏡頭，用于對基板的電路引線區(qū)進(jìn)行掃描；
[0014]圖像采集單元，用于采集掃描鏡頭掃描的所述電路引線區(qū)中的灰度圖像。
[0015]這樣，由于本發(fā)明提供的檢測裝置包括用于對基板的電路引線區(qū)進(jìn)行掃描的掃描鏡頭和用于采集掃描鏡頭掃描的所述電路引線區(qū)中的灰度圖像的圖像采集單元，在實(shí)際生產(chǎn)和應(yīng)用中簡單、易行。
[0016]較佳地，所述掃描鏡頭為(XD鏡頭。
[0017]這樣，用CCD鏡頭作為掃描鏡頭在實(shí)際應(yīng)用中方便、簡單且掃描得到的圖像較佳。
[0018]較佳地，所述引線狀態(tài)包括:引線斷開和/或引線交疊。
[0019]這樣，本發(fā)明提供的檢測裝置能夠簡單、方便的檢測基板的電路引線區(qū)中引線的斷開和/或交疊。
[0020]本發(fā)明還提供了一種基板檢測方法，所述方法包括:
[0021]檢測裝置根據(jù)基板的電路引線區(qū)的灰度圖像進(jìn)行灰度計算，并根據(jù)計算得到的電路引線區(qū)中的引線和襯底基板之間的灰度差異，將所述灰度圖像轉(zhuǎn)化為電路引線區(qū)中的引線圖像；
[0022]檢測裝置根據(jù)所述電路引線區(qū)中的引線圖像，對所述電路引線區(qū)中的引線狀態(tài)進(jìn)行判斷。
[0023]由本發(fā)明提供的一種基板檢測方法，由于該方法包括檢測裝置根據(jù)基板的電路引線區(qū)的灰度圖像進(jìn)行灰度計算，并根據(jù)計算得到的電路引線區(qū)中的引線和襯底基板之間的灰度差異，將所述灰度圖像轉(zhuǎn)化為電路引線區(qū)中的引線圖像；檢測裝置根據(jù)所述電路引線區(qū)中的引線圖像，對所述電路引線區(qū)中的引線狀態(tài)進(jìn)行判斷，用該方法在檢測液晶顯示器電路引線區(qū)中的引線時不需要將電路引線區(qū)分成很多小區(qū)域，同時不需要限定Panel間距及每張襯底基板需要由大于一的多個Panel組成，因此采用該方法能夠?qū)崿F(xiàn)對液晶顯示器電路弓丨線區(qū)中的引線的寬區(qū)域和高兼容性檢測。
[0024]較佳地，所述檢測裝置根據(jù)基板的電路引線區(qū)的灰度圖像進(jìn)行灰度計算前，該方法還包括:
[0025]檢測裝置對基板的電路引線區(qū)進(jìn)行掃描；
[0026]檢測裝置采集掃描鏡頭掃描的所述電路引線區(qū)中的灰度圖像。[0027]這樣，在檢測裝置根據(jù)基板的電路引線區(qū)的灰度圖像進(jìn)行灰度計算前，檢測裝置對基板的電路引線區(qū)進(jìn)行掃描并采集掃描鏡頭掃描的所述電路引線區(qū)中的灰度圖像，可以更加方便、簡單的檢測電路引線區(qū)中的引線狀態(tài)。
[0028]較佳地，確定所述電路引線區(qū)中的引線狀態(tài)后，該方法還包括:
[0029]檢測裝置計算所述電路引線區(qū)中的引線斷開和/或交疊的位置坐標(biāo)。
[0030]這樣，檢測裝置計算所述電路引線區(qū)中的引線斷開和/或交疊的位置坐標(biāo)，可以根據(jù)該位置坐標(biāo)方便的采集到引線斷開和/或交疊的彩色圖像。
[0031]較佳地，所述檢測裝置計算所述電路引線區(qū)中的引線斷開和/或交疊的位置坐標(biāo)后，該方法還包括:
[0032]用RGB鏡頭采集電路引線區(qū)中的引線斷開和/或交疊的位置處的彩色圖片。
[0033]這樣，用RGB鏡頭采集電路引線區(qū)中的引線斷開和/或交疊的位置處的彩色圖片，可以方便后續(xù)作業(yè)員的二次檢測，提高檢測的準(zhǔn)確性。
[0034]較佳地，所述檢測裝置根據(jù)所述電路引線區(qū)中的引線圖像，判斷所述電路引線區(qū)中的引線是否斷開，包括:
[0035]檢測裝置根據(jù)所述電路引線區(qū)中的引線圖像，計算所述電路引線區(qū)中的引線圖像的灰度值，若所述引線圖像的灰度值不連續(xù)，則確定所述電路引線區(qū)中的引線斷開。
[0036]這樣，可以由引線圖像的灰度值簡單、方便的檢測出電路引線區(qū)中引線的斷開。
[0037]較佳地，所述檢測裝置根據(jù)所述電路引線區(qū)中的引線圖像，判斷所述電路引線區(qū)中的引線是否交疊，包括:
[0038]檢測裝置根據(jù)所述電路引線區(qū)中相鄰引線圖像，計算所述相鄰引線圖像的灰度值，若在引線經(jīng)過的區(qū)域內(nèi)，相鄰引線的連續(xù)灰度值發(fā)生交疊，則確定所述電路引線區(qū)中的引線交疊。
[0039]這樣，可以由引線圖像的灰度值簡單、方便的檢測出電路引線區(qū)中引線的交疊。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0040]圖1為現(xiàn)有技術(shù)中Panel像素區(qū)和外圍區(qū)域分布示意圖；
[0041]圖2為現(xiàn)有技術(shù)采用分區(qū)域檢測法檢測電路引線區(qū)中的引線是否出現(xiàn)異常的示意圖；
[0042]圖3為現(xiàn)有技術(shù)采用基于Panel間的對比檢測法檢測電路引線區(qū)中的引線是否出現(xiàn)異常的示意圖；
[0043]圖4為本發(fā)明實(shí)施例提供的一種基板檢測裝置結(jié)構(gòu)示意圖；
[0044]圖5為本發(fā)明實(shí)施例提供的一種基板檢測方法流程圖；
[0045]圖6為本發(fā)明實(shí)施例提供的一種基板電路引線區(qū)中的引線斷開示意圖；
[0046]圖7為本發(fā)明實(shí)施例提供的一種基板電路引線區(qū)中的引線交疊示意圖。
【具體實(shí)施方式】
[0047]本發(fā)明提供了一種基板檢測裝置及方法，用以實(shí)現(xiàn)對液晶顯示器外圍電路區(qū)域中的引線的寬區(qū)域和高兼容性檢測。
[0048]下面給出本發(fā)明具體實(shí)施例提供的技術(shù)方案的詳細(xì)介紹。[0049]如圖4所示，本發(fā)明具體實(shí)施例提供了 一種基板檢測裝置，所述裝置包括:
[0050]轉(zhuǎn)換單元40，用于根據(jù)基板的電路引線區(qū)的灰度圖像進(jìn)行灰度計算，并根據(jù)計算得到的電路引線區(qū)中的引線和襯底基板之間的灰度差異，將所述灰度圖像轉(zhuǎn)化為電路引線區(qū)中的引線圖像；
[0051]判斷單元41，用于根據(jù)所述電路引線區(qū)中的引線圖像，對所述電路引線區(qū)中的引線狀態(tài)進(jìn)行判斷。
[0052]較佳地，所述裝置包括:
[0053]掃描鏡頭42，用于對基板的電路引線區(qū)進(jìn)行掃描；
[0054]圖像采集單元43，用于采集掃描鏡頭掃描的所述電路引線區(qū)中的灰度圖像。
[0055]優(yōu)選地，本發(fā)明具體實(shí)施例中的掃描鏡頭為電荷耦合元件(Charge CoupledDevice, (XD)，即CXD圖像傳感器，本發(fā)明具體實(shí)施例并不對掃描鏡頭做具體限定，只要能獲得灰度圖像的鏡頭都可以。
[0056]實(shí)際的電路引線區(qū)中由于引線末端可能共地或者連接像素單元而使幾條或多條引線連接在一起，由于本發(fā)明具體實(shí)施例中的檢測裝置是根據(jù)所述電路引線區(qū)中的引線圖像，判斷所述電路引線區(qū)中的引線是否斷開或交疊，故本發(fā)明具體實(shí)施例中要求設(shè)定的電路引線區(qū)中的引線不相交。本發(fā)明具體實(shí)施例并不具體限定檢測引線是否斷開或交疊，還可以檢測引線間隔、數(shù)量、走向及圖案等信息。
[0057]如圖5所示，本發(fā)明具體實(shí)施例還提供了一種基板檢測方法，所述方法包括:
[0058]S501、檢測裝置根據(jù)基板的電路引線區(qū)的灰度圖像進(jìn)行灰度計算，并根據(jù)計算得到的電路引線區(qū)中的引線和襯底基板之間的灰度差異，將所述灰度圖像轉(zhuǎn)化為電路引線區(qū)中的引線圖像；
[0059]S502、檢測裝置根據(jù)所述電路引線區(qū)中的引線圖像，對所述電路引線區(qū)中的引線狀態(tài)進(jìn)行判斷。
[0060]本發(fā)明具體實(shí)施例提供的一種基板檢測方法，主要應(yīng)用在檢測液晶顯示器基板的電路引線區(qū)，與現(xiàn)有技術(shù)采用的分區(qū)域檢測法和基于Panel對比的檢測方法相比，具有如下優(yōu)點(diǎn):
[0061]有別于分區(qū)域檢測方法，需要將電路引線區(qū)劃分為若干具有內(nèi)部重復(fù)規(guī)律的小區(qū)域，本發(fā)明具體實(shí)施例提供的方法僅需在程序設(shè)定中劃定標(biāo)出整個電路引線區(qū)的范圍，其中該電路引線區(qū)中的引線不相交。本發(fā)明具體實(shí)施例提供的方法大大減少了建立新產(chǎn)品程序的工作量。
[0062]對于某些在水平和垂直方向都不具有重復(fù)性的小區(qū)域，分區(qū)域檢測方法不能進(jìn)行檢測，此時只能放棄對該區(qū)域的檢測，而由于電路引線區(qū)空間有限，線路密集，難免出現(xiàn)很多不規(guī)則的小區(qū)域，大大限制了分區(qū)域檢測法的檢測范圍。本發(fā)明具體實(shí)施例提供的檢測方法基于對引線的識別和判斷來進(jìn)行檢測，不受區(qū)域內(nèi)圖形分布是否規(guī)則的影響，而在引線的掩膜板(mask)設(shè)計中不會出現(xiàn)兩條引線相連的情況，因此，本發(fā)明具體實(shí)施例提供的檢測方法具有廣泛的應(yīng)用基礎(chǔ)。
[0063]本發(fā)明具體實(shí)施例提供的檢測方法，不需要兩Panel間相同區(qū)域的對比，能從根本上克服基于Panel檢測法在大尺寸單Panel產(chǎn)品中無法檢測的缺陷。本發(fā)明具體實(shí)施例提供的檢測方法涉及到TFT基板的生產(chǎn)過程，用于驅(qū)動像素單元的外圍電路引線同像素區(qū)的Gate、Data引線在同一次掩膜工藝中形成。本發(fā)明具體實(shí)施例提供的檢測方法可以用在光刻工序的檢測、刻蝕工序的檢測、剝離后的測試工序，以及最終的陣列基板測試工序。
[0064]下面具體的介紹本發(fā)明具體實(shí)施例提供的檢測方法。
[0065]對Panel電路引線區(qū)進(jìn)行標(biāo)定，將整個不規(guī)則分布、不相連的蛇形線區(qū)域標(biāo)示出來，要求標(biāo)定的電路引線區(qū)中的蛇形引線不相交。用高靈敏度的CCD鏡頭對整個電路引線區(qū)進(jìn)行掃描，目前一般采用12K的TDI鏡頭，TDI即時間延遲積分(Time Delayed andIntegration)，是一種光學(xué)檢測通用的C⑶鏡頭。本發(fā)明具體實(shí)施例提供的檢測裝置中CXD掃描獲得的電路引線區(qū)中的灰度圖像由數(shù)據(jù)采集卡搜集，數(shù)據(jù)采集卡通過信號線將其傳送給計算機(jī)，檢測裝置中的計算機(jī)對所獲得的電路引線區(qū)中的灰度圖像進(jìn)行灰度計算處理，由于外圍電路圖形的圖層構(gòu)造比較單一，基本是線條，且電路引線區(qū)中的引線與襯底玻璃基板之間有較大的灰度差異，利用圖形識別算法，可將外圍電路的引線識別出來，即將獲得的電路引線區(qū)中的灰度圖像轉(zhuǎn)化為電路引線區(qū)中的引線圖像。由于外圍電路的引線在中途不會中斷，且任何兩根引線不會相連，這樣可以根據(jù)電路引線區(qū)中的引線圖像，用算法判斷出電路引線區(qū)中的引線斷開和交疊的位置，并確定所述引線斷開和交疊的位置坐標(biāo)。再根據(jù)所述引線斷開和交疊的位置坐標(biāo)，用可獲取圖像的彩色鏡頭，如RGB (Red Green Blue)鏡頭抓取所述引線斷開和交疊的彩色圖片，在實(shí)際的生產(chǎn)過程中，對檢測得到的斷開和交疊的引線進(jìn)行修復(fù)前，作業(yè)員可以根據(jù)彩色鏡頭抓取的彩色圖片進(jìn)行二次判斷，以確保檢測的準(zhǔn)確性。
[0066]如圖6所示，本發(fā)明具體實(shí)施例提供的檢測裝置判斷電路引線區(qū)中的引線是否斷開，包括:檢測裝置根據(jù)電路引線區(qū)中的引線圖像，計算電路引線區(qū)中的引線圖像的灰度值，若引線圖像的灰度值不連續(xù)，則確定電路引線區(qū)中的引線60在位置61處斷開。具體的，電路引線區(qū)中正常的引線是連續(xù)的，在電路引線區(qū)中的引線圖像中，引線區(qū)域和非引線區(qū)域的圖像灰度應(yīng)該有較大的差別，如用0-255表示灰度值的范圍，則差別在20以上，且引線區(qū)域的引線的灰度值是連續(xù)的，如果在某一位置處的灰度值不連續(xù)，則判斷為引線在該位置處斷開。
[0067]如圖7所示，本發(fā)明具體實(shí)施例提供的檢測裝置判斷電路引線區(qū)中的引線是否交疊，包括:檢測裝置根據(jù)電路引線區(qū)中相鄰引線圖像，計算所述相鄰引線圖像的灰度值，若在引線經(jīng)過的區(qū)域內(nèi)，相鄰引線的連續(xù)灰度值發(fā)生交疊，則確定電路引線區(qū)中的引線在位置70處交疊。
[0068]綜上所述，本發(fā)明具體實(shí)施例提供的檢測方法，與現(xiàn)有技術(shù)的檢測方法相比，具有電路引線區(qū)設(shè)定簡單，可檢測范圍廣，算法簡單、可靠等優(yōu)點(diǎn)。
[0069]顯然，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以對本發(fā)明進(jìn)行各種改動和變型而不脫離本發(fā)明的精神和集合。這樣，倘若本發(fā)明的這些修改和變型屬于本發(fā)明權(quán)利要求及其等同技術(shù)的集合之內(nèi)，則本發(fā)明也意圖包含這些改動和變型在內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種基板檢測裝置，其特征在于，所述裝置包括: 轉(zhuǎn)換單元，用于根據(jù)基板的電路引線區(qū)的灰度圖像進(jìn)行灰度計算，并根據(jù)計算得到的電路引線區(qū)中的引線和襯底基板之間的灰度差異，將所述灰度圖像轉(zhuǎn)化為電路引線區(qū)中的引線圖像； 判斷單元，用于根據(jù)所述電路引線區(qū)中的引線圖像，對所述電路引線區(qū)中的引線狀態(tài)進(jìn)行判斷。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測裝置，其特征在于，所述裝置包括: 掃描鏡頭，用于對基板的電路引線區(qū)進(jìn)行掃描； 圖像采集單元，用于采集掃描鏡頭掃描的所述電路引線區(qū)中的灰度圖像。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的檢測裝置，其特征在于，所述掃描鏡頭為CCD鏡頭。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測裝置，其特征在于，所述引線狀態(tài)包括:引線斷開和/或引線交疊。
5.一種基板檢測方法，其特征在于，所述方法包括: 檢測裝置根據(jù)基板的電路引線區(qū)的灰度圖像進(jìn)行灰度計算，并根據(jù)計算得到的電路引線區(qū)中的引線和襯底基板之間的灰度差異，將所述灰度圖像轉(zhuǎn)化為電路引線區(qū)中的引線圖像； 檢測裝置根據(jù)所述電路引線區(qū)中的引線圖像，對所述電路引線區(qū)中的引線狀態(tài)進(jìn)行判斷。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述檢測裝置根據(jù)基板的電路引線區(qū)的灰度圖像進(jìn)行灰度計算前，該方法還包括: 檢測裝置對基板的電路引線區(qū)進(jìn)行掃描； 檢測裝置采集掃描鏡頭掃描的所述電路引線區(qū)中的灰度圖像。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，確定所述電路引線區(qū)中的引線狀態(tài)后，該方法還包括: 檢測裝置計算所述電路引線區(qū)中的引線斷開和/或交疊的位置坐標(biāo)。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法，其特征在于，所述檢測裝置計算所述電路引線區(qū)中的引線斷開和/或交疊的位置坐標(biāo)后，該方法還包括: 用RGB鏡頭采集電路引線區(qū)中的引線斷開和/或交疊的位置處的彩色圖片。
9.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述檢測裝置根據(jù)所述電路引線區(qū)中的引線圖像，判斷所述電路引線區(qū)中的引線是否斷開，包括: 檢測裝置根據(jù)所述電路引線區(qū)中的引線圖像，計算所述電路引線區(qū)中的引線圖像的灰度值，若所述引線圖像的灰度值不連續(xù)，則確定所述電路引線區(qū)中的引線斷開。
10.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述檢測裝置根據(jù)所述電路引線區(qū)中的引線圖像，判斷所述電路引線區(qū)中的引線是否交疊，包括: 檢測裝置根據(jù)所述電路引線區(qū)中相鄰引線圖像，計算所述相鄰引線圖像的灰度值，若在引線經(jīng)過的區(qū)域內(nèi)，相鄰引線的連續(xù)灰度值發(fā)生交疊，則確定所述電路引線區(qū)中的引線交疊。
【文檔編號】G02F1/13GK103885216SQ201410046259
【公開日】2014年6月25日 申請日期:2014年2月10日 優(yōu)先權(quán)日:2014年2月10日
【發(fā)明者】葉超, 王濤, 陳遠(yuǎn)丹, 關(guān)盛祚, 郭光龍 申請人:北京京東方顯示技術(shù)有限公司, 京東方科技集團(tuán)股份有限公司