專利名稱：一種液晶盒測試設備的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及液晶顯示技術，尤其涉及一種液晶盒測試設備。
背景技術：
現有液晶盒測試設備的結構如圖I所示，主要包括基臺4和探頭I兩個部分，其中，探頭I與探桿連接，探桿可垂直上下擺動，從而控制探頭I抬起或落下，探桿與測試設備底座8相連，在水平方向位置固定，不能左右移動。探頭I上有多個金屬探針10，金屬探針10與放置于基臺4表面的液晶面板信號輸入端2進行對位，從而測試經對盒工藝后的液晶面板3是否存在不良因素，例如，可檢測出是否有灰塵、氣泡，信號線是否有問題等?；_4可通過控制旋鈕在水平方向上移動，以實現金屬探針10與液晶面板信號輸入端2的對位。由于金屬探針10和液晶面板信號輸入端2都比較小，金屬探針10很難與液晶面板信號輸入端2精準對位，因此，現有液晶盒測試設備進行對位精度調試比較困難。另外，即使對位精準以后，基臺4只要稍微移動，金屬探針10與液晶面板信號輸入端2的對位精度就會被破壞，導致測試時液晶面板信號施加不正常，無法進行正常測試。還有，現有液晶盒測試設備在進行金屬探針10與液晶面板信號輸入端2的對位時，調節(jié)精度的控制比較困難，使得目前所使用設備的精度調節(jié)比較困難，測試精度難以控制。

實用新型內容有鑒于此，本實用新型的主要目的在于提供一種液晶盒測試設備，能實現金屬探針與液晶面板信號輸入端的準確對位。為達到上述目的，本實用新型的技術方案是這樣實現的本實用新型提供一種液晶盒測試設備，包括探頭、基臺、底座；其中，在所述探頭上設置有輔助對位的上反光鏡；在所述基臺靠近所述探頭一側的上表面設置有輔助對位的下反光鏡，所述下反光鏡的鏡面與所述上反光鏡的鏡面相對。進一步地，所述上反光鏡的面積大于所述探頭的面積，且鏡面朝下。進一步地，所述基臺表面放置有液晶面板信號輸入端；所述下反光鏡的面積大于所述液晶面板信號輸入端所在區(qū)域的面積。較佳地，在所述底座遠離所述探頭的一邊設置有第一底座刻度尺，在另外一個或另外兩個側邊設置有第二底座刻度尺。較佳地，在所述基臺上遠離所述探頭的一邊設置有第一基臺刻度尺，在另外一個或另外兩個側邊設置有第二基臺刻度尺。本實用新型所提供的液晶盒測試設備，在現有液晶盒測試設備的探頭上和液晶面板信號輸入端所在的位置的基臺上設置輔助對位用的反光鏡，在測試設備承載基臺的底座上及在基臺上設置刻度尺，以輔助用戶在進行對位時掌握移動距離。本實用新型加入了鏡子與刻度尺作為輔助對位部件，不僅能改善精度調節(jié)的方法，使測試精度調節(jié)更容易；而且使測試精度能更容易、更好地得到控制。顯然，本實用新型使測試時對位更加容易，精度更容易控制，從而使測試結果更準確可靠。

圖I為現有液晶盒測試設備進行對位時的不意圖；圖2為本實用新型提供的液晶盒測試設備及進行對位的示意圖；I-探頭；2_液晶面板/[目號輸入端；3_液晶面板；4_基臺；4A_第一基臺刻度尺；4B-第二基臺刻度尺；5_上反光鏡；6_下反光鏡-Jk-第一底座刻度尺；7B-第二底座刻度尺；8_底座；10_金屬探針。
具體實施方式
為使本實用新型的目的、技術方案和優(yōu)點更加清楚明白，以下舉實施例并參照附圖，對本實用新型進一步詳細說明。圖2為本實用新型提供的液晶盒測試設備及進行對位的示意圖，該新型液晶盒測試設備是對現有液晶盒測試設備的改進。如圖2所示，本實用新型對現有液晶盒測試設備所做的第一點改進是在探頭I上增加輔助對位用的上反光鏡5 ;在基臺4靠近探頭I 一側的上表面增加輔助對位用的下反光鏡6，下反光鏡6的鏡面與上反光鏡5的鏡面相對；較佳的，上反光鏡5的面積要大于探頭I的面積，且鏡面朝下；另外，較佳的，下反光鏡6的面積要大于液晶面板信號輸入端2所在區(qū)域的面積，從而使用戶能夠通過寬出的鏡面中看到金屬探針10 ；增加上反光鏡5和下反光鏡6后,上反光鏡5能夠將探頭I上的金屬探針10與液晶面板信號輸入端2對位情況反射到下反光鏡6中，通過下反光鏡6可以清楚地看到金屬探針10及金屬探針10與液晶面板信號輸入端2的對位情況，從而使得對位的精度更容易掌握，對位更加容易、快速、準確。本實用新型對現有液晶盒測試設備所做的第二點改進是在底座8上設置刻度尺,優(yōu)選地,在底座8的遠離探頭I的一邊設置第一底座刻度尺7A，在另外兩個側邊中的一個或兩個設置第二底座刻度尺7B ；通過增加第一底座刻度尺7A和第二底座刻度尺7B可以精確讀出基臺4位于底座8的位置，從而在基臺4移動時，使用戶清楚知道基臺4的移動距離；本實用新型對現有液晶盒測試設備所做的第三點改進是在基臺4上遠離探頭I的一邊設置第一基臺刻度尺4A，在另兩個側邊中的一個或兩個設置第二基臺刻度尺4B ；通過增加的第一基臺刻度尺4A和第二基臺刻度尺4B可以精確的讀出液晶面板3位于基臺4的位置，從而在液晶面板3移動時，使用戶清楚液晶面板3的移動距離。通過增加上述幾個刻度尺，使得用戶可以通過刻度記錄比較方便快捷地重新調整基臺4和/或液晶面板3的位置，從而使金屬探針10與液晶面板信號輸入端2的對位更加容易和精確。[0032]以上所述，僅為本 實用新型的較佳實施例而已，并非用于限定本實用新型的保護范圍。
權利要求1.一種液晶盒測試設備，包括探頭、基臺、底座，其特征在于， 在所述探頭上設置有輔助對位的上反光鏡； 在所述基臺靠近所述探頭一側的上表面設置有輔助對位的下反光鏡，所述下反光鏡的鏡面與所述上反光鏡的鏡面相對。
2.根據權利要求I所述的液晶盒測試設備，其特征在于，所述上反光鏡的面積大于所述探頭的面積，且鏡面朝下。
3.根據權利要求I或2所述的液晶盒測試設備，其特征在于，所述基臺表面放置有液晶面板信號輸入端；所述下反光鏡的面積大于所述液晶面板信號輸入端所在區(qū)域的面積。
4.根據權利要求I所述的液晶盒測試設備，其特征在于， 在所述底座遠離所述探頭的一邊設置有第一底座刻度尺，在另外一個或另外兩個側邊設置有第二底座刻度尺。
5.根據權利要求I所述的液晶盒測試設備，其特征在于， 在所述基臺上遠離所述探頭的一邊設置有第一基臺刻度尺，在另外一個或另外兩個側邊設置有第二基臺刻度尺。
專利摘要本實用新型公開了一種液晶盒測試設備，在現有液晶盒測試設備的探頭和液晶面板信號輸入端所在的位置的基臺上設置輔助對位用的反光鏡，在測試設備承載基臺的底座上及在基臺上設置刻度尺，以輔助用戶在進行對位時掌握移動距離。本實用新型使測試時對位更加容易，精度更容易控制，從而使測試結果更準確可靠。
文檔編號G02F1/13GK202661749SQ20122022468
公開日2013年1月9日 申請日期2012年5月17日 優(yōu)先權日2012年5月17日
發(fā)明者陳娟, 柳在健 申請人:京東方科技集團股份有限公司