專利名稱：像素陣列基板的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型是有關(guān)于一種顯示器的組件，且特別是有關(guān)于一種具有多個晶體管 (transistor)的像素陣列基板(pixel array substrate)0
背景技術(shù)：
像素陣列基板是一般液晶顯示器(Liquid Crystal Display, LCD)中的重要組件，而像素陣列基板通常包括一像素陣列以及多條修補(bǔ)線(impair line)，其中像素陣列包括一像素群(pixel group)以及多條電性連接像素群的數(shù)據(jù)線(data line)，而像素群具有多個晶體管來控制液晶分子的轉(zhuǎn)動，從而讓液晶顯示器可以顯示影像。在檢測像素陣列基板的過程中，當(dāng)發(fā)現(xiàn)某一塊像素陣列基板的其中一條數(shù)據(jù)線斷路時，工作人員會對此像素陣列基板進(jìn)行激光修補(bǔ)(laser repair).,詳細(xì)而言，工作人員會在斷路的數(shù)據(jù)線與修補(bǔ)線之間的重迭處照射激光束，以燒融數(shù)據(jù)線，并且連接數(shù)據(jù)線與修補(bǔ)線，讓斷路的數(shù)據(jù)線電性連接修補(bǔ)線，以使像素陣列基板能正常運作。然而，有時候因為制造過程中的瑕疵，造成在檢測像素陣列基板以前，修補(bǔ)線早已電性連接數(shù)據(jù)線，以至于即使讓斷路的數(shù)據(jù)線與修補(bǔ)線電性連接，修補(bǔ)線仍難以發(fā)揮修補(bǔ)功能，造成像素陣列基板無法正常運作。

實用新型內(nèi)容本實用新型提供一種像素陣列基板，以解決上述修補(bǔ)線難以發(fā)揮修補(bǔ)功能的問題。本實用新型提出一種像素陣列基板，包括一基板、一像素陣列、至少一第一修補(bǔ)線、多條彼此并列的第二修補(bǔ)線、一第一連接線以及一第二連接線?；寰哂幸黄矫妫袼仃嚵信渲迷谄矫嫔?，并且包括一像素群、多條彼此并列的掃描線與多條彼此并列的數(shù)據(jù)線。這些數(shù)據(jù)線與這些掃描線交錯，且這些數(shù)據(jù)線與這些掃描線電性連接像素群。第一修補(bǔ)線配置在平面上，并與這些數(shù)據(jù)線交錯。這些第二修補(bǔ)線配置在平面上，并與這些數(shù)據(jù)線交錯，其中像素群位在第一修補(bǔ)線與這些第二修補(bǔ)線之間。第一連接線配置在平面上，并連接第一修補(bǔ)線。第二連接線配置在平面上，并位在像素群旁。第二連接線連接這些第二修補(bǔ)線，其中第一修補(bǔ)線、這些第二修補(bǔ)線、第一連接線與第二連接線皆與這些掃描線電性絕緣。在本實用新型一實施例中，上述像素陣列基板還包括多個檢測墊。這些檢測墊分別連接這些數(shù)據(jù)線，并位在這些第二修補(bǔ)線之間。在本實用新型一實施例中，上述第一修補(bǔ)線的數(shù)量為多個，而這些第一修補(bǔ)線彼此并列。在本實用新型一實施例中，上述像素陣列基板還包括至少一連接條。連接條配置在平面上，并連接在這些第一修補(bǔ)線之間。在本實用新型一實施例中，上述像素陣列基板還包括至少另一連接條。此連接條配置在平面上，并連接在這些第二修補(bǔ)線之間。在本實用新型一實施例中，上述連接條的數(shù)量為多條，這些連接條連接在這些第二修補(bǔ)線之間，而各條數(shù)據(jù)線位在相鄰二連接條之間。在本實用新型一實施例中，上述像素陣列基板還包括多個檢測墊。這些檢測墊分別連接這些數(shù)據(jù)線，并位在這些第二修補(bǔ)線之間，其中各個檢測墊位在相鄰二連接條之間。在本實用新型一實施例中，上述第一修補(bǔ)線、這些第二修補(bǔ)線、第一連接線、第二連接線以及這些掃描線皆位在基板與這些數(shù)據(jù)線之間。在本實用新型一實施例中，上述像素陣列基板還包括一絕緣層。絕緣層配置在平面上，并且全面性地覆蓋平面、第一修補(bǔ)線、這些第二修補(bǔ)線、第一連接線、第二連接線以及這些掃描線，而這些數(shù)據(jù)線配置在絕緣層上。在本實用新型一實施例中，上述像素陣列基板還包括一保護(hù)層，而保護(hù)層覆蓋這些數(shù)據(jù)線與絕緣層。在本實用新型一實施例中，上述像素陣列基板還包括一驅(qū)動組件。驅(qū)動組件電性連接這些數(shù)據(jù)線，而第一修補(bǔ)線位在驅(qū)動組件與像素群之間。在本實用新型一實施例中，上述像素陣列基板還包括一修補(bǔ)組件，修補(bǔ)組件電性連接第一連接線與第二連接線。在本實用新型一實施例中，上述修補(bǔ)組件為一放大器?；谏鲜?，由于本實用新型的像素陣列基板包括上述第一修補(bǔ)線與第二修補(bǔ)線， 因而能提供多條可供激光修補(bǔ)所用的修補(bǔ)線(即第一修補(bǔ)線與第二修補(bǔ)線)。如此，本實用新型不僅能讓斷路的數(shù)據(jù)線傳遞像素信號，從而使像素陣列基板正常運作，并能解決公知修補(bǔ)線難以發(fā)揮修補(bǔ)功能的問題。為讓本實用新型的上述特征和優(yōu)點能更明顯易懂，下文特舉實施例，并配合所附圖式，作詳細(xì)說明如下。

圖IA是本實用新型一實施例的像素陣列基板的俯視示意圖。圖IB是圖IA中的像素陣列基板的局部放大示意圖。圖IC是圖IB中沿線I-I剖面所繪示的剖面示意圖。圖ID是圖IA中的像素陣列基板在修補(bǔ)之后的俯視示意圖。圖2是本實用新型另一實施例的像素陣列基板的俯視示意圖。
具體實施方式
圖IA是本實用新型一實施例的像素陣列基板的俯視示意圖。請參閱圖1A，本實施例的像素陣列基板100包括一基板110以及一像素陣列120，其中基板110具有一平面 112，而像素陣列120配置在平面112上。像素陣列120包括多條彼此并列的掃描線(scan line)122S、多條彼此并列的數(shù)據(jù)線122d以及一像素群124。這些數(shù)據(jù)線122d與這些掃描線122s交錯，因此這些數(shù)據(jù)線122d與這些掃描線122s會呈網(wǎng)狀排列，從而形成多個網(wǎng)格 Li。這些數(shù)據(jù)線122d與這些掃描線122s電性連接像素群124。詳細(xì)而言，像素群124包括多個像素單元(未繪示)，而這些像素單元分別配置在這些網(wǎng)格Ll內(nèi)。各個像素單元包括一晶體管(未繪示)以及一像素電極(Pixel electrode，未繪示)，而這些晶體管電性連接這些像素電極，其中像素電極可由銦錫氧化物(Indium Tin Oxide, IT0)或銦鋅氧化物 (Indium Zinc Oxide, IZO)等透明導(dǎo)電材料所制作而成。這些晶體管在結(jié)構(gòu)方面可以是薄膜晶體管(Thin-film Transistor, TFT)，在電性方面可以是場效型晶體管(Field-Effect Transistor, FET)。因此，各個晶體管具有一柵極(gate)、一源極(source)以及一漏極(drain)，其中柵極連接掃描線122s，源極連接數(shù)據(jù)線122d，而漏極連接像素電極。由此可知，這些晶體管能經(jīng)由這些掃描線122s而被開啟或關(guān)閉，以使這些像素電極能產(chǎn)生控制液晶分子轉(zhuǎn)動的電場，從而讓液晶顯示器得以顯示影像。像素陣列基板100還包括多條彼此并列的第一修補(bǔ)線131、多條彼此并列的第二修補(bǔ)線132、一第一連接線141以及一第二連接線142。這些第一修補(bǔ)線131、這些第二修補(bǔ)線132、第一連接線141以及第二連接線142皆配置在平面112上，其中第一連接線141 連接這些第一修補(bǔ)線131，而第二連接線142連接這些第二修補(bǔ)線132。此外，第二連接線 142位在像素群124旁。這些第一修補(bǔ)線131與這些第二修補(bǔ)線132皆與這些數(shù)據(jù)線122d交錯，而像素群 124位在這些第一修補(bǔ)線131與這些第二修補(bǔ)線132之間。詳細(xì)而言，第一修補(bǔ)線131與第二修補(bǔ)線132 二者的走向可以相同于掃描線122s的走向，而且這些第一修補(bǔ)線131與這些第二修補(bǔ)線132可以與這些掃描線122s并列，因此第一修補(bǔ)線131與第二修補(bǔ)線132皆與這些數(shù)據(jù)線122d交錯。須說明的是，雖然圖IA繪示多條第一修補(bǔ)線131，但在其它實施例中，像素陣列基板100所包括的第一修補(bǔ)線131的數(shù)量可以僅為一條。因此，圖IA所示的第一修補(bǔ)線131 的數(shù)量僅供舉例說明，并非限定本實用新型。像素陣列基板100可以還包括一連接條(connection strip)151與一連接條152， 而連接條151、152皆配置在平面112上，其中連接條151連接在這些第一修補(bǔ)線131之間， 而連接條152連接在這些第二修補(bǔ)線132之間。因此，這些第一修補(bǔ)線131能經(jīng)由連接條 151而彼此并聯(lián)，而這些第二修補(bǔ)線132能經(jīng)由連接條152而彼此并聯(lián)。如此，這些第一修補(bǔ)線131的總電阻與這些第二修補(bǔ)線132的總電阻得以降低。須說明的是，連接條151、152皆為本實用新型的選擇性組件而非必要組件。也就是說，像素陣列基板100不一定要包括連接條151或152。因此，在其它實施例中，像素陣列基板100可不包括任何連接條151與152。所以，圖IA所示的連接條151與152僅供舉例說明，并非限定本實用新型。另外，像素陣列基板100可以還包括多個檢測墊(testing pad) 160。這些檢測墊 160分別連接這些數(shù)據(jù)線122d，并且位在這些第二修補(bǔ)線132之間。這些檢測墊160可以供檢測機(jī)臺所使用。詳細(xì)而言，當(dāng)檢測像素陣列基板100時，檢測機(jī)臺的多根探針(probe) 可以接觸這些檢測墊160，并且經(jīng)由這些探針與檢測墊160來輸出測試信號至這些數(shù)據(jù)線 122d，從而檢查像素陣列基板100是否能正常運作。另外，像素陣列基板100可以還包括一驅(qū)動組件172與一修補(bǔ)組件174，而驅(qū)動組件 172 可以是源極驅(qū)動芯片(source-driving integrated circuit, source drivingIC)0驅(qū)動組件172電性連接這些數(shù)據(jù)線122d，并且能輸出像素信號至這些數(shù)據(jù)線122d，而這些第一修補(bǔ)線131位在驅(qū)動組件172與像素群124之間。承上述，當(dāng)其中一條掃描線122s輸出信號至像素群124的其中一列像素單元時， 這一列像素單元的晶體管會被開啟，以至于像素信號能經(jīng)由這些數(shù)據(jù)線122d傳遞至這一列像素單元的像素電極，從而促使液晶分子轉(zhuǎn)動，讓液晶顯示器得以顯示影像。修補(bǔ)組件174電性連接第一連接線141與第二連接線142，且修補(bǔ)組件174可為放大器，其例如是電壓放大器。在本實施例中，驅(qū)動組件172與修補(bǔ)組件174皆可裝設(shè) (mounted)在基板110上。不過，在其它實施例中，驅(qū)動組件172與修補(bǔ)組件174也可裝設(shè)在基板110以外的基板上。例如，驅(qū)動組件172或修補(bǔ)組件174可以裝設(shè)在電路板(circuit board)上，而非裝設(shè)在基板110上，其中此電路板可以利用軟式電路板(flexible circuit board)來電性連接基板110上的像素陣列120。圖IB是圖IA中的像素陣列基板的局部放大示意圖，而圖IC是圖IB中沿線1_1剖面所繪示的剖面示意圖，其中圖IB是放大圖IA中像素陣列基板100的右下方部位而繪制。 請參閱圖1A、圖IB與圖1C，這些第一修補(bǔ)線131、這些第二修補(bǔ)線132、第一連接線141、第二連接線142及這些掃描線122s皆可位在基板110與數(shù)據(jù)線122d之間。具體而言，像素陣列基板100可以還包括一絕緣層182，而絕緣層182配置在平面 112上，并全面性地覆蓋平面112、這些第一修補(bǔ)線131、這些第二修補(bǔ)線132、第一連接線 141、第二連接線142與這些掃描線122s，其中數(shù)據(jù)線122d與檢測墊160皆配置在絕緣層 182 上。由此可知，絕緣層182會隔開第一修補(bǔ)線131與數(shù)據(jù)線122d，以及隔開第二修補(bǔ)線 132與數(shù)據(jù)線122d。因此，在進(jìn)行激光修補(bǔ)以前，理論上，第一修補(bǔ)線131、第二修補(bǔ)線132、 第一連接線141以及第二連接線142應(yīng)該皆與數(shù)據(jù)線122d電性絕緣。像素陣列基板100可以還包括一保護(hù)層184，而保護(hù)層184覆蓋這些數(shù)據(jù)線122d 與絕緣層182。保護(hù)層184為絕緣層，且可以是無機(jī)膜層(inorganic film)或有機(jī)膜層 (organic film)，其中此無機(jī)膜層的材料例如是氧化硅或氮化硅，而此有機(jī)膜層的材料例如是高分子材料(polymer)。這些第一修補(bǔ)線131、這些第二修補(bǔ)線132、第一連接線141以及第二連接線142 皆與這些掃描線122s電性絕緣，且皆可由一層圖案化(patterning)后的金屬膜層所形成， 其中圖案化的方法例如是微影(photolithography)與蝕刻(etching)。因此，第一修補(bǔ)線 131、第二修補(bǔ)線132、第一連接線141以及第二連接線142皆可位在同一平面上，例如是在平面112上，且皆可與基板110接觸。圖ID是圖IA中的像素陣列基板在修補(bǔ)之后的俯視示意圖。請參閱圖1D，為了使本實用新型的技術(shù)內(nèi)容可以更加清楚易懂，圖ID中會以X符號來表示斷路。當(dāng)其中一條數(shù)據(jù)線122d斷路，例如圖ID中從右邊數(shù)來第三條數(shù)據(jù)線122d斷路時，工作人員會在斷路的數(shù)據(jù)線122d與其中一條第一修補(bǔ)線131之間的重迭處，以及斷路的數(shù)據(jù)線122d與其中一條第二修補(bǔ)線132之間的重迭處照射激光束，以燒融數(shù)據(jù)線122d。如此，第一修補(bǔ)線131與數(shù)據(jù)線122d電性連接，而第二修補(bǔ)線132與數(shù)據(jù)線122d電性連接。在照射激光束以前，工作人員會先檢查是否有任何第一修補(bǔ)線131與任何第二修補(bǔ)線132電性連接任何數(shù)據(jù)線122d，特別是確認(rèn)位在斷路的數(shù)據(jù)線122d與第二連接線142之間的第一修補(bǔ)線131與第二修補(bǔ)線132是否有電性連接任何數(shù)據(jù)線122d。理論上，這時候的每一條第一修補(bǔ)線131與每一條第二修補(bǔ)線132應(yīng)該皆與所有數(shù)據(jù)線122d電性絕緣，但是制造過程中的瑕疵有可能會造成其中一條第一修補(bǔ)線131或其中一條第二修補(bǔ)線132已經(jīng)電性連接某一條數(shù)據(jù)線122d，導(dǎo)致此第一修補(bǔ)線131或第二修補(bǔ)線132難以發(fā)揮修補(bǔ)功能，因此工作人員會先選出仍具有修補(bǔ)功能的第一修補(bǔ)線131與第二修補(bǔ)線132。請參閱圖IB與圖1D，在進(jìn)行激光修補(bǔ)的過程中，工作人員可將激光束瞄準(zhǔn)在數(shù)據(jù)線122d的邊緣。以圖IB與圖ID為例，在確定上方第一條第二修補(bǔ)線132具有修補(bǔ)功能之后，工作人員會將激光束瞄準(zhǔn)在數(shù)據(jù)線122d與第二修補(bǔ)線132 二者重迭區(qū)域的角落 (corner )C1,以使激光束能燒融部分?jǐn)?shù)據(jù)線122d，從而使數(shù)據(jù)線122d與第二修補(bǔ)線132電性連接。同理，工作人員也采用相同的方法使數(shù)據(jù)線122d與上方第一條第一修補(bǔ)線131電性連接。請再次參閱圖1D，在斷路的數(shù)據(jù)線122d電性連接第一修補(bǔ)線131與第二修補(bǔ)線 132之后，工作人員可利用激光束將已電性連接數(shù)據(jù)線122d的第一修補(bǔ)線131與第二修補(bǔ)線132燒斷。以圖ID為例，在已電性連接數(shù)據(jù)線122d的第一修補(bǔ)線131與第二修補(bǔ)線132 當(dāng)中，被燒斷的部分皆位在斷路的數(shù)據(jù)線122d左側(cè)，如圖ID所示。其次，工作人員還可以利用激光束將部分第一連接線141與部分第二連接線142 燒斷。以圖ID為例，第一連接線141被燒斷的部分位在相鄰二條第一修補(bǔ)線131之間，而第二連接線142被燒斷的部分位在相鄰二條第二修補(bǔ)線132之間。如此，斷路的數(shù)據(jù)線122d、 第一修補(bǔ)線131、第二修補(bǔ)線132、第一連接線141與第二連接線142能形成一條通過修補(bǔ)組件174的導(dǎo)電路徑Pl (如圖ID中所示的粗黑線)。承上述，在進(jìn)行完畢激光修補(bǔ)之后，當(dāng)驅(qū)動組件172輸出像素信號至這些數(shù)據(jù)線 122d時，像素信號可以沿著導(dǎo)電路徑Pl而在斷路的數(shù)據(jù)線122d內(nèi)傳遞。如此，斷路的數(shù)據(jù)線122d所連接的多個像素單元得以接收到像素信號。當(dāng)像素信號通過修補(bǔ)組件174時，修補(bǔ)組件174能放大像素信號，以盡量減少在導(dǎo)電路徑Pl傳遞的像素信號因衰減而失真的情形。由此可知，即使任一條第一修補(bǔ)線131或任一條第二修補(bǔ)線132在激光修補(bǔ)以前早已電性連接數(shù)據(jù)線122d，仍有其它第一修補(bǔ)線131或其它第二修補(bǔ)線132可以供激光修補(bǔ)，從而讓斷路的數(shù)據(jù)線122d可以傳遞像素信號，促使像素陣列基板100正常運作。圖2是本實用新型另一實施例的像素陣列基板的俯視示意圖。請參閱圖2，本實施例的像素陣列基板200與前述像素陣列基板100相似。例如，像素陣列基板100、200 二者的激光修補(bǔ)方式皆相同，且二者包括相同的組件。因此，像素陣列基板100、200 二者相同的技術(shù)特征不再重復(fù)說明。然而，像素陣列基板100、200 二者差異在于像素陣列基板200 包括多條連接第二修補(bǔ)線132的連接條152。詳細(xì)而言，這些連接條152連接在這些第二修補(bǔ)線132之間，其中各條數(shù)據(jù)線122d 與各個檢測墊160皆可以位在相鄰二條連接條152之間，如圖2所示，由于這些連接條152 連接在這些第二修補(bǔ)線132之間，以至于這些連接條152的內(nèi)電阻彼此并聯(lián)。如此，這些第二修補(bǔ)線132與這些連接條152結(jié)合后的整體總電阻得以降低。綜上所述，本實用新型的像素陣列基板包括彼此并列的修補(bǔ)線(即第一修補(bǔ)線與第二修補(bǔ)線)，因此即使其中一條修補(bǔ)線在激光修補(bǔ)以前早已電性連接某一條數(shù)據(jù)線，仍有其它修補(bǔ)線可供激光修補(bǔ)，從而讓斷路的數(shù)據(jù)線能傳遞像素信號，促使像素陣列基板正常運作。 雖然本實用新型以前述實施例公開如上，然其并非用以限定本實用新型，任何熟習(xí)相像技藝者，在不脫離本實用新型的精神和范圍內(nèi)，所作更動與潤飾的等效替換，仍為本實用新型的專利保護(hù)范圍內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種像素陣列基板，其特征在于，包括一基板，具有一平面；一像素陣列，配置在該平面上，并且包括一像素群、多條彼此并列的掃描線與多條彼此并列的數(shù)據(jù)線，該些數(shù)據(jù)線與該些掃描線交錯，且該些數(shù)據(jù)線與該些掃描線電性連接該像素群；至少一第一修補(bǔ)線，配置在該平面上，并與該些數(shù)據(jù)線交錯；多條彼此并列的第二修補(bǔ)線，配置在該平面上，并與該些數(shù)據(jù)線交錯，其中該像素群位在該第一修補(bǔ)線與該些第二修補(bǔ)線之間；一第一連接線，配置在該平面上，并連接該第一修補(bǔ)線；以及一第二連接線，配置在該平面上，并位在該像素群旁，該第二連接線連接該些第二修補(bǔ)線，其中該第一修補(bǔ)線、該些第二修補(bǔ)線、該第一連接線與該第二連接線皆與該些掃描線電性絕緣。
2.如權(quán)利要求1所述的像素陣列基板，其特征在于，還包括多個檢測墊，該些檢測墊分別連接該些數(shù)據(jù)線，并位在該些第二修補(bǔ)線之間。
3.如權(quán)利要求1所述的像素陣列基板，其特征在于，該第一修補(bǔ)線的數(shù)量為多個，而該些第一修補(bǔ)線彼此并列。
4.如權(quán)利要求3所述的像素陣列基板，其特征在于，還包括至少一連接條，該連接條配置在該平面上，并連接在該些第一修補(bǔ)線之間。
5.如權(quán)利要求1所述的像素陣列基板，其特征在于，還包括至少一連接條，該連接條配置在該平面上，并連接在該些第二修補(bǔ)線之間。
6.如權(quán)利要求5所述的像素陣列基板，其特征在于，該連接條的數(shù)量為多條，該些連接條連接在該些第二修補(bǔ)線之間，而各該數(shù)據(jù)線位在相鄰二連接條之間。
7.如權(quán)利要求6所述的像素陣列基板，其特征在于，還包括多個檢測墊，該些檢測墊分別連接該些數(shù)據(jù)線，并位在該些第二修補(bǔ)線之間，其中各該檢測墊位在相鄰二連接條之間。
8.如權(quán)利要求1所述的像素陣列基板，其特征在于，該第一修補(bǔ)線、該些第二修補(bǔ)線、 該第一連接線、該第二連接線以及該些掃描線皆位在該基板與該些數(shù)據(jù)線之間。
9.如權(quán)利要求1所述的像素陣列基板，其特征在于，還包括一絕緣層，該絕緣層配置在該平面上，并且全面性地覆蓋該平面、該第一修補(bǔ)線、該些第二修補(bǔ)線、該第一連接線、該第二連接線以及該些掃描線，而該些數(shù)據(jù)線配置在該絕緣層上。
10.如權(quán)利要求9所述的像素陣列基板，其特征在于，還包括一保護(hù)層，該保護(hù)層覆蓋該些數(shù)據(jù)線與該絕緣層。
11.如權(quán)利要求1所述的像素陣列基板，其特征在于，還包括一驅(qū)動組件，該驅(qū)動組件電性連接該些數(shù)據(jù)線，而該第一修補(bǔ)線位在該驅(qū)動組件與該像素群之間。
12.如權(quán)利要求1所述的像素陣列基板，其特征在于，還包括一修補(bǔ)組件，該修補(bǔ)組件電性連接該第一連接線與該第二連接線。
13.如權(quán)利要求12所述的像素陣列基板，其特征在于，該修補(bǔ)組件為一放大器。
專利摘要一種像素陣列基板，包括一基板、一像素陣列、至少一第一修補(bǔ)線、多條彼此并列的第二修補(bǔ)線、一第一連接線與一第二連接線。基板具有一平面，而像素陣列配置在平面上，并包括一像素群、多條掃描線與多條數(shù)據(jù)線。這些數(shù)據(jù)線與這些掃描線電性連接像素群。第一修補(bǔ)線配置在平面上，并與這些數(shù)據(jù)線交錯。這些第二修補(bǔ)線配置在平面上，并與這些數(shù)據(jù)線交錯。第一連接線配置在平面上，并連接第一修補(bǔ)線。第二連接線配置在平面上，并連接這些第二修補(bǔ)線。第一修補(bǔ)線、這些第二修補(bǔ)線、第一連接線與第二連接線皆與這些掃描線電性絕緣。
文檔編號G02F1/1362GK202067054SQ20112014536
公開日2011年12月7日 申請日期2011年5月10日 優(yōu)先權(quán)日2011年5月10日
發(fā)明者曹峻赫 申請人:中華映管股份有限公司, 華映視訊(吳江)有限公司