專利名稱：相機(jī)的抖動(dòng)校正裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及相機(jī)的抖動(dòng)校正裝置，特別是涉及通過校正利用移動(dòng)電話用小型相機(jī)拍攝靜止圖像時(shí)產(chǎn)生的抖動(dòng)(振動(dòng))而能夠拍攝無像模糊的圖像的抖動(dòng)校正裝置。
背景技術(shù)：
以往以來，提出有各種即使在拍攝靜止圖像時(shí)抖動(dòng)(振動(dòng))也能夠防止成像面上的像模糊而進(jìn)行清晰拍攝的抖動(dòng)校正裝置(像模糊校正裝置)。作為抖動(dòng)校正方式，已知傳感器移動(dòng)方式、透鏡移動(dòng)方式等光學(xué)方式、以及通過利用軟件進(jìn)行的圖像處理而校正抖動(dòng)的軟件方式。傳感器移動(dòng)方式例如公開于日本特開2004-274242號公報(bào)(專利文獻(xiàn)1)中。專利文獻(xiàn)1所公開的數(shù)碼相機(jī)構(gòu)成為，攝像元件(CCD 電荷耦合器件)能夠利用致動(dòng)器以標(biāo)準(zhǔn)位置(中央)為中心移動(dòng)。致動(dòng)器使CCD與通過振動(dòng)傳感器檢測到的抖動(dòng)對應(yīng)地移動(dòng)， 從而進(jìn)行抖動(dòng)校正。CXD設(shè)置于CXD移動(dòng)單元內(nèi)。通過該C⑶移動(dòng)單元，CCD能夠在與Z軸正交的XY平面內(nèi)移動(dòng)。CXD移動(dòng)單元主要包括固定地設(shè)于殼體的底板、相對于底板沿X軸方向移動(dòng)的第一滑動(dòng)件、和相對于第一滑動(dòng)件沿Y軸方向移動(dòng)的第二滑動(dòng)件這三個(gè)部件。在專利文獻(xiàn)1所公開的傳感器移動(dòng)方式中，CCD移動(dòng)單元(可動(dòng)機(jī)構(gòu))會(huì)變大。因此，將傳感器移動(dòng)方式的抖動(dòng)校正裝置運(yùn)用于移動(dòng)電話用小型相機(jī)在尺寸(外形、高度)方面是困難的。接著，說明透鏡移動(dòng)方式。例如，日本特開2009-145771號公報(bào)(專利文獻(xiàn)2)公開了包含用于驅(qū)動(dòng)校正透鏡的抖動(dòng)校正單元的像模糊校正裝置。抖動(dòng)校正單元包括作為固定部件的底板；能夠移動(dòng)地保持校正透鏡的可動(dòng)鏡筒；被底板與可動(dòng)鏡筒夾持的三個(gè)球；相對于底板彈性支承可動(dòng)鏡筒的多個(gè)彈性體；固定在底板上的兩個(gè)線圈；以及固定在可動(dòng)鏡筒上的兩個(gè)磁體。另外，日本特開2006-65352號公報(bào)(專利文獻(xiàn)3)公開了 “像模糊校正裝置”，通過對包括多個(gè)透鏡組的攝像光學(xué)系統(tǒng)(成像光學(xué)系統(tǒng))中的特定的一個(gè)透鏡組(以下稱為 “校正透鏡”)，在與光軸垂直的面內(nèi)彼此正交的兩個(gè)方向上進(jìn)行移動(dòng)控制而校正像模糊的。 在專利文獻(xiàn)3所公開的像模糊校正裝置中，通過縱搖移動(dòng)框架以及橫搖移動(dòng)框架，相對于固定框架沿上下方向(縱向)以及左右方向(橫向)移動(dòng)自如地支承校正透鏡。日本特開2008-26634號公報(bào)(專利文獻(xiàn)4)公開了 “抖動(dòng)校正單元”，包含通過沿與成像光學(xué)系統(tǒng)的光軸交叉的方向移動(dòng)而校正由成像光學(xué)系統(tǒng)所形成的像的模糊的校正光學(xué)部件。在專利文獻(xiàn)4所公開的校正光學(xué)部件中，保持校正透鏡的透鏡保持框架借助縱滑動(dòng)件以及橫滑動(dòng)件，相對于收容筒沿縱向以及橫向移動(dòng)自如地被支承。日本特開2006-215095號公報(bào)(專利文獻(xiàn)5)公開了“像模糊校正裝置”，能夠以小的驅(qū)動(dòng)力使校正透鏡移動(dòng)，能夠迅速且高精度地進(jìn)行像模糊校正。專利文獻(xiàn)5所公開的像模糊校正裝置包括保持校正透鏡的保持框架；以該保持框架沿第一方向(縱向)滑動(dòng)自如的方式支承該保持框架的第一滑動(dòng)件；以保持框架沿第二方向(橫向)滑動(dòng)自如的方式支承該保持框架的第二滑動(dòng)件；沿第一方向驅(qū)動(dòng)第一滑動(dòng)件的第一線圈電機(jī)；以及沿第二方向驅(qū)動(dòng)第二滑動(dòng)件的第二線圈電機(jī)。日本特開2008-15159號公報(bào)(專利文獻(xiàn)6)公開了包括能夠沿與光軸正交的方向移動(dòng)地設(shè)置的模糊校正光學(xué)系統(tǒng)的透鏡鏡筒。在專利文獻(xiàn)6所公開的模糊校正光學(xué)系統(tǒng)中，設(shè)置于VR(Vibration Reduction 抖動(dòng)校正)主體單元內(nèi)的可動(dòng)VR單元被設(shè)置成保持校正透鏡(第三透鏡組)，并能夠在與光軸正交的XY平面內(nèi)移動(dòng)。日本特開2007-212876號公報(bào)(專利文獻(xiàn)7)公開了“像模糊校正裝置”，使保持于移動(dòng)框架的校正透鏡能夠相對于透鏡系統(tǒng)的光軸沿彼此正交的第一方向以及第二方向移動(dòng)，并通過驅(qū)動(dòng)單元控制成使校正透鏡的光軸與透鏡系統(tǒng)的光軸重合，從而能夠校正像模糊。日本特開2007-17957號公報(bào)(專利文獻(xiàn)8)公開了“像模糊校正裝置”，通過透鏡驅(qū)動(dòng)單元的動(dòng)作，向與透鏡系統(tǒng)的光軸正交的方向并且彼此正交的第一方向以及第二方向，驅(qū)動(dòng)用于校正由透鏡系統(tǒng)形成的像的模糊的校正透鏡，從而校正像模糊。在專利文獻(xiàn) 8所公開的像模糊校正裝置中，將透鏡驅(qū)動(dòng)單元設(shè)置于與校正透鏡的光軸正交的方向的一側(cè)。日本特開2007-17874號公報(bào)(專利文獻(xiàn)9)公開了 “像模糊校正裝置”，使保持于移動(dòng)框架的校正透鏡能夠沿與透鏡系統(tǒng)的光軸正交的方向并且彼此正交的第一方向以及第二方向移動(dòng)，并控制成使校正透鏡的光軸與透鏡系統(tǒng)的光軸重合，從而能夠校正像模糊的。該專利文獻(xiàn)9所公開的像模糊校正裝置包括具有能夠相對地移動(dòng)的線圈和磁體的驅(qū)動(dòng)單元。線圈和磁體中的一者固定于移動(dòng)框架，另一者固定于支承框架，該支承框架以移動(dòng)框架能夠移動(dòng)的方式支承該移動(dòng)框架。另外，該專利文獻(xiàn)9所公開的像模糊校正裝置包括第一霍爾元件，通過檢測磁體的磁力而檢測校正透鏡有關(guān)第一方向的位置信息；以及第二霍爾元件，通過檢測磁體的磁力而檢測校正透鏡有關(guān)第二方向的位置信息。上述專利文件2至9所公開的透鏡移動(dòng)方式的像模糊校正裝置(抖動(dòng)校正裝置) 均具有在與光軸垂直的平面內(nèi)對校正透鏡進(jìn)行移動(dòng)調(diào)整的構(gòu)造?？墒?，這樣的構(gòu)造的像模糊校正裝置(抖動(dòng)校正裝置)具有構(gòu)造復(fù)雜且不適宜小型化的問題。即，與上述傳感器移動(dòng)方式的抖動(dòng)校正裝置同樣，將透鏡移動(dòng)方式的抖動(dòng)校正裝置運(yùn)用于移動(dòng)電話用小型相機(jī)在尺寸(外形、高度)方面是困難的。軟件方式例如公開于日本特開第平11-64905號公報(bào)(專利文獻(xiàn)10)中。在專利文獻(xiàn)10所公開的抖動(dòng)校正方法中，從檢測單元的檢測結(jié)果中去除噪點(diǎn)成分，根據(jù)去除了該噪點(diǎn)成分的檢測信號，計(jì)算校正攝像裝置的因抖動(dòng)而造成的圖像模糊所需的特定信息，從而在攝像裝置靜止并無抖動(dòng)的狀態(tài)下，拍攝圖像也靜止?？墒?，對于該專利文獻(xiàn)10所公開的軟件方式，存在與上述光學(xué)式相比畫質(zhì)較差的問題。而且，對于軟件方式，由于還包含軟件的處理，所以存在拍攝時(shí)間花費(fèi)較長時(shí)間的缺
點(diǎn)ο為了解決上述問題，已提出了通過使保持透鏡和攝像元件(圖象傳感器)的透鏡組件(相機(jī)組件)自身搖動(dòng)而校正抖動(dòng)(像模糊)的抖動(dòng)校正裝置(像模糊校正裝置)。 在此將那樣的方式稱為“光學(xué)單元傾斜(tilt)方式”。以下，就“光學(xué)單元傾斜方式”進(jìn)行說明。
例如，日本特開2007-41455號公報(bào)(專利文獻(xiàn)11)公開了 “光學(xué)裝置的像模糊校正裝置”，該光學(xué)裝置的像模糊校正裝置包括透鏡組件，保持透鏡和攝像元件；框架構(gòu)造， 利用轉(zhuǎn)動(dòng)軸以該透鏡組件能夠轉(zhuǎn)動(dòng)的方式支承該透鏡組件；驅(qū)動(dòng)單元(致動(dòng)器)，通過對轉(zhuǎn)動(dòng)軸的被驅(qū)動(dòng)單元(轉(zhuǎn)動(dòng)件)賦予驅(qū)動(dòng)力，使透鏡組件相對于框架構(gòu)造轉(zhuǎn)動(dòng)；以及施力單元 (板簧)，將驅(qū)動(dòng)單元(致動(dòng)器)壓靠于轉(zhuǎn)動(dòng)軸的被驅(qū)動(dòng)單元(轉(zhuǎn)動(dòng)件)?？蚣軜?gòu)造包括內(nèi)框架和外框架。驅(qū)動(dòng)單元(致動(dòng)器)被設(shè)置為相對于轉(zhuǎn)動(dòng)軸的被驅(qū)動(dòng)單元(轉(zhuǎn)動(dòng)件)自與光軸垂直的方向抵接。驅(qū)動(dòng)單元(致動(dòng)器)包括壓電元件和轉(zhuǎn)動(dòng)軸側(cè)的作用單元。作用單元利用壓電元件的縱振動(dòng)以及彎曲振動(dòng)驅(qū)動(dòng)轉(zhuǎn)動(dòng)軸。另外，日本特開2007-93953號公報(bào)(專利文獻(xiàn)12)公開了 “相機(jī)的抖動(dòng)校正裝置”，通過將攝像透鏡以及圖像傳感器一體化而成的相機(jī)組件收容于殼體的內(nèi)部，并且利用軸將相機(jī)組件以與攝像光軸正交且彼此垂直交叉的第一軸和第二軸為中心搖動(dòng)自如地支承于殼體，與由抖動(dòng)傳感器檢測到的殼體的抖動(dòng)對應(yīng)地在殼體內(nèi)部控制相機(jī)組件整體的姿勢，從而校正拍攝靜止圖像時(shí)的抖動(dòng)。專利文獻(xiàn)12所公開的相機(jī)的抖動(dòng)校正裝置包括中間框架，從固定有相機(jī)組件的內(nèi)框架的外側(cè)支承該內(nèi)框架，使該內(nèi)框架以第一軸為中心搖動(dòng)自如；外框架，固定于殼體，從中間框架的外側(cè)支承該中間框架，使該中間框架以第二軸為中心搖動(dòng)自如；第一驅(qū)動(dòng)單元，組裝于中間框架，使內(nèi)框架與來自抖動(dòng)傳感器(檢測縱向的抖動(dòng)的第一傳感器組件)的抖動(dòng)信號對應(yīng)地繞第一軸搖動(dòng)；以及第二驅(qū)動(dòng)單元，組裝于外框架，使中間框架與來自抖動(dòng)傳感器(檢測橫向的抖動(dòng)的第二傳感器組件)的抖動(dòng)信號對應(yīng)地繞第二軸搖動(dòng)。第一驅(qū)動(dòng)單元包括第一步進(jìn)電機(jī)；使該第一步進(jìn)電機(jī)減速的第一減速齒輪機(jī)構(gòu)；以及與最后級的齒輪一體旋轉(zhuǎn)，并通過設(shè)于內(nèi)框架的第一凸輪從動(dòng)件使內(nèi)框架搖動(dòng)的第一凸輪。第二驅(qū)動(dòng)單元包括第二步進(jìn)電機(jī)；使該第二步進(jìn)電機(jī)減速的第二減速齒輪機(jī)構(gòu)；以及與最后級的齒輪一體旋轉(zhuǎn)，并通過設(shè)于中間框架的第二凸輪從動(dòng)件使中間框架搖動(dòng)的第二凸輪。還有，日本特開2009-288770號公報(bào)(專利文獻(xiàn)13)公開了通過改善對攝像單元的搖動(dòng)校正用的攝像單元驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)的結(jié)構(gòu)而能夠可靠地校正搖動(dòng)的攝像用光學(xué)裝置。在專利文獻(xiàn)13所公開的攝像用光學(xué)裝置中，在固定罩的內(nèi)側(cè)構(gòu)成了攝像單元(可動(dòng)組件)和用于使該攝像單元位移而進(jìn)行搖動(dòng)校正的搖動(dòng)校正機(jī)構(gòu)。攝像單元用于使透鏡沿光軸的方向移動(dòng)。攝像單元具有在內(nèi)側(cè)保持透鏡以及固定光圈的移動(dòng)體、使該移動(dòng)體沿光軸方向移動(dòng)的透鏡驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)、和搭載透鏡驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)以及移動(dòng)體的支承體。透鏡驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)包括透鏡驅(qū)動(dòng)用線圈、透鏡驅(qū)動(dòng)用磁體和磁軛。攝像單元利用4根吊線被支承于固定體上。兩個(gè)成為一對的搖動(dòng)校正用的第一攝像單元驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)以及第二攝像單元驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)分別設(shè)于中間隔著光軸的兩側(cè)的兩個(gè)部位。在這些攝像單元驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)中，在可動(dòng)體側(cè)保持?jǐn)z像單元驅(qū)動(dòng)用磁體，在固定體側(cè)保持?jǐn)z像單元驅(qū)動(dòng)用線圈。另外，日本特開2007-142938號公報(bào)(專利文獻(xiàn)14)公開了具有使用陀螺儀等角速度傳感器而校正拍攝時(shí)的抖動(dòng)的功能的移動(dòng)信息終端設(shè)備。為了進(jìn)行攝像圖像的抖動(dòng)的校正，需要在與相機(jī)透鏡的光軸正交的面內(nèi)，設(shè)定彼此正交的、作為基準(zhǔn)的縱軸和橫軸， 并檢測以縱軸為旋轉(zhuǎn)的中心軸線的旋轉(zhuǎn)和以橫軸為旋轉(zhuǎn)的中心軸線的旋轉(zhuǎn)這兩者的角速度。專利文獻(xiàn)14公開了在攝像裝置的側(cè)面配置有檢測繞縱軸旋轉(zhuǎn)的旋轉(zhuǎn)角速度的第一陀螺儀、和檢測繞橫軸旋轉(zhuǎn)的旋轉(zhuǎn)角速度的第二陀螺儀的裝置。
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另外，日本特開2008-20668號公報(bào)(專利文獻(xiàn)15)公開了沿光軸方向驅(qū)動(dòng)透鏡的透鏡驅(qū)動(dòng)裝置。該專利文獻(xiàn)15所公開的透鏡驅(qū)動(dòng)裝置包括固定于透鏡支承體的外周的多個(gè)線圈體、和與線圈體相對設(shè)置的磁體單元。磁體單元在徑向上分極為N極和S極且在透鏡的光軸方向上具有不同的磁極N、S。線圈體與磁極對應(yīng)地設(shè)于磁體單元，在相鄰的線圈體中流過彼此相反方向的電流?，F(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)專利文獻(xiàn)專利文獻(xiàn)1 日本特開2004-274242號公報(bào)專利文獻(xiàn)2 日本特開2009-145771號公報(bào)專利文獻(xiàn)3 日本特開2006-65352號公報(bào)專利文獻(xiàn)4 日本特開2008-266 號公報(bào)專利文獻(xiàn)5 日本特開2006-215095號公報(bào)專利文獻(xiàn)6 日本特開2008-15159號公報(bào)專利文獻(xiàn)7 日本特開2007-212876號公報(bào)專利文獻(xiàn)8 日本特開2007-17957號公報(bào)專利文獻(xiàn)9 日本特開2007-17874號公報(bào)專利文獻(xiàn)10 日本特開平11-64905號公報(bào)專利文獻(xiàn)11 日本特開2007-41455號公報(bào)專利文獻(xiàn)12 日本特開2007-93953號公報(bào)專利文獻(xiàn)13 日本特開2009-288770號公報(bào)(圖1至圖5)專利文獻(xiàn)14 日本特開2007-142938號公報(bào)(段落0005、段落0006、圖2)專利文獻(xiàn)15 日本特開2008-20668號公報(bào)

發(fā)明內(nèi)容
發(fā)明要解決的問題因?yàn)樯鲜鰧＠墨I(xiàn)1所公開的“傳感器移動(dòng)方式”的抖動(dòng)校正裝置(數(shù)碼相機(jī)) 中，CCD移動(dòng)單元(可動(dòng)機(jī)構(gòu))較大，所以在尺寸(外形、高度)方面難以將其適用于移動(dòng)電話用小型相機(jī)。另一方面，因?yàn)樯鲜鰧＠墨I(xiàn)2至9所公開的“透鏡移動(dòng)方式”的像模糊校正裝置 (抖動(dòng)校正裝置)均是在與光軸垂直的平面內(nèi)對校正透鏡進(jìn)行移動(dòng)調(diào)整，所以存在構(gòu)造復(fù)雜且不適宜小型化的問題。另外，由于專利文獻(xiàn)10所公開的“軟件方式”的抖動(dòng)校正方法存在與光學(xué)式相比畫質(zhì)較差的問題，還存在拍攝時(shí)間也包括軟件的處理，花費(fèi)較長時(shí)間的缺點(diǎn)。另一方面，在專利文獻(xiàn)11所公開的“光學(xué)單元傾斜方式”的像模糊校正裝置中， 需要以包括內(nèi)框架和外框架的框架構(gòu)造覆蓋透鏡組件。其結(jié)果，存在像模糊校正裝置成為大型的問題。在專利文獻(xiàn)12所公開的“光學(xué)單元傾斜方式”的抖動(dòng)校正裝置中，也需要以內(nèi)框架、中間框架和外框架覆蓋相機(jī)組件。其結(jié)果，抖動(dòng)校正裝置成為大型。而且，在 “光學(xué)單元傾斜方式”中，還存在由于存在旋轉(zhuǎn)軸，產(chǎn)生孔-軸之間的摩擦，所以產(chǎn)生磁滯 (hysteresis)的問題。在專利文獻(xiàn)13所公開的“光學(xué)單元傾斜方式”的攝像用光學(xué)裝置中，除了需要透鏡驅(qū)動(dòng)用磁體之外，還需要攝像單元驅(qū)動(dòng)用磁體。其結(jié)果，存在攝像用光學(xué)裝置成為大型的問題。另外，專利文獻(xiàn)14所公開的移動(dòng)信息終端設(shè)備僅公開了使用陀螺儀等角速度傳感器作為抖動(dòng)傳感器。另外，專利文獻(xiàn)15僅公開了沿光軸方向驅(qū)動(dòng)透鏡的透鏡驅(qū)動(dòng)裝置。因而，本發(fā)明的解決課題在于提供能夠?qū)崿F(xiàn)小型且薄型化的抖動(dòng)校正裝置。本發(fā)明的其他的目的隨著說明的進(jìn)行而明確。對本發(fā)明的典型的方式的要點(diǎn)進(jìn)行說明，抖動(dòng)校正裝置通過使用于使透鏡鏡筒沿光軸移動(dòng)的自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置整體或其可動(dòng)部沿與光軸正交且彼此正交的第一方向和第二方向移動(dòng)，從而校正抖動(dòng)。自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置包括聚焦線圈和與該聚焦線圈相對設(shè)置且相對于光軸設(shè)置于聚焦線圈的徑向外側(cè)的永磁體。根據(jù)本發(fā)明的典型的方式，抖動(dòng)校正裝置具有基座，在自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置的底面部隔開地設(shè)置；多根吊線，一端固定于該基座的外周部，且沿著光軸延伸，支承該自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置整體或其可動(dòng)部；以及抖動(dòng)校正用線圈，與永磁體相對設(shè)置。對于本發(fā)明，因?yàn)閷⒆詣?dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置的永磁體作為抖動(dòng)校正裝置的永磁體共用，所以能夠?qū)崿F(xiàn)小型且薄型化。


圖1是表示本發(fā)明的第一實(shí)施方式的抖動(dòng)校正裝置的分解立體圖。圖2是表示圖1所示的抖動(dòng)校正裝置所使用的自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20的分解立體圖。圖3是表示去除了保護(hù)罩而表示圖1所示的抖動(dòng)校正裝置的組裝立體圖。圖4是表示控制圖1至圖3所示的抖動(dòng)校正裝置的抖動(dòng)校正致動(dòng)器的結(jié)構(gòu)的方框圖。圖5是本發(fā)明的第二實(shí)施方式的抖動(dòng)校正裝置的外觀立體圖。圖6是圖5所示的抖動(dòng)校正裝置的縱剖視圖。圖7是表示圖5所示的抖動(dòng)校正裝置的分解立體圖。圖8是表示圖5所示的抖動(dòng)校正裝置所使用的自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置的分解立體圖。圖9是圖6以及圖7所示的抖動(dòng)校正裝置所使用的磁路的立體圖。圖10是圖9所示的磁回路的縱剖視圖。圖11是省略了圖9所示的磁回路中的4片第一永磁體片和第一聚焦線圈而表示的俯視圖。圖12是本發(fā)明的第三實(shí)施方式的抖動(dòng)校正裝置的外觀立體圖。圖13是圖12所示的抖動(dòng)校正裝置的縱剖視圖。圖14是表示圖12所示的抖動(dòng)校正裝置的分解立體圖。圖15是表示圖12所示的抖動(dòng)校正裝置所使用的自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置的可動(dòng)部的分解立體圖。圖16是表示圖12的抖動(dòng)校正裝置所使用的位置檢測單元的位置信息單元的俯視圖。圖17是表示在圖6所示的抖動(dòng)校正裝置中使用光學(xué)式位置檢測單元作為位置檢測單元的變形例的縱剖視圖。
具體實(shí)施例方式以下，參照

本發(fā)明的實(shí)施方式。參照圖1至圖3，說明本發(fā)明的第一實(shí)施方式的抖動(dòng)校正裝置10。圖1是表示抖動(dòng)校正裝置10的分解立體圖。圖2是表示圖1所示的抖動(dòng)校正裝置10所使用的自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20的分解立體圖。圖3是表示去除了保護(hù)罩而表示圖1所示的抖動(dòng)校正裝置10的組裝立體圖。在此，如圖1至圖3所示那樣，使用正交坐標(biāo)系(X、Y、Z)。在圖1至圖3所示的狀態(tài)下，正交坐標(biāo)系(x、Y、z)中，X軸方向是前后方向(進(jìn)深方向)，Υ軸方向是左右方向(寬度方向)，ζ軸方向是上下方向(高度方向)。并且，在圖1至圖3所示的例子中，上下方向 Z是透鏡的光軸0方向。另外，在本第一實(shí)施方式中，X軸方向(前后方向)也稱為第一方向，Y軸方向(左右方向)也稱為第二方向。但是，實(shí)際使用狀況下，光軸0方向即Z軸方向成為前后方向。換言之，Z軸的上方向成為前方向，Z軸的下方向成為后方向。圖示的抖動(dòng)校正裝置10是通過校正利用移動(dòng)電話用小型相機(jī)拍攝靜止圖像時(shí)所產(chǎn)生的抖動(dòng)(振動(dòng))而能夠拍攝無像模糊的圖像的裝置。抖動(dòng)校正裝置10是通過使自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20整體沿與光軸0正交且彼此正交的第一方向(前后方向)Χ和第二方向(左右方向)移動(dòng)而校正抖動(dòng)的裝置。自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20用于使透鏡鏡筒12沿光軸0移動(dòng)。從自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20的底面隔開地設(shè)置基座印刷電路板(基座)14。該基座印刷電路板14的下部(后部)搭載有未圖示的設(shè)置于攝像基板上的攝像元件。該攝像元件攝像由透鏡鏡筒12 成像的被攝體并變換為電信號。攝像元件例如由(XD(Charge coupled device，電荷耦合器件)型圖像傳感器、CMOS (complementary metal oxide semiconductor，互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體)型圖像傳感器等構(gòu)成。因而，通過組合透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20、攝像基板和攝像元件構(gòu)成相機(jī)組件。接著，參照圖2說明自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20。自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20包括具有用于保持透鏡鏡筒12的筒狀部MO的透鏡保持架M ；以位于筒狀部240的周圍的方式固定于該透鏡保持架M的聚焦線圈沈；保持與該聚焦線圈26相對地設(shè)置于聚焦線圈沈的外側(cè)的永磁體觀的磁體保持架30 ；以及設(shè)于透鏡保持架M的筒狀部240的光軸0方向兩側(cè)的一對板簧32、34。一對板簧32、34以透鏡保持架M在徑向被定位的狀態(tài)下透鏡保持架M能夠沿光軸0方向位移的方式支承該透鏡保持架對。一對板簧32、34中的一側(cè)的板簧32被稱為上側(cè)板簧，另一側(cè)的板簧34被稱為下側(cè)板簧。另外，如上述那樣，在實(shí)際的使用狀況下，Z軸方向(光軸0方向)的上方向成為前方向，Z軸方向(光軸0方向)的下方向成為后方向。因而，上側(cè)板簧32也被稱為前側(cè)彈簧，下側(cè)板簧34也被稱為后側(cè)彈簧。
磁體保持架30呈八邊筒狀。即，磁體保持架30具有八邊筒形狀的外筒部302 ；設(shè)于該外筒部302的上端(前端)的八邊形的上側(cè)環(huán)狀端部304 ；以及設(shè)于外筒部302的下端(后端)的八邊形的下側(cè)環(huán)狀端部306。上側(cè)環(huán)狀端部304具有向上方突出的八個(gè)上側(cè)突起3(Ma。下側(cè)環(huán)狀端部306也具有向下方突出的八個(gè)下側(cè)突起306a。聚焦線圈沈呈與八邊筒狀的磁體保持架30的形狀相匹配的八邊筒狀。永磁體28 包含沿第一方向(前后方向)X和第二方向(左右方向)Y彼此隔開地設(shè)置于磁體保持架30 的八邊筒形狀的外筒部302的4片矩形狀的永磁體片觀2?？傊?，永磁體28與聚焦線圈沈隔有間隔地設(shè)置。上側(cè)板簧(前側(cè)彈簧)32設(shè)置于透鏡保持架M的光軸0方向上側(cè)(前側(cè))，下側(cè)板簧(后側(cè)彈簧)34設(shè)置于透鏡保持架M的光軸0方向下側(cè)(后側(cè))。上側(cè)板簧(前側(cè)彈簧)32與下側(cè)板簧(后側(cè)彈簧)34具有大致相同的結(jié)構(gòu)。上側(cè)板簧(前側(cè)彈簧)32具有安裝于透鏡保持架M的上端部的上側(cè)內(nèi)圈部322、 和安裝于磁體保持架30的上側(cè)環(huán)狀端部304的上側(cè)外圈部324。在上側(cè)內(nèi)圈部322與上側(cè)外圈部3M之間設(shè)有四個(gè)上側(cè)臂部326。S卩，四個(gè)臂部3 連接上側(cè)內(nèi)圈部322與上側(cè)外圈部 324。上側(cè)外圈部3 具有分別與磁體保持架30的八個(gè)上側(cè)突起30 卡合的八個(gè)卡合缺口 3Ma。在上側(cè)板簧(前側(cè)彈簧)32的上部設(shè)置環(huán)狀的上側(cè)印刷電路板(上側(cè)基板)36。 上側(cè)印刷電路板36具有分別供磁體保持架30的八個(gè)上側(cè)突起30 壓入(嵌入)的八個(gè)上側(cè)基板孔36a。即，磁體保持架30的八個(gè)上側(cè)突起30 分別經(jīng)由上側(cè)外圈部324的八個(gè)卡合缺口 3Ma，壓入(嵌入)上側(cè)印刷電路板36的八個(gè)上側(cè)基板孔36a。S卩，上側(cè)板簧 (前側(cè)彈簧)32的上側(cè)外圈部3M被夾持而固定在磁體保持架30的上側(cè)環(huán)狀端部304與上側(cè)印刷電路板36之間。同樣，下側(cè)板簧(后側(cè)彈簧)34具有安裝于透鏡保持架M的下端部的下側(cè)內(nèi)圈部 (未圖示)、和安裝于磁體保持架30的下側(cè)環(huán)狀端部306的下側(cè)外圈部344。在下側(cè)內(nèi)圈部與上側(cè)外圈部344之間設(shè)有四個(gè)下側(cè)臂部(未圖示)。即，四個(gè)下側(cè)臂部連接下側(cè)內(nèi)圈部與下側(cè)外圈部344。下側(cè)外圈部344具有分別與磁體保持架30的八個(gè)下側(cè)突起306a卡合的八個(gè)下側(cè)卡合缺口 344a。在下側(cè)板簧(后側(cè)彈簧)34的下部設(shè)置環(huán)狀的止動(dòng)件38。止動(dòng)件38具有分別供磁體保持架30的八個(gè)下側(cè)突起306a壓入(嵌入)的八個(gè)止動(dòng)件缺口 38a。S卩，磁體保持架30的八個(gè)下側(cè)突起306a分別經(jīng)由下側(cè)外圈部344的八個(gè)卡合缺口 344a，壓入(嵌入)止動(dòng)件38的八個(gè)止動(dòng)件缺口 38a。S卩，下側(cè)板簧(后側(cè)彈簧)34的下側(cè)外圈部344被夾持而固定在磁體保持架30的下側(cè)環(huán)狀端部306與止動(dòng)件38之間。包括上側(cè)板簧32和下側(cè)板簧34的彈性部件作為引導(dǎo)透鏡保持架M使其僅沿光軸0方向移動(dòng)的引導(dǎo)單元而發(fā)揮作用。上側(cè)板簧32和下側(cè)板簧34分別由鈹青銅、磷青銅等構(gòu)成。在透鏡保持架M的筒狀部MO的內(nèi)周壁上切削有內(nèi)螺紋M2。另一方面，在透鏡鏡筒12的外周壁上切削有與上述內(nèi)螺紋242相配的外螺紋122。因而，為了在透鏡保持架 24上安裝透鏡鏡筒12，通過使透鏡鏡筒12相對于透鏡保持架M的筒狀部240繞光軸0旋轉(zhuǎn)并沿光軸0方向旋入，將透鏡鏡筒12收容于透鏡保持架M內(nèi)，并利用粘接劑等彼此接口 ο通過對聚焦線圈沈通電，在永磁體28的磁場與由聚焦線圈沈中流過的電流產(chǎn)生的磁場相互作用下，能夠?qū)ν哥R保持架24(透鏡鏡筒1 沿光軸0方向進(jìn)行位置調(diào)整。接著，參照圖1以及圖3，說明抖動(dòng)校正裝置10。抖動(dòng)校正裝置10具有一端被固定于基座印刷電路板(基座)14的四角部的4根吊線16、和與上述自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20的永磁體28相對地設(shè)置于永磁體28的外側(cè)的抖動(dòng)校正用線圈18。4根吊線16沿光軸0延伸，以自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20整體能夠沿第一方向 (前后方向)x和第二方向(左右方向)Y搖動(dòng)的方式支承該自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20整體。4根吊線16的另一端固定于上述自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20的上側(cè)印刷電路板36。 詳細(xì)而言，上側(cè)印刷電路板36具有供4根吊線16的另一端插入(嵌入)的四個(gè)線固定用孔36b。將4根吊線16的另一端插入(嵌入)到上述四個(gè)線固定用孔36b中，并利用粘接齊U、焊錫等固定。4根吊線16中的兩根吊線也使用于對聚焦線圈沈供電。如上述那樣，永磁體觀由沿第一方向(前后方向)X和第二方向(左右方向)Y彼此相對地設(shè)置的4片永磁體片282構(gòu)成。抖動(dòng)校正裝置10包括與4片永磁體片282分別相對地隔開設(shè)置的四個(gè)線圈基板 40。在上述四個(gè)線圈基板40上形成有上述抖動(dòng)校正用線圈18。詳細(xì)而言，在各線圈基板40的兩端部形成有一對抖動(dòng)校正用線圈18。因而，合計(jì)具有八個(gè)抖動(dòng)校正用線圈18。形成于在第二方向(左右方向)Y上彼此相對設(shè)置的兩個(gè)線圈基板40上的四個(gè)抖動(dòng)校正用線圈18用于使自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20沿第一方向(前后方向)X移動(dòng)(搖動(dòng))°這樣的四個(gè)抖動(dòng)校正用線圈18被稱為第一方向致動(dòng)器18(1)。另一方面，形成于在第一方向(前后方向)X上彼此相對設(shè)置的兩個(gè)線圈基板40 上的四個(gè)抖動(dòng)校正用線圈18用于使自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20沿第二方向(左右方向) Y移動(dòng)(搖動(dòng))。這樣的四個(gè)抖動(dòng)校正用線圈18被稱為第二方向致動(dòng)器18 O)?？傊?，抖動(dòng)校正用線圈18用于與永磁體觀配合，沿X軸方向(第一方向)和Y軸方向(第二方向)驅(qū)動(dòng)自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20整體。另外，抖動(dòng)校正用線圈18與永磁體觀的組合作為音圈電機(jī)而發(fā)揮作用。這樣，圖示的抖動(dòng)校正裝置10通過使收容于自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20的透鏡鏡筒12本身沿第一方向(前后方向)X和第二方向(左右方向)Y移動(dòng)，校正抖動(dòng)。因而， 抖動(dòng)校正裝置10被稱為“鏡筒移動(dòng)方式”的抖動(dòng)校正裝置。抖動(dòng)校正裝置10還包括包含了覆蓋四個(gè)線圈基板40的四邊筒部422的保護(hù)罩 42。在圖示的例子中，如圖1所示那樣，四個(gè)線圈基板40安裝于保護(hù)罩42的四邊筒部422 的內(nèi)壁上。圖示的抖動(dòng)校正裝置10還包括用于檢測自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20相對于基座印刷電路板14的位置的位置檢測單元50。圖示的位置檢測單元50由安裝在基座印刷電路板14上的四個(gè)霍爾元件50構(gòu)成。上述四個(gè)霍爾元件50分別與4片永磁體片觀2隔開地相對設(shè)置。在第一方向(前后方向)X上相對設(shè)置的一對霍爾元件50通過檢測與該一對霍爾元件50相對的一對永磁體片282的磁力，檢測跟隨第一方向(前后方向)X的移動(dòng)(搖動(dòng)) 的第一位置。在第二方向(左右方向)Y上相對設(shè)置的一對霍爾元件50通過檢測與該一對霍爾元件50相對的一對永磁體片282的磁力，檢測跟隨第二方向(左右方向)Y的移動(dòng)(搖動(dòng))的第二位置。圖4是表示對抖動(dòng)校正裝置10進(jìn)行控制的抖動(dòng)校正致動(dòng)器600的結(jié)構(gòu)的方框圖。 抖動(dòng)校正裝置10搭載于帶相機(jī)的移動(dòng)電話(未圖示)中。在帶相機(jī)的移動(dòng)電話的殼體(未圖示)中，設(shè)有用于檢測第一方向(前后方向)X 的抖動(dòng)的第一方向陀螺儀602、和用于檢測第二方向(左右方向)Y的抖動(dòng)的第二方向陀螺儀 604。第一方向陀螺儀602檢測第一方向(前后方向)Χ的角速度，并輸出表示檢測到的第一方向(前后方向)x的角速度的第一角速度信號。第二方向陀螺儀604檢測第二方向 (左右方向)Y的角速度，并輸出表示檢測到的第二方向(左右方向)Y的角速度的第二角速度信號。第一角速度信號以及第二角速度信號被提供給抖動(dòng)校正控制單元606?？扉T按鈕 608將快門操作指令信號提供給抖動(dòng)校正控制單元606。抖動(dòng)校正控制單元606具有根據(jù)第一角速度信號以及第二角速度信號檢測帶相機(jī)的移動(dòng)電話的殼體的抖動(dòng)的抖動(dòng)檢測電路612、和接受快門操作指令信號的時(shí)序控制電路614。抖動(dòng)檢測電路612包含濾波電路和放大電路。抖動(dòng)檢測電路612將抖動(dòng)檢測信號提供給抖動(dòng)量檢測電路616。抖動(dòng)量檢測電路616根據(jù)抖動(dòng)檢測信號檢測帶相機(jī)的移動(dòng)電話的殼體的抖動(dòng)量，并將抖動(dòng)量檢測信號輸出到系數(shù)變換電路618。系數(shù)變換電路618對抖動(dòng)量檢測信號進(jìn)行系數(shù)變換，并將系數(shù)變換了的信號輸出到控制電路620。來自設(shè)于抖動(dòng)校正裝置10的位置檢測單元(位置傳感器)50的位置檢測信號被提供給該控制電路620。控制電路620響應(yīng)系數(shù)變換了的信號，基于位置檢測信號，輸出控制信號以抵消由抖動(dòng)檢測電路612檢測到的抖動(dòng)。時(shí)序控制電路614響應(yīng)快門操作指令信號，控制抖動(dòng)量檢測電路616、系數(shù)變換電路618和控制電路620的動(dòng)作時(shí)機(jī)?？刂菩盘柋惶峁┙o驅(qū)動(dòng)電路 622。如上述那樣，抖動(dòng)校正裝置10，包括用于使自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20整體沿第一方向(前后方向)x移動(dòng)(搖動(dòng))的第一方向致動(dòng)器18(1)、和用于使自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20整體沿第二方向(左右方向)Y移動(dòng)(搖動(dòng))的第二方向致動(dòng)器18( 作為音圈電機(jī)。總之，抖動(dòng)校正裝置10包含第一方向致動(dòng)器18(1)和第二方向致動(dòng)器18 O)。驅(qū)動(dòng)電路622響應(yīng)控制信號，驅(qū)動(dòng)第一方向致動(dòng)器18⑴和第二方向致動(dòng)器 18(2)。通過這樣的結(jié)構(gòu)，抖動(dòng)校正裝置10能夠使自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20整體移動(dòng) (搖動(dòng))從而抵消帶相機(jī)的移動(dòng)電話的殼體的抖動(dòng)。其結(jié)果，能夠校正抖動(dòng)。如上所述的本發(fā)明的第一實(shí)施方式的抖動(dòng)校正裝置10發(fā)揮以下說明的效果。因?yàn)樵谧詣?dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20上設(shè)置抖動(dòng)校正裝置10，共用永磁體觀，所以能夠削減元件件數(shù)。其結(jié)果，能夠縮小(降低)抖動(dòng)校正裝置10的尺寸(主要是高度)。在光學(xué)單元傾斜方式的抖動(dòng)校正裝置中，由于存在旋轉(zhuǎn)軸，所以產(chǎn)生孔-軸之間的摩擦從而產(chǎn)生磁滯。相對于此，在本第一實(shí)施方式的抖動(dòng)校正裝置10中，因?yàn)槔?根吊線16機(jī)械地支承自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20整體，所以不易產(chǎn)生磁滯。與以往的光學(xué)式抖動(dòng)校正方式(透鏡移動(dòng)方式、傳感器移動(dòng)方式、光學(xué)單元傾斜方式)的抖動(dòng)校正裝置相比，因?yàn)椴捎苗R筒移動(dòng)方式，所以能夠使抖動(dòng)校正裝置10的尺寸 (主要是高度)與自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20大致相等。其結(jié)果，能夠?qū)⒈镜谝粚?shí)施方式的抖動(dòng)校正裝置10搭載于移動(dòng)電話用光學(xué)抖動(dòng)校正相機(jī)中。另外，在第一實(shí)施方式中，作為位置檢測單位(位置傳感器)，使用了由霍爾元件 50構(gòu)成的磁式位置檢測單元，但是也可以使用光反射器等光學(xué)式位置檢測單元那樣的其他位置檢測單元(位置傳感器)替代霍爾元件50。另外，在上述第一實(shí)施方式中，永磁體觀由在第一方向X和第二方向Y上彼此相對設(shè)置的4片永磁體片282構(gòu)成，但是永磁體片的數(shù)量不限定于4片，例如也可以由不僅在第一方向和第二方向上而且在對角線方向上也相對設(shè)置的8片永磁體片構(gòu)成。在該情況下，抖動(dòng)校正用線圈18的個(gè)數(shù)、線圈基板40的個(gè)數(shù)也與永磁體片282的片數(shù)對應(yīng)地變更。 另外，在上述第一實(shí)施方式中，4根吊線16的一端固定于基座14的四角部，但是也可以固定于基座14的外周部。而且，吊線16的根數(shù)也不限定于4根，也可以是多根。參照圖5至圖8，說明本發(fā)明的第二實(shí)施方式的抖動(dòng)校正裝置IOA0圖5是抖動(dòng)校正裝置IOA的外觀立體圖。圖6是抖動(dòng)校正裝置IOA的縱剖視圖。圖7是表示抖動(dòng)校正裝置IOA的分解立體圖。圖8是表示圖5所示的抖動(dòng)校正裝置IOA所使用的自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20A的分解立體圖。在此，如圖5至圖8所示那樣，使用正交坐標(biāo)系(X、Y、Z)。在圖5至圖8所示的狀態(tài)下，正交坐標(biāo)系(x、Y、z)中，X軸方向是前后方向(進(jìn)深方向)，Υ軸方向是左右方向(寬度方向)，ζ軸方向是上下方向(高度方向)。并且，在圖5至圖8所示的例子中，上下方向 Z是透鏡的光軸0方向。另外，在本第二實(shí)施方式中，X軸方向(前后方向)也稱為第一方向，Y軸方向(左右方向)也稱為第二方向。但是，實(shí)際使用狀況下，光軸0方向即Z軸方向成為前后方向。換言之，Z軸的上方向成為前方向，Z軸的下方向成為后方向。圖示的抖動(dòng)校正裝置IOA是通過校正利用移動(dòng)電話用小型相機(jī)拍攝靜止圖像時(shí)所產(chǎn)生的抖動(dòng)(振動(dòng))而能夠拍攝無像模糊的圖像的裝置。抖動(dòng)校正裝置IOA是通過使自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20Α整體沿與光軸0正交且彼此正交的第一方向(前后方向)Χ和第二方向(左右方向)移動(dòng)而校正抖動(dòng)的裝置。自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20Α用于使透鏡鏡筒12Α沿光軸0移動(dòng)。從自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20Α的底部向徑向外側(cè)隔開地設(shè)置基座14Α。在該基座14Α的下部(后部) 搭載有未圖示的設(shè)置于攝像基板上的攝像元件。該攝像元件攝像由透鏡鏡筒12Α成像的被攝體并變換為電信號。攝像元件例如由CCD型圖像傳感器、CMOS型圖像傳感器等構(gòu)成。因而，通過組合透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20A、攝像基板和攝像元件構(gòu)成相機(jī)組件?；?4A由外形是四邊形且內(nèi)部具有圓形開口的環(huán)形狀的基部142A和從該基部 142A的外緣向光軸0方向的上側(cè)突出的四邊筒形狀的筒狀部144A構(gòu)成。抖動(dòng)校正裝置IOA具有4根吊線16A，其一端固定于基座14A的基部142A的四角部；以及抖動(dòng)校正用線圈18A，其如后述那樣地與后述的自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20A的永磁體28A相對設(shè)置。4根吊線16A沿光軸0延伸，以自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20A整體能夠沿第一方向 (前后方向)X和第二方向(左右方向)Y搖動(dòng)的方式支承該自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20A 整體。4根吊線16A的另一端如后述那樣地固定于上述自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20A的上端部。抖動(dòng)校正裝置IOA如后述那樣包括與永磁體28A相對地隔開設(shè)置的一個(gè)四邊環(huán)形狀的線圈基板40A。該線圈基板40A安裝于基座14A的筒狀部144A的上端。在該線圈基板 40A上形成有上述抖動(dòng)校正用線圈ISA0接著，參照圖8說明自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20A。自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20A包括具有用于保持透鏡鏡筒12A的筒狀部MOA的透鏡保持架24A ；以位于筒狀部MOA的周圍的方式固定于該透鏡保持架24A上的第一聚焦線圈^A-I和第二聚焦線圈2認(rèn)-2 ；保持與這些第一聚焦線圈^A-I和第二聚焦線圈2認(rèn)-2 相對地設(shè)置于第一聚焦線圈^A-I和第二聚焦線圈2隊(duì)-2的外側(cè)的永磁體28A的磁體保持架30A ；以及設(shè)于透鏡保持架24A的筒狀部MOA的光軸0方向兩側(cè)的一對板簧32A、34A。第一聚焦線圈^A-I安裝于透鏡保持架24A的筒狀部MOA的光軸0方向的上側(cè)， 第二聚焦線圈26A-2安裝于透鏡保持架24A的筒狀部MOA的光軸0方向的下側(cè)。一對板簧32A、34A以透鏡保持架24A在徑向被定位的狀態(tài)下透鏡保持架24A能夠沿光軸0方向位移的方式支承該透鏡保持架24A。一對板簧32A、34A中的一側(cè)的板簧32A 被稱為上側(cè)板簧，另一側(cè)的板簧34A被稱為下側(cè)板簧。另外，如上述那樣，在實(shí)際的使用狀況下，Z軸方向(光軸0方向)的上方向成為前方向，Z軸方向(光軸0方向)的下方向成為后方向。因而，上側(cè)板簧32A也被稱為前側(cè)彈簧，下側(cè)板簧34A也被稱為后側(cè)彈簧。磁體保持架30A呈八邊筒狀。即，磁體保持架30A具有八邊筒形狀的外筒部302A ； 設(shè)于該外筒部302A的上端(前端)的四邊形的上側(cè)環(huán)狀端部304A ；以及設(shè)于外筒部302A 的下端(后端)的八邊形的下側(cè)環(huán)狀端部306A。第一聚焦線圈^A-I和第二聚焦線圈2隊(duì)-2分別呈與八邊筒狀的磁體保持架30A 的形狀相匹配的八邊筒狀。永磁體^A由在第一方向(前后方向)X、第二方向(左右方向) Y和上下方向Z彼此隔開地設(shè)置于磁體保持架30A的八邊筒形狀的外筒部302A的8片矩形狀的永磁體片構(gòu)成。在上述8片矩形狀永磁體中，4片第一永磁體片設(shè)置于外筒部 302A的光軸0方向的上側(cè)，其余的4片第二永磁體片設(shè)置于外筒部302A的光軸0 方向的下側(cè)。4片第一永磁體片與第一聚焦線圈26A-1隔有間隔地設(shè)置，4片第二永磁體片與第二聚焦線圈2認(rèn)-2隔有間隔地設(shè)置。上側(cè)板簧(前側(cè)彈簧)32A設(shè)置于透鏡保持架24A的光軸0方向上側(cè)(前側(cè))，下側(cè)板簧(后側(cè)彈簧)34A設(shè)置于透鏡保持架24A的光軸0方向下側(cè)(后側(cè))。上側(cè)板簧(前側(cè)彈簧)32A與下側(cè)板簧(后側(cè)彈簧)34A具有大致相同的結(jié)構(gòu)。上側(cè)板簧(前側(cè)彈簧)32A具有安裝于透鏡保持架24A的上端部的上側(cè)內(nèi)圈部 322A、和安裝于磁體保持架30A的上側(cè)環(huán)狀端部304A的上側(cè)外圈部324A。在上側(cè)內(nèi)圈部 322A與上側(cè)外圈部324A之間設(shè)有四個(gè)上側(cè)臂部326A。S卩，四個(gè)臂部326A連接上側(cè)內(nèi)圈部 322A與上側(cè)外圈部324A。
上側(cè)外圈部324A具有供上述4根吊線16A的另一端插入(嵌入)的四個(gè)線固定用孔3MAa。同樣，下側(cè)板簧(后側(cè)彈簧)34A具有安裝于透鏡保持架24A的下端部的下側(cè)內(nèi)圈部342A、和安裝于磁體保持架30A的下側(cè)環(huán)狀端部306A的下側(cè)外圈部344A。在下側(cè)內(nèi)圈部342A與上側(cè)內(nèi)圈部344A之間設(shè)有四個(gè)下側(cè)臂部346A。即，四個(gè)下側(cè)臂部346A連接下側(cè)內(nèi)圈部342A與下側(cè)外圈部344。包括上側(cè)板簧32A和下側(cè)板簧34A的彈性部件作為引導(dǎo)透鏡保持架24A使其僅沿光軸0方向移動(dòng)的引導(dǎo)單元而發(fā)揮作用。上側(cè)板簧32A和下側(cè)板簧34A分別由鈹青銅、磷青銅等構(gòu)成。在透鏡保持架24A的筒狀部MOA的內(nèi)周壁上切削有內(nèi)螺紋(未圖示)。另一方面，在透鏡鏡筒12A的外周壁上切削有與上述內(nèi)螺紋相配的外螺紋(未圖示)。因而，為了在透鏡保持架24A上安裝透鏡鏡筒12A，通過使透鏡鏡筒12A相對于透鏡保持架24A的筒狀部MOA繞光軸0旋轉(zhuǎn)并沿光軸0方向旋入，將透鏡鏡筒12A收容于透鏡保持架24A內(nèi)，并利用粘接劑等彼此接合。如后述那樣，通過在第一聚焦線圈^A-I和第二聚焦線圈2隊(duì)-2中分別流過第一自動(dòng)聚焦(AF)電流和第二自動(dòng)聚焦(AF)電流，在永磁體^A的磁場與由第一聚焦線圈 26A-1和第二聚焦線圈26A-2中流過的AF電流產(chǎn)生的磁場相互作用下，能夠?qū)ν哥R保持架 24A(透鏡鏡筒12A)沿光軸0方向進(jìn)行位置調(diào)整。接著，參照圖6和圖7，更詳細(xì)地說明抖動(dòng)校正裝置IOA0抖動(dòng)校正裝置IOA如上述那樣具有一端被固定于基座14A的基部142A的四角部的4根吊線16A、和與上述自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20A的永磁體28A相對設(shè)置的抖動(dòng)校正用線圈18A。4根吊線16A沿光軸0延伸，以自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20A整體能夠沿第一方向 (前后方向)X和第二方向(左右方向)Y搖動(dòng)的方式支承該自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20A 整體。4根吊線16A的另一端固定于上述自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20A的上端部。詳細(xì)而言，如上述那樣，上側(cè)板簧32A的上側(cè)外圈部324A具有供4根吊線16A的另一端插入(嵌入)的四個(gè)線固定用孔324Aa(參照圖8)。另外，磁體保持架30A的上側(cè)環(huán)狀端部304A具有供4根吊線16A的另一端插入的四個(gè)線插入用孔304Aa(參照圖8)。將4 根吊線16A的另一端經(jīng)由上述四個(gè)線插入用孔304Aa插入(嵌入)四個(gè)線固定用孔324Aa 中，并利用粘接劑、焊錫等固定。4根吊線16A也用于對第一聚焦線圈26A-1和第二聚焦線圈26A-2進(jìn)行供電。如上述那樣，永磁體^A由在第一方向(前后方向)X和第二方向(左右方向)Y 彼此相對且沿光軸0方向上下隔開地設(shè)置的4片第一永磁體片和4片第二永磁體片構(gòu)成。抖動(dòng)校正裝置IOA包括插入4片第一永磁體片與4片第二永磁體片282A-2 之間，并隔開地設(shè)置的一個(gè)環(huán)狀線圈基板40A。線圈基板40A在其四角具有供4根吊線16A 穿過的貫穿孔40Aa。在該一個(gè)線圈基板40A上形成有上述抖動(dòng)校正用線圈18A。詳細(xì)而言，在線圈基板40A上作為抖動(dòng)校正用線圈18A形成有四個(gè)抖動(dòng)校正用線圈 18Af、18Ab、18Al 和 18Ar(參照圖 9)。
在第一方向(前后方向)X上彼此相對設(shè)置的兩個(gè)抖動(dòng)校正用線圈ISAf^P ISAb 用于使自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20A沿第一方向(前后方向)X移動(dòng)(搖動(dòng))。這樣的兩個(gè)抖動(dòng)校正用線圈ISAf^P 18Ab被稱為第一方向致動(dòng)器。另外，在此，將對于光軸0位于前側(cè)的抖動(dòng)校正用線圈18Af稱為“前側(cè)抖動(dòng)校正用線圈”，將對于光軸0位于后側(cè)的抖動(dòng)校正用線圈18Ab稱為“后側(cè)抖動(dòng)校正用線圈”。另一方面，在第二方向(左右方向)Y上彼此相對設(shè)置的兩個(gè)抖動(dòng)校正用線圈18A1 和ISAr用于使自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20A沿第二方向(左右方向)Y移動(dòng)(搖動(dòng))。這樣的兩個(gè)抖動(dòng)校正用線圈18A1和ISAr被稱為第二方向致動(dòng)器。另外，在此，將對于光軸0 位于左側(cè)的抖動(dòng)校正用線圈18A1稱為“左側(cè)抖動(dòng)校正用線圈”，將對于光軸0位于右側(cè)的抖動(dòng)校正用線圈18Ar稱為“右側(cè)抖動(dòng)校正用線圈”?？傊膫€(gè)抖動(dòng)校正用線圈18Af、18Ab、18Al和18Ar用于與永磁體28A配合，沿X 軸方向(第一方向)和Y軸方向(第二方向)驅(qū)動(dòng)自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20A整體。另夕卜，抖動(dòng)校正用線圈18Af、18Ab、18Al和ISAr與永磁體28A的組合作為音圈電機(jī)發(fā)揮作用。這樣，圖示的抖動(dòng)校正裝置IOA通過使收容于自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20A的透鏡鏡筒12A本身沿第一方向(前后方向)X和第二方向(左右方向)Y移動(dòng)，校正抖動(dòng)。因而，抖動(dòng)校正裝置IOA被稱為“鏡筒移動(dòng)方式”的抖動(dòng)校正裝置。抖動(dòng)校正裝置IOA還包括包含了覆蓋自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20A的上部0片第一永磁體片的四邊筒部422A的罩42A。圖示的抖動(dòng)校正裝置IOA還包括用于檢測自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20A相對于基座14A的位置的位置檢測單元50A。圖示的位置檢測單元50A包括磁式位置檢測單元，該磁式位置檢測單元由安裝在基座14A的基部142A上的兩個(gè)霍爾元件50A構(gòu)成。上述兩個(gè)霍爾元件50A與4片第二永磁體片282A-2中的兩片永磁體片分別隔開地相對設(shè)置。如圖10 所示那樣，各霍爾元件50A被設(shè)置成橫穿從第二永磁體片的N極至S極的方向。在相對于光軸0第一方向(前后方向)X上設(shè)置的一個(gè)霍爾元件50A通過檢測與該一個(gè)霍爾元件50A相對的一片第二永磁體片的磁力，檢測跟隨第一方向(前后方向)X的移動(dòng)(搖動(dòng))的第一位置。相對于光軸0在第二方向(左右方向)Y上設(shè)置的一個(gè)霍爾元件50A通過檢測與該一個(gè)霍爾元件50A相對的一片第二永磁體片2微-2的磁力，檢測跟隨第二方向(左右方向)Y的移動(dòng)(搖動(dòng))的第二位置。另外，在第二實(shí)施方式的抖動(dòng)校正裝置IOA中，使用了由兩個(gè)霍爾元件50A構(gòu)成的磁式位置檢測單元作為位置檢測單元50A，但是也可以如上述第一實(shí)施方式的抖動(dòng)校正裝置10那樣，采用由四個(gè)霍爾元件50構(gòu)成的磁式位置檢測單元。參照圖9至圖11，詳細(xì)地說明圖6和圖7所示的抖動(dòng)校正裝置IOA所使用的磁路。 圖9是磁路的立體圖，圖10是磁路的縱剖視圖。圖11是省略了磁路中的4片第一永磁體片和第一聚焦線圈26A-1而表示的俯視圖。4片第一永磁體片和4片第二永磁體片在透鏡保持架24A的徑向外側(cè)和內(nèi)側(cè)，分別磁化為相鄰彼此不同的磁極。例如，如圖10所示那樣，第一永磁體片
內(nèi)側(cè)磁化為S極，外側(cè)磁化為N極，第二永磁體片內(nèi)側(cè)磁化為N極，外側(cè)磁化為S極。 圖10所示的箭頭表示由這些永磁體片282A-1J82A-2產(chǎn)生的磁通量的方向。接著，參照圖9說明對透鏡保持架24A (透鏡鏡筒12A)沿光軸0方向進(jìn)行位置調(diào)整的情況的動(dòng)作。在第一聚焦線圈^A-I和第二聚焦線圈2隊(duì)-2中，沿彼此相反方向分別流過第一 AF電流和第二 AF電流。例如，如圖9所示那樣，在第一聚焦線圈^A-I中，以順時(shí)針旋轉(zhuǎn)的方式流過以箭頭IAFl所示那樣的第一 AF電流，在第二聚焦線圈2隊(duì)-2中，以逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)的方式流過以箭頭IAF2所示那樣的第二 AF電流。在該情況下，按照弗來明左手定則，如圖9所示那樣，在第一聚焦線圈^A-I中作用為以箭頭IAFl所示那樣的上方向的電磁力，也在第二聚焦線圈2隊(duì)-2中作用為以箭頭 IAF2所示那樣的上方向的電磁力。其結(jié)果，能夠使透鏡保持架24A(透鏡鏡筒12A)向光軸 0方向的上方移動(dòng)。相反地，通過在第一聚焦線圈26A-1中以逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)的方式流過第一 AF電流，在第二聚焦線圈26A-2中以順時(shí)針旋轉(zhuǎn)的方式流過第二 AF電流，能夠使透鏡保持架24A(透鏡鏡筒12A)向光軸0方向的下方移動(dòng)。接著，參照圖11，說明使自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20A整體沿第一方向(前后方向)χ或第二方向(左右方向)Y移動(dòng)的情況的動(dòng)作。首先，說明使自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20A整體向第二方向(左右方向)Y的右側(cè)移動(dòng)的情況的動(dòng)作。在該情況下，如圖11所示那樣，在左側(cè)抖動(dòng)校正用線圈18A1中，以順時(shí)針旋轉(zhuǎn)的方式流過如箭頭IISl所示那樣的第一抖動(dòng)校正(1 電流，在右側(cè)抖動(dòng)校正用線圈ISAr中，以逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)的方式流過如箭頭IIS2所示那樣的第二抖動(dòng)校正(IS)電流。在該情況下，按照弗來明左手定則，在左側(cè)抖動(dòng)校正用線圈18A1中作用為左方向的電磁力，也在右側(cè)抖動(dòng)校正用線圈18Ar中作用為左方向的電磁力?？墒牵?yàn)檫@些抖動(dòng)校正用線圈18A1和ISAr固定于基座14A，所以作為其反作用力，在自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20A整體中作用為如圖11的箭頭FISl和FIS2所示那樣的、右方向的電磁力。其結(jié)果， 能夠使自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20A整體向右方向移動(dòng)。相反地，通過在左側(cè)抖動(dòng)校正用線圈18A1中以逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)的方式流過第一 IS電流，在右側(cè)抖動(dòng)校正用線圈18Ar中以順時(shí)針旋轉(zhuǎn)的方式流過第二 IS電流，能夠使自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20A整體向左方向移動(dòng)。另一方面，通過在后側(cè)抖動(dòng)校正用線圈18Ab中以順時(shí)針旋轉(zhuǎn)的方式流過第三IS 電流，在前側(cè)抖動(dòng)校正用線圈18Af中以逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)的方式流過第四IS電流，能夠使自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20A整體向前方向移動(dòng)。另外，通過在后側(cè)抖動(dòng)校正用線圈18Ab中以逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)的方式流過第三IS電流， 在前側(cè)抖動(dòng)校正用線圈18Af中以順時(shí)針旋轉(zhuǎn)的方式流過第四IS電流，能夠使自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20A整體向后方向移動(dòng)。這樣，能夠校正相機(jī)的抖動(dòng)。對于如上述那樣的、本發(fā)明的第二實(shí)施方式的抖動(dòng)校正裝置10A，發(fā)揮如下說明那樣的效果。因?yàn)樵谧詣?dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20A上設(shè)置抖動(dòng)校正裝置10A，共用永磁體28A， 所以能夠削減元件件數(shù)。其結(jié)果，能夠縮小(降低)抖動(dòng)校正裝置IOA的尺寸(主要是高度)。在光學(xué)單元傾斜方式的抖動(dòng)校正裝置中，由于存在旋轉(zhuǎn)軸，所以產(chǎn)生孔-軸之間的摩擦從而產(chǎn)生磁滯。相對于此，在本第二實(shí)施方式的抖動(dòng)校正裝置IOA中，因?yàn)槔?根吊線16A機(jī)械地支承自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20A整體，所以不易產(chǎn)生磁滯。與以往的光學(xué)式抖動(dòng)校正方式(透鏡移動(dòng)方式、傳感器移動(dòng)方式、光學(xué)單元傾斜方式)的抖動(dòng)校正裝置相比，因?yàn)椴捎苗R筒移動(dòng)方式，所以能夠使抖動(dòng)校正裝置IOA的尺寸 (主要是高度)與自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20A大致相等。其結(jié)果，能夠?qū)⒈镜诙?shí)施方式的抖動(dòng)校正裝置IOA搭載于移動(dòng)電話用光學(xué)抖動(dòng)校正相機(jī)中。另外，因?yàn)樵谏蟼?cè)的4片第一永磁體片與下側(cè)的4片第二永磁體片之間設(shè)置抖動(dòng)校正用線圈18A，所以能夠?qū)崿F(xiàn)高靈敏度的致動(dòng)器。另外，在第二實(shí)施方式中，作為位置檢測單位(位置傳感器)，使用了由兩個(gè)霍爾元件50A構(gòu)成的磁式位置檢測單元，但是，如后述，也可以使用光反射器等光學(xué)式位置檢測單元那樣的其他位置檢測單元(位置傳感器)替代霍爾元件50A。在上述第二實(shí)施方式中，永磁體片2名k由在第一方向X和第二方向Y上彼此相對并沿光軸0方向上下隔開地設(shè)置的4片第一永磁體片和4片第二永磁體片構(gòu)成，但是第一永磁體片和第二永磁體片各自的片數(shù)不限定于4片，例如也可以由不僅在第一方向和第二方向上而且在對角線方向上也相對地設(shè)置的8片永磁體片構(gòu)成。在該情況下，抖動(dòng)校正用線圈18A的個(gè)數(shù)也變更為八個(gè)。另外，在上述第二實(shí)施方式中，4根吊線16A 自基座14A的基部142A的四角部豎立設(shè)置，但是可以自基部142A的外周部豎立設(shè)置。而且，吊線16A的根數(shù)也不限定于4根，可以是多根。上述第一實(shí)施方式和第二實(shí)施方式的抖動(dòng)校正裝置10和IOA采用永磁體18和 18A移動(dòng)(可動(dòng))的“移動(dòng)磁體方式”?？墒?，作為抖動(dòng)校正裝置，也可以采用線圈移動(dòng)(可動(dòng))的“移動(dòng)線圈方式”。由此，能夠?qū)崿F(xiàn)自動(dòng)聚焦用相機(jī)驅(qū)動(dòng)裝置的可動(dòng)部的輕量化。參照圖12至圖15，說明本發(fā)明的第三實(shí)施方式的抖動(dòng)校正裝置10B。圖12是抖動(dòng)校正裝置IOB的外觀立體圖。圖13是抖動(dòng)校正裝置IOB的縱剖視圖。圖14是表示抖動(dòng)校正裝置IOB的分解立體圖。圖15是表示圖12所示的抖動(dòng)校正裝置IOB所使用的自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20B的可動(dòng)部的分解立體圖。在此，如圖12至圖15所示，使用正交坐標(biāo)系(X、Y、Z)。在圖12至圖15所示的狀態(tài)下，正交坐標(biāo)系(Χ、Υ、Ζ)中，X軸方向是前后方向(進(jìn)深方向)，Υ軸方向是左右方向(寬度方向)，Ζ軸方向是上下方向(高度方向)。并且，在圖12至圖15所示的例子中，上下方向Z是透鏡的光軸0方向。另外，在本第三實(shí)施方式中，X軸方向(前后方向)也稱為第一方向，Y軸方向(左右方向)也稱為第二方向。但是，實(shí)際使用狀況下，光軸0方向即Z軸方向成為前后方向。換言之，Z軸的上方向成為前方向，Z軸的下方向成為后方向。圖示的抖動(dòng)校正裝置IOB是通過校正利用移動(dòng)電話用小型相機(jī)拍攝靜止圖像時(shí)所產(chǎn)生的抖動(dòng)(振動(dòng))而能夠拍攝無像模糊的圖像的裝置。抖動(dòng)校正裝置IOB是通過使自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20Β的可動(dòng)部沿與光軸0正交且彼此正交的第一方向(前后方向)X 和第二方向(左右方向)移動(dòng)而校正抖動(dòng)的裝置。圖示的抖動(dòng)校正裝置IOB是采用了“移動(dòng)線圈方式”的抖動(dòng)校正裝置。自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20Β用于使透鏡鏡筒(未圖示)沿光軸0移動(dòng)。從自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20Β的底部向徑向外側(cè)隔開地設(shè)置基座14Β。在該基座14Β的下部(后部)搭載未圖示的設(shè)置于攝像基板上的攝像元件。該攝像元件拍攝由透鏡鏡筒成像的被攝體并變換為電信號。攝像元件例如由CCD型圖像傳感器、CMOS型圖像傳感器等構(gòu)成。 因而，由透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20B、攝像基板和攝像元件的組合構(gòu)成相機(jī)組件?；?4B由外形是四邊形且內(nèi)部具有圓形開口的環(huán)形狀的基部142B和從該基部 142B的外緣向光軸0方向的上側(cè)突出的具有四個(gè)矩形開口 144Ba的四邊筒形狀的筒狀部 144B。抖動(dòng)校正裝置IOB具有成對地一端固定于基座14B的基部142B的四角部的8根吊線16B、和如后述那樣地與后述的自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20B的永磁體^B相對設(shè)置的抖動(dòng)校正用線圈18B。8根吊線16B沿光軸0延伸，以自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20B的可動(dòng)部能夠沿第一方向(前后方向)x和第二方向(左右方向)Y搖動(dòng)的方式支承該自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20B的可動(dòng)部。8根吊線16B的另一端如后述那樣固定于上述自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置 20B的上端部。抖動(dòng)校正裝置IOB如后述那樣包括與永磁體28B相對地隔開設(shè)置的一個(gè)四邊環(huán)形狀的線圈基板40B。該線圈基板40B安裝在線圈保持架44B上。在該線圈基板40B上形成有上述抖動(dòng)校正用線圈18B。線圈保持架44B在四角具有與光軸0方向平行地延伸的四個(gè)柱部442B、設(shè)于上述四個(gè)柱部442B的上端(前端)的大致四邊形的上側(cè)環(huán)狀端部444B、和設(shè)于四個(gè)柱部442B 的下端(后端)的下側(cè)環(huán)狀端部446B。上側(cè)環(huán)狀端部444B在四角具有向上方突出的四個(gè)上側(cè)突起444Ba。下側(cè)環(huán)狀端部446B也具有向上方突出的四個(gè)下側(cè)突起446Ba。接著，參照圖14和圖15說明自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20B。自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20B包括具有用于保持透鏡鏡筒的筒狀部MOB的透鏡保持架MB ；以位于筒狀部MOB的周圍的方式固定于該透鏡保持架24B上的第一聚焦線圈 26B-1和第二聚焦線圈^B-2 ；保持與這些第一聚焦線圈26B-1和第二聚焦線圈26B-2相對地設(shè)置于第一聚焦線圈26B-1和第二聚焦線圈26B-2的外側(cè)的永磁體28B的四個(gè)磁體保持架30B ；以及設(shè)于透鏡保持架MB的筒狀部MOB的光軸0方向兩側(cè)的一對板簧32B、34B。第一聚焦線圈26B-1安裝于透鏡保持架24B的筒狀部MOB的光軸0方向的上側(cè)， 第二聚焦線圈26B-2安裝于透鏡保持架MB的筒狀部MOB的光軸0方向的下側(cè)。一對板簧32B、34B以透鏡保持架24B在徑向被定位的狀態(tài)下透鏡保持架24B能夠沿光軸0方向位移的方式支承該透鏡保持架MB。一對板簧32B、34B中的一側(cè)的板簧32B 被稱為上側(cè)板簧，另一側(cè)的板簧34B被稱為下側(cè)板簧。另外，如上述那樣，在實(shí)際的使用狀況下，Z軸方向(光軸0方向)的上方向成為前方向，Z軸方向(光軸0方向)的下方向成為后方向。因而，上側(cè)板簧32B也被稱為前側(cè)彈簧，下側(cè)板簧34B也被稱為后側(cè)彈簧。四個(gè)磁體保持架30B嵌入(插入地固定于)基座14B的筒狀部144B的四個(gè)矩形開口 144Ba中。永磁體^B由在四個(gè)磁體保持架30B上分別各兩個(gè)在第一方向(前后方向) X、第二方向(左右方向)和上下方向Z彼此隔開地設(shè)置的、8片矩形狀的永磁體片構(gòu)成。在上述8片矩形狀永磁體中，4片第一永磁體片設(shè)置于四個(gè)磁體保持架30B的光軸0 方向的上側(cè)，其余的4片第二永磁體片設(shè)置于四個(gè)磁體保持架30B的光軸0方向的下側(cè)。4片第一永磁體片與第一聚焦線圈26B-1隔有間隔地設(shè)置，4片第二永磁體片與第二聚焦線圈26B-2隔有間隔地設(shè)置。上側(cè)板簧(前側(cè)彈簧)32B設(shè)置于透鏡保持架MB的光軸0方向上側(cè)(前側(cè))，下側(cè)板簧(后側(cè)彈簧)34B設(shè)置于透鏡保持架24B的光軸0方向下側(cè)(后側(cè))。上側(cè)板簧(前側(cè)彈簧)32B與下側(cè)板簧(后側(cè)彈簧)34B具有大致相同的結(jié)構(gòu)。上側(cè)板簧(前側(cè)彈簧)32B具有安裝于透鏡保持架MB的上端部的上側(cè)內(nèi)圈部 322A、和安裝于線圈保持架44B的上側(cè)環(huán)狀端部444B的上側(cè)外圈部324B。在上側(cè)內(nèi)圈部 322B與上側(cè)外圈部324B之間設(shè)有四個(gè)上側(cè)臂部326B。S卩，四個(gè)臂部326B連接上側(cè)內(nèi)圈部 322B與上側(cè)外圈部324B。上側(cè)外圈部324B具有供線圈保持架44B的四個(gè)上側(cè)突起444Ba分別壓入(裝入) 的四個(gè)上側(cè)孔324Ba。即，線圈保持架44B的四個(gè)上側(cè)突起444Ba分別壓入(裝入)上側(cè)板簧32B的上側(cè)外圈部324B的四個(gè)上側(cè)孔324Ba。另一方面，在透鏡保持架MB的筒狀部 240B的上端具有四個(gè)上側(cè)突起MOBa。上側(cè)內(nèi)圈部322B具有供該筒狀部MOB的四個(gè)上側(cè)突起240Ba分別壓入(裝入)的四個(gè)上側(cè)孔322Ba。即，透鏡保持架MB的筒狀部MOB 的四個(gè)上側(cè)突起240Ba分別壓入(裝入)上側(cè)板簧32B的上側(cè)內(nèi)圈部322B的四個(gè)上側(cè)孔 322Ba0同樣，下側(cè)板簧(后側(cè)彈簧)34B具有安裝于透鏡保持架24B的下端部的下側(cè)內(nèi)圈部342B、和安裝于線圈保持架44B的下側(cè)環(huán)狀端部446B的下側(cè)外圈部344B。在下側(cè)內(nèi)圈部342B與下側(cè)外圈部344B之間設(shè)有四個(gè)下側(cè)臂部346B。即，四個(gè)下側(cè)臂部346B連接下側(cè)內(nèi)圈部342B與下側(cè)外圈部344B。下側(cè)外圈部344B具有供線圈保持架44B的四個(gè)下側(cè)突起446Ba分別壓入(裝入) 的四個(gè)下側(cè)孔344Ba。即，線圈保持架44B的四個(gè)下側(cè)突起446Ba分別壓入(裝入)下側(cè)板簧34B的下側(cè)外圈部344B的四個(gè)下側(cè)孔344Ba。包括上側(cè)板簧32B和下側(cè)板簧34B的彈性部件作為能夠引導(dǎo)透鏡保持架24B使其僅沿光軸O方向移動(dòng)的引導(dǎo)單元而發(fā)揮作用。上側(cè)板簧32B和下側(cè)板簧34B分別由鈹青銅、 磷青銅等構(gòu)成。在透鏡保持架MB的筒狀部MOB的內(nèi)周壁上切削有內(nèi)螺紋(未圖示)。另一方面，在透鏡鏡筒的外周壁上切削有與上述內(nèi)螺紋相配的外螺紋(未圖示)。因而，為了在透鏡保持架24B上安裝透鏡鏡筒，通過使透鏡鏡筒相對于透鏡保持架24B的筒狀部MOB繞光軸O旋轉(zhuǎn)并沿光軸O方向旋入，將透鏡鏡筒收容于透鏡保持架MB內(nèi)，并利用粘接劑等彼此接合。通過在第一聚焦線圈^B-I和第二聚焦線圈^B-2中分別流過第一自動(dòng)聚焦(AF) 電流和第二自動(dòng)聚焦(AF)電流，在永磁體28B的磁場與由第一聚焦線圈^B-I和第二聚焦線圈26B-2中流過的第一 AF電流和第二 AF電流產(chǎn)生的磁場相互作用下，能夠?qū)ν哥R保持架MB(透鏡鏡筒)沿光軸O方向進(jìn)行位置調(diào)整。接著，參照圖13和圖14，更詳細(xì)地說明抖動(dòng)校正裝置10B。抖動(dòng)校正裝置IOB如上述那樣具有成對地一端固定于基座14B的基部142B的四角部的8根吊線16B、和與上述自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20B的永磁體28B相對設(shè)置的抖動(dòng)校正用線圈18B。
因此，基部142B在其四角部具有供成對的8根吊線16B的一端插入(嵌入)的八個(gè)線固定用孔142Ba。8根吊線16B沿光軸0延伸，以自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20B的可動(dòng)部能夠沿第一方向(前后方向)χ和第二方向(左右方向)Y搖動(dòng)的方式支承該自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置 20B的可動(dòng)部。8根吊線16B的另一端固定于上述自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20B的上端部。詳細(xì)而言，線圈保持架44B在上側(cè)環(huán)狀端部444B的四角還具有向徑向外側(cè)突出的四個(gè)突出部448B(參照圖15)。四個(gè)突出部448B分別具有供兩根吊線16B的另一端插入 (嵌入)的兩個(gè)線固定用孔448Ba。因而，將8根吊線16B的另一端插入(嵌入)到上述八個(gè)線固定用孔448Ba中，并利用粘接劑、焊錫等固定。另外，在本第三實(shí)施方式中，使吊線16B的根數(shù)為8根是為了借助上述8根吊線 16B，向第一聚焦線圈26B-1和第二聚焦線圈26B-2、以及抖動(dòng)校正用線圈18B供電。如上述那樣，永磁體^B由在第一方向(前后方向)X和第二方向(左右方向)Y 彼此相對并沿光軸0方向上下隔開地設(shè)置的4片第一永磁體片和4片第二永磁體片構(gòu)成。抖動(dòng)校正裝置IOB包括插入4片第一永磁體片與4片第二永磁體片之間，并隔開地設(shè)置的一個(gè)環(huán)狀線圈基板40B。在該一個(gè)線圈基板40B上形成有上述抖動(dòng)校正用線圈18B。詳細(xì)而言，在線圈基板40B上形成有四個(gè)抖動(dòng)校正用線圈18B。在第一方向(前后方向)X上彼此相對地設(shè)置的兩個(gè)抖動(dòng)校正用線圈18B用于使自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20B的可動(dòng)部沿第一方向(前后方向)X移動(dòng)(搖動(dòng))。這樣的兩個(gè)抖動(dòng)校正用線圈18B被稱為第一方向致動(dòng)器。另一方面，在第二方向(左右方向)Y上彼此相對地設(shè)置的兩個(gè)抖動(dòng)校正用線圈 18B用于使自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20B的可動(dòng)部沿第二方向(左右方向)Y移動(dòng)(搖動(dòng))。 這樣的兩個(gè)抖動(dòng)校正用線圈18B被稱為第二方向致動(dòng)器?？傊?，抖動(dòng)校正用線圈18B用于與永磁體28B配合，沿X軸方向(第一方向)和Y 軸方向(第二方向)驅(qū)動(dòng)自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20B的可動(dòng)部。另外，抖動(dòng)校正用線圈 18B與永磁體^B的組合作為音圈電機(jī)而發(fā)揮作用。這樣，圖示的抖動(dòng)校正裝置IOB通過使收容于自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20B的透鏡鏡筒本身沿第一方向(前后方向)χ和第二方向(左右方向)Y移動(dòng)，校正抖動(dòng)。因而，抖動(dòng)校正裝置IOB被稱為“鏡筒移動(dòng)方式”的抖動(dòng)校正裝置。抖動(dòng)校正裝置IOB還包括覆蓋了自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20B的上部的罩42B。另外，除了參照圖13和圖14之外，還參照圖16，抖動(dòng)校正裝置IOB還包括用于檢測自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20B的可動(dòng)部相對于基座14B的位置的位置檢測單元50B、51B。詳細(xì)而言，圖示的位置檢測單元50B、51B由光學(xué)式位置檢測單元構(gòu)成。位置檢測單元50B、51B由兩個(gè)位置檢測器構(gòu)成，各位置檢測器由彼此相對設(shè)置的光反射器50B和位置信息單元51B構(gòu)成。兩個(gè)位置信息單元51B沿第一方向X和第二方向Y設(shè)置于線圈保持架44B的下側(cè)環(huán)狀端部446B的下表面(在圖13中，僅圖示了沿第二方向Y設(shè)置的一個(gè)位置信息單元)。如圖16所示那樣，各位置信息單元51B由反射帶(膠帶)構(gòu)成，貼附于下側(cè)環(huán)狀端部446B的下表面。反射帶51B具有沿第一方向X或第二方向Y以基準(zhǔn)位置為界白黑明暗清晰地區(qū)分的圖案。另一方面，如圖14所示那樣，兩個(gè)光反射器50B安裝于基座14B的基部142B上。 兩個(gè)光反射器50B與兩個(gè)位置信息單元51B分別隔開地相對設(shè)置。相對于光軸0沿第一方向(前后方向)X設(shè)置的一個(gè)光反射器50B如圖16的箭頭所示那樣橫穿與其相對的一個(gè)位置信息單元51B的明暗，接受來自該位置信息單元51B的反射光(檢測反射光的光強(qiáng)度)，由此檢測跟隨第一方向(前后方向)X的移動(dòng)(搖動(dòng))的第一位置作為電壓電平。相對于光軸0沿第二方向(左右方向)Y設(shè)置的一個(gè)光反射器50B 如圖16的箭頭所示那樣橫穿與其相對的一個(gè)位置信息單元51B的明暗，接受來自該位置信息單元51B的反射光(檢測反射光的光強(qiáng)度)，由此檢測跟隨第二方向(左右方向)Y的移動(dòng)(搖動(dòng))的第二位置作為電壓電平。 另外，在第三實(shí)施方式的抖動(dòng)校正裝置IOB中，作為位置檢測單元50B使用了包含兩個(gè)光反射器50B的光學(xué)式位置檢測單元，但是也可以采用包含四個(gè)光反射器的光學(xué)式位置檢測單元。另外，位置信息單元51B的圖案也不限定于白黑的明暗0值)圖案，可以是色彩層次連續(xù)的圖案、面積比變化連續(xù)的圖案等各種圖案。在這樣的結(jié)構(gòu)的抖動(dòng)校正裝置IOB中，因?yàn)閷ν哥R保持架MB(透鏡鏡筒)沿光軸0方向進(jìn)行位置調(diào)整的情況下的動(dòng)作與參照圖9說明了的第二實(shí)施方式的抖動(dòng)校正裝置 IOA相同，所以省略其說明。另外，因?yàn)槭棺詣?dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20B的可動(dòng)部沿第一方向(前后方向)X或第二方向(左右方向)Y移動(dòng)的情況下的動(dòng)作也與參照圖11說明了的第二實(shí)施方式的抖動(dòng)校正裝置IOA相同，所以省略其說明。如上述那樣的、本發(fā)明的第三實(shí)施方式的抖動(dòng)校正裝置10B，發(fā)揮以下所述那樣的效果。因?yàn)樵谧詣?dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20B上設(shè)置抖動(dòng)校正裝置10B，共用永磁體^B， 所以能夠削減元件件數(shù)。其結(jié)果，能夠縮小(降低)抖動(dòng)校正裝置IOB的尺寸(主要是高度)。在光學(xué)單元傾斜方式的抖動(dòng)校正裝置中，由于存在旋轉(zhuǎn)軸，所以產(chǎn)生孔-軸之間的摩擦從而產(chǎn)生磁滯。相對于此，在本第三實(shí)施方式的抖動(dòng)校正裝置IOB中，因?yàn)槔?根吊線16B機(jī)械地支承自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20B的可動(dòng)部，所以不易產(chǎn)生磁滯。與以往的光學(xué)式抖動(dòng)校正方式(透鏡移動(dòng)方式、傳感器移動(dòng)方式、光學(xué)單元傾斜方式)的抖動(dòng)校正裝置相比，因?yàn)椴捎苗R筒移動(dòng)方式，所以能夠使抖動(dòng)校正裝置IOB的尺寸 (主要是高度)與自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20B大致相等。其結(jié)果，能夠?qū)⒈镜谌龑?shí)施方式的抖動(dòng)校正裝置IOB搭載于移動(dòng)電話用光學(xué)抖動(dòng)校正相機(jī)中。另外，因?yàn)樵谏蟼?cè)的4片第一永磁體片與下側(cè)的4片第二永磁體片之間設(shè)置抖動(dòng)校正用線圈18B，所以能夠?qū)崿F(xiàn)高靈敏度的致動(dòng)器。而且，因?yàn)椴捎靡苿?dòng)線圈方式，所以與移動(dòng)磁體方式相比，能夠使自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20B的可動(dòng)部輕量化。詳細(xì)而言，在第二實(shí)施方式的“移動(dòng)磁體方式”的抖動(dòng)校正裝置IOA中，自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20B整體作為可動(dòng)部動(dòng)作。即，如圖8所示那樣，可動(dòng)部的元件包括透鏡鏡筒12A、透鏡保持架24A、第一聚焦線圈26A-1和第二聚焦線圈^A_2、上側(cè)板簧32A、下側(cè)板簧34A、永磁體28A和磁體保持架30A。因此，移動(dòng)磁體方式的可動(dòng)部的總重量例如成為 1620mgo相對于此，在第三實(shí)施方式的“移動(dòng)線圈方式”的抖動(dòng)校正裝置IOB中，其可動(dòng)部的元件如圖15所示那樣，包括透鏡鏡筒、透鏡保持架MB、第一聚焦線圈26B-1和第二聚焦線圈^B-2、抖動(dòng)校正用線圈18B和線圈保持架44B。因此，移動(dòng)線圈方式的可動(dòng)部的總重量例如成為765mg。這樣，能夠削減可動(dòng)部的重量，因此能夠改善偏置校正電流值，其結(jié)果，能夠提高可動(dòng)部的推力。在上述第三實(shí)施方式中，永磁體片^B由在第一方向X和第二方向Y上彼此相對并沿光軸0方向上下隔開地設(shè)置的4片第一永磁體片和4片第二永磁體片構(gòu)成，但是第一永磁體片和第二永磁體片各自的片數(shù)不限定于4片，例如也可以由不僅在第一方向和第二方向而且在對角線方向上也相對地設(shè)置的8片永磁體片構(gòu)成。在該情況下，抖動(dòng)校正用線圈18B的個(gè)數(shù)也變更為八個(gè)。另外，在上述第三實(shí)施方式中，8根吊線16B 自基座14B的基部142B的四角部成對地豎立設(shè)置，但是也可以自基部142B的外周部成對地豎立設(shè)置。而且，吊線16B的根數(shù)也不限定于8根，也可以是多根。圖17是表示在上述第二實(shí)施方式的抖動(dòng)校正裝置IOA中作為位置檢測單元使用了在上述第三實(shí)施方式的抖動(dòng)校正裝置IOB中采用的光學(xué)式位置檢測單元的變形例的縱剖視圖。在該變形例中，代替兩個(gè)霍爾元件50A，在設(shè)置它們的位置設(shè)有兩個(gè)光反射器 50B。即，上述兩個(gè)光反射器50B與4片第二永磁體片中的兩片第二永磁體片分別隔開地相對設(shè)置。并且，在與上述兩個(gè)光反射器50B相對的可動(dòng)部(自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置20A)上，分別貼附了兩個(gè)位置信息單元(反射帶)51B。在圖示的例子中，兩個(gè)位置信息單元(反射帶)51B設(shè)于(貼附于)下側(cè)板簧34A的下表面。因?yàn)樵摴鈱W(xué)式位置檢測單元的位置檢測動(dòng)作與上述第三實(shí)施方式的光學(xué)式位置檢測單元的位置檢測動(dòng)作相同，所以為了簡化說明，省略了其說明。另外，雖未圖示，但是毋庸置疑，在上述第一實(shí)施方式的抖動(dòng)校正裝置10中也可以使用上述光學(xué)式位置檢測單元以代替磁式位置檢測單元。以下，說明本發(fā)明的典型的形態(tài)。上述本發(fā)明的典型的形態(tài)的抖動(dòng)校正裝置中，自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置可以包括透鏡保持架，具有用于保持透鏡鏡筒的筒狀部，聚焦線圈以位于筒狀部的周圍的方式固定于透鏡保持架；磁體保持架，設(shè)置于該透鏡保持架的外周，保持永磁體；以及一對板簧， 以透鏡保持架在徑向被定位的狀態(tài)下該透鏡保持架能夠沿光軸方向位移的方式支承該透鏡保持架。根據(jù)本發(fā)明的第一形態(tài)的抖動(dòng)校正裝置，自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置可以具有安裝于磁體保持架的上端的上側(cè)基板。在該情況下，多根吊線的另一端固定于上側(cè)基板。另外， 一對板簧可以在透鏡保持架與磁體保持架之間連接并被固定。永磁體可以包含在第一方向和第二方向上彼此相對設(shè)置的多個(gè)永磁體片。在該情況下，抖動(dòng)校正線圈設(shè)置于多個(gè)永磁體片的外側(cè)，抖動(dòng)校正裝置可以包括與多個(gè)永磁體片分別相對地隔開設(shè)置并形成有抖動(dòng)校正用線圈的多個(gè)線圈基板。抖動(dòng)校正裝置還可以包括覆蓋多個(gè)線圈基板的保護(hù)罩。在該情況下，多個(gè)線圈基板可以安裝在保護(hù)罩的內(nèi)壁上。抖動(dòng)校正裝置優(yōu)選具有用于檢測自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置相對于基座的位置的位置檢測單元。位置檢測單元例如可以由與永磁體片隔開地相對設(shè)置，安裝在基座上的霍爾元件構(gòu)成。根據(jù)本發(fā)明的其他形態(tài)的抖動(dòng)校正裝置，永磁體由在第一方向和第二方向上彼此相對設(shè)置且在光軸方向上彼此隔開地設(shè)置的、多個(gè)第一永磁體片和多個(gè)第二永磁體片構(gòu)成。第一永磁體片和第二永磁體片的各個(gè)永磁體片沿徑向分極為N極和S極，第一永磁體片和第二永磁體片沿光軸方向具有不同的磁極。聚焦線圈由第一聚焦線圈和第二聚焦線圈構(gòu)成，該第一聚焦線圈和第二聚焦線圈分別固定為與多個(gè)第一永磁體片和多個(gè)第二永磁體片相對并位于透鏡保持架的筒狀部的周圍。抖動(dòng)校正用線圈由在多片第一永磁體片與4片第二永磁體片之間插入設(shè)置的多個(gè)抖動(dòng)校正用線圈構(gòu)成。抖動(dòng)校正裝置包括形成有多個(gè)抖動(dòng)校正用線圈的環(huán)形狀的線圈基板。根據(jù)本發(fā)明的第二形態(tài)的抖動(dòng)校正裝置，基座可以由環(huán)形狀的基部和從該基部的外緣向光軸方向的上側(cè)突出的筒狀部構(gòu)成。在該情況下，線圈基板被固定在基座的筒狀部的上端，一對板簧在透鏡保持架與磁體保持架之間連接并被固定。另外，多根吊線可以自基部的外周部豎立設(shè)置。在該情況下，磁體保持架可以具有上側(cè)環(huán)狀端部，該上側(cè)環(huán)狀端部具有供多根吊線的另一端插入的多個(gè)線插入用孔，一對板簧中的位于光軸方向的上側(cè)的上側(cè)板簧可以具有供多根吊線的另一端嵌入的多個(gè)線固定用孔。線圈基板可以具有供多根吊線穿過的多個(gè)貫穿孔。抖動(dòng)校正裝置優(yōu)選具有用于檢測自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置相對于基座的位置的位置檢測單元。位置檢測單元例如可以由至少兩個(gè)霍爾元件構(gòu)成，該至少兩個(gè)霍爾元件分別與多個(gè)第二永磁體片中的沿第一方向和第二方向設(shè)置的至少兩片第二永磁體片隔開地相對設(shè)置，安裝在基部上。取而代之，位置檢測單元可以由彼此相對設(shè)置的、至少兩個(gè)光反射器和至少兩個(gè)位置信息單元構(gòu)成。在該情況下，至少兩個(gè)位置信息單元沿第一方向和第二方向設(shè)置于一對板簧中的位于光軸方向的下側(cè)的下側(cè)板簧的下表面，至少兩個(gè)光反射器分別與至少兩個(gè)位置信息單元隔開地相對設(shè)置，安裝在基部上。根據(jù)本發(fā)明的第三形態(tài)的抖動(dòng)校正裝置，抖動(dòng)校正裝置可以還包括保持線圈基板的線圈保持架，基座可以由環(huán)形狀的基部、和從該基部的外緣向光軸方向的上側(cè)突出的具有多個(gè)開口的筒狀部構(gòu)成。在該情況下，磁體保持架由分別保持一片第一永磁體片和一片第二永磁體片的多個(gè)磁體保持架構(gòu)成。多個(gè)磁體保持架插入地固定于基座的筒狀部的多個(gè)開口中，一對板簧在透鏡保持架與線圈保持架之間連接并被固定。另外，多根吊線可以自基部的外周部成對地豎立設(shè)置。在該情況下，線圈保持架可以具有上側(cè)環(huán)狀端部、和從該上側(cè)環(huán)狀端部的外周部向徑向外側(cè)突出的多個(gè)突出部，所述多個(gè)突出部具有供多根吊線的另一端嵌入的多個(gè)線固定用孔。抖動(dòng)校正裝置優(yōu)選具有用于檢測自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置的可動(dòng)部相對于基座的位置的位置檢測單元。線圈保持架可以還包括下側(cè)環(huán)狀端部，所述位置檢測單元可以由彼此相對設(shè)置的、至少兩個(gè)光反射器和至少兩個(gè)位置信息單元構(gòu)成。在該情況下，至少兩個(gè)位置信息單元沿第一方向和第二方向設(shè)置于線圈保持架的下側(cè)環(huán)狀端部的下表面，至少兩個(gè)光反射器分別與至少兩個(gè)位置信息單元隔開地相對設(shè)置，安裝在基部上。以上，參照本發(fā)明的實(shí)施方式特別表示并說明了本發(fā)明，但是本發(fā)明不限定于這些實(shí)施方式。可以了解在不脫離由權(quán)利要求書規(guī)定的本發(fā)明的主旨和范圍之下，本領(lǐng)域技術(shù)人員能夠在形式或詳細(xì)結(jié)構(gòu)上作到各種變形。例如，在上述實(shí)施方式中，作為位置檢測單元(位置傳感器)，使用了由霍爾元件構(gòu)成的磁式位置檢測單元、或者包括光反射器的光學(xué)式位置檢測單元，但也可以使用其他的位置檢測單元(位置傳感器)。
本發(fā)明基于2009年8月21日提交的日本專利申請第2009-191619號以及2010 年7月13日提交的日本專利申請第2010-158602號，主張優(yōu)先權(quán)的權(quán)利，它們的公開內(nèi)容作為參考文獻(xiàn)全部援用于本發(fā)明。
權(quán)利要求
1.一種抖動(dòng)校正裝置(10 ；IOA ;10B)，通過使自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置O0;20A;20B) 整體或其可動(dòng)部沿與光軸(0)正交且彼此正交的第一方向(X)以及第二方向(Y)移動(dòng)，從而校正抖動(dòng)，該自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置Oo ；20Α ；20Β)用于使透鏡鏡筒(12 ； 12Α)沿所述光軸(0)移動(dòng)，其中，所述自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置OO ；20Α ；20Β)具備 聚焦線圈(26 ；26A-U26A-2 ；26B-U26B-2)；以及永磁體08 ；28Α ；28Β)，與該聚焦線圈相對設(shè)置且相對于所述光軸(0)設(shè)置于該聚焦線圈的徑向外側(cè)，所述抖動(dòng)校正裝置(10 ； IOA ； 10Β)具有基座(14 ； 14Α ； 14Β)，在所述自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置QO ；20Α ；20Β)的底面部隔開地設(shè)置；多根吊線(16 ； 16Α ； 16Β)，一端固定于該基座的外周部，且沿著所述光軸(0)延伸，以使所述自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置OO ；20Α;20Β)整體或其可動(dòng)部能夠沿所述第一方向(X)和所述第二方向(Y)搖動(dòng)的方式支承該自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置OO ；20Α;20Β)整體或其可動(dòng)部；以及抖動(dòng)校正用線圈(18 ； 18Α ； 18Β)，與所述永磁體相對設(shè)置。
2.如權(quán)利要求1所述的抖動(dòng)校正裝置(10;10Α;10Β)，其中， 所述自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置OO ；20Α ；20Β)具備透鏡保持架04;24Α;24Β)，具有用于保持所述透鏡鏡筒(12 ;12Α)的筒狀部Q40 ； 240AJ40B)，所述聚焦線圈(26 ；26A-U26A-2 ；26B-U26B-2)以位于所述筒狀部(240 ； 240Α ；240Β)的周圍的方式固定于所述透鏡保持架；磁體保持架(30 ；30Α;30Β)，設(shè)置于該透鏡保持架的外周，保持所述永磁體08 ；28Α ； 28Β)；以及一對板簧(32、34 ；32Α、34Α ；32Β、32Β)，支承該透鏡保持架Q4 ；24Α ；24Β)，以使所述透鏡保持架04 -Mk ；24Β)在徑向被定位的狀態(tài)下能夠沿所述光軸(0)方向進(jìn)行位移。
3.如權(quán)利要求2所述的抖動(dòng)校正裝置(10)，其中，所述自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置OO)具有安裝于所述磁體保持架(30)的上端的上側(cè)基板(36)，所述多根吊線(16)的另一端固定于所述上側(cè)基板(36)。
4.如權(quán)利要求2或3所述的抖動(dòng)校正裝置(10)，其中，所述一對板簧(32、4；3)在所述透鏡保持架04)與所述磁體保持架(30)之間連接并被固定。
5.如權(quán)利要求4所述的抖動(dòng)校正裝置(10)，其中，所述永磁體08)包含在所述第一方向(X)以及所述第二方向(Y)上彼此相對設(shè)置的多個(gè)永磁體片(觀2)，所述抖動(dòng)校正用線圈(18)設(shè)置于所述多個(gè)永磁體片的外側(cè)，所述抖動(dòng)校正裝置(10)具備與所述多個(gè)永磁體片( 分別相對地隔開設(shè)置并形成有所述抖動(dòng)校正用線圈(18)的多個(gè)線圈基板00)。
6.如權(quán)利要求5所述的抖動(dòng)校正裝置(10)，其中， 還包括覆蓋所述多個(gè)線圈基板GO)的保護(hù)罩02)。
7.如權(quán)利要求6所述的抖動(dòng)校正裝置(10)，其中，所述多個(gè)線圈基板GO)安裝在所述保護(hù)罩02)的內(nèi)壁上。
8.如權(quán)利要求5至7中任一項(xiàng)所述的抖動(dòng)校正裝置(10)，其中，包括用于檢測所述自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置O0)相對于所述基座(14)的位置的位置檢測單元(50)。
9.如權(quán)利要求8所述的抖動(dòng)校正裝置(10)，其中，所述位置檢測單元由與所述永磁體片(18 隔開地相對設(shè)置并安裝在所述基座(14) 上的霍爾元件(50)構(gòu)成。
10.如權(quán)利要求2所述的抖動(dòng)校正裝置(10A;10B)，其中，所述永磁體08A ；28B)由在所述第一方向⑴以及所述第二方向⑴上彼此相對設(shè)置且在所述光軸(0)方向上彼此隔開地設(shè)置的多個(gè)第一永磁體片082A-1 ；282B-1)以及多個(gè)第二永磁體片082A-2 ；282B-2)構(gòu)成，所述第一永磁體片和所述第二永磁體片分別沿徑向分極為N極和S極，所述第一永磁體片和所述第二永磁體片沿所述光軸(0)方向具有不同的磁極，所述聚焦線圈由第一及第二聚焦線圈06A-1J6A-2 J6B-1J6B-2)構(gòu)成，該第一及第二聚焦線圈分別與所述多個(gè)第一永磁體片以及所述多個(gè)第二永磁體片相對設(shè)置并固定于所述透鏡保持架04A;24B)的筒狀部O40A;240B)的周圍，所述抖動(dòng)校正用線圈(10A;10B)由插入設(shè)置在所述多個(gè)第一永磁體片與所述多個(gè)第二永磁體片之間的多個(gè)抖動(dòng)校正用線圈(18A;18B)構(gòu)成，所述抖動(dòng)校正裝置具備形成有所述多個(gè)抖動(dòng)校正用線圈的環(huán)形狀的線圈基板GOA ； 40B)。
11.如權(quán)利要求10所述的抖動(dòng)校正裝置(10A)，其中，所述基座(14A)由環(huán)形狀的基部(142A)和自該基部的外緣向所述光軸(0)方向的上側(cè)突出的筒狀部(144A)構(gòu)成，所述線圈基板(40A)固定于所述基座的筒狀部的上端，所述一對板簧(32A、43A)在所述透鏡保持架04A)與所述磁體保持架(30A)之間連接并被固定。
12.如權(quán)利要求11所述的抖動(dòng)校正裝置(10A)，其中，所述多根吊線(16A)自所述基部(142A)的外周部豎立設(shè)置，所述磁體保持架(30A)具備上側(cè)環(huán)狀端部(304A)，該上側(cè)環(huán)狀端部具有供所述多根吊線的另一端插入的多個(gè)線插入用孔(304Aa)，所述一對板簧中的位于所述光軸(0)方向的上側(cè)的上側(cè)板簧(32A)具有供所述多根吊線的另一端嵌入的多個(gè)線固定用孔(324Aa)。
13.如權(quán)利要求12所述的抖動(dòng)校正裝置(IOA)，其中，所述線圈基板(40A)具有供所述多根吊線(16A)穿過的多個(gè)貫穿孔GOAa)。
14.如權(quán)利要求11至13中任一項(xiàng)所述的抖動(dòng)校正裝置(IOA)，其中，具有用于檢測所述自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置(20A)相對于所述基座(14A)的位置的位置檢測單元(50A ；50B、51B)。
15.如權(quán)利要求14所述的抖動(dòng)校正裝置(IOA)，其中，所述位置檢測單元由至少兩個(gè)霍爾元件(50A)構(gòu)成，該至少兩個(gè)霍爾元件分別與所述多個(gè)第二永磁體片中的沿所述第一方向(X)和所述第二方向(Y)設(shè)置的至少兩片第二永磁體片隔開地相對設(shè)置，且安裝在所述基部(142A)上。
16.如權(quán)利要求14所述的抖動(dòng)校正裝置(10A)，其中，所述位置檢測單元由彼此相對設(shè)置的至少兩個(gè)光反射器(50B)和至少兩個(gè)位置信息單元(51B)構(gòu)成，所述至少兩個(gè)位置信息單元(51B)沿所述第一方向(X)和所述第二方向(Y)設(shè)置于所述一對板簧中的位于所述光軸(0)方向的下側(cè)的下側(cè)板簧(34A)的下表面，所述至少兩個(gè)光反射器(50B)與所述至少兩個(gè)位置信息單元(51B)分別隔開地相對設(shè)置，且安裝在所述基部(142A)上。
17.如權(quán)利要求10所述的抖動(dòng)校正裝置(IOB)，其中， 還包括保持所述線圈基板GOB)的線圈保持架G4B)，所述基座(14B)由環(huán)形狀的基部(142B)和自該基部的外緣向所述光軸(0)方向的上側(cè)突出的具有多個(gè)開口(144Ba)的筒狀部(144B)構(gòu)成，所述磁體保持架(30B)由分別保持一片所述第一永磁體片和一片所述第二永磁體片的多個(gè)磁體保持架(30B)構(gòu)成，所述多個(gè)磁體保持架插入并固定于所述基座的筒狀部(144B)的所述多個(gè)開口 (144Ba)中，所述一對板簧(32B、34B)在所述透鏡保持架(MB)與所述線圈保持架(44B)之間連接并被固定。
18.如權(quán)利要求17所述的抖動(dòng)校正裝置(IOB)，其中，所述多根吊線(16B)自所述基部(142B)的外周部成對地豎立設(shè)置， 所述線圈保持架(44B)具備上側(cè)環(huán)狀端部G44B)和自該上側(cè)環(huán)狀端部的外周部向徑向外側(cè)突出的多個(gè)突出部(448B)，該多個(gè)突出部具有供所述多根吊線的另一端嵌入的多個(gè)線固定用孔G48Ba)。
19.如權(quán)利要求17或18所述的抖動(dòng)校正裝置(10B)，其中，具有用于檢測所述自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置(20B)的可動(dòng)部相對于所述基座(14B)的位置的位置檢測單元(50B、51B)。
20.如權(quán)利要求19所述的抖動(dòng)校正裝置(IOB)，其中， 所述線圈保持架(44B)還具備下側(cè)環(huán)狀端部G46B)，所述位置檢測單元由彼此相對設(shè)置的至少兩個(gè)光反射器(50B)和至少兩個(gè)位置信息單元(51B)構(gòu)成，所述至少兩個(gè)位置信息單元(51B)沿所述第一方向(X)和所述第二方向(Y)設(shè)置于所述線圈保持架G4B)的所述下側(cè)環(huán)狀端部G46B)的下表面，所述至少兩個(gè)光反射器(50B)與所述至少兩個(gè)位置信息單元(51B)分別隔開地相對設(shè)置，且安裝在所述基部(142B)上。
全文摘要
本發(fā)明提供能夠?qū)崿F(xiàn)小型且薄型化的抖動(dòng)校正裝置。抖動(dòng)校正裝置(10)通過使包括聚焦線圈(26)和設(shè)置于該聚焦線圈的外側(cè)的永磁體(28)的自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置(20)整體沿與光軸(O)正交且彼此正交的第一方向(X)和第二方向(Y)移動(dòng)，從而校正抖動(dòng)。抖動(dòng)校正裝置(10)包含基座(14)，在自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置(20)的底面部隔開地設(shè)置；多根吊線(16)，一端固定于該基座的外周部，且沿著光軸(O)延伸，以自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置(20)整體能夠沿第一方向(X)和第二方向(Y)搖動(dòng)的方式支承該自動(dòng)聚焦用透鏡驅(qū)動(dòng)裝置(20)整體；以及抖動(dòng)校正用線圈(18)，與永磁體(28)相對設(shè)置。
文檔編號G03B5/00GK102472944SQ20108003504
公開日2012年5月23日 申請日期2010年8月12日 優(yōu)先權(quán)日2009年8月21日
發(fā)明者森谷昭弘, 菅原正吉 申請人:三美電機(jī)株式會(huì)社