專利名稱：背光設(shè)備和陣列基板檢測(cè)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及陣列基板檢測(cè)技術(shù)，尤其涉及一種背光設(shè)備和陣列基板檢測(cè)裝置。
背景技術(shù)：
薄膜晶體管液晶顯示器(ThinFilm Transistor Liquid CrystalDisplay, TFT-LCD)具有體積小、功耗低、無(wú)輻射等優(yōu)點(diǎn)，在當(dāng)前的平板顯示器市場(chǎng)中占據(jù)了主導(dǎo)地 位，廣泛應(yīng)用于各種領(lǐng)域，例如液晶電視、高清晰度數(shù)字電視、電腦、手機(jī)、PDA等。而在液晶 顯示器制造過(guò)程中，為保證生產(chǎn)的液晶顯示器的質(zhì)量，需要對(duì)生產(chǎn)的陣列基板進(jìn)行檢測(cè)和 維修。目前，在陣列基板制造過(guò)程中，對(duì)陣列基板的不良像素點(diǎn)進(jìn)行檢測(cè)和維修時(shí)，主要 是利用背光設(shè)備來(lái)檢測(cè)和確定陣列基板上的不良像素點(diǎn)，并利用激光發(fā)生器維修設(shè)備對(duì)不 良像素點(diǎn)進(jìn)行維修。圖1為現(xiàn)有對(duì)陣列基板進(jìn)行檢測(cè)和維修的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖1所示， 背光設(shè)備10位于待檢測(cè)和維修的陣列基板30的下方，且背光設(shè)備10上方還設(shè)置有維修 設(shè)備，其中，背光設(shè)備10包括馬達(dá)(圖中未示出)和背光燈102，馬達(dá)可驅(qū)動(dòng)背光燈102沿 軸101在左右方向上移動(dòng)，并可驅(qū)動(dòng)軸101在前后方向移動(dòng)，具體地，該背光設(shè)備10連接有 背光燈控制器(圖中未示出)，用于控制馬達(dá)帶動(dòng)軸101和背光燈102運(yùn)動(dòng)，以使得背光燈 102可移動(dòng)到設(shè)定位置；維修設(shè)備包括移動(dòng)臺(tái)201，以及設(shè)置在移動(dòng)臺(tái)201上的激光發(fā)生器 202和多個(gè)不同放大倍數(shù)的光學(xué)鏡頭203，且激光發(fā)生器202通過(guò)一個(gè)線性馬達(dá)帶動(dòng)，當(dāng)利 用背光設(shè)備10檢測(cè)到陣列基板30上有不良像素點(diǎn)后，可通過(guò)控制線性馬達(dá)使激光發(fā)生器 202移動(dòng)到指定位置，使得維修人員可通過(guò)該光學(xué)鏡頭203觀察不良像素點(diǎn)到底為何種不 良，然后利用激光發(fā)生器202對(duì)相應(yīng)的不良進(jìn)行維修?，F(xiàn)有對(duì)陣列基板上的不良像素點(diǎn)進(jìn) 行檢測(cè)和維修的過(guò)程如下當(dāng)陣列基板30上發(fā)現(xiàn)有需要待確認(rèn)的不良像素點(diǎn)時(shí)，由控制器控制軸101和背光 燈102運(yùn)動(dòng)，使背光燈102移動(dòng)到需要待確認(rèn)的不良像素點(diǎn)位置的下方，例如，對(duì)于坐標(biāo)為 (700,500)的不良像素點(diǎn)，需要給背光設(shè)備的控制器一個(gè)控制命令，由控制器控制馬達(dá)帶動(dòng) 軸101前后運(yùn)動(dòng)至坐標(biāo)500處，并控制背光燈102沿軸101運(yùn)動(dòng)至坐標(biāo)700處，從而使背光 燈102移動(dòng)到坐標(biāo)(700，500)位置；同時(shí)，控制與激光發(fā)生器202連接的線性馬達(dá)，也使激 光發(fā)生器202運(yùn)動(dòng)到坐標(biāo)(700，500)，此時(shí)，為背光燈102通電，背光燈102就會(huì)發(fā)出光線， 通過(guò)從陣列基板30上方進(jìn)行觀察，即可確定該位置像素點(diǎn)是否為不良像素點(diǎn)，若是，則利 用維修設(shè)備對(duì)該不良像素點(diǎn)進(jìn)行維修，否則，檢測(cè)下一個(gè)不良像素點(diǎn)?？梢钥闯?，通過(guò)上述 背光設(shè)備可實(shí)現(xiàn)對(duì)陣列基板上的不良像素點(diǎn)的檢測(cè)和確認(rèn)，并可根據(jù)檢測(cè)結(jié)果，利用維修 設(shè)備對(duì)陣列基板上的不良像素點(diǎn)進(jìn)行維修。但是，現(xiàn)有陣列基板的不良像素點(diǎn)檢測(cè)過(guò)程中，由于移動(dòng)臺(tái)上設(shè)置有維修像素的 激光發(fā)射器，要求控制移動(dòng)臺(tái)運(yùn)動(dòng)的馬達(dá)精度高、移動(dòng)速度快，成本也較高，而為背光設(shè)備 的定位要求精度較低，為節(jié)約成本，控制背光設(shè)備的馬達(dá)精度低、移動(dòng)速度慢，因此，控制背光設(shè)備運(yùn)動(dòng)的馬達(dá)經(jīng)常出現(xiàn)移動(dòng)位置不精確無(wú)發(fā)準(zhǔn)確判斷不良，并且其響應(yīng)速度也較慢， 從而影響對(duì)陣列基板進(jìn)行檢測(cè)的效率；此外，若控制背光設(shè)備的馬達(dá)的控制器發(fā)生故障，會(huì) 導(dǎo)致背光設(shè)備撞碎玻璃基板而造成損失。
實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型提供一種背光設(shè)備和陣列基板檢測(cè)裝置，以實(shí)現(xiàn)對(duì)陣列基板上不良像 素點(diǎn)的檢測(cè)和確認(rèn)，背光設(shè)備結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，實(shí)現(xiàn)方便，可有效對(duì)陣列基板的不良像素點(diǎn)進(jìn)行檢 測(cè)。本實(shí)用新型提供一種背光設(shè)備，包括背光燈，所述背光燈上設(shè)置有用于驅(qū)動(dòng)背光 燈移動(dòng)的磁力裝置。上述的背光設(shè)備中，所述背光燈上還可設(shè)置有滾輪。本實(shí)用新型提供一種陣列基板檢測(cè)裝置，包括移動(dòng)臺(tái)和背光設(shè)備，其中所述移動(dòng)臺(tái)上設(shè)置有第一磁力裝置；所述背光設(shè)備包括背光燈和設(shè)置在所述背光燈上的第二磁力裝置；所述移動(dòng)臺(tái)和背光設(shè)備之間設(shè)置有透光板，所述背光燈在所述第一磁力裝置和第 二磁力裝置之間的磁力作用下抵觸在所述透光板上。上述的陣列基板檢測(cè)裝置中，所述背光燈上還設(shè)置有滾輪，所述背光燈通過(guò)所述 滾輪抵觸在所述透光板上。上述的陣列基板檢測(cè)裝置中，還可包括檢測(cè)平臺(tái)，所述透光板通過(guò)支架固設(shè)在所 述檢測(cè)平臺(tái)上。上述的陣列基板檢測(cè)裝置中，還可包括維修設(shè)備，所述維修設(shè)備固設(shè)在所述移動(dòng) 臺(tái)上；所述維修設(shè)備包括用于維修不良像素點(diǎn)的激光發(fā)生器，以及用于觀察不良像素點(diǎn)的 光學(xué)放大鏡。上述的陣列基板檢測(cè)裝置中，所述第一磁力裝置可設(shè)置在所述激光發(fā)生器上。本實(shí)用新型提供的背光設(shè)備和陣列基板檢測(cè)裝置，通過(guò)在背光燈上設(shè)置磁力裝 置，在對(duì)陣列基板的不良像素點(diǎn)進(jìn)行檢測(cè)和確認(rèn)時(shí)，可與設(shè)置在移動(dòng)臺(tái)上的磁力裝置配合， 使得背光燈可在磁力裝置之間的磁力作用下，隨移動(dòng)臺(tái)同步移動(dòng)，從而在移動(dòng)臺(tái)移動(dòng)到陣 列基板上待確認(rèn)的不良像素點(diǎn)位置的同時(shí)，背光燈也同步移動(dòng)到該待確認(rèn)的不良像素點(diǎn)位 置，使得陣列基板上不良像素點(diǎn)的檢測(cè)具有較高的效率和準(zhǔn)確率。本實(shí)用新型背光設(shè)備結(jié) 構(gòu)簡(jiǎn)單，實(shí)現(xiàn)方便，可有效實(shí)現(xiàn)對(duì)陣列基板上不良像素點(diǎn)的檢測(cè)，相對(duì)于現(xiàn)有背光設(shè)備而 言，其具有較快的響應(yīng)速度，較高的檢測(cè)效率，可有效保證對(duì)陣列基板上不良像素點(diǎn)的檢測(cè) 質(zhì)量。
圖1為現(xiàn)有對(duì)陣列基板進(jìn)行檢測(cè)和維修的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2為本實(shí)用新型陣列基板檢測(cè)裝置實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖；圖3為本實(shí)用新型陣列基板檢測(cè)裝置實(shí)施例二的結(jié)構(gòu)示意圖。附圖標(biāo)記10-背光設(shè)備； 201-移動(dòng)臺(tái)；30-陣列基板；[0023] 101-軸；
102-背光燈； 1-移動(dòng)臺(tái)；
202-激光發(fā)生器；203-光學(xué)鏡頭；2-背光設(shè)備；
11-第一磁力裝置；
21-背光燈； 4-陣列基板； 7-維修設(shè)備；22-第二磁力裝置；5-檢測(cè)平臺(tái)；72-光學(xué)放大鏡；
3-透光板； 6-支架； 滾輪。
71-激光發(fā)生器；
具體實(shí)施方式
為使本實(shí)用新型實(shí)施例的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚，下面將結(jié)合本實(shí)用新 型實(shí)施例中的附圖，對(duì)本實(shí)用新型實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描 述的實(shí)施例是本實(shí)用新型一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例。基于本實(shí)用新型中的實(shí)施 例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒(méi)有作出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于 本實(shí)用新型保護(hù)的范圍。圖2為本實(shí)用新型陣列基板檢測(cè)裝置實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖2所示，本實(shí)施 例檢測(cè)裝置包括移動(dòng)臺(tái)1和背光設(shè)備2，其中，該移動(dòng)臺(tái)1上設(shè)置有第一磁力裝置11 ；背光 設(shè)備2包括背光燈21和設(shè)置在背光燈21上的第二磁力裝置22，且第二磁力裝置22與第 一磁力裝置11相對(duì)設(shè)置；此外，移動(dòng)臺(tái)1和背光設(shè)備2之間還設(shè)置有透光板3，使得背光燈 21可在第一磁力裝置11和第二磁力裝置22之間的磁力作用下抵觸在透光板3上。本實(shí)施例可應(yīng)用于對(duì)陣列基板的不良像素點(diǎn)的檢查和確認(rèn)中，具體地，可將待檢 測(cè)的陣列基板4設(shè)置在透光板3上，并將移動(dòng)臺(tái)1設(shè)置在陣列基板4的上方，這樣，在對(duì)陣列 基板4上的不良像素點(diǎn)進(jìn)行檢測(cè)和確認(rèn)時(shí)，可控制移動(dòng)臺(tái)1移至與陣列基板4上待確認(rèn)的 不良像素點(diǎn)位置對(duì)應(yīng)的上方，而移動(dòng)臺(tái)1移動(dòng)過(guò)程中，背光設(shè)備2上的第二磁力裝置22同 時(shí)也會(huì)在第一磁力裝置11的作用下，隨移動(dòng)臺(tái)1 一起移動(dòng)，使得背光設(shè)備2與移動(dòng)臺(tái)1同 步移動(dòng)，這樣，在移動(dòng)臺(tái)1移動(dòng)到待確認(rèn)的不良像素點(diǎn)位置的上方時(shí)，背光設(shè)備2也同步移 動(dòng)到待確認(rèn)的不良像素點(diǎn)位置的下方，此時(shí)即可為背光設(shè)備2上的背光燈21通電，利用背 光燈21發(fā)出的光線檢測(cè)和確認(rèn)陣列基板4上該位置是否存在不良像素點(diǎn)。本領(lǐng)域技術(shù)人員可以理解的是，本實(shí)施例中所述的第一磁力裝置11和第二磁力 裝置22相對(duì)設(shè)置的一端的磁性相異，這樣，背光設(shè)備2才可會(huì)在第一磁力裝置11和第二磁 力裝置22的吸引力作用下，緊緊抵觸在透光板3上，并可在透光板3上滑動(dòng)，保持與移動(dòng)臺(tái) 1的同步移動(dòng)。本實(shí)施例中，為保證移動(dòng)臺(tái)1移動(dòng)的準(zhǔn)確性，可通過(guò)線性馬達(dá)帶動(dòng)移動(dòng)臺(tái)移動(dòng)，由 于線性馬達(dá)具有較好的控制精度，因此，可有效保證移動(dòng)臺(tái)移動(dòng)的準(zhǔn)確性和可靠性，當(dāng)需要 確認(rèn)不良像素點(diǎn)時(shí)，可通過(guò)線性馬達(dá)控制移動(dòng)臺(tái)1上的第一磁力裝置11移動(dòng)至待確認(rèn)像素 點(diǎn)；同時(shí)，背光設(shè)備2也會(huì)在第一磁力裝置11和第二磁力裝置22之間磁力的作用下，同步 移動(dòng)到該像素點(diǎn)，以便對(duì)該像素點(diǎn)進(jìn)行確認(rèn)，是否為不良像素點(diǎn)。本實(shí)施例中，所述的第一磁力裝置11和第二磁力裝置22可為永久性磁石，或者是 電磁鐵。具體地，當(dāng)?shù)谝淮帕ρb置11和第二磁力裝置22為永久性磁石時(shí)，第一磁力裝置11 與第二磁力裝置22相對(duì)的一端極性為S極時(shí)，相應(yīng)的第二磁力裝置22的一端極性就為N 極，使得第二磁力裝置22和第二磁力裝置22相對(duì)的一端的極性相異；當(dāng)?shù)谝淮帕ρb置11和第二磁力裝置22為電磁鐵時(shí)，可通過(guò)控制電磁鐵上線圈的纏繞和電流方向，使第一磁力 裝置11和第二磁力裝置22相對(duì)的一端極性相異，以保證第一磁力裝置11和第二磁力裝置 22之間可相互吸引，使得背光設(shè)備2可在兩個(gè)具有相互吸引的磁力裝置的作用下，與移動(dòng) 臺(tái)1保持同步。本實(shí)施例中，為保證背光設(shè)備2與移動(dòng)臺(tái)1同步移動(dòng)時(shí)，背光燈21在透光板3上滑 動(dòng)的穩(wěn)定性和快速性，背光燈21上還可設(shè)置有滾輪23，使得背光燈21可通過(guò)滾輪23抵觸 在透光板3上，這樣，背光燈21在第一磁力裝置11和第二磁力裝置22的磁力作用下，與移 動(dòng)臺(tái)1同步移動(dòng)時(shí)，可通過(guò)滾輪23在透光板3上滑動(dòng)，可有效減少背光燈21與透光板3之 間的摩擦，背光燈21的滑動(dòng)速度快速、準(zhǔn)確，且可有效避免透光板3因摩擦而損壞的問(wèn)題， 可有效提高整個(gè)檢測(cè)裝置的使用壽命。本實(shí)施例檢測(cè)裝置還可包括檢測(cè)平臺(tái)5，上述的透光板3可通過(guò)支架6固設(shè)在檢測(cè) 平臺(tái)5上，從而可有效保證背光燈21可在透光板3上穩(wěn)定地運(yùn)行，避免透光板3不牢固而 導(dǎo)致背光燈21運(yùn)行不穩(wěn)定。綜上可以看出，本實(shí)施例液晶顯示面板檢測(cè)裝置，通過(guò)在背光燈上設(shè)置第一磁力 裝置，在對(duì)陣列基板的不良像素點(diǎn)進(jìn)行檢測(cè)和確認(rèn)時(shí)，可與設(shè)置在移動(dòng)臺(tái)上的第二磁力裝 置配合，使得背光燈可在兩個(gè)磁力裝置之間的磁力作用下，隨移動(dòng)臺(tái)同步移動(dòng)，從而在移動(dòng) 臺(tái)移動(dòng)到陣列基板上待確認(rèn)的不良像素點(diǎn)位置的同時(shí)，背光燈也同步移動(dòng)到該待確認(rèn)的不 良像素點(diǎn)位置，使得陣列基板上不良像素點(diǎn)的檢測(cè)具有較高的效率和準(zhǔn)確率。本實(shí)施例中 的背光設(shè)備結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，實(shí)現(xiàn)方便，可有效實(shí)現(xiàn)對(duì)陣列基板上不良像素點(diǎn)的檢測(cè)，相對(duì)于現(xiàn)有 背光設(shè)備而言，其具有較快的響應(yīng)速度，較高的檢測(cè)效率，可有效保證對(duì)陣列基板上不良像 素點(diǎn)的檢測(cè)質(zhì)量。圖3為本實(shí)用新型陣列基板檢測(cè)裝置實(shí)施例二的結(jié)構(gòu)示意圖。在上述圖2所示實(shí) 施例技術(shù)方案的基礎(chǔ)上，如圖3所示，該檢測(cè)裝置還可包括維修設(shè)備7，固設(shè)在移動(dòng)臺(tái)1上； 且該維修設(shè)備7可包括有激光發(fā)生器71和光學(xué)放大鏡72，其中，激光發(fā)生器71用來(lái)根據(jù)確 定的不良像素點(diǎn)的具體不良原因，利用激光進(jìn)行維修，而光學(xué)放大鏡72可包括多個(gè)不同倍 數(shù)的鏡頭，用于通過(guò)該光學(xué)放大鏡72可對(duì)確認(rèn)的不良像素點(diǎn)進(jìn)行觀察，以確定像素點(diǎn)的不 良原因，以便于通過(guò)激光發(fā)生器71對(duì)不良進(jìn)行相應(yīng)的維修。本實(shí)施例中，第一磁力裝置11可設(shè)置在激光發(fā)生器71上，這樣，待檢測(cè)的陣列基 板上有待確認(rèn)的像素點(diǎn)需要檢查和確認(rèn)時(shí)，可通過(guò)移動(dòng)移動(dòng)臺(tái)1至待確認(rèn)的不良像素點(diǎn)， 此時(shí)用于維修不良像素點(diǎn)的激光發(fā)生器71和用于確認(rèn)不良像素點(diǎn)的背光設(shè)備2均會(huì)同時(shí) 隨移動(dòng)臺(tái)1移動(dòng)到待確認(rèn)的不良像素點(diǎn)位置的下方，如此可先通過(guò)背光設(shè)備2發(fā)出光后確 認(rèn)是否為不良像素點(diǎn)，若是，即可利用光學(xué)放大鏡72和激光發(fā)生器71對(duì)像素點(diǎn)的不良原因 進(jìn)行確認(rèn)并維修，可有效提高整個(gè)整列基板不良像素點(diǎn)檢查和維修的效率。本實(shí)施例中，可通過(guò)線性馬達(dá)控制移動(dòng)臺(tái)上的激光發(fā)生器71可精準(zhǔn)地移動(dòng)到待 檢測(cè)的位置，而背光設(shè)備2也會(huì)在磁力作用下移動(dòng)到相同位置，從而可利用背光設(shè)備2發(fā)出 的光線確認(rèn)是否有不良像素點(diǎn)，并在確認(rèn)為不良像素點(diǎn)時(shí)，利用激光發(fā)生器71對(duì)不良像素 點(diǎn)進(jìn)行維修。本實(shí)施例通過(guò)在移動(dòng)臺(tái)上設(shè)置維修設(shè)備，使得背光設(shè)備和維修設(shè)備同步移動(dòng)，這 樣，在利用背光設(shè)備檢測(cè)到陣列基板上有不良像素點(diǎn)時(shí)，即可通過(guò)維修設(shè)備進(jìn)行維修，陣列基板的檢測(cè)和維修幾乎是同步進(jìn)行，可有效提高陣列基板上不良像素點(diǎn)的維修效率。此外，本實(shí)用新型實(shí)施例還提供一種背光設(shè)備，該背光設(shè)備可為上述本實(shí)用新型 檢測(cè)裝置實(shí)施例中的背光設(shè)備，通過(guò)在背光燈上設(shè)置有用于驅(qū)動(dòng)背光燈移動(dòng)的磁力裝置， 可用于陣列基板的檢測(cè)中，其具體結(jié)構(gòu)可參考上述實(shí)施例的說(shuō)明，在此不再贅述。本實(shí)施例 背光設(shè)備可應(yīng)用于上述的檢測(cè)裝置中，或者也可代替現(xiàn)有陣列基板檢測(cè)中的背光設(shè)備，并 與現(xiàn)有陣列基板的維修設(shè)備配合，實(shí)現(xiàn)對(duì)陣列基板的檢查和維修，其具體實(shí)現(xiàn)方式可參考 上述檢測(cè)裝置實(shí)施例的說(shuō)明，在此不再贅述。最后應(yīng)說(shuō)明的是以上實(shí)施例僅用以說(shuō)明本實(shí)用新型的技術(shù)方案，而非對(duì)其限制； 盡管參照前述實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行了詳細(xì)的說(shuō)明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解: 其依然可以對(duì)前述各實(shí)施例所記載的技術(shù)方案進(jìn)行修改，或者對(duì)其中部分技術(shù)特征進(jìn)行等 同替換；而這些修改或者替換，并不使相應(yīng)技術(shù)方案的本質(zhì)脫離本實(shí)用新型各實(shí)施例技術(shù) 方案的精神和范圍。
權(quán)利要求1.一種背光設(shè)備，其特征在于，包括背光燈，所述背光燈上設(shè)置有用于驅(qū)動(dòng)背光燈移 動(dòng)的磁力裝置。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的背光設(shè)備，其特征在于，所述背光燈上還設(shè)置有滾輪。
3.一種陣列基板檢測(cè)裝置，其特征在于，包括移動(dòng)臺(tái)和背光設(shè)備，其中所述移動(dòng)臺(tái)上設(shè)置有第一磁力裝置；所述背光設(shè)備包括背光燈，以及設(shè)置在所述背光燈上的第二磁力裝置；所述移動(dòng)臺(tái)和背光設(shè)備之間設(shè)置有透光板，所述背光燈在所述第一磁力裝置和第二磁 力裝置之間的磁力作用下抵觸在所述透光板上。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的陣列基板檢測(cè)裝置，其特征在于，所述背光燈上還設(shè)置有滾 輪，所述背光燈通過(guò)所述滾輪抵觸在所述透光板上。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的陣列基板檢測(cè)裝置，其特征在于，還包括檢測(cè)平臺(tái)，所述透光 板通過(guò)支架固設(shè)在所述檢測(cè)平臺(tái)上。
6.根據(jù)權(quán)利要求3、4或5所述的陣列基板檢測(cè)裝置，其特征在于，還包括維修設(shè)備，所 述維修設(shè)備固設(shè)在所述移動(dòng)臺(tái)上；所述維修設(shè)備包括用于維修不良像素點(diǎn)的激光發(fā)生器，以及用于觀察不良像素點(diǎn)的光 學(xué)放大鏡。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的陣列基板檢測(cè)裝置，其特征在于，所述第一磁力裝置設(shè)置在 所述激光發(fā)生器上。
專利摘要本實(shí)用新型公開(kāi)了一種背光設(shè)備和陣列基板檢測(cè)裝置。該陣列基板檢測(cè)裝置包括移動(dòng)臺(tái)和背光設(shè)備，其中所述移動(dòng)臺(tái)上設(shè)置有第一磁力裝置；所述背光設(shè)備包括背光燈，以及設(shè)置在所述背光燈上的第二磁力裝置；所述移動(dòng)臺(tái)和背光設(shè)備之間設(shè)置有透光板，所述背光燈在所述第一磁力裝置和第二磁力裝置之間的磁力作用下抵觸在所述透光板上。本實(shí)用新型通過(guò)在背光燈上設(shè)置磁力裝置，可與移動(dòng)臺(tái)上的磁力裝置配合，使得背光燈可在磁力作用下與移動(dòng)臺(tái)同步移動(dòng)，可有效實(shí)現(xiàn)對(duì)陣列基板上不良像素點(diǎn)的檢測(cè)。
文檔編號(hào)G02F1/13GK201845148SQ201020536158
公開(kāi)日2011年5月25日 申請(qǐng)日期2010年9月17日 優(yōu)先權(quán)日2010年9月17日
發(fā)明者卜云龍, 趙海生 申請(qǐng)人:北京京東方光電科技有限公司