專(zhuān)利名稱(chēng)：高速轉(zhuǎn)鏡傅里葉變換光譜偏振探測(cè)系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種快速獲得目標(biāo)光譜偏振信息的光譜偏振探測(cè)光譜偏振儀，尤 其涉及一種高速轉(zhuǎn)鏡傅里葉變換光譜偏振探測(cè)系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
光譜偏振儀能夠獲得光譜中每個(gè)譜段的偏振態(tài)，光譜偏振態(tài)的一般測(cè)量方法中需 要有由線偏振器、旋轉(zhuǎn)器和相位延遲器等組成的偏振分析光學(xué)系統(tǒng)，為了對(duì)每一個(gè)譜段的 偏振態(tài)測(cè)量，需要對(duì)偏振分析光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行多種不同的設(shè)置，并對(duì)每一種設(shè)置下的光強(qiáng)進(jìn) 行測(cè)量，為測(cè)量光譜偏振態(tài)，光譜儀和偏振分析光學(xué)系統(tǒng)都要進(jìn)行一個(gè)掃描過(guò)程，實(shí)時(shí)性大 大降低。進(jìn)行偏振分析光學(xué)系統(tǒng)偏振控制的光學(xué)部件還包含旋轉(zhuǎn)分析儀或彈光調(diào)制器等， 通常包含機(jī)械或主動(dòng)部件，因此，儀器的穩(wěn)定性大大降低。日本學(xué)者Kazuhiko Oka提出一種新型光譜偏振技術(shù)—— channeledspectropolarimetry [Kazuhiko Oka and Takayuki Kato. "Spectroscopic polarimetrywith a channeled spectrum，， Optics Letters, Vol.24, No. 21,1475 1477(1999)，該方法是在光譜儀前方加入由兩個(gè)相位延遲器和一個(gè)線偏振器組成的偏振 光譜調(diào)制模塊，將全斯托克斯偏振信息調(diào)制到光譜的不同波數(shù)(波長(zhǎng)的倒數(shù))上去，最后通 過(guò)傅里葉變換將偏振光譜信息解調(diào)出來(lái)。這種方法的最大優(yōu)點(diǎn)是與靜態(tài)光譜儀結(jié)合時(shí)沒(méi)有 運(yùn)動(dòng)部件，所有的光譜偏振信息能夠在一次測(cè)量中獲得，缺點(diǎn)是需要光譜儀的光譜分辨率 較高，而且在偏振光譜解調(diào)中需要進(jìn)行兩次傅里葉變換，運(yùn)算量較大且會(huì)弓I入較多誤差。在Kazuhiko Oka提出的光譜偏振測(cè)量方法的基礎(chǔ)上，Michael ff. Kudenov等人 提出采用傅里葉變換光譜技術(shù)Michael ff. Kudenow, Nathan A. Hagen, Haitao Luo, et al. "Polarization acquisition using a commercial Fouriertransform spectrometer in the MWIR”，Proc. of SPIE Vol. 6295，2950A(2006)，傅里葉變換光譜技術(shù)具有高通 量和多通道的優(yōu)勢(shì)，更重要的是傅里葉變換光譜儀的輸出干涉圖直接就是入射光的傅里 葉變換，與channeledspectropolarimetry相結(jié)合時(shí)，得到的干涉光譜數(shù)據(jù)就是經(jīng)偏振光 譜調(diào)制后的光束的傅里葉變換，在數(shù)據(jù)處理中可以直接從干涉圖中分離出各斯托克斯分 量，分別對(duì)其進(jìn)行傅里葉變換就可以復(fù)原出輸入光的全斯托克斯偏振光譜信息。Michael W. Kudenov等采用了邁克爾遜式傅里葉變換光譜儀，該光譜儀采用時(shí)間調(diào)制的方式獲得光 譜，速度較慢，穩(wěn)定性和實(shí)時(shí)性較差，在對(duì)光譜偏振參數(shù)迅速變化和測(cè)量速度要求高的條件 下受到了限制。

實(shí)用新型內(nèi)容為了解決背景技術(shù)中存在的上述技術(shù)問(wèn)題，本實(shí)用新型提供了一種可簡(jiǎn)化數(shù)據(jù)處 理過(guò)程、降低誤差，穩(wěn)定性好且可近實(shí)時(shí)進(jìn)行光譜偏振測(cè)量的高速轉(zhuǎn)鏡傅里葉變換光譜偏 振測(cè)量系統(tǒng)。本實(shí)用新型的技術(shù)解決方案是一種高速轉(zhuǎn)鏡傅里葉變換光譜偏振探測(cè)系統(tǒng)，其特殊之處在于所述高速轉(zhuǎn)鏡傅里葉變換光譜偏振探測(cè)系統(tǒng)包括準(zhǔn)直鏡、偏振光譜調(diào)制模 塊、分束器、第一反射系統(tǒng)、第二反射系統(tǒng)、會(huì)聚透鏡以及設(shè)置于會(huì)聚透鏡焦面上的探測(cè)器； 所述準(zhǔn)直鏡、偏振光譜調(diào)制模塊和分束器依次設(shè)置于同一光軸上；所述第一反射系統(tǒng)設(shè)置 于分束器的反射光路上，經(jīng)第一反射系統(tǒng)反射的反射光射入分束器形成第一束光；所述第 二反射系統(tǒng)設(shè)置于分束器的透射光路上，經(jīng)第二反射系統(tǒng)反射的反射光射入分束器形成第 二束光；所述會(huì)聚透鏡設(shè)置在第一束光與第二束光相重合的光路上。上述偏振光譜調(diào)制模塊包括第一相位延遲器、第二相位延遲器以及線偏振器；所 述第一相位延遲器、第二相位延遲器以及線偏振器依次設(shè)置于準(zhǔn)直鏡和分束器之間，并與 準(zhǔn)直鏡和分束器同處于同一光軸上。上述第一相位延遲器的快軸和慢軸組成的平面以及第二相位延遲器的快軸和慢 軸組成的平面分別垂直于光軸；所述第一相位延遲器的快軸方向與線偏振器的偏振方向一 致；所述第二相位延遲器的快軸方向相對(duì)于第一相位延遲器的快軸方向逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)45°。上述第一反射系統(tǒng)包括轉(zhuǎn)鏡、角反射體以及第一平面反射鏡；所述轉(zhuǎn)鏡設(shè)置于分 束器的反射光路上；所述角反射體以及第一平面反射鏡依次設(shè)置于轉(zhuǎn)鏡的反射光路上。上述第二反射系統(tǒng)包括第二平面反射鏡；所述第二平面反射鏡設(shè)置于分束器的透 射光路上。上述第一相位延遲器和第二相位延遲器均由單軸雙折射晶體材料制成。上述探測(cè)器是單元探測(cè)器或紅外單元探測(cè)器。上述轉(zhuǎn)鏡由圓柱體的斜端面構(gòu)成。本實(shí)用新型具有以下優(yōu)點(diǎn)1、提高了偏振態(tài)測(cè)量速度。本實(shí)用新型利用靜態(tài)的偏振光譜調(diào)制模塊將全斯托克 斯偏振態(tài)信息調(diào)制到光譜的波數(shù)上，通過(guò)光譜儀和計(jì)算機(jī)數(shù)據(jù)處理解調(diào)出光譜偏振信息， 大大提高了偏振態(tài)測(cè)量速度。2、直接對(duì)干涉光譜圖進(jìn)行濾波。本實(shí)用新型是光譜偏振調(diào)制與傅里葉變換光譜技 術(shù)相結(jié)合，可以直接對(duì)干涉光譜圖進(jìn)行濾波和傅里葉變換得到全斯托克斯光譜偏振信息。3、掃描效率高、可實(shí)現(xiàn)高頻掃描，且穩(wěn)定性好。轉(zhuǎn)鏡以一個(gè)圓柱體的具有一定斜度 的端面作為反射面，在電機(jī)的帶動(dòng)下轉(zhuǎn)動(dòng)，無(wú)空掃現(xiàn)象，掃描效率高，采用轉(zhuǎn)鏡式動(dòng)鏡，系統(tǒng) 運(yùn)行連續(xù)，當(dāng)掃描速度很高時(shí)，由于慣性的作用，旋轉(zhuǎn)伺服系統(tǒng)仍能保持較好的穩(wěn)定性。4、抗干擾能力強(qiáng)、應(yīng)用范圍廣。本實(shí)用新型由于獲得干涉圖的時(shí)間極短，系統(tǒng)對(duì)振 動(dòng)敏感度降低，機(jī)械振動(dòng)頻率一般對(duì)光譜圖的質(zhì)量無(wú)影響，實(shí)時(shí)性好，分辨率高，工作范圍 寬，尤其適用于紅外光譜偏振測(cè)量，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，體積小，重量輕。

圖1為本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)原理示意圖；圖2為本實(shí)用新型實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖；圖3為光譜偏振模塊示意圖；其中1-準(zhǔn)直鏡，2-第一相位延遲器，3-第二相位延遲器，4-線偏振器，5-偏振光 譜調(diào)制模塊，6-分束器，7-轉(zhuǎn)鏡，8-電機(jī)，9-角反射器，10-平面反射鏡，11-平面反射鏡， 12-會(huì)聚透鏡，13-探測(cè)器，14-計(jì)算機(jī)處理系統(tǒng)，15-前置光學(xué)系統(tǒng)，50-系統(tǒng)光軸，51-第一相位延遲期快軸，52-第一相位延遲器慢軸，53-第二相位延遲器快軸，54-第二相位延遲器 慢軸，55-線偏振器偏振方向。
具體實(shí)施方式
參見(jiàn)附圖1和圖2，本實(shí)用新型的光學(xué)系統(tǒng)主要由準(zhǔn)直鏡1、偏振光譜調(diào)制模塊5、 分束器6、轉(zhuǎn)鏡7、角反射器9、平面反射鏡10-11、會(huì)聚透鏡12構(gòu)成；偏振光譜調(diào)制模塊5由 第一相位延遲器2、第二相位延遲器3和線偏振器4構(gòu)成；計(jì)算機(jī)處理系統(tǒng)14為信息處理 系統(tǒng)。本實(shí)用新型的工作原理為準(zhǔn)直鏡1后的由第一相位延遲器2、第二相位延遲器3 和線偏振器4組成的偏振光譜調(diào)制模塊5將入射光的全斯托克斯光譜偏振信息調(diào)制到光譜 的不同波數(shù)上，然后進(jìn)入干涉光譜儀。在轉(zhuǎn)鏡7靜止時(shí)，主光軸上的光被分束器6分成兩束 光，分別是反射光束IF和透射光IT，該兩束光的光程相等，當(dāng)轉(zhuǎn)鏡7在電機(jī)8的帶動(dòng)下轉(zhuǎn)動(dòng) 時(shí)，被分束器6第一次分出的反射光束IF，經(jīng)轉(zhuǎn)鏡7與角反射器9和平面反射鏡10多次反 射后，回到分束器6，再到達(dá)會(huì)聚透鏡12的第一束光的光程會(huì)發(fā)生變化。而被分束器6第一 次分出的透射光IT，經(jīng)平面反射鏡11反射回分束器6，再被分束器反射到達(dá)會(huì)聚透鏡12的 第二束光的光程不變，兩束光最后到達(dá)探測(cè)器13的光程不再相等，從而產(chǎn)生光程差，成為 兩束相干光，在探測(cè)器上產(chǎn)生干涉。隨著轉(zhuǎn)鏡7的轉(zhuǎn)動(dòng)，兩束光的光程差不斷變化，由此獲 得干涉光譜圖，此時(shí)的干涉圖已經(jīng)調(diào)制進(jìn)了偏振信息，各偏振分量處在不同的光程差范圍 內(nèi)。干涉圖再經(jīng)過(guò)計(jì)算機(jī)處理系統(tǒng)14進(jìn)行濾波和傅里葉變換后，可得到輸入光的各斯托克 斯偏振分量的光譜。轉(zhuǎn)鏡7在電機(jī)8的帶動(dòng)下高速轉(zhuǎn)動(dòng)，即可實(shí)現(xiàn)高速掃描。該轉(zhuǎn)鏡由圓 柱體的斜端面構(gòu)成。參見(jiàn)圖3，本實(shí)用新型的偏振光譜模塊5中第一相位延遲器2和第二相位延遲器3 均由單軸雙折射晶體材料制成，第一相位延遲器2、第二相位延遲器3和線偏振器按順序粘 接在一起，其位置和方向滿足1)第一相位延遲器2、第二相位延遲器3和線偏振器4沿系統(tǒng)光軸50依次放置；2)第一相位延遲器2的快軸51和慢軸52組成的平面與系統(tǒng)光軸50垂直，且快軸 51的方向與線偏振器4的偏振方向55 —致；3)第二相位延遲器3的快軸53和慢軸54組成的平面與系統(tǒng)光軸50垂直，快軸方 向相對(duì)于相位延遲器2的快軸方向逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)45° (沿光束傳播方向看去)；第一相位延遲器2的厚度為L(zhǎng)”第二相位延遲器3的厚度為L(zhǎng)2，通過(guò)設(shè)置k和L2 的比例來(lái)實(shí)現(xiàn)對(duì)偏振光譜的調(diào)制。準(zhǔn)直鏡的1的軸線和偏振光譜調(diào)制模塊5都位于前置光學(xué)系統(tǒng)的軸線上。分束器 6的位置應(yīng)確保既能接收到由偏振光譜調(diào)制模塊5出射的光束，又能接收到轉(zhuǎn)鏡7和平面反 射鏡11反射的光束。轉(zhuǎn)鏡7的初始位置和角反射體9，以及平面反射鏡10-11的位置應(yīng)滿 足當(dāng)轉(zhuǎn)鏡7在某一位置定位時(shí)，1)光軸上的光束被分束器6分出的反射光數(shù)；為第一束光，其經(jīng)轉(zhuǎn)鏡7、角反射 體9和平面反射鏡10的多次反射，再回到分束器6，經(jīng)過(guò)傅里葉變換透鏡12會(huì)聚到探測(cè)器 13上形成的第一束光的光程；2)光軸上的光束被分束器6分出的透射光IT為第二束光，其經(jīng)過(guò)平面反射鏡11
5反射后再回到分束器6，通過(guò)會(huì)聚透鏡12會(huì)聚到探測(cè)器13形成的第二束光的光程；3)第一束光再回到分束器6的交點(diǎn)與第二束光再回到分束器6的交點(diǎn)相重合；4)第一束光被分束器6再次分出的透射光束Ift和第二束光被分束器6再次分出 的反射光束Ift光路重合；5)第一束光的光程與第二束光的光程相等；會(huì)聚透鏡12的光軸位于第一束光的透射光束Ift與第二束光的反射光束Itf相重 合的光路上。
本實(shí)用新型偏振光譜調(diào)制與解調(diào)過(guò)程
1.經(jīng)準(zhǔn)直的入射光的偏振光譜為Sin= (s0, S1, S2, S3)
2.經(jīng)過(guò)第一相位延遲器2后的偏振光譜為 ^oail2
3.經(jīng)過(guò)第二相位延遲器3后的偏振光譜為 rX 0 0 0 Yl 0 0
4.經(jīng)過(guò)線偏振器4后的偏振光譜為
波數(shù)ο的函數(shù)，由式⑷確定δ (σ) = 23 Δησ(4)上式中，d為延遲器材料的厚度，Δη為尋常光和異常光的折射率之差5.將式(1)中的矩陣相乘得到 由于探測(cè)器本身只對(duì)光強(qiáng)度信號(hào)有響應(yīng)，而對(duì)偏振態(tài)無(wú)響應(yīng)，探測(cè)器接收到的fi 號(hào)為透過(guò)線偏振器的光的全部強(qiáng)度，對(duì)應(yīng)于輸出斯托克斯向量的第一個(gè)元素。因此，探測(cè)器 接收到的光強(qiáng)是波數(shù)的函數(shù)，如下式。[0051] 上述等式描述了偏振光譜調(diào)制模塊將隨波數(shù)變化的全斯托克斯分量調(diào)制進(jìn)光譜 的機(jī)理。經(jīng)調(diào)制后的光束經(jīng)過(guò)干涉以后得到的光強(qiáng)分布為 上式中δ ζ = 2 π Δ ζ σ，為干涉儀產(chǎn)生的相位差，Δ ζ為干涉儀產(chǎn)生的光程差。對(duì)式(7)進(jìn)行整理得到(式中去掉了與傅里葉變換無(wú)關(guān)的直流分量)I ( σ，ζ) κ 由式(7)可以直探測(cè)器接收到的強(qiáng)度包含有7個(gè)基于延遲器的不同的通道0、 士 δ 2、士( δ 2+ δ J和士( δ 2- δ》。如果兩個(gè)探測(cè)器采用同樣的材料，當(dāng)?shù)诙辔谎舆t器3 的厚度是第一相位延遲器2的兩倍時(shí)，那么上述七個(gè)通道將會(huì)在干涉圖的光程差上等間隔 分開(kāi)。將每個(gè)通道進(jìn)行分離，經(jīng)過(guò)逆傅里葉變換即可得到s0( σ )、Sl( ο )、s2( ο )和s3( ο )。本實(shí)用新型光的傳輸過(guò)程1、來(lái)自目標(biāo)的光束經(jīng)過(guò)前置光學(xué)系統(tǒng)15到達(dá)準(zhǔn)直鏡，準(zhǔn)直鏡1將目標(biāo)光束轉(zhuǎn)換成 平行光束；平行光束投射到偏振光譜調(diào)制模塊5上；2、偏振光譜調(diào)制模塊5將輸入光的四個(gè)斯托克斯分量調(diào)制到光譜的不同波數(shù)上；3、分束器6將經(jīng)過(guò)調(diào)制的光分為反射光束If和透射光束Ιτ。其中3. 1)分束器6分出的反射光束If a經(jīng)轉(zhuǎn)鏡7反射到角反射體9，角反射體9把入射的光沿與入射方向平行的方向反 射回轉(zhuǎn)鏡7;b反射回轉(zhuǎn)鏡7的光又被轉(zhuǎn)鏡7反射到平面反射鏡10上，平面反射鏡10把入射光 反射回到反射轉(zhuǎn)鏡7上；c轉(zhuǎn)鏡7再次將光反射到角反射體9上，角反射體9再次將入射的光沿與入射光方 向平行方向反射回轉(zhuǎn)鏡6;d轉(zhuǎn)鏡7將光反射回分束器6 ；e反射回分束器6的光再次被分為反射光束Iff和透射光束IFT。3. 2)被分束器6分出的透射光束It a被平面反射鏡11沿入射方向返回分束器6 ;b反射回分束器6的光再次被分為 反射光束Itf和透射光束Itt。[0075]4、被分束器6分出的反射光束IF再次被分束器6分出的透射光束IFT，經(jīng)過(guò)會(huì)聚透 鏡12，被位于會(huì)聚透鏡12焦面上的探測(cè)器13接收。5、被分束器6分出的透射光束IT再次被分束器6分出的反射光束ITF，經(jīng)過(guò)會(huì)聚透 鏡12，被位于會(huì)聚透鏡12焦面上的探測(cè)器13接收。6、分束器6第一次分出的反射光束IF經(jīng)轉(zhuǎn)鏡7、角反射器9和平面反射鏡10的多 次反射，再回到分束器6，通過(guò)會(huì)聚透鏡12會(huì)聚到探測(cè)器13形成第一束光的光程；分束器6 第一次分出的透射光束IT，到達(dá)平面反射鏡11后原路反射回到分束器6，通過(guò)會(huì)聚透鏡12 會(huì)聚到探測(cè)器13形成第二束光的光程；該兩束光產(chǎn)生光程差，成為兩束相干光，在探測(cè)器 13上發(fā)生干涉。轉(zhuǎn)鏡7在電機(jī)8的帶動(dòng)下轉(zhuǎn)動(dòng)，光程差發(fā)生變化，探測(cè)器上可以得到不同光 程差的干涉序列，形成干涉圖。7、干涉光譜圖經(jīng)計(jì)算機(jī)處理系統(tǒng)14進(jìn)行濾波和傅里葉變換，得到復(fù)原的光譜偏 振曲線。
8
權(quán)利要求一種高速轉(zhuǎn)鏡傅里葉變換光譜偏振探測(cè)系統(tǒng)，其特征在于所述高速轉(zhuǎn)鏡傅里葉變換光譜偏振探測(cè)系統(tǒng)包括準(zhǔn)直鏡、偏振光譜調(diào)制模塊、分束器、第一反射系統(tǒng)、第二反射系統(tǒng)、會(huì)聚透鏡以及設(shè)置于會(huì)聚透鏡焦面上的探測(cè)器；所述準(zhǔn)直鏡、偏振光譜調(diào)制模塊和分束器依次設(shè)置于同一光軸上；所述第一反射系統(tǒng)設(shè)置于分束器的反射射光路上，經(jīng)第一反射系統(tǒng)反射的反射光射入分束器形成第一束光；所述第二反射系統(tǒng)設(shè)置于分束器的透射光路上，經(jīng)第二反射系統(tǒng)反射的反射光射入分束器形成第二束光；所述會(huì)聚透鏡設(shè)置在第一束光與第二束光相重合的光路上。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高速轉(zhuǎn)鏡傅里葉變換光譜偏振探測(cè)系統(tǒng)，其特征在于所述 偏振光譜調(diào)制模塊包括第一相位延遲器、第二相位延遲器以及線偏振器；所述第一相位延 遲器、第二相位延遲器以及線偏振器依次設(shè)置于準(zhǔn)直鏡和分束器之間，并與準(zhǔn)直鏡和分束 器同處于同一光軸上。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的高速轉(zhuǎn)鏡傅里葉變換光譜偏振探測(cè)系統(tǒng)，其特征在于所述 第一相位延遲器的快軸和慢軸組成的平面以及第二相位延遲器的快軸和慢軸組成的平面 分別與垂直于光軸；所述第一相位延遲器的快軸的方向與線偏振器的偏振方向一致；所述 第二相位延遲器的快軸方向相對(duì)于第一相位延遲器的快軸方向逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)45°。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2或3所述的高速轉(zhuǎn)鏡傅里葉變換光譜偏振探測(cè)系統(tǒng)，其特征在 于所述第一反射系統(tǒng)包括轉(zhuǎn)鏡、角反射體以及第一平面反射鏡；所述轉(zhuǎn)鏡設(shè)置于分束器 的反射光路上；所述角反射體以及第一平面反射鏡依次設(shè)置于轉(zhuǎn)鏡的反射光路上。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的高速轉(zhuǎn)鏡傅里葉變換光譜偏振探測(cè)系統(tǒng)，其特征在于所述 第二反射系統(tǒng)包括第二平面反射鏡；所述第二平面反射鏡設(shè)置于分束器的透射光路上。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的高速轉(zhuǎn)鏡傅里葉變換光譜偏振探測(cè)系統(tǒng)，其特征在于所述 第一相位延遲器和第二相位延遲器均由單軸雙折射晶體材料制成。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高速轉(zhuǎn)鏡傅里葉變換光譜偏振探測(cè)系統(tǒng)，其特征在于所述 探測(cè)器是單元探測(cè)器或紅外單元探測(cè)器。
8.根據(jù)權(quán)利要求4所述的高速轉(zhuǎn)鏡傅里葉變換光譜偏振探測(cè)系統(tǒng)，其特征在于所述 轉(zhuǎn)鏡由圓柱體的斜端面構(gòu)成。
專(zhuān)利摘要本實(shí)用新型涉及一種高速轉(zhuǎn)鏡傅里葉變換光譜偏振探測(cè)系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括準(zhǔn)直鏡、偏振光譜調(diào)制模塊、分束器、第一反射系統(tǒng)、第二反射系統(tǒng)、會(huì)聚透鏡以及設(shè)置于會(huì)聚透鏡焦面上的探測(cè)器；準(zhǔn)直鏡、偏振光譜調(diào)制模塊和分束器依次設(shè)置于同一光軸上；偏振光譜調(diào)制模塊由兩個(gè)相位延遲器和一個(gè)線偏振器組成；第一反射系統(tǒng)設(shè)置于分束器的反射光路上，經(jīng)第一反射系統(tǒng)反射的反射光射入分束器形成第一束光；第二反射系統(tǒng)設(shè)置于分束器的透射光路上，經(jīng)第二反射系統(tǒng)反射的反射光射入分束器形成第二束光；會(huì)聚透鏡設(shè)置在第一束光與第二束光相重合的光路上。本實(shí)用新型具有可簡(jiǎn)化數(shù)據(jù)處理過(guò)程、降低誤差，穩(wěn)定性好且可近實(shí)時(shí)進(jìn)行光譜偏振測(cè)量的優(yōu)點(diǎn)。
文檔編號(hào)G02B7/00GK201622115SQ201020020528
公開(kāi)日2010年11月3日 申請(qǐng)日期2010年1月21日 優(yōu)先權(quán)日2010年1月21日
發(fā)明者周錦松, 張 林, 景娟娟, 王新全, 胡亮 申請(qǐng)人:中國(guó)科學(xué)院西安光學(xué)精密機(jī)械研究所