專利名稱：具測試架構(gòu)的平面顯示裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種平面顯示裝置，尤其涉及一種具測試架構(gòu)的平面顯示裝置。
背景技術(shù)：
平面顯示裝置(Flat Panel Display)為目前主要流行的顯示器，其中液晶顯示 裝置更因為具有外型輕薄、省電以及無輻射等特征，而被廣泛地應用于計算機屏幕、行動電 話、個人數(shù)字助理(PDA)、平面電視等電子產(chǎn)品上。液晶顯示裝置的工作原理是利用改變液 晶層兩端的電壓差來改變液晶層內(nèi)的液晶分子的排列狀態(tài)，用以改變液晶層的透光性，再 配合背光模塊所提供的光源以顯示影像。圖1為現(xiàn)有技術(shù)的具測試架構(gòu)的平面顯示裝置。如圖1所示，平面顯示裝置100 包含下基板110及上基板190，液晶層即夾置于下基板110與上基板190之間。上基板190 為彩色濾光片，用來使平面顯示裝置100可顯示彩色畫面。下基板110包含可撓性印刷電 路板(Flexible Printed Circuit Board)接合區(qū)160、多數(shù)個源極驅(qū)動芯片設置區(qū)120、多 數(shù)個柵極驅(qū)動芯片設置區(qū)140，多數(shù)條數(shù)據(jù)線130、多數(shù)條柵極線150、多數(shù)條短路配線125、 水平總線135、垂直總線155、及影像顯示區(qū)195?？蓳闲杂∷㈦娐钒褰雍蠀^(qū)160包含多數(shù)個 連接墊165，用以耦接水平總線135及垂直總線155的多數(shù)條水平傳輸線及多數(shù)條垂直傳輸 線。源極驅(qū)動芯片設置區(qū)120與柵極驅(qū)動芯片設置區(qū)140分別用以設置源極驅(qū)動芯片(未 顯示)與柵極驅(qū)動芯片(未顯示)。水平總線135及垂直總線155以陣列布線(Wiring On Array, W0A)型式設置于下基板110的外引腳接合區(qū)(Outer Lead Bonding, 0LB)。通常在源極驅(qū)動芯片與柵極驅(qū)動芯片貼附至源極驅(qū)動芯片設置區(qū)120與柵極驅(qū) 動芯片設置區(qū)140之前，會先執(zhí)行陣列測試(Array Test)及像素測試(Cell Test)，用以檢 測平面顯示裝置100是否有陣列布線缺陷或像素異常顏色顯示，所以下基板110另設置多 數(shù)個內(nèi)部測試墊170，分別耦接于多數(shù)條短路配線125，再通過多數(shù)條外部信號傳輸線172 分別耦接至多數(shù)個外部測試墊175。如圖1所示，連接內(nèi)部測試墊170與外部測試墊175的 外部信號傳輸線172與垂直總線155相互交叉，甚至與水平總線135的部分水平傳輸線相 互交叉，所以可能造成交叉短路使線路工作不正常。此外，由于要在外引腳接合區(qū)設置多數(shù) 陣列內(nèi)部測試墊170，所以會顯著限縮陣列布線的設置空間，因而增加布線阻抗，影響信號 傳輸?shù)臏饰弧D2為圖1所示的源極驅(qū)動芯片設置區(qū)的內(nèi)部布局示意圖。如圖2所示，在源極 驅(qū)動芯片設置區(qū)120中，另設置多數(shù)個接合墊121以及至少二個對準標記123。在完成陣 列測試及像素測試后，利用激光切割工藝沿著激光切割線124切斷短路配線125與數(shù)據(jù)線 130之間的聯(lián)機，此激光切割工藝利用對準標記123來進行對位。柵極驅(qū)動芯片設置區(qū)140 的內(nèi)部布局與源極驅(qū)動芯片設置區(qū)120的內(nèi)部布局相似，因此不再贅述。完成激光切割工藝后，才將源極驅(qū)動芯片與柵極驅(qū)動芯片貼附至源極驅(qū)動芯片設置區(qū)120與柵極驅(qū)動芯片 設置區(qū)140。然而，在進行激光切割工藝時，會產(chǎn)生微粒污染產(chǎn)品，降低產(chǎn)品輸出率，而工藝 所需的激光切割機臺則會增加生產(chǎn)成本。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題在于提供一種具測試架構(gòu)的平面顯示裝置。為實現(xiàn)上述目的，依據(jù)本發(fā)明的實施例，其揭露一種具測試架構(gòu)的平面顯示裝置， 包含基板、多數(shù)條傳輸線、多數(shù)條信號線、多數(shù)條短路配線以及多數(shù)個晶體管。基板包含可 撓性印刷電路板接合區(qū)，此可撓性印刷電路板接合區(qū)包含多數(shù)個連接墊。多數(shù)條傳輸線設 置于基板上，每一條傳輸線耦接于可撓性印刷電路板接合區(qū)的對應連接墊。多數(shù)條信號線 平行地設置于基板上。多數(shù)條短路配線設置于基板上。多數(shù)個晶體管設置于基板上。每一 個晶體管包含第一端、第二端與柵極端，其中第一端耦接于對應短路配線，第二端耦接于對 應信號線，柵極端耦接于多數(shù)條傳輸線的柵極信號傳輸線。該柵極信號傳輸線一端耦接對 應連接墊，另一端耦接第一測試墊。較佳的，該基板另包含多數(shù)個驅(qū)動芯片設置區(qū)，該柵極信號傳輸線經(jīng)由該些驅(qū)動 芯片設置區(qū)的至少一個驅(qū)動芯片設置區(qū)耦接于該些連接墊的一對應連接墊。較佳的，另包含至少一第二測試墊，設置于該基板上，該第二測試墊耦接于該些 短路配線的一對應短路配線。較佳的，該些信號線為多數(shù)條數(shù)據(jù)線或多數(shù)條柵極線。以下結(jié)合附圖和具體實施例對本發(fā)明進行詳細描述，但不作為對本發(fā)明的限定。


圖1為現(xiàn)有技術(shù)具測試架構(gòu)的平面顯示裝置；圖2為圖1所示的源極驅(qū)動芯片設置區(qū)的內(nèi)部布局示意圖；圖3為本發(fā)明第一實施例具測試架構(gòu)的平面顯示裝置示意圖；圖4為本發(fā)明第二實施例具測試架構(gòu)的平面顯示裝置示意圖；圖5為本發(fā)明第三實施例具測試架構(gòu)的平面顯示裝置示意圖；圖6顯示圖5的平面顯示裝置的源極驅(qū)動芯片設置區(qū)的另一實施例內(nèi)部布局示意 圖；圖7為本發(fā)明第四實施例具測試架構(gòu)的平面顯示裝置示意圖；圖8為本發(fā)明第五實施例具測試架構(gòu)的平面顯示裝置示意圖。其中，附圖標記100、300、400、500、700、800 平面顯示裝置110、310、510、810 下基板120、320、520、820 源極驅(qū)動芯片設置區(qū)121,521 接合墊123 對準標記124 激光切割線125、325、525 短路配線
130、330、530、830 數(shù)據(jù)線135、335、535、835 水平總線140、340、540、840 柵極驅(qū)動芯片設置區(qū)150、350、550、850 柵極線155、355、555、855 垂直總線160、360、560、860 可撓性印刷電路板接合區(qū)165、365、565、865 連接墊170:內(nèi)部測試墊172 外部信號傳輸線175 外部測試墊190、390、590、890 上基板195、395、595、895 影像顯示區(qū)370、570、870 測試墊526,827 第一晶體管527,829 第二晶體管528 第三晶體管529:第四晶體管541,841 第一短路配線542,842 第二短路配線543、843 第三短路配線544、844 第四短路配線546 第五晶體管
具體實施例方式為讓本發(fā)明更顯而易懂，下文依本發(fā)明具測試架構(gòu)的平面顯示裝置，特舉實施例 配合所附附圖作詳細說明，但所提供的實施例并不用以限制本發(fā)明所涵蓋的范圍。圖3為本發(fā)明第一實施例具測試架構(gòu)的平面顯示裝置示意圖。如圖3所示，平面 顯示裝置300包含下基板310、上基板390、以及夾置于下基板310與上基板390之間的液 晶層(未顯示)。上基板390為彩色濾光片，用來使平面顯示裝置300可顯示彩色畫面。下 基板310包含可撓性印刷電路板接合區(qū)360、多數(shù)個源極驅(qū)動芯片設置區(qū)320、多數(shù)個柵極 驅(qū)動芯片設置區(qū)340、多數(shù)條數(shù)據(jù)線330、多數(shù)條柵極線350、多數(shù)條短路配線325、水平總線 335、垂直總線355、及影像顯示區(qū)395。多數(shù)條數(shù)據(jù)線330及多數(shù)條柵極線350相互交叉地 設置于影像顯示區(qū)395，用來傳輸多數(shù)個數(shù)據(jù)信號及多數(shù)個柵極信號以顯示影像。可撓性 印刷電路板接合區(qū)360包含多數(shù)個連接墊365，而水平總線335及垂直總線355的多數(shù)條 水平傳輸線及多數(shù)條垂直傳輸線即分別耦接至多數(shù)個對應連接墊365。源極驅(qū)動芯片設置 區(qū)320與柵極驅(qū)動芯片設置區(qū)340分別用以設置源極驅(qū)動芯片(未顯示)與柵極驅(qū)動芯片 (未顯示)。水平總線335及垂直總線355以陣列布線型式設置于下基板310的外引腳接 合區(qū)o每一條短路配線325設置于對應源極驅(qū)動芯片設置區(qū)320或?qū)獤艠O驅(qū)動芯片設
5置區(qū)340。設置于源極驅(qū)動芯片設置區(qū)320的短路配線325耦接于對應數(shù)據(jù)線330及水平 總線335的對應水平傳輸線，設置于柵極驅(qū)動芯片設置區(qū)340的短路配線325耦接于對應 柵極線350及垂直總線355的對應垂直傳輸線。在執(zhí)行陣列測試或像素測試時，通常需要 將多數(shù)個第一測試信號及多數(shù)個第二測試信號分別饋入至多數(shù)條數(shù)據(jù)線330及多數(shù)條柵 極線350，用以檢測陣列布線缺陷或像素異常顏色顯示。因此在具測試架構(gòu)的平面顯示裝置 300中，多數(shù)個第一測試信號即從可撓性印刷電路板接合區(qū)360的多數(shù)個對應連接墊365饋 入，經(jīng)由水平總線335的多數(shù)條對應水平傳輸線及源極驅(qū)動芯片設置區(qū)320的多數(shù)條短路 配線325而傳送至多數(shù)條對應數(shù)據(jù)線330。此外，多數(shù)個第二測試信號則從可撓性印刷電路 板接合區(qū)360的多數(shù)個對應連接墊365饋入，經(jīng)由垂直總線355的多數(shù)條對應垂直傳輸線 與柵極驅(qū)動芯片設置區(qū)340的多數(shù)條短路配線325而傳送至多數(shù)條對應柵極線350。由上述可知，本發(fā)明第一實施例具測試架構(gòu)液的平面顯示裝置，并不需要設置多 數(shù)個內(nèi)部測試墊、多數(shù)條外部信號傳輸線、及多數(shù)個外部測試墊，所以在垂直傳輸線及水平 傳輸線的布線設計中，不會形成與外部信號傳輸線相互交叉的走線狀況，即可避免交叉短 路的缺陷。另外，由于在下基板的外引腳接合區(qū)不需要設置多數(shù)個內(nèi)部測試墊，所以不會限 縮陣列布線的設置空間，即可降低布線阻抗以避免影響信號傳輸?shù)臏饰?。圖4為本發(fā)明第二實施例具測試架構(gòu)的平面顯示裝置示意圖。如圖4所示，平面 顯示裝置400在圖3的平面顯示裝置300的下基板310中，另設置多數(shù)個測試墊370。在源 極驅(qū)動芯片設置區(qū)320的每一條短路配線325包含第一端及第二端，其中第一端耦合于可 撓性印刷電路板接合區(qū)360的對應連接墊365，第二端耦合于對應測試墊370。同理，在柵 極驅(qū)動芯片設置區(qū)340的每一條短路配線325包含第一端及第二端，其中第一端耦合于可 撓性印刷電路板接合區(qū)360的對應連接墊365，第二端耦合于對應測試墊370。所以在執(zhí)行 平面顯示裝置400的陣列測試或像素測試時，另可利用多數(shù)個探針從多數(shù)個測試墊370輸 入多數(shù)個第一測試信號及多數(shù)個第二測試信號，即每一條短路配線325的二端均饋入測試 信號以避免測試信號衰減而影響檢測準確性。相較于現(xiàn)有技術(shù)平面顯示裝置，本發(fā)明第二 實施例的平面顯示裝置只設置少數(shù)的測試墊370以輔助測試信號輸入，所以并不會顯著限 縮陣列布線的設置空間。除上述結(jié)構(gòu)差異外，平面顯示裝置400的其余結(jié)構(gòu)同于平面顯示 裝置300的結(jié)構(gòu)，所以不再贅述。圖5為本發(fā)明第三實施例具測試架構(gòu)的平面顯示裝置示意圖。如圖5所示，平面顯 示裝置500包含下基板510、上基板590、以及夾置于下基板510與上基板590之間的液晶 層(未顯示)。上基板590為彩色濾光片，用來使平面顯示裝置500可顯示彩色畫面。下基 板510包含可撓性印刷電路板接合區(qū)560、多數(shù)個源極驅(qū)動芯片設置區(qū)520、多數(shù)個第一晶 體管526、多數(shù)個第二晶體管527、多數(shù)個柵極驅(qū)動芯片設置區(qū)540、多數(shù)個第三晶體管528、 多數(shù)個第四晶體管529、多數(shù)條數(shù)據(jù)線530、多數(shù)條柵極線550、多數(shù)條短路配線525、水平總 線535、垂直總線555、及影像顯示區(qū)595。多數(shù)條數(shù)據(jù)線530及多數(shù)條柵極線550相互交叉 地設置于影像顯示區(qū)595，用來傳輸多數(shù)個數(shù)據(jù)信號及多數(shù)個柵極信號以顯示影像?？蓳闲?印刷電路板接合區(qū)560包含多數(shù)個連接墊565，而水平總線535及垂直總線555的多數(shù)條 水平傳輸線及多數(shù)條垂直傳輸線即分別耦接至多數(shù)個對應連接墊565。源極驅(qū)動芯片設置 區(qū)520與柵極驅(qū)動芯片設置區(qū)540分別用以設置源極驅(qū)動芯片(未顯示)與柵極驅(qū)動芯片 (未顯示)。水平總線535及垂直總線555以陣列布線型式設置于下基板510的外引腳接合區(qū)。每一個源極驅(qū)動芯片設置區(qū)520設置多數(shù)條短路配線525、多數(shù)個第一晶體管 526、及多數(shù)個第二晶體管527，其中多數(shù)條短路配線525包含多數(shù)條第一短路配線541及 第二短路配線542。第一晶體管526包含第一端、第二端與柵極端，其中第一端耦接于對應 第一短路配線541，第二端耦接于水平總線535的對應水平傳輸線，柵極端耦接于第二短路 配線542。第二晶體管527包含第一端、第二端與柵極端，其中第一端耦接于對應第一短路 配線541，第二端耦接于對應數(shù)據(jù)線530，柵極端耦接于第二短路配線542。請注意，多數(shù)個 源極驅(qū)動芯片設置區(qū)520由水平總線535所串接，除了串接于最后的源極驅(qū)動芯片設置區(qū) 520，其余源極驅(qū)動芯片設置區(qū)520的二側(cè)邊均設置有多數(shù)個第一晶體管526，而串接于最 后的源極驅(qū)動芯片設置區(qū)520只有一側(cè)邊設置有多數(shù)個第一晶體管526。每一個柵極驅(qū)動芯片設置區(qū)540設置多數(shù)條短路配線525、多數(shù)個第三晶體管 528、及多數(shù)個第四晶體管529，其中多數(shù)條短路配線525包含多數(shù)條第三短路配線543及 第四短路配線544。第三晶體管528包含第一端、第二端與柵極端，其中第一端耦接于對應 第三短路配線543，第二端耦接于垂直總線555的對應垂直傳輸線，柵極端耦接于第四短路 配線544。第四晶體管529包含第一端、第二端與柵極端，其中第一端耦接于對應第三短路 配線543，第二端耦接于對應柵極線550，柵極端耦接于第四短路配線544。請注意，多數(shù)個 柵極驅(qū)動芯片設置區(qū)540由垂直總線555所串接，除了串接于最后的柵極驅(qū)動芯片設置區(qū) 540，其余柵極驅(qū)動芯片設置區(qū)540的二側(cè)邊均設置有多數(shù)個第三晶體管528，而串接于最 后的柵極驅(qū)動芯片設置區(qū)540只有一側(cè)邊設置有多數(shù)個第三晶體管528。在執(zhí)行平面顯示裝置500的陣列測試或像素測試時，多數(shù)個第一測試信號即從可 撓性印刷電路板接合區(qū)560的多數(shù)個對應連接墊565饋入，經(jīng)由水平總線535的多數(shù)條對 應水平傳輸線、多數(shù)個第一晶體管526、多數(shù)條第一短路配線541、及多數(shù)個第二晶體管527 而傳送至多數(shù)條對應數(shù)據(jù)線530。另有第一測試致能信號經(jīng)由可撓性印刷電路板接合區(qū) 560的對應連接墊565、水平總線535的對應水平傳輸線、及第二短路配線542而饋入至多 數(shù)個第一晶體管526的柵極及多數(shù)個第二晶體管527的柵極，用以致能多數(shù)個第一晶體管 526及多數(shù)個第二晶體管527。此外，多數(shù)個第二測試信號則從可撓性印刷電路板接合區(qū)560的多數(shù)個對應連接 墊565饋入，經(jīng)由垂直總線555的多數(shù)條對應垂直傳輸線、多數(shù)個第三晶體管528、多數(shù)條第 三短路配線543、及多數(shù)個第四晶體管529而傳送至多數(shù)條對應柵極線550。另有第二測試 致能信號經(jīng)由可撓性印刷電路板接合區(qū)560的對應連接墊565、垂直總線555的對應垂直 傳輸線、及第四短路配線544而饋入至多數(shù)個第三晶體管528的柵極及多數(shù)個第四晶體管 529的柵極，用以致能多數(shù)個第三晶體管528及多數(shù)個第四晶體管529。在完成陣列測試及像素測試后，貼附多數(shù)個源極驅(qū)動芯片及多數(shù)個柵極驅(qū)動芯片 以執(zhí)行影像顯示時，第一測試致能信號被設為除能信號，使多數(shù)個第一晶體管526及多數(shù) 個第二晶體管527均切換至截止狀態(tài)，用以除能多數(shù)條第一短路配線541與多數(shù)條數(shù)據(jù)線 530之間的信號傳輸功能，此外第二測試致能信號也被設為除能信號，使多數(shù)個第三晶體管 528及多數(shù)個第四晶體管529均切換至截止狀態(tài)，用以除能多數(shù)條第三短路配線543與多數(shù) 條柵極線550之間的信號傳輸功能。因此平面顯示裝置500可在不受多數(shù)條第一短路配線 541及多數(shù)條第三短路配線543的影響下，而執(zhí)行正常影像顯示操作。由上述可知，在本發(fā)
7明第三實施例平面顯示裝置的工藝中，并不需要利用激光切割工藝以切斷多數(shù)條第一短路 配線541與多數(shù)條數(shù)據(jù)線530之間的聯(lián)機，及切斷多數(shù)條第三短路配線543與多數(shù)條柵極 線550之間的聯(lián)機，所以可避免因進行激光切割工藝而產(chǎn)生微粒污染產(chǎn)品導致低產(chǎn)品輸出 率，此外，現(xiàn)有技術(shù)工藝所需的激光切割機臺就可省略不用而降低生產(chǎn)成本。在另一實施例中，圖5的平面顯示裝置500的源極驅(qū)動芯片設置區(qū)520的內(nèi)部布 局為圖6所示的布局。請參考圖6，圖6顯示圖5的平面顯示裝置的源極驅(qū)動芯片設置區(qū)的 另一實施例內(nèi)部布局示意圖。如圖6所示，源極驅(qū)動芯片設置區(qū)520包含多數(shù)個第一晶體 管526、多數(shù)個第二晶體管527、多數(shù)條第一短路配線541、第二短路配線542、多數(shù)個第五晶 體管546、及多數(shù)個接合墊521。多數(shù)個接合墊521用以耦合水平總線535的多數(shù)條對應水 平傳輸線及源極驅(qū)動芯片，或用以耦合多數(shù)條對應數(shù)據(jù)線530及源極驅(qū)動芯片。第一晶體 管526及第二晶體管527的耦接關(guān)系同上所述。第五晶體管546包含第一端、第二端與柵 極端，其中第一端耦接于對應第一晶體管526的第一端，第二端耦接于水平總線535的對應 水平傳輸線，柵極端耦接于第二短路配線542。同理，圖5的平面顯示裝置500的柵極驅(qū)動 芯片設置區(qū)540的內(nèi)部布局也可如上述圖6的源極驅(qū)動芯片設置區(qū)520的內(nèi)部布局，而作 均等變更。在圖6所示的實施例中，于執(zhí)行陣列測試或像素測試時，每一條第一短路配線541 可耦接于水平總線535的二條對應水平傳輸線，即第一測試信號可經(jīng)由二條對應水平傳輸 線，并行饋入至對應第一短路配線541，用以降低第一測試信號的傳輸衰減。在另一均等實 施例中，于執(zhí)行陣列測試或像素測試時，每一條第一短路配線541可耦接于水平總線535的 多數(shù)條對應水平傳輸線，即第一測試信號可經(jīng)由多數(shù)條對應水平傳輸線，并行饋入至對應 第一短路配線541，用以降低第一測試信號的傳輸衰減。圖7為本發(fā)明第四實施例具測試架構(gòu)的平面顯示裝置示意圖。如圖7所示，平面 顯示裝置700在圖5的平面顯示裝置500的下基板510中，另設置多數(shù)個測試墊570。在源 極驅(qū)動芯片設置區(qū)520的每一條短路配線525包含第一端及第二端，其中第一端耦合于可 撓性印刷電路板接合區(qū)560的對應連接墊565，第二端耦合于對應測試墊570。同理，在柵 極驅(qū)動芯片設置區(qū)540的每一條短路配線525包含第一端及第二端，其中第一端耦合于可 撓性印刷電路板接合區(qū)560的對應連接墊565，第二端耦合于對應測試墊570。此外，串接 于最后的源極驅(qū)動芯片設置區(qū)520的二側(cè)邊，如同其余源極驅(qū)動芯片設置區(qū)520，均設置有 多數(shù)個第一晶體管526，而串接于最后的柵極驅(qū)動芯片設置區(qū)540的二側(cè)邊，也如同其余柵 極驅(qū)動芯片設置區(qū)540，均設置有多數(shù)個第三晶體管528。所以在執(zhí)行平面顯示裝置700的 陣列測試或像素測試時，另可利用多數(shù)個探針從多數(shù)個測試墊570輸入多數(shù)個第一測試信 號及多數(shù)個第二測試信號，即每一條短路配線525的二端均饋入測試信號以避免測試信號 衰減而影響檢測準確性。相較于現(xiàn)有技術(shù)平面顯示裝置，本發(fā)明第四實施例的平面顯示裝 置只設置少數(shù)的測試墊570以輔助測試信號輸入，所以并不會顯著限縮陣列布線的設置空 間。除上述結(jié)構(gòu)差異外，平面顯示裝置700的其余結(jié)構(gòu)同于平面顯示裝置500的結(jié)構(gòu)，所以 不再贅述。圖8為本發(fā)明第五實施例具測試架構(gòu)的平面顯示裝置示意圖。如圖8所示，平面 顯示裝置800包含下基板810、上基板890、以及夾置于下基板810與上基板890之間的液 晶層(未顯示)。上基板890為彩色濾光片，用來使平面顯示裝置800可顯示彩色畫面。下基板810包含可撓性印刷電路板接合區(qū)860、多數(shù)個源極驅(qū)動芯片設置區(qū)820、多數(shù)個第一 晶體管827、多數(shù)個第二晶體管829、多數(shù)個柵極驅(qū)動芯片設置區(qū)840、多數(shù)條數(shù)據(jù)線830、多 數(shù)條柵極線850、多數(shù)條第一短路配線841、第二短路配線842、多數(shù)條第三短路配線843、第 四短路配線844、多數(shù)個測試墊870、水平總線835、垂直總線855、及影像顯示區(qū)895。多數(shù) 條數(shù)據(jù)線830及多數(shù)條柵極線850相互交叉地設置于影像顯示區(qū)895，用來傳輸多數(shù)個數(shù)據(jù) 信號及多數(shù)個柵極信號以顯示影像?？蓳闲杂∷㈦娐钒褰雍蠀^(qū)860包含多數(shù)個連接墊865， 而水平總線835及垂直總線855的多數(shù)條水平傳輸線及多數(shù)條垂直傳輸線即分別耦接至多 數(shù)個對應連接墊865。源極驅(qū)動芯片設置區(qū)820與柵極驅(qū)動芯片設置區(qū)840分別用以設置 源極驅(qū)動芯片(未顯示)與柵極驅(qū)動芯片(未顯示)。水平總線835及垂直總線855以陣 列布線型式設置于下基板810的外引腳接合區(qū)。第一晶體管827包含第一端、第二端與柵極端，其中第一端耦接于對應第一短路 配線841，第二端耦接于對應數(shù)據(jù)線830，柵極端耦接于第二短路配線842。第二晶體管829 包含第一端、第二端與柵極端，其中第一端耦接于對應第三短路配線843，第二端耦接于對 應柵極線850，柵極端耦接于第四短路配線844。第一短路配線841的兩端均耦接于對應測 試墊870，第三短路配線843的兩端也均耦接于對應測試墊870。第二短路配線842包含第 一端及第二端，其中第一端耦接于對應測試墊870，第二端經(jīng)由垂直總線855的對應垂直傳 輸線耦合于可撓性印刷電路板接合區(qū)860的對應連接墊865，即第二端耦接于柵極驅(qū)動芯 片設置區(qū)840的對應垂直傳輸線，用以接收可撓性印刷電路板接合區(qū)860的對應連接墊865 所饋入的測試信號。第四短路配線844包含第一端及第二端，其中第一端耦接于對應測試 墊870，第二端經(jīng)由水平總線835的對應水平傳輸線耦合于可撓性印刷電路板接合區(qū)860的 對應連接墊865，即第二端耦接于源極驅(qū)動芯片設置區(qū)820的對應水平傳輸線，用以接收可 撓性印刷電路板接合區(qū)860的對應連接墊865所饋入的測試信號。在一實施例中，第一短路配線841可以只有一端耦接于對應測試墊870，第三短路 配線843也可以只有一端耦接于對應測試墊870。第二短路配線842的第二端可以經(jīng)由水 平總線835的對應水平傳輸線耦合于可撓性印刷電路板接合區(qū)860的對應連接墊865，或 直接耦接于可撓性印刷電路板接合區(qū)860的對應連接墊865。第四短路配線844的第二端 可以經(jīng)由垂直總線855的對應垂直傳輸線耦合于可撓性印刷電路板接合區(qū)860的對應連接 墊865，或直接耦接于可撓性印刷電路板接合區(qū)860的對應連接墊865。在另一實施例中， 第二短路配線842可以耦接于第四短路配線844，并均經(jīng)由水平總線835的對應水平傳輸線 或垂直總線855的對應垂直傳輸線耦合于可撓性印刷電路板接合區(qū)860的對應連接墊865， 或均直接耦接于可撓性印刷電路板接合區(qū)860的對應連接墊865。在執(zhí)行平面顯示裝置800的陣列測試或像素測試時，多數(shù)個第一測試信號即從多 數(shù)個對應測試墊870饋入，經(jīng)由多數(shù)條第一短路配線841及多數(shù)個第一晶體管827而傳送 至多數(shù)條對應數(shù)據(jù)線830。另有第一測試致能信號經(jīng)由可撓性印刷電路板接合區(qū)860的對 應連接墊865、垂直總線855的對應垂直傳輸線、及第二短路配線842而饋入至多數(shù)個第一 晶體管827的柵極，用以致能多數(shù)個第一晶體管827。此外，多數(shù)個第二測試信號則從多數(shù) 個對應測試墊870饋入，經(jīng)由多數(shù)條第三短路配線843及多數(shù)個第二晶體管829而傳送至 多數(shù)條對應柵極線850。另有第二測試致能信號經(jīng)由可撓性印刷電路板接合區(qū)860的對應 連接墊865、水平總線835的對應水平傳輸線、及第四短路配線844而饋入至多數(shù)個第二晶體管829的柵極，用以致能多數(shù)個第二晶體管829。在完成陣列測試及像素測試后，貼附多數(shù)個源極驅(qū)動芯片及多數(shù)個柵極驅(qū)動芯片 以執(zhí)行影像顯示時，第一測試致能信號被設為除能信號，使多數(shù)個第一晶體管827均切換 至截止狀態(tài)，用以除能多數(shù)條第一短路配線841與多數(shù)條數(shù)據(jù)線830之間的信號傳輸功能， 此外第二測試致能信號也被設為除能信號，使多數(shù)個第二晶體管829均切換至截止狀態(tài)， 用以除能多數(shù)條第三短路配線843與多數(shù)條柵極線850之間的信號傳輸功能。因此平面顯 示裝置800可在不受多數(shù)條第一短路配線841及多數(shù)條第三短路配線843的影響下，而執(zhí) 行正常影像顯示操作。由上述可知，在本發(fā)明第五實施例的平面顯示裝置的工藝中，并不需要利用激光 切割工藝以切斷多數(shù)條第一短路配線841與多數(shù)條數(shù)據(jù)線830之間的聯(lián)機，及切斷多數(shù)條 第三短路配線843與多數(shù)條柵極線850之間的聯(lián)機，所以可避免因進行激光切割工藝而產(chǎn) 生微粒污染產(chǎn)品導致低產(chǎn)品輸出率，此外，現(xiàn)有技術(shù)工藝所需的激光切割機臺就可省略不 用而降低生產(chǎn)成本。當然，本發(fā)明還可有其它多種實施例，在不背離本發(fā)明精神及其實質(zhì)的情況下，熟 悉本領(lǐng)域的技術(shù)人員當可根據(jù)本發(fā)明作出各種相應的改變和變形，但這些相應的改變和變 形都應屬于本發(fā)明所附的權(quán)利要求的保護范圍。
權(quán)利要求
一種具測試架構(gòu)的平面顯示裝置，其特征在于，包含一基板，包含一可撓性印刷電路板接合區(qū)，該可撓性印刷電路板接合區(qū)包含多數(shù)個連接墊；多數(shù)條傳輸線，設置于該基板上，每一條傳輸線耦接于該些連接墊的一對應連接墊；多數(shù)條信號線，平行地設置于該基板上；多數(shù)條短路配線，設置于該基板上；以及多數(shù)個晶體管，設置于該基板上，每一個晶體管包含一第一端，耦接于該些短路配線的一對應短路配線；一第二端，耦接于該些信號線的一對應信號線；以及一柵極端，耦接于該些傳輸線的一柵極信號傳輸線；一第一測試墊，設置于該基板上；該柵極信號傳輸線一端耦接對應連接墊，另一端耦接第一測試墊。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的平面顯示裝置，其特征在于，該基板另包含多數(shù)個驅(qū)動芯片 設置區(qū)，該柵極信號傳輸線經(jīng)由該些驅(qū)動芯片設置區(qū)的至少一個驅(qū)動芯片設置區(qū)耦接于該 些連接墊的一對應連接墊。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的平面顯示裝置，其特征在于，另包含至少一第二測試墊，設 置于該基板上，該第二測試墊耦接于該些短路配線的一對應短路配線。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的平面顯示裝置，其特征在于，該些信號線為多數(shù)條數(shù)據(jù)線或 多數(shù)條柵極線。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種具測試架構(gòu)的平面顯示裝置，用以避免短路配線設置于外引腳接合區(qū)而限縮總線的陣列布線面積。此平面顯示裝置包含一基板，包含一可撓性印刷電路板接合區(qū)，該可撓性印刷電路板接合區(qū)包含多數(shù)個連接墊；多數(shù)條傳輸線，設置于該基板上，每一條傳輸線耦接于該些連接墊的一對應連接墊；多數(shù)條信號線，平行地設置于該基板上；多數(shù)條短路配線，設置于該基板上；以及多數(shù)個晶體管，設置于該基板上，每一個晶體管包含一第一端，耦接于該些短路配線的一對應短路配線；一第二端，耦接于該些信號線的一對應信號線；以及一柵極端，耦接于該些傳輸線的一柵極信號傳輸線；該柵極信號傳輸線一端耦接對應連接墊，另一端耦接第一測試墊。
文檔編號G02F1/13GK101950109SQ20101027436
公開日2011年1月19日 申請日期2008年5月23日 優(yōu)先權(quán)日2008年5月23日
發(fā)明者劉俊欣, 劉柏源, 蔡宗廷, 陳勇志 申請人:友達光電股份有限公司