專(zhuān)利名稱：面板測(cè)試治具的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是關(guān)于一種面板測(cè)試治具，特別是關(guān)于一種可適應(yīng)于不同尺寸的面板進(jìn)行 點(diǎn)亮測(cè)試的面板測(cè)試治具。
背景技術(shù)：
近年來(lái)，具有高畫(huà)質(zhì)、空間利用效率佳、低消耗功率、無(wú)輻射等優(yōu)越特性的液晶顯 示器(Liquid Crystal Display，LCD)已逐漸成為市場(chǎng)的主流?，F(xiàn)有習(xí)知的液晶顯示面板在用ACF膠熱壓合面板的FPC之后會(huì)進(jìn)行液晶顯示面板 的點(diǎn)亮測(cè)試作業(yè)，以檢測(cè)液晶顯示面板的電路及顯示狀況。請(qǐng)參照?qǐng)D1、圖2和圖3，圖1是 現(xiàn)有的面板測(cè)試治具的立體圖，圖2是現(xiàn)有的面板測(cè)試治具的探針座的示意圖，圖3是現(xiàn)有 的面板測(cè)試治具的探針連接測(cè)試電路板與待測(cè)面板的電路板的示意圖。現(xiàn)有的面板測(cè)試治 具100包含底座110、上蓋160、測(cè)試電路板180、探針座150以及探針152。該底座110具 有面板放置槽130和面板的電路板放置槽140，上蓋160蓋合后可夾持面板170的電路板 171，并使面板的電路板171、探針152以及測(cè)試電路板180點(diǎn)連接，用于面板170的點(diǎn)亮測(cè) 試，如圖3所示。如圖1所示，現(xiàn)有的面板測(cè)試治具對(duì)于不同尺寸或規(guī)格的產(chǎn)品不能共用， 更換產(chǎn)品后治具無(wú)法使用從而造成大量的浪費(fèi)。另外，目前的探針152為內(nèi)部具有彈簧153 并可兩端伸縮的結(jié)構(gòu)，這種探針的價(jià)格較高，大量地使用探針152使得面板測(cè)試治具的成 本較高。因此，設(shè)計(jì)出一種低成本并可適用不同尺寸的產(chǎn)品的測(cè)試治具是非常有意義的。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于于此，本發(fā)明提供一種面板測(cè)試治具，所述面板測(cè)試治具包含基座、測(cè)試電路 板、夾持組件、第一卡槽、探針組件以及第二卡槽。該基座具有放置槽，該測(cè)試電路板設(shè)置于 該放置槽中，用以提供面板的測(cè)試信號(hào)。該夾持組件包括上蓋板和下蓋板，該上蓋板具有一 抵壓元件，該上蓋板樞接于下蓋板的一側(cè)邊，該下蓋板可拆卸地設(shè)置于該測(cè)試電路板上。該 第一卡槽具有第一凹槽，用于容置該面板的電路板，該第一卡槽可拆卸地設(shè)置于該測(cè)試電 路板上。該探針組件包括探針座和探針，該探針組件設(shè)置于該測(cè)試電路板上并位于該下蓋 板和該第一卡槽之間。該第二卡槽具有第二凹槽，用于容置該面板，該第二卡槽可拆卸地設(shè) 置于該放置槽中。所述夾持組件進(jìn)一步包含卡勾和卡扣部，該卡勾和該卡扣部配合用以扣合該上蓋 板和該下蓋板。所述探針為幾字形或E字形。所述探針為金屬薄片。所述第一卡槽具有不同尺寸，以容置不同尺寸的該面板的電路板。所述第二卡槽具有不同尺寸，以容置不同尺寸的該面板。所述探針組件具有預(yù)留的探針，用以配合不同尺寸的該面板的電路板。所述第二卡槽具有讓位槽。
所述測(cè)試電路板和第一卡槽的厚度之和等于該放置槽的深度。所述第二卡槽的厚度等于該放置槽的深度。本發(fā)明的面板測(cè)試治具成本低廉并可適應(yīng)于不同尺寸的面板進(jìn)行點(diǎn)亮測(cè)試。關(guān)于 本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)與精神可以由以下的


及具體實(shí)施方式
詳述得到進(jìn)一步的了解。

圖1是現(xiàn)有的面板測(cè)試治具立體圖。圖2是現(xiàn)有的面板測(cè)試治具的探針座的示意3是圖1中探針連接測(cè)試電路板和面板的電路板的示意圖。圖4是本發(fā)明面板測(cè)試治具的立體圖。圖5a和圖5b是本發(fā)明面板測(cè)試治具的探針示意圖。圖6是圖4中第一卡槽的立體圖。圖7是圖4中第二卡槽的立體圖。圖8是待測(cè)面板的示意圖。
具體實(shí)施例方式請(qǐng)參照?qǐng)D4，圖4是本發(fā)明面板測(cè)試治具的立體圖。如圖4所示，面板測(cè)試治具200 包含基座210、測(cè)試電路板220、夾持組件230、第一卡槽240、探針組件250以及第二卡槽 260。基座210具有放置槽211，測(cè)試電路板220設(shè)置于該放置槽211中，用以提供面板270 的測(cè)試電信號(hào)。夾持組件230包括上蓋板232和下蓋板231，上蓋板232上具有一抵壓元件 233，上蓋板232樞接于下蓋板231的一側(cè)邊，下蓋板231可拆卸地設(shè)置于測(cè)試電路板220 上。第一卡槽240具有第一凹槽241，用于容置面板270的電路板272，第一卡槽240可拆 卸地設(shè)置于測(cè)試電路板220上。探針組件250包括探針座251和探針252，探針組件250設(shè) 置于測(cè)試電路板220上并位于下蓋板231和第一卡槽240之間。第二卡槽260具有第二凹 槽261，用于容置面板270，第二卡槽260可拆卸地設(shè)置于放置槽211中。進(jìn)行面板270點(diǎn) 亮測(cè)試時(shí)，先將面板270放置于第二卡槽260的第二凹槽261中，將面板的電路板272放置 于第一卡槽240具有第一凹槽241內(nèi)，面板的電路板272的前端覆蓋探針組件250，再蓋合 上蓋板232和下蓋板231，抵壓元件233抵壓面板的電路板272使面板的電路板272、探針 252以及測(cè)試電路板220電性連接，進(jìn)行點(diǎn)亮測(cè)試。如圖4所示，上蓋板232和下蓋板231 的蓋合可以通過(guò)卡勾234和卡扣部235的配合來(lái)實(shí)現(xiàn)。本發(fā)明的第一卡槽240、第二卡槽 260可通過(guò)螺絲固定，但不以此為限。請(qǐng)參照?qǐng)D4、圖5a和圖5b，圖5a和圖5b是本發(fā)明面板測(cè)試治具的探針示意圖。 由于現(xiàn)有兩端伸縮式的探針的成本較高，為減少成本并實(shí)現(xiàn)原有探針可伸縮具有緩沖的特 點(diǎn)，本發(fā)明設(shè)計(jì)的探針252采用沖壓制程形成的具備韌性的金屬薄片來(lái)代替，其形狀可為 如圖5a和圖5b所示的幾字形或E字形。本發(fā)明幾字形或E字形探針252在測(cè)試治具200 下壓測(cè)試時(shí)受壓發(fā)生彈性形變，當(dāng)測(cè)試完成后打開(kāi)上蓋板232，探針252恢復(fù)幾字形或E字 形，E字形相較于幾字形在探針兩彎折段的中間增加一突出的橫條，這樣探針兩彎折段到中 間橫條的距離是原來(lái)兩彎折段之間距離的一半，可增強(qiáng)探針252的恢復(fù)力并延長(zhǎng)其使用壽 命。采用新設(shè)計(jì)的探針252的測(cè)試治具200的成本大幅降低。另外，本發(fā)明的探針座251內(nèi)設(shè)置多根探針252，其中一部分探針252為備用探針，例如有的產(chǎn)品測(cè)試時(shí)需要5根探針， 而有的產(chǎn)品測(cè)試時(shí)可能需要8根探針，為了不同的產(chǎn)品可共用，本發(fā)明面板測(cè)試治具的探 針組件250預(yù)留部分備用探針252，通過(guò)改變上蓋板232上的抵壓元件的寬度，可對(duì)應(yīng)于不 同數(shù)目的探針252，實(shí)現(xiàn)不同產(chǎn)品的共用。請(qǐng)同時(shí)參照?qǐng)D4、圖6、圖7和圖8。圖6是圖4中第一卡槽的立體圖，圖 7是圖4 中第二卡槽的立體圖，圖8是待測(cè)面板的示意圖。眾所周知，不同產(chǎn)品的面板270尺寸和形 狀規(guī)格各不相同，不同的面板270其上的電路板272形狀、寬度等也不相同，即使是相同的 面板270其上的電路板272也可能會(huì)有不同尺寸和規(guī)格。為了適應(yīng)不同的產(chǎn)品需要，本發(fā) 明面板測(cè)試治具的第一卡槽240可以設(shè)計(jì)為不同的尺寸和規(guī)格，第二卡槽260也可以設(shè)計(jì) 為不同的尺寸和規(guī)格，使第一卡槽240和第二卡槽260可以滿足容置不同尺寸的面板270 和其上的電路板272。例如，當(dāng)待測(cè)面板270的電路板272寬度變寬時(shí)，可拆下原來(lái)的第一 卡槽240換上一個(gè)新的第一卡槽240，其具有更大寬度的第一凹槽241以適應(yīng)新的電路板 272。相同的，當(dāng)待測(cè)面板270的尺寸有變化，可拆下原第二卡槽260，換上一個(gè)與新面板270 相適合的第二卡槽260，本發(fā)明通過(guò)可更換不同尺寸(或形狀)的第一卡槽或第二卡槽來(lái) 滿足不同產(chǎn)品的需要，實(shí)現(xiàn)面板測(cè)試治具共用。同時(shí)，本發(fā)明面板測(cè)試治具200的第二卡槽 260還可包含讓位槽262，便于操作人員取出或放置面板270。另外，測(cè)試電路板220和第 一卡槽240的厚度之和等于該放置槽211的深度，由于第二卡槽260直接放置于放置槽211 內(nèi)，因此第二卡槽260的厚度可等于該放置槽的深度。本發(fā)明的面板測(cè)試治具成本低廉并可適應(yīng)于不同尺寸的面板進(jìn)行點(diǎn)亮測(cè)試。根據(jù) 以上具體實(shí)施方式
的詳述，希望能更加清楚描述本發(fā)明的特征與精神，而并非以上述所揭 露的具體實(shí)施方式
來(lái)對(duì)本發(fā)明加以限制。
權(quán)利要求
一種面板測(cè)試治具，其特征在于，包含基座，具有放置槽；測(cè)試電路板，設(shè)置于該放置槽中，用以提供面板的測(cè)試信號(hào)；夾持組件，包括上蓋板和下蓋板，該上蓋板具有一抵壓元件，該上蓋板樞接于下蓋板的一側(cè)邊，該下蓋板可拆卸地設(shè)置于該測(cè)試電路板上；第一卡槽，具有第一凹槽，用于容置該面板的電路板，該第一卡槽可拆卸地設(shè)置于該測(cè)試電路板上；探針組件，包括探針座和探針，該探針組件設(shè)置于該測(cè)試電路板上并位于該下蓋板和該第一卡槽之間；以及第二卡槽，具有第二凹槽，用于容置該面板，該第二卡槽可拆卸地設(shè)置于該放置槽中。
2.如權(quán)利要求1所述的面板測(cè)試治具，其特征在于所述夾持組件進(jìn)一步包含卡勾和 卡扣部，該卡勾和該卡扣部配合用以扣合該上蓋板和該下蓋板。
3.如權(quán)利要求1所述的面板測(cè)試治具，其特征在于所述探針為幾字形或E字形。
4.如權(quán)利要求3所述的面板測(cè)試治具，其特征在于所述探針為金屬薄片。
5.如權(quán)利要求1所述的面板測(cè)試治具，其特征在于所述第一卡槽具有不同尺寸，以容 置不同尺寸的該面板的電路板。
6.如權(quán)利要求1所述的面板測(cè)試治具，其特征在于所述第二卡槽具有不同尺寸，以容 置不同尺寸的該面板。
7.如權(quán)利要求1所述的面板測(cè)試治具，其特征在于所述探針組件具有預(yù)留的探針，用 以配合不同尺寸的該面板的電路板。
8.如權(quán)利要求1所述的面板測(cè)試治具，其特征在于所述第二卡槽具有讓位槽。
9.如權(quán)利要求1所述的面板測(cè)試治具，其特征在于所述測(cè)試電路板和第一卡槽的厚 度之和等于該放置槽的深度。
10.如權(quán)利要求1所述的面板測(cè)試治具，其特征在于所述第二卡槽的厚度等于該放置 槽的深度。
全文摘要
本發(fā)明是關(guān)于一種面板測(cè)試治具，包含基座、測(cè)試電路板、夾持組件、第一卡槽、探針組件以及第二卡槽?；哂蟹胖貌?，測(cè)試電路板設(shè)置于放置槽中。夾持組件包括上蓋板和下蓋板，上蓋板具有一抵壓元件，上蓋板樞接于下蓋板的一側(cè)邊，下蓋板可拆卸地設(shè)置于測(cè)試電路板上。第一卡槽用于容置面板的電路板，可拆卸地設(shè)置于測(cè)試電路板上。探針組件設(shè)置于測(cè)試電路板上并位于下蓋板和第一卡槽之間。第二卡槽用于容置面板，可拆卸地設(shè)置于放置槽中。本發(fā)明通過(guò)可更換不同尺寸(或形狀)的第一卡槽或第二卡槽來(lái)滿足不同面板產(chǎn)品的需要，實(shí)現(xiàn)面板測(cè)試治具共用。
文檔編號(hào)G02F1/13GK101840082SQ20101015819
公開(kāi)日2010年9月22日 申請(qǐng)日期2010年3月24日 優(yōu)先權(quán)日2010年3月24日
發(fā)明者劉玉濤, 許翔, 黃木通 申請(qǐng)人:友達(dá)光電(廈門(mén))有限公司;友達(dá)光電股份有限公司