專利名稱：破片分析裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及玻璃基板破片的分析裝置，尤其涉及一種可以快速回收破片的 破片分析裝置。
背景技術(shù)：
在玻璃基板的制造過(guò)程中，工藝產(chǎn)生不良應(yīng)力或材料缺陷，玻璃基板可能 產(chǎn)生破裂的情形。玻璃基板于機(jī)臺(tái)破裂形成的破片，加以收集后拼圖，拼接的 裂痕可用于分析玻璃基板破裂原因，以判斷基板工藝或是材料需要修改。
目前進(jìn)行破片分析的方法，為先收集玻璃基板破裂之后的破片，并搬運(yùn)至 一空曠處。再將破裂的基板拼接成完整的基板，以檢視玻璃基板的破裂情形。 破片分析完成之后，再一一將破片丟棄至一報(bào)廢盒內(nèi)。破片搬運(yùn)時(shí)，需由人員 手動(dòng)搬運(yùn)，易造成碎片散落而造成污染，也容易造成破片報(bào)廢時(shí)人力的浪費(fèi)。
因此，如何分析破片，并于分析完成后安全地收集并廢棄破片，為此領(lǐng)域 所需迫切面臨的課題。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此，本發(fā)明所要解決的技術(shù)問(wèn)題在于提出一種破片分析裝置，可于 分析破片之后安全且快速地收集破片。
為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供一種破片分析裝置，包含一基座、 一分析 臺(tái)、及至少一導(dǎo)引裝置。基座內(nèi)部具有一容置空間，且基座的頂部具有一開(kāi)口 連通容置空間。分析臺(tái)設(shè)置于基座上，具有平臺(tái)部且平臺(tái)部用以承載破片。導(dǎo) 引裝置連接基座與分析臺(tái)，其中導(dǎo)引裝置具有第一導(dǎo)引方向及第二導(dǎo)引方向， 且導(dǎo)引裝置導(dǎo)引分析臺(tái)沿第一導(dǎo)引方向或沿第二導(dǎo)引方向位移，使分析臺(tái)位于 容置空間內(nèi)或者位于開(kāi)口上方。
本發(fā)明通過(guò)具有平臺(tái)部的分析臺(tái)承載破片，且可于破片分析完成之后，通 過(guò)導(dǎo)引裝置導(dǎo)引分析臺(tái)移動(dòng)以收集至容置空間內(nèi)，避免破片污染環(huán)境。同時(shí)，說(shuō)明書(shū)第2/5頁(yè)
導(dǎo)引裝置連接分析臺(tái)及基座，且分析臺(tái)也可以進(jìn)一步移動(dòng)至容置空間中，避免 分析臺(tái)自基座脫落，也確保容置空間在移動(dòng)過(guò)程中被分析臺(tái)密封，降低因基座 傾倒導(dǎo)致破片散落的危機(jī)。
有關(guān)本發(fā)明的較佳實(shí)施例及其功效，茲配合


如后。

圖1A、 1B、 、 1C、與圖1D為本發(fā)明第一實(shí)施例的立體圖； 圖2為圖1C的局部放大圖3A、 3B、 3C、與圖3D為本發(fā)明第一實(shí)施例的剖面示意圖； 圖4A、 4B、 4C、與圖4D為本發(fā)明第二實(shí)施例的立體圖； 圖5為本發(fā)明第三實(shí)施例的剖面示意圖； 圖6為本發(fā)明第四實(shí)施例的剖面示意圖。 其中，附圖標(biāo)記
10:基座12:容置空間
14:開(kāi)口16:窗口
20:分析臺(tái)22:平臺(tái)部
221.坐標(biāo)網(wǎng)格線24:蓋板部
26:側(cè)板部261r定位標(biāo)記
28:扣鎖件30:導(dǎo)引裝置
32:第一導(dǎo)軌34:第二導(dǎo)軌
36:樞接元件361:連接件
363樞軸40:第一輪組件
50:收集箱52:收集口
54:第二輪組件60:門(mén)組件
70:連桿組72:第一連桿
73:第二連桿74:伸縮桿
具體實(shí)施例方式
請(qǐng)參照?qǐng)D1A、圖1B、圖1C、及圖1D，為本發(fā)明第一實(shí)施例所揭露的一種 破片分析裝置，破片分析裝置包含一基座10、 一分析臺(tái)20、及二導(dǎo)引裝置30。
破片分析裝置用以分析破裂基板的破片，并于分析完成后快速搜集破片以廢 棄，前述的破裂基板可為玻璃基板、面板或晶圓等。
請(qǐng)繼續(xù)參閱圖1A、圖1B、圖1C、及圖1D，基座10內(nèi)部具有一容置空間 12，且基座10的頂部具有一開(kāi)口 14，其連通容置空間12。分析臺(tái)20可移動(dòng) 地設(shè)置于基座10之上，分析臺(tái)20具有一平臺(tái)部22、 一蓋板部24、及二側(cè)板 部26。平臺(tái)部22用以承載破片且具有多數(shù)個(gè)坐標(biāo)網(wǎng)格線221，繪制于平臺(tái)部 22的表面。當(dāng)基板的破片排列在平臺(tái)部22時(shí)，工程師能直接得知裂痕于基板 上的相對(duì)位置，借以分析破裂發(fā)生原因。蓋板部24設(shè)置于平臺(tái)部22的側(cè)邊緣， 而側(cè)板部26設(shè)置于平臺(tái)部22其余的側(cè)邊緣。其中，于各側(cè)板部26具有多數(shù) 個(gè)定位標(biāo)記261，繪制于各側(cè)板部26靠近平臺(tái)部22的一表面，用以輔助坐標(biāo) 網(wǎng)格線221，或單獨(dú)用于破裂位置分析。此外，基座10的底部設(shè)置第一輪組 件40，用以使基座10容易移動(dòng)。
結(jié)合參照?qǐng)D2、圖3A、圖3B、圖3C及圖3D，導(dǎo)引裝置30用以連接基座 10與分析臺(tái)20。導(dǎo)引裝置30具有一第一導(dǎo)引方向Gl及一第二導(dǎo)引G2方向， 且導(dǎo)引裝置30較佳包含一第一導(dǎo)軌32、 一第二導(dǎo)軌34及一樞接元件36。第 一導(dǎo)軌32設(shè)置于基座10，且沿第一導(dǎo)引方向G1延伸。第二導(dǎo)軌34設(shè)置于分 析臺(tái)20的側(cè)板部26外側(cè)。樞接元件36較佳包含一連接件361及二樞軸363， 其中樞軸363分設(shè)于連接件361的二端，且樞軸363其中之一樞接于第一導(dǎo)軌 32，另一樞軸363樞接于第二導(dǎo)軌34，借以導(dǎo)引分析臺(tái)20沿第-一導(dǎo)引方向Gl 及第二導(dǎo)引方向G2位移。
分析臺(tái)20可通過(guò)樞軸363相對(duì)于基座10旋轉(zhuǎn)，改變分析臺(tái)20相對(duì)于基 座10的傾角，使分析臺(tái)20垂直地移動(dòng)進(jìn)入容置空間12中并以蓋板部24覆蓋 開(kāi)口 14，或水平地置于開(kāi)口 14上方而以平臺(tái)部22覆蓋開(kāi)口 14。
請(qǐng)繼續(xù)參閱圖1A、圖1B、圖1C、圖3A、圖3B、圖3C、及圖3D，當(dāng)基板 于機(jī)臺(tái)上發(fā)生破片時(shí)，使用者可將基座10通過(guò)第一輪組件40推往機(jī)臺(tái)邊，并 沿第一導(dǎo)引方向Gl由容置空間12中取出分析臺(tái)20，并設(shè)置分析臺(tái)20于開(kāi)口 14上方。將破片收集排列至平臺(tái)部22上，使用者可通過(guò)平臺(tái)部22上的坐標(biāo) 網(wǎng)格線221及側(cè)板部26邊的定位標(biāo)記261，分析破片破裂方式，以進(jìn)行后續(xù) 改進(jìn)以及分析。當(dāng)分析完破片之后，將分析臺(tái)20沿第二導(dǎo)引方向G2移動(dòng)并相 對(duì)于基座IO轉(zhuǎn)動(dòng)，令位于平臺(tái)部22上的破片由開(kāi)口 14滑入容置空間12內(nèi)，
并收集在容置空間12，避免破片散落于無(wú)塵室內(nèi)，而造成污染。
參閱圖4A、圖4B、圖4C、及圖4D所示，為本發(fā)明第二實(shí)施例所揭露的 一種破片分析裝置，于此，破片分析裝置由兩個(gè)分析臺(tái)20組合而成，且可移 動(dòng)地設(shè)置于基座10之上，各分析臺(tái)20具有一平臺(tái)部22、 一蓋板部24、及二 側(cè)板部26。蓋板部24設(shè)置于平臺(tái)部22的一側(cè)邊緣，而二側(cè)板部26相對(duì)地設(shè) 置于平臺(tái)部22其余的側(cè)邊緣。
破片分析裝置更包含一可移動(dòng)的收集箱50，設(shè)置于容置空間12內(nèi)，且收 集箱50具有面對(duì)開(kāi)口 14的一收集口 52。收集箱50的底部設(shè)置一第二輪組件 54，用以使收集箱50容易移動(dòng)?；?0的一側(cè)面具有一窗口 16，用以供收 集箱50通過(guò)。而在窗口 16的邊緣樞接一門(mén)組件60，用以開(kāi)啟或關(guān)閉窗口 16。
當(dāng)分析破片時(shí)，二分析臺(tái)20沿第一導(dǎo)引方向由容置空間12中取出，并可 于開(kāi)口 14上方合并在一起，使二分析臺(tái)20的平臺(tái)部22位于同一水平面上并 結(jié)合為單一平臺(tái)。二平臺(tái)部22之間，可被一扣鎖件28扣合，以使平臺(tái)部22 不會(huì)互相分離。破片為收集排列至二平臺(tái)部22上，使用者可通過(guò)平臺(tái)部22 上的坐標(biāo)網(wǎng)格線221及側(cè)板部26邊的定位標(biāo)記261，分析破片破裂方式，以 進(jìn)行后續(xù)改進(jìn)以及分析。當(dāng)分析完破片之后，將分析臺(tái)20沿第二導(dǎo)引方向向 兩側(cè)拉開(kāi)，位于平臺(tái)部22上的破片由開(kāi)口 14滑入容置空間12內(nèi)。將分析完 畢的破片收集在容置空間12內(nèi)的收集箱50中，避免碎片散落于無(wú)塵室內(nèi)，而 造成污染。并且在清運(yùn)時(shí)，更可以方便移動(dòng)及清除破片。二分析臺(tái)20也可收 納至容置空間12，并以蓋板部24封閉基座10的開(kāi)口 14。
請(qǐng)參照?qǐng)D5，為本發(fā)明第三實(shí)施例所揭露的一種破片分析裝置。于本實(shí)施 例中，導(dǎo)引裝置30為一連桿組70，其中，連桿組70的一端連接于基座K), 另一端連接于分析臺(tái)20,使分析臺(tái)20沿第一導(dǎo)引方向或第二導(dǎo)引方向位移而 位于容置空間12內(nèi)或者位于開(kāi)口 14上方。
上述說(shuō)明的連桿組70包含互相連接的第一連桿72及第二連桿73，其中， 第一連桿72連接于分析臺(tái)20，而第二連桿73連接于基座10。借此使分析臺(tái) 20沿第一導(dǎo)引方向或沿第二導(dǎo)引方向位移。
請(qǐng)參照?qǐng)D6，為本發(fā)明第四實(shí)施例所揭露的一種破片分析裝置。于本實(shí)施 例中，連桿組70除包括第一連桿72及第二連桿73夕卜，更包括一可變長(zhǎng)度的 伸縮桿74，連接該第一連桿72及該第二連桿73，用以升降分析臺(tái)20，但非
以此為限。
本發(fā)明通過(guò)具有平臺(tái)部22的分析臺(tái)20承載破片，且可于破片分析完成之 后，通過(guò)導(dǎo)引裝置30導(dǎo)引分析臺(tái)20移動(dòng)至容置空間12內(nèi)，避免破片污染環(huán) 境。同時(shí)，導(dǎo)引裝置30連接分析臺(tái)20及基座10，且分析臺(tái)也可以進(jìn)一步移 動(dòng)至容置空間12中，避免分析臺(tái)20自基座10脫落，也確保容置空間12在移 動(dòng)過(guò)程中被分析臺(tái)密封，降低因基座傾倒導(dǎo)致破片散落的危機(jī)。
另外，雖然上述實(shí)施例之導(dǎo)引裝置是以導(dǎo)軌與樞接元件的組合或者以連桿 組為例，但不限于此，只要能符合本發(fā)明的導(dǎo)引裝置的概念者均可使用，亦即， 任何可連接基座與分析臺(tái)，且可導(dǎo)引分析臺(tái)沿第一導(dǎo)引方向或沿第二導(dǎo)引方向 位移，讓分析臺(tái)位于容置空間內(nèi)或者位于開(kāi)口上方的導(dǎo)引裝置均可運(yùn)用于本發(fā) 明。
當(dāng)然，本發(fā)明還可有其它多種實(shí)施例，在不背離本發(fā)明精神及其實(shí)質(zhì)的情 況下，熟悉本領(lǐng)域的技術(shù)人員當(dāng)可根據(jù)本發(fā)明作出各種相應(yīng)的改變和變形，但 這些相應(yīng)的改變和變形都應(yīng)屬于本發(fā)明所附的權(quán)利要求的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求
1.一種破片分析裝置，其特征在于，包含一基座，具有一容置空間，且該基座的頂部具有一開(kāi)口，連通該容置空間；一分析臺(tái)，設(shè)置于該基座，具有一平臺(tái)部用以承載破片；及至少一導(dǎo)引裝置，連接該基座與該分析臺(tái)，該導(dǎo)引裝置具有一第一導(dǎo)引方向及一第二導(dǎo)引方向，且該導(dǎo)引裝置導(dǎo)引該分析臺(tái)沿該第一導(dǎo)引方向或沿該第二導(dǎo)引方向位移，使該分析臺(tái)位于該容置空間內(nèi)或者位于該開(kāi)口上方。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的破片分析裝置，其特征在于，還包含一第一輪組 件，設(shè)置于該基座的底部。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的破片分析裝置，其特征在于，該分析臺(tái)更包含--蓋板部，設(shè)置于該平臺(tái)部的側(cè)邊緣。
4. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的破片分析裝置，其特征在于，該分析臺(tái)還包括至 少二側(cè)板部，設(shè)置于該平臺(tái)部的側(cè)邊緣。
5. 根據(jù)權(quán)利要求4所述的破片分析裝置，其特征在于，該二側(cè)板部分別具 有多數(shù)個(gè)定位標(biāo)記，繪制于各該側(cè)板部靠近該平臺(tái)部的一表面。
6. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的破片分析裝置，其特征在于，該平臺(tái)部具有多數(shù)個(gè)坐標(biāo)網(wǎng)格線，繪制于該平臺(tái)部的一表面。
7. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的破片分析裝置，其還包括一收集箱，設(shè)置于該容置空間中，且該收集箱具有靠近該開(kāi)口的一收集口。
8. 根據(jù)權(quán)利要求7所述的破片分析裝置，其特征在于，該基座的一側(cè)面具 有一窗口，用以供該收集箱通過(guò)。
9. 根據(jù)權(quán)利要求8所述的破片分析裝置，其特征在于，包含一門(mén)組件，樞 接于該窗口的邊緣，用以開(kāi)啟或關(guān)閉該窗口。
10. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的破片分析裝置，其特征在于，該導(dǎo)引裝置包含一第一導(dǎo)軌，設(shè)置于該基座，沿該第一導(dǎo)引方向延伸； 一第二導(dǎo)軌，設(shè)置于該分析臺(tái)；及一樞接元件，樞接該第一導(dǎo)軌及該第二導(dǎo)軌，使該分析臺(tái)的該第二導(dǎo)軌沿 該第一導(dǎo)引方向或沿該第二導(dǎo)引方向位移。
11. 根據(jù)權(quán)利要求io所述的破片分析裝置，其特征在于，該樞接元件包含一連接件及二樞軸，其中該二樞軸設(shè)置于該連接件的兩端，且分別樞接于 該第一導(dǎo)軌及該第二導(dǎo)軌。
12. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的破片分析裝置，其特征在于，該導(dǎo)引裝置為 一連桿組，該連桿組的一端連接于該基座，另一端連接于該分析臺(tái)，使該分析 臺(tái)沿該第一導(dǎo)引方向或該第二導(dǎo)引方向位移而位于該容置空間內(nèi)或者位于該 開(kāi)口上方。
13. 根據(jù)權(quán)利要求12所述的破片分析裝置，其特征在于，該連桿組包含互相連接的一第一連桿及一第二連桿，該第一連桿連接于該分析臺(tái)，而該第 二連桿連接于該基座。
14. 根據(jù)權(quán)利要求13所述的破片分析裝置，其特征在于，該連桿組還 包括一可變長(zhǎng)度的伸縮桿，連接該第一連桿及該第二連桿。
15. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的破片分析裝置，其特征在于，該分析臺(tái)可選 擇地以該平臺(tái)部或該蓋板部覆蓋于該開(kāi)口。
16. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的破片分析裝置，其特征在于，該第一導(dǎo)引方 向垂直于該第二導(dǎo)引方向。
全文摘要
本發(fā)明公開(kāi)了一種破片分析裝置，包含一基座、一分析臺(tái)以及至少一導(dǎo)引裝置?；哂幸蝗葜每臻g，且基座的頂部具有一開(kāi)口，以連通至容置空間。分析臺(tái)設(shè)置于基座，其中分析臺(tái)具有一平臺(tái)部，平臺(tái)部用以承載待分析的破片。導(dǎo)引裝置連接基座與分析臺(tái)，且導(dǎo)引裝置具有一第一導(dǎo)引方向及一第二導(dǎo)引方向。導(dǎo)引裝置用以導(dǎo)引分析臺(tái)沿第一導(dǎo)引方向或沿第二導(dǎo)引方向位移，使分析臺(tái)位于開(kāi)口上方以承載待分析破片，或者位于容置空間內(nèi)并收集破片于容置空間中。
文檔編號(hào)G02F1/13GK101368891SQ20081016793
公開(kāi)日2009年2月18日 申請(qǐng)日期2008年10月16日 優(yōu)先權(quán)日2008年10月16日
發(fā)明者林亨龍, 趙育舜 申請(qǐng)人:友達(dá)光電股份有限公司