專利名稱：帶監(jiān)測(cè)器的可調(diào)式光衰減器的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
帶監(jiān)測(cè)器的可調(diào)式光衰減器技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種光纖通訊光器件，特別涉及一種帶有監(jiān)測(cè)器 的可調(diào)式光衰減器。背景技術(shù)：
在MEMS制成的衰減器，其中兩種常用方案常被波長(zhǎng)相關(guān)損耗 值較大所罔擾。第一種方案為它包括兩準(zhǔn)直器，MEMS推動(dòng)的遮光 片，由于不同波長(zhǎng)模場(chǎng)直徑不一樣，這樣遮光式衰減器容易產(chǎn)生波長(zhǎng) 相關(guān)損耗值較大特點(diǎn)。第二種方案為雙光纖頭、透鏡，可轉(zhuǎn)動(dòng)的 MEMS的反射鏡；從雙光纖頭出射光通過(guò)透鏡準(zhǔn)值成平行光，反射鏡 轉(zhuǎn)動(dòng)方向，使光的插損變化，這里同樣的問(wèn)題亦是波長(zhǎng)相關(guān)損耗較大。通常第二種方案如圖l所示主要有光纖插頭101包括光纖1011、 1012,透鏡103和反射鏡104組成；通過(guò)轉(zhuǎn)動(dòng)反射鏡104,而改變反 射進(jìn)入光纖1012的光束損耗。然而上述方案僅僅實(shí)現(xiàn)VOA的衰減功能，但是對(duì)于其衰減的性 能并不能進(jìn)行監(jiān)測(cè)，這樣使其性能可靠性不能保證。
發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新型的目的在提供一種利用監(jiān)測(cè)器探測(cè)到可調(diào)式光衰減 器的衰減變化，達(dá)到實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)、反饋的可調(diào)光衰減器。為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型帶監(jiān)測(cè)器的可調(diào)式光衰減器，包 括準(zhǔn)直器和光可調(diào)衰減器芯片，還包括一光電探測(cè)器，接收從光可調(diào) 衰減器芯片出射的小部分光束進(jìn)行監(jiān)測(cè)。所述準(zhǔn)直器包括光纖插針和透鏡。
所述的光纖插針為兩個(gè)單光纖插針。 所述的光纖插針為一個(gè)雙光纖插針。 所述光電探測(cè)器可為光電二極管。采用上述方案后，由于本實(shí)用新型利用光電探測(cè)器接受監(jiān)測(cè)該器 件的衰減變化，從而達(dá)到實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)，反饋的功效，進(jìn)一步確保其衰減性能。以下結(jié)合附圖
和實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型進(jìn) 一 步說(shuō)明。 圖l是現(xiàn)有技術(shù)光可調(diào)衰減器的結(jié)構(gòu)原理圖。圖2是本實(shí)用新型的第一實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。 圖3是本實(shí)用新型的第二實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。 圖4是本實(shí)用新型的第三實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。 圖5是本實(shí)用新型的第四實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。 圖6是本實(shí)用新型的第五實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
本實(shí)用新型的技術(shù)內(nèi)容、特征與達(dá)成效果，配合以下參考圖與對(duì) 應(yīng)的較佳實(shí)施例詳細(xì)說(shuō)明，將可被清楚顯現(xiàn)。圖2是本實(shí)用新型的第一實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。本實(shí)用新型帶監(jiān) 測(cè)器的可調(diào)式光衰減器，包含準(zhǔn)直器ll，其中所述準(zhǔn)直器ll包括透 鏡111以及光纖插針112、 一光可調(diào)衰減器芯片12介于所述透鏡111 與光纖插針112之間，所述透鏡lll的前端包括一光濾光片13，用于 分光，部分光束借由上述光濾光片13投射，由光電探測(cè)器14接受。其光路為從光纖插針112的第一光纖1121入射的光束通過(guò)光
可調(diào)衰減器芯片12對(duì)入射的光束進(jìn)行衰減，后借由透鏡lll聚焦于光濾光片13,大部分光束通過(guò)上述光濾光片13反射經(jīng)過(guò)準(zhǔn)直器11 出射光經(jīng)由光纖插針112的第二光纖1122出射；上述小部分光束通過(guò)上述光濾光片13透射到光電探測(cè)器14上，這樣，當(dāng)光可調(diào)衰減器 芯片12工作時(shí)，光電探測(cè)器14能探測(cè)到光可調(diào)衰減器的衰減變化， 達(dá)到實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)、反饋。上述所述光電4笨測(cè)器14可為光電二極管。本實(shí)用新型的第二個(gè)實(shí)施例。如圖3所示包含準(zhǔn)直器21,其 中所述準(zhǔn)直器21包括透鏡211以及第一光纖插針212、以及第二光 纖插針213， 一光可調(diào)衰減器芯片22介于所述透鏡211與第一光纖 插針212、第二光纖插針213之間，所述透鏡211的前端包括一光濾 光片23,用于分光，部分光束借由上述光濾光片23投射，由光電探 測(cè)器24接受。其光路為從第一光纖插針212的第一光纖2121入射的光束通 過(guò)光可調(diào)衰減器芯片22對(duì)入射的光束進(jìn)行衰減，后借由透鏡2U聚 焦于光濾光片23，大部分光束通過(guò)上述光濾光片23反射經(jīng)過(guò)準(zhǔn)直器 21出射光經(jīng)由第二光纖插針213的第二光纖2131出射；上述小部分 光束通過(guò)上述光濾光片23透射到光電探測(cè)器24上，這樣，當(dāng)光可調(diào) 衰減器芯片22工作時(shí)，光電探測(cè)器24能探測(cè)到光可調(diào)衰減器的衰減 變化，達(dá)到實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)、反饋。上述所述光電探測(cè)器24可為光電二極管。本實(shí)用新型的第三個(gè)實(shí)施例，如圖4所示包含準(zhǔn)直器11,其 中所述準(zhǔn)直器11包括透鏡111以及光纖插針112、所述透鏡111的前 端包括一光濾光片13, —光可調(diào)衰減器芯片12介于所述透鏡111與 光濾光片13之間，所述光濾光片13用于分光，部分光束借由上述光 濾光片13投射，由光電探測(cè)器14接受。
其光路為從光纖插針112的第一光纖1121入射的光束通過(guò)透 鏡111后，借由光可調(diào)衰減器芯片12對(duì)入射的光束進(jìn)行衰減，后聚 焦于光濾光片13,大部分光束通過(guò)上述光濾光片13反射經(jīng)過(guò)準(zhǔn)直器 11出射光經(jīng)由光纖插針112的第二光纖1122出射；上述小部分光束 通過(guò)上述光濾光片13透射到光電探測(cè)器14上，這樣，當(dāng)光可調(diào)衰減 器芯片12工作時(shí)，光電探測(cè)器14能探測(cè)到光可調(diào)衰減器的衰減變化， 達(dá)到實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)、反饋。上述所述光電探測(cè)器14可為光電二極管。本實(shí)用新型的第四個(gè)實(shí)施例，如圖5所示包含準(zhǔn)直器11,其 中所述準(zhǔn)直器11包括透鏡111以及光纖插針112、所述透鏡111的前 端包括一可旋轉(zhuǎn)的光濾光片13,所述光濾光片13用于分光，部分光 束借由上述光濾光片13投射，由光電探測(cè)器14接受。其光路為從光纖插針112的第一光纖1121入射的光束通過(guò)透 鏡lll后，通過(guò)旋轉(zhuǎn)光濾光片13對(duì)反射光束進(jìn)行衰減，大部分光束 通過(guò)上述光濾光片13反射經(jīng)過(guò)準(zhǔn)直器11出射光經(jīng)由光纖插針112的 第二光纖1122出射；上述小部分光束通過(guò)上述光濾光片13透射到光 電探測(cè)器14上，這樣，光電探測(cè)器14能探測(cè)到通過(guò)旋轉(zhuǎn)濾光片13 的衰減變化，達(dá)到實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)、反饋。上述所述光電探測(cè)器14可為光電二極管。圖6是本實(shí)用新型的第五實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖6所示本 實(shí)用新型帶監(jiān)測(cè)器的可調(diào)式光衰減器，包含準(zhǔn)直器11,其中所述準(zhǔn) 直器11包括透鏡111以及光纖插針112、 一光可調(diào)衰減器芯片12位 于透鏡lll之后，用于分光，部分光束借由上述光可調(diào)衰減器芯片12 透射，由光電探測(cè)器14接受。其光路為從光纖插針112的第一光纖1121入射的光束通過(guò)透 鏡lll聚焦，后經(jīng)過(guò)光可調(diào)衰減器芯片12對(duì)入射的光束進(jìn)行衰減，
大部分光束通過(guò)上述光可調(diào)衰減器芯片12反射經(jīng)過(guò)準(zhǔn)直器11出射光 經(jīng)由光纖插針112的第二光纖1122出射；上述小部分光束通過(guò)上述 光可調(diào)衰減器芯片12透射到光電探測(cè)器14上，這樣，當(dāng)光可調(diào)衰減
器芯片12工作時(shí)，光電探測(cè)器14能探測(cè)到光可調(diào)衰減器的衰減變化， 達(dá)到實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)、反饋。
上述所述光電探測(cè)器14可為光電二極管。
由此可見(jiàn)，采用上述方案后，由于本實(shí)用新型借由光電探測(cè)器接 受監(jiān)測(cè)該器件的衰減變化，從而達(dá)到實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)，反饋的功效，進(jìn)一步 確保其衰減性能。
以上所述者，僅為本實(shí)用新型最佳實(shí)施例而已，并非用于限制本 實(shí)用新型的范圍，凡依本實(shí)用新型申請(qǐng)專利范圍所作的等效變化或修 飾，皆為本實(shí)用新型所涵蓋。
權(quán)利要求1.帶監(jiān)測(cè)器的可調(diào)式光衰減器，包括準(zhǔn)直器和光可調(diào)衰減器芯片，其特征在于還包括一光電探測(cè)器，接收從光可調(diào)衰減器芯片出射的小部分光束進(jìn)行監(jiān)測(cè)。
2. 如權(quán)利要求1所述帶監(jiān)測(cè)器的可調(diào)式光衰減器，其特征在于所述 準(zhǔn)直器包括光纖插針和透鏡。
3. 如權(quán)利要求2所述帶監(jiān)測(cè)器的可調(diào)式光衰減器，其特征在于所述 的光纖插針為兩個(gè)單光纖插針。
4. 如權(quán)利要求2所述帶監(jiān)測(cè)器的可調(diào)式光衰減器，其特征在于所述 的光纖插針為 一 個(gè)雙光纖插針。
5. 如權(quán)利要求1所述帶監(jiān)測(cè)器的可調(diào)式光衰減器，其特征在于所述 光電探測(cè)器可為光電二極管。
專利摘要本實(shí)用新型是關(guān)于光通訊器件，尤其涉及帶監(jiān)測(cè)器的可調(diào)式光衰減器，該帶監(jiān)測(cè)器的可調(diào)式光衰減器包括準(zhǔn)直器和光可調(diào)衰減器芯片，還包括一光電探測(cè)器，接收從光可調(diào)衰減器芯片出射的小部分光束進(jìn)行監(jiān)測(cè)。采用上述方案后，由于本實(shí)用新型利用光電探測(cè)器接受監(jiān)測(cè)該器件的衰減變化，從而達(dá)到實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)，反饋的功效，進(jìn)一步確保其衰減性能。
文檔編號(hào)G02B6/26GK201051159SQ20072011929
公開(kāi)日2008年4月23日 申請(qǐng)日期2007年4月4日 優(yōu)先權(quán)日2007年4月4日
發(fā)明者王則欽, 紅 謝 申請(qǐng)人:昂納信息技術(shù)(深圳)有限公司