專利名稱：液晶顯示裝置及其測試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及液晶顯示裝置及其測試方法，更具體地說，涉及一種適 于提高測試過程的可靠性的液晶顯示裝置及其測試方法。
背景技術(shù)：
通常，液晶顯示裝置通過根據(jù)視頻信號來控制在液晶顯示板上以矩 陣結(jié)構(gòu)排列的液晶單元中的光透射率，而顯示所期望的圖像。
液晶顯示裝置包括薄膜晶體管基板、濾色器基板和液晶層，其中這 兩個基板在它們之間插設(shè)有液晶層的狀態(tài)下通過密封劑而彼此接合。
濾色器基板在上基板上設(shè)置有濾色器陣列，其中該濾色器陣列包括-
防止漏光的黑底(blackmatrix);用于實現(xiàn)彩色圖像的濾色器；用于與像 素電極一起形成垂直電場的公共電極；以及涂覆在其上以對液晶分子進 行配向的上配向膜(alignment film)。此外，薄膜晶體管基板在下基板上 設(shè)置有薄膜晶體管陣列，其中該薄膜晶體管陣列包括多條選通線；多 條數(shù)據(jù)線，各條數(shù)據(jù)線與各條選通線交叉；多個薄膜晶體管TFT，各個 薄膜晶體管TFT形成在選通線和數(shù)據(jù)線的各個交叉部分附近；與薄膜晶 體管TFT相連的像素電極；以及涂覆在其上以對液晶分子進行配向的下 配向膜。
該液晶顯示板的制造方法包括構(gòu)圖過程，用于形成薄膜晶體管陣 列和濾色器陣列；接合過程，用于在薄膜晶體管基板和濾色器基板之間 設(shè)置有液晶層的狀態(tài)下將薄膜晶體管基板和濾色器基板彼此接合；以及 測試過程，用于檢測有缺陷的液晶顯示板。
通過該測試過程，在將驅(qū)動集成電路粘附到液晶顯示板上之前，測 試該液晶顯示板是否有缺陷。更具體地說，將液晶顯示板加載到測試設(shè) 備上，該測試設(shè)備被保持在與組裝了背光單元和驅(qū)動集成電路的成品的
液晶顯示裝置模塊相同的環(huán)境中。在將液晶顯示裝置加載到測試設(shè)備上 之后，向液晶顯示板施加與在驅(qū)動液晶顯示裝置模塊時施加的驅(qū)動信號 相同的測試信號，從而在液晶顯示板上顯示圖像。此時，如果在加載到 測試設(shè)備上的液晶顯示板中存在有缺陷的信號線，則與該有缺陷的信號 線相連的像素會顯示和與正常信號線相連的像素不同的圖像。因此，工 作人員可以識別出液晶顯示板中的缺陷。
為了在測試過程中向信號線提供測試信號，與信號線相連的信號焊
盤一一對應(yīng)地分別與探針(probe pin)相連。但是，由于大尺寸的液晶顯 示板而導(dǎo)致信號焊盤的數(shù)量增加，因此會出現(xiàn)雜質(zhì)(particle),探針可能 受損，或者在信號焊盤與探針之間可能會出現(xiàn)未對準(zhǔn)。

發(fā)明內(nèi)容
因此，本發(fā)明致力于一種液晶顯示裝置及其測試方法，其基本上克 服了由于現(xiàn)有技術(shù)的局限和缺點而導(dǎo)致的一個或多個問題。
本發(fā)明的目的是提供一種適于提高測試過程的可靠性的液晶顯示裝 置及其測試方法。
本發(fā)明的附加優(yōu)點、目的和特征將在下面的描述中部分地闡述，并 且對于本領(lǐng)域技術(shù)人員在閱讀了以下描述之后將部分地變得明了 ，或者 可以從本發(fā)明的實踐中得知。本發(fā)明的目的和其它優(yōu)點可以通過在所寫 說明書及其權(quán)利要求以及附圖中具體指出的結(jié)構(gòu)來實現(xiàn)和獲得。
為了實現(xiàn)這些目的和其它優(yōu)點并且根據(jù)本發(fā)明的意圖，如在此實施 和廣泛描述的， 一種液晶顯示裝置包括圖像顯示單元，該圖像顯示單 元被劃分成多個塊；分別與所述多個塊相對應(yīng)的多個測試焊盤組；以及 多個測試晶體管組，用于將提供給所述多個測試焊盤組的測試信號提供 給多個液晶單元。
此時，所述多個測試晶體管組由對用于實現(xiàn)相同顏色而劃分的對應(yīng) 液晶單元獨立地進行開關(guān)的測試晶體管構(gòu)成。
所述多個測試晶體管組包括第一測試晶體管，該第一測試晶體管 連接到與用于實現(xiàn)各個塊的紅色的液晶單元相對應(yīng)的信號線；第二測試
晶體管，該第二測試晶體管連接到與用于實現(xiàn)各個塊的綠色的液晶單元 相對應(yīng)的信號線；以及第三測試晶體管，該第三測試晶體管連接到與用 于實現(xiàn)各個塊的藍色的液晶單元相對應(yīng)的信號線。
所述多個測試焊盤組包括第一至第三測試控制焊盤，用于分別向 所述第一至第三測試晶體管提供測試控制信號；以及第一至第三測試數(shù) 據(jù)焊盤，用于分別向所述第一至第三測試晶體管提供測試數(shù)據(jù)信號。
另外，所述液晶顯示裝置還包括第一至第三測試控制線，用于通 過各個塊將所述第一至第三測試晶體管分別與所述第一至第三測試控制 焊盤相連接；以及第一至第三測試數(shù)據(jù)線，用于通過各個塊將所述第一 至第三測試晶體管分別與所述第一至第三測試數(shù)據(jù)焊盤相連接。
此外，與所述圖像顯示單元中的信號線相連的信號焊盤形成在所述 圖像顯示單元的具有所述多個測試焊盤組的一側(cè)，并且所述多個測試焊 盤組形成在所述圖像顯示單元的其上沒有設(shè)置所述信號焊盤的其余區(qū) 域。
此外，與所述圖像顯示單元中的信號線相連的信號焊盤形成在所述 圖像顯示單元的一側(cè)，并且所述多個測試焊盤組形成在所述圖像顯示單 元的另一側(cè)。
在另一方面， 一種液晶顯示裝置的測試方法包括以下步驟制備液 晶顯示裝置，該液晶顯示裝置包括被劃分成多個塊的圖像顯示單元、分 別與所述多個塊相對應(yīng)的多個測試焊盤組、以及用于將提供給所述多個 測試焊盤組的測試信號提供給多個液晶單元的多個測試晶體管組；向所 述多個測試焊盤組提供對應(yīng)的測試信號；以及通過使用分別與所述多個 測試焊盤組相連的所述多個測試晶體管組來測試所述液晶單元是否有缺 陷。
此時，測試所述液晶單元是否有缺陷的步驟包括以下步驟使用由
對用于實現(xiàn)相同顏色而劃分的對應(yīng)液晶單元獨立地進行開關(guān)的測試晶體 管構(gòu)成的所述多個測試晶體管組來進行測試。
此外，測試所述液晶單元是否有缺陷的步驟包括以下步驟通過使 用在所述多個測試晶體管組中的每一個中所包括的第一測試晶體管，來 檢查用于實現(xiàn)各個塊的紅色的液晶單元是否有缺陷；通過使用在所述多 個測試晶體管組中的每一個中所包括的第二測試晶體管，來檢査用于實 現(xiàn)各個塊的綠色的液晶單元是否有缺陷；以及通過使用在所述多個測試 晶體管組中的每一個中所包括的第三測試晶體管，來檢查用于實現(xiàn)各個 塊的藍色的液晶單元是否有缺陷。
此外，檢査用于實現(xiàn)各個塊的紅色的液晶單元是否有缺陷的步驟包
括以下步驟通過各個塊所形成的第一測試控制焊盤和第一測試控制線 向所述第一測試晶體管的柵極提供測試控制信號；以及通過各個塊所形 成的第一測試數(shù)據(jù)焊盤和第一測試數(shù)據(jù)線向所述第一測試晶體管的源極 提供測試數(shù)據(jù)信號。
此外，檢查用于實現(xiàn)各個塊的綠色的液晶單元是否有缺陷的步驟包 括以下步驟通過各個塊所形成的第二測試控制焊盤和第二測試控制線 向所述第二測試晶體管的柵極提供測試控制信號；以及通過各個塊所形 成的第二測試數(shù)據(jù)焊盤和第二測試數(shù)據(jù)線向所述第二測試晶體管的源極 提供測試數(shù)據(jù)信號。
此外，檢查用于實現(xiàn)各個塊的藍色的液晶單元是否有缺陷的步驟包 括以下步驟通過各個塊所形成的第三測試控制焊盤和第三測試控制線 向所述第三測試晶體管的柵極提供測試控制信號；以及通過各個塊所形 成的第三測試數(shù)據(jù)焊盤和第三測試數(shù)據(jù)線向所述第三測試晶體管的源極 提供測試數(shù)據(jù)信號。
應(yīng)該理解，對本發(fā)明的以上概述和下面的詳述都是示例性和說明性 的，并旨在提供對所要求保護的本發(fā)明的進一步說明。


包括附圖以提供對本發(fā)明的進一步理解，并入附圖而構(gòu)成本申請的 一部分，附圖示出了本發(fā)明的實施方式并與說明書一起用于解釋本發(fā)明 的原理。在附圖中
圖1是表示根據(jù)本發(fā)明的液晶顯示裝置的圖2是表示圖1中所示的其它形狀的測試焊盤組和測試電路的圖3是表示用于向圖1或圖2所示的測試焊盤提供測試信號的探針
的立體圖；以及
圖4A至圖4C是表示用于圖1所示的液晶顯示裝置的測試方法的圖。
具體實施例方式
下面將詳細地說明本發(fā)明的優(yōu)選實施方式，在附圖中示出了其實施 例。只要可能，在所有的附圖中使用相同的附圖標(biāo)記來表示相同或相似 的部分。
下面將參照附圖來說明根據(jù)本發(fā)明的優(yōu)選實施方式的液晶顯示裝置 及其測試方法。
圖1是表示根據(jù)本發(fā)明的液晶顯示裝置的圖。如圖1所示，根據(jù)本 發(fā)明的液晶顯示裝置包括圖像顯示單元130、用于向圖像顯示單元130提 供信號的信號焊盤單元150、以及用于對圖像顯示單元130進行測試的測 試電路單元140。
圖像顯示單元130設(shè)置有多條選通線GL1至GLm;多條數(shù)據(jù)線 Rll至B2n;多個薄膜晶體管TFT，各個薄膜晶體管形成在選通線和數(shù)據(jù) 線的各個交叉點附近；以及分別與這些薄膜晶體管TFT相連的多個像素 電極PXL。通過選通驅(qū)動器(未示出)向各條選通線GL提供掃描脈沖。 通過數(shù)據(jù)驅(qū)動器(未示出)向各條數(shù)據(jù)線Rll至B2n提供模擬型的像素 電壓信號。圖像顯示單元130被劃分成多個塊。在測試時，通過對應(yīng)的 測試電路單元140向各個塊提供測試信號。這里，將如下示例性地說明 將圖像顯示單元130劃分成兩個塊A1、 A2的情況。
信號焊盤單元150設(shè)置有信號焊盤(未示出)，這些信號焊盤與選通 線GL1至GLm和數(shù)據(jù)線Rll至B2n當(dāng)中的至少任意一條信號線相連。 在信號焊盤單元150的沒有信號焊盤的其余區(qū)域上，具有與圖像顯示單 元130的第一塊Al相對應(yīng)的第一測試焊盤組110、以及與圖像顯示單元 130的第二塊A2相對應(yīng)的第二測試焊盤組120。第一測試焊盤組110和 第二測試焊盤組120相對于圖像顯示單元130形成在下側(cè)。更具體地說， 第一測試焊盤組110和第二測試焊盤組120被形成為與相對于圖像顯示
單元130位于上側(cè)的信號焊盤152相對，如圖2所示。
第一測試焊盤組110和第二測試焊盤組120包括測試控制焊盤110b、 110d、 110f、 120b、 120d、 120f和測試數(shù)據(jù)焊盤110a、 110c、 110e、 120a、 120c、 120e。測試控制焊盤110b、 110d、 110f、 120b、 120d、 120f分別 通過測試控制線144R、 144G和144B向與紅色、綠色和藍色液晶單元相 連的測試晶體管SWR、 SWG、 SWB提供控制信號。測試數(shù)據(jù)焊盤110a、 110c、 110e、 120a、 120c、 120e通過測試數(shù)據(jù)線142R、 142G和142B向 測試晶體管SWR、 SWG、 SWB提供測試信號。通過固定到探針體(probe body) 164上的探針162向測試控制焊盤110b、 110d、 110f、 120b、 120d、 120f和測試數(shù)據(jù)焊盤110a、 110c、 110e、 120a、 120c、 120e提供控制信 號和測試信號。
測試電路單元140包括與第一塊Al相對應(yīng)的第一測試晶體管組 SWR1、 SWG1、 SWB1，以及與第二塊A2相對應(yīng)的第二測試晶體管組 SWR2、 SWG2、 SWB2。第一測試晶體管組SWR1、 SWG1、 SWB1和第 二測試晶體管組SWR2、SWG2、SWB2包括R測試晶體管SWR1、SWR2，
其連接到與用于實現(xiàn)紅色的液晶單元相對應(yīng)的R數(shù)據(jù)線Rll、 R12.....
Rln、 R21、 R22、…、R2n; G測試晶體管SWG1、 SWG2，其連接到與
用于實現(xiàn)綠色的液晶單元相對應(yīng)的G數(shù)據(jù)線Gll、 G12.....Gln、 G21、
G22、 ...、 G2n;以及B測試晶體管SWB1 、 SWB2，其連接到與用于實 現(xiàn)藍色的液晶單元相對應(yīng)的B數(shù)據(jù)線Bll、 B12、 ...、 Bln、 B21、 B22、...、 B2n。 R、 G和B測試晶體管SWR、 SWG、 SWB由與位于圖像顯示單元 130中的薄膜晶體管TFT相同的多晶硅或非晶硅型薄膜晶體管構(gòu)成，如 圖3所示。
R測試晶體管SWR1、 SWR2包括與R測試控制焊盤110b、 120b 和測試控制線144R相連的柵極；與R測試數(shù)據(jù)焊盤110a、 120a和測試 數(shù)據(jù)線142R相連的源極；以及與R數(shù)據(jù)線Rll、 R12、 ...、 Rln、 R21、 R22、…、R2n相連的漏極。因此，R測試晶體管SWR1、 SWR2響應(yīng)于 從R測試控制焊盤110b、120b提供的控制信號，從R測試數(shù)據(jù)焊盤110a、 120a向R數(shù)據(jù)線Rll、 R12、…、Rln、 R21、 R22、…、R2n提供測試信
號。
G測試晶體管SWG1、 SWG2包括與G測試控制焊盤110d、 120d 和測試控制線144G相連的柵極；與G測試數(shù)據(jù)焊盤110c、 120c和測試 數(shù)據(jù)線142G相連的源極；以及與G數(shù)據(jù)線Gll、 G12、 ...、 Gln、 G21、 G22、 ...、 G2n相連的漏極。因此，G測試晶體管SWG1、 SWG2響應(yīng)于 從G測試控制焊盤110d、120d提供的控制信號，從G測試數(shù)據(jù)焊盤110c、 120c向G數(shù)據(jù)線Gll、 G12、…、Gln、 G21、 G22、…、G2n提供測試 信號。
B測試晶體管SWB1、 SWB2包括與B測試控制焊盤110f、 120f 和測試控制線144B相連的柵極；與B測試數(shù)據(jù)焊盤110e、 120e和測試
數(shù)據(jù)線142B相連的源極；以及與B數(shù)據(jù)線Bll、 B12.....Bln、 B21、
B22、 ...、 B2n相連的漏極。因此，B測試晶體管SWB1、 SWB2響應(yīng)于 從B測試控制焊盤110f、 120f提供的控制信號，從B測試數(shù)據(jù)焊盤110e、 120e向B數(shù)據(jù)線B11、 B12、 ...、 Bln、 B21、 B22、…、B2n提供測試信 號。
根據(jù)本發(fā)明的液晶顯示裝置通過使用與各個塊相對應(yīng)的測試晶體管 組來對各個塊中所包括的液晶單元進行測試。由于在根據(jù)本發(fā)明的液晶 顯示裝置中通過多個測試晶體管組對圖像顯示單元進行測試，所以與通 過使用一個測試晶體管組對整個圖像顯示單元進行測試的情況相比，與 各個測試晶體管組相連的測試數(shù)據(jù)線和測試控制線的長度減小。因此， 可以防止由于測試控制線和測試數(shù)據(jù)線中包括的阻抗分量而導(dǎo)致測試信 號的延遲，從而減少測試信號的失真。
參照圖4A至圖4C來說明使用圖1或圖2中所示的R、 G和B測試 晶體管SWR、 SWG、 SWB的測試過程。
在第一周期ti期間，如果將來自r測試控制焊盤110b、 120b的控 制信號提供給R測試晶體管SWR1、 SWR2的柵極，則R測試晶體管 SWR1、 SWR2導(dǎo)通。然后，導(dǎo)通的R測試晶體管SWR1、 SWR2向R數(shù) 據(jù)線Rll、 R12、 ...、 Rln、 R21、 R22、…、R2n提供通過探針162提供 的R測試數(shù)據(jù)焊盤110a、 120a的測試信號。通過使薄膜晶體管TFT導(dǎo)通，
向與R數(shù)據(jù)線Rll、 R12、…、Rln、 R21、 R22、…、R2n相連的液晶單 元提供測試信號，如圖4A所示。此后，工作人員通過肉眼測試或使用光 學(xué)裝置的自動測試，基于所顯示的圖像來辨別圖像顯示單元是否有缺陷。 如果圖像顯示單元有缺陷，則與有缺陷的信號線相連的R液晶單元表現(xiàn) 出和與正常信號線相連的R液晶單元上顯示的圖像不同的圖像，從而可 以檢查R液晶單元中的缺陷。
在第二周期T2期間，如果將來自G測試控制焊盤110d、 120d的控 制信號提供給G測試晶體管SWG1、 SWG2的柵極，則G測試晶體管 SWG1、 SWG2導(dǎo)通。然后，導(dǎo)通的G測試晶體管SWG1、 SWG2向G 數(shù)據(jù)線Gll、 G12、…、Gln、 G21、 G22、…、G2n提供通過探針162 提供的G測試數(shù)據(jù)焊盤110c、 120c的測試信號。通過使薄膜晶體管TFT .導(dǎo)通，向與G數(shù)據(jù)線Gll、 G12、 ...、 Gln、 G21、 G22、 ...、 G2n相連 的液晶單元提供測試信號，如圖4B所示。此后，工作人員通過肉眼測試 或使用光學(xué)裝置的自動測試，基于所顯示的圖像來辨別圖像顯示單元是 否有缺陷。如果圖像顯示單元有缺陷，則與有缺陷的信號線相連的G液 晶單元表現(xiàn)出和與正常信號線相連的G液晶單元上顯示的圖像不同的圖 像，從而可以檢査G液晶單元中的缺陷。
在第三周期T3期間，如果將來自B測試控制焊盤110f、 120f的控 制信號提供給B測試晶體管SWB1、 SWB2的柵極，則B測試晶體管 SWB1、 SWB2導(dǎo)通。然后，導(dǎo)通的B測試晶體管SWB1、 SWB2向B數(shù) 據(jù)線Bll、 B12、 ...、 Bln、 B21、 B22、…、B2n提供通過探針162提供 的B測試數(shù)據(jù)焊盤110e、 120e的測試信號。通過使薄膜晶體管TFT導(dǎo)通， 向與B數(shù)據(jù)線Bll、 B12、 ...、 Bln、 B21、 B22、 ...、 B2n相連的液晶單 元提供測試信號，如圖4C所示。此后，工作人員通過肉眼測試或使用光 學(xué)裝置的自動測試，基于所顯示的圖像來識別圖像顯示單元是否有缺陷。 如果圖像顯示單元有缺陷，則與有缺陷的信號線相連的B液晶單元表現(xiàn) 出和與正常信號線相連的B液晶單元上顯示的圖像不同的圖像，從而可 以檢查B液晶單元中的缺陷。
由于獨立地向相應(yīng)的R、 G和B液晶單元提供測試信號，所以對于
根據(jù)本發(fā)明的液晶顯示裝置中的各條R、 G和B數(shù)據(jù)線，可以獨立地執(zhí)
行測試過程。
如上所述，根據(jù)本發(fā)明的液晶顯示裝置及其測試方法具有以下優(yōu)點。 由于在根據(jù)本發(fā)明的液晶顯示裝置中通過使用多個測試晶體管組對 圖像顯示單元進行測試，因此與通過使用一個測試晶體管組對整個圖像 顯示單元進行測試的情況相比，與各個測試晶體管組相連的測試數(shù)據(jù)線 和測試控制線的長度減小。因此，可以防止由于測試控制線和測試數(shù)據(jù) 線中所包括的阻抗分量而導(dǎo)致的測試信號的延遲，從而減少測試信號的 失真。具體地說，根據(jù)本發(fā)明的液晶顯示裝置及其測試方法可以減少測 試控制線和測試數(shù)據(jù)線中包括的阻抗分量，測試控制線和測試數(shù)據(jù)線的 長度隨著液晶顯示板的高分辨率和大尺寸的趨勢而相對增大。
此外，根據(jù)本發(fā)明的液晶顯示裝置及其測試方法提供了這樣的結(jié)構(gòu)
R、 G和B測試數(shù)據(jù)焊盤和測試控制焊盤通過各個塊與探針相連，從而與
現(xiàn)有技術(shù)相比可以減少與探針相連的測試焊盤的數(shù)量，由此提高測試過 程的可靠性。
對于本領(lǐng)域技術(shù)人員顯而易見的是，可以在不脫離本發(fā)明的精神或 范圍的情況下對本發(fā)明作出各種修改和變化。因此，本發(fā)明旨在覆蓋對 本發(fā)明的這些修改和變化，只要它們落入所附權(quán)利要求及其等同物的范 圍內(nèi)。
本申請要求于2006年11月30日提交的韓國專利申請 No.2006-119547的優(yōu)先權(quán)，在此通過引用將其并入，如同在這里進行了 完全闡述一樣。
權(quán)利要求
1、一種液晶顯示裝置，該液晶顯示裝置包括圖像顯示單元，該圖像顯示單元被劃分成多個塊；多個測試焊盤組，這些測試焊盤組分別與所述多個塊相對應(yīng)；以及多個測試晶體管組，用于將提供給所述多個測試焊盤組的測試信號提供給多個液晶單元。
2、 根據(jù)權(quán)利要求l所述的液晶顯示裝置，其中，所述多個測試晶體管組由對用于實現(xiàn)相同顏色而劃分的對應(yīng)液晶單元獨立地進行開關(guān)的測 試晶體管構(gòu)成。
3、 根據(jù)權(quán)利要求2所述的液晶顯示裝置，其中，所述多個測試晶體管組包括第一測試晶體管，該第一測試晶體管連接到與用于實現(xiàn)各個塊的紅 色的液晶單元相對應(yīng)的信號線；第二測試晶體管，該第二測試晶體管連接到與用于實現(xiàn)各個塊的綠 色的液晶單元相對應(yīng)的信號線；以及第三測試晶體管，該第三測試晶體管連接到與用于實現(xiàn)各個塊的藍 色的液晶單元相對應(yīng)的信號線。
4、 根據(jù)權(quán)利要求3所述的液晶顯示裝置，其中，所述多個測試焊盤 組包括第一至第三測試控制焊盤，用于分別向所述第一至第三測試晶體管提供測試控制信號；以及第一至第三測試數(shù)據(jù)焊盤，用于分別向所述第一至第三測試晶體管 提供測試數(shù)據(jù)信號。
5、 根據(jù)權(quán)利要求4所述的液晶顯示裝置，該液晶顯示裝置還包括 第一至第三測試控制線，用于通過各個塊將所述第一至第三測試晶體管分別與所述第一至第三測試控制焊盤相連；以及第一至第三測試數(shù)據(jù)線，用于通過各個塊將所述第一至第三測試晶 體管分別與所述第一至第三測試數(shù)據(jù)焊盤相連。
6、 根據(jù)權(quán)利要求l所述的液晶顯示裝置，其中，與所述圖像顯示單 元中的信號線相連的所述信號焊盤形成在所述圖像顯示單元的具有所述 多個測試焊盤組的一側(cè)，并且所述多個測試焊盤組形成在所述圖像顯示 單元的其上沒有設(shè)置所述信號焊盤的其余區(qū)域。
7、 根據(jù)權(quán)利要求l所述的液晶顯示裝置，其中，與所述圖像顯示單 元中的信號線相連的所述信號焊盤形成在所述圖像顯示單元的一側(cè)，并 且所述多個測試焊盤組形成在所述圖像顯示單元的另一側(cè)。
8、 一種液晶顯示裝置的測試方法，該測試方法包括以下步驟 制備液晶顯示裝置，該液晶顯示裝置包括被劃分成多個塊的圖像顯示單元、分別與所述多個塊相對應(yīng)的多個測試焊盤組、以及用于將提供 給所述多個測試焊盤組的測試信號提供給多個液晶單元的多個測試晶體 管組；向所述多個測試焊盤組提供對應(yīng)的測試信號；以及 通過使用分別與所述多個測試焊盤組相連的所述多個測試晶體管組 來測試所述液晶單元是否有缺陷。
9、 根據(jù)權(quán)利要求8所述的測試方法，其中，測試所述液晶單元是否 有缺陷的步驟包括以下步驟使用由對用于實現(xiàn)相同顏色而劃分的對應(yīng)液晶單元獨立地進行開關(guān)的測試晶體管構(gòu)成的所述多個測試晶體管組來 進行測試。
10、 根據(jù)權(quán)利要求9所述的測試方法，其中，測試所述液晶單元是 否有缺陷的步驟包括以下步驟通過使用在所述多個測試晶體管組中的每一個中所包括的第一測試晶體管，來檢査用于實現(xiàn)各個塊的紅色的液晶單元是否有缺陷；通過使用在所述多個測試晶體管組中的每一個中所包括的第二測試晶體管，來檢査用于實現(xiàn)各個塊的綠色的液晶單元是否有缺陷；以及 通過使用在所述多個測試晶體管組中的每一個中所包括的第三測試晶體管，來檢查用于實現(xiàn)各個塊的藍色的液晶單元是否有缺陷。
11、 根據(jù)權(quán)利要求10所述的測試方法，其中，檢査用于實現(xiàn)各個塊 的紅色的液晶單元是否有缺陷的步驟包括以下步驟 通過各個塊所形成的第一測試控制焊盤和第一測試控制線向所述第 一測試晶體管的柵極提供測試控制信號；以及通過各個塊所形成的第一測試數(shù)據(jù)焊盤和第一測試數(shù)據(jù)線向所述第 一測試晶體管的源極提供測試數(shù)據(jù)信號。
12、 根據(jù)權(quán)利要求ll所述的測試方法，其中，檢查用于實現(xiàn)各個塊的綠色的液晶單元是否有缺陷的步驟包括以下步驟通過各個塊所形成的第二測試控制焊盤和第二測試控制線向所述第二測試晶體管的柵極提供測試控制信號；以及通過各個塊所形成的第二測試數(shù)據(jù)焊盤和第二測試數(shù)據(jù)線向所述第 二測試晶體管的源極提供測試數(shù)據(jù)信號。
13、 根據(jù)權(quán)利要求12所述的測試方法，其中，檢查用于實現(xiàn)各個塊 的藍色的液晶單元是否有缺陷的步驟包括以下步驟通過各個塊所形成的第三測試控制焊盤和第三測試控制線向所述第三測試晶體管的柵極提供測試控制信號；以及通過各個塊所形成的第三測試數(shù)據(jù)焊盤和第三測試數(shù)據(jù)線向所述第 三測試晶體管的源極提供測試數(shù)據(jù)信號。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種液晶顯示裝置及其測試方法，其適于提高測試過程的可靠性，該液晶顯示裝置包括圖像顯示單元，該圖像顯示單元被劃分成多個塊；多個測試焊盤組，這些測試焊盤組分別與所述多個塊相對應(yīng)；以及多個測試晶體管組，用于將提供給所述多個測試焊盤組的測試信號提供給多個液晶單元。
文檔編號G02F1/13GK101191910SQ20071019634
公開日2008年6月4日 申請日期2007年11月30日 優(yōu)先權(quán)日2006年11月30日
發(fā)明者金慶奐 申請人:Lg.菲利浦Lcd株式會社