專(zhuān)利名稱(chēng)：顯示板檢查裝置和方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及適用于檢測(cè)諸如LCD (液晶顯示器)的顯示板中的漏線(xiàn) (line omission)故障的顯示板檢查裝置和方法。
背景技術(shù)：
通常，已知諸如LCD (液晶顯示器)的顯示板有時(shí)包含不能實(shí)現(xiàn)其 原定功能的有缺陷像素。此外，作為顯示板的這種有缺陷像素，公知有由于以像素為單位出 現(xiàn)有缺陷像素而導(dǎo)致的漏點(diǎn)故障和由于有缺陷像素以線(xiàn)的形式連續(xù)出現(xiàn) 而導(dǎo)致的漏線(xiàn)故障。如果顯示板包含有缺陷像素，則有缺陷像素導(dǎo)致諸如難以正常顯示 和顯示與原定顏色不同的顏色的缺陷，并且，在此生產(chǎn)線(xiàn)中，將包含例 如特定比例的有缺陷像素的顯示板處理為殘品。例如，對(duì)于上述漏點(diǎn)故障，在許多情況下，構(gòu)成顯示板的幾十萬(wàn)或 者幾百萬(wàn)像素中散布有極少數(shù)像素作為有缺陷像素。散布在顯示板中的 這些極少數(shù)有缺陷像素在使用中并不明顯，往往不將有缺陷像素小于特 定像素比例的顯示板處理為殘品。迄今為止，存在對(duì)顯示板中的有缺陷像素進(jìn)行檢測(cè)以防止殘品流入 市場(chǎng)的需求。作為這種檢測(cè)顯示板中的有缺陷像素的方法，例如，以下 的專(zhuān)利文獻(xiàn)1公開(kāi)了如下方法拾取液晶板的顯示屏的圖像以對(duì)所拾取 的圖像進(jìn)行差分處理，由此精確地檢測(cè)基于超低量亮度差異的亮點(diǎn)缺陷 和暗點(diǎn)缺陷。專(zhuān)利文獻(xiàn)1:日本特開(kāi)平11-119684號(hào)公報(bào)同時(shí)，因?yàn)橛捎谟腥毕菹袼剡B續(xù)出現(xiàn)在顯示板中而使得漏線(xiàn)故障非 常顯著并且常常很難看，所以?xún)?yōu)選為與漏點(diǎn)故障相比更有效地檢測(cè)漏線(xiàn)
故障。此外，出現(xiàn)這種漏線(xiàn)故障主要是因?yàn)樵陲@示板的電極之間混入了 雜質(zhì)。此外，出現(xiàn)顯示板的漏線(xiàn)故障也例如是因?yàn)橐韵略蛴捎陲@示板 內(nèi)部的溫度上升而導(dǎo)致電極、絕緣材料和混入顯示板中的雜質(zhì)發(fā)生熱膨 脹，在顯示板發(fā)生振動(dòng)而使得其中的雜質(zhì)移動(dòng)的情況下在電極之間出現(xiàn) 短路(半接觸故障)，或者電極線(xiàn)出現(xiàn)斷開(kāi)或破裂(半斷開(kāi)故障)，并且, 在許多情況下，例如，由于涉及顯示板的工作環(huán)境的變化(例如顯示板 內(nèi)部的溫度變化和顯示板自身的振動(dòng))，短暫地(瞬間地)出現(xiàn)半接觸故 障或者半斷開(kāi)故障。然而，伴隨著常規(guī)技術(shù)出現(xiàn)以下問(wèn)題難以檢測(cè)短暫出現(xiàn)的漏線(xiàn)故 障。例如，上述專(zhuān)利文獻(xiàn)1的技術(shù)僅僅拾取顯示屏的圖像一次，因此， 在圖像拾取時(shí)不出現(xiàn)半接觸故障或者半斷開(kāi)故障就使得難以檢測(cè)這些故 障，即使在將顯示板從工廠(chǎng)投放市場(chǎng)時(shí)進(jìn)行的檢査沒(méi)有檢測(cè)到漏線(xiàn)故障 的情況下，這也可能導(dǎo)致在以后的使用中出現(xiàn)漏線(xiàn)故障。此外，在上述專(zhuān)利文獻(xiàn)1中公開(kāi)的技術(shù)的情況下，如果超過(guò)一次地 進(jìn)行對(duì)顯示屏的圖像拾取，則對(duì)每一個(gè)顯示板耗費(fèi)的檢測(cè)時(shí)間變長(zhǎng)，這 導(dǎo)致操作員的負(fù)擔(dān)或者制造成本增大。發(fā)明內(nèi)容考慮到上述問(wèn)題而開(kāi)發(fā)了本發(fā)明，因此，本發(fā)明的目的是可靠且容 易地執(zhí)行對(duì)例如由于工作環(huán)境的變化(例如半接觸故障或者半斷開(kāi)故障 的)而短暫出現(xiàn)的有缺陷像素的檢測(cè)。出于上述目的，根據(jù)本發(fā)明，提供了一種被制造為對(duì)由多個(gè)像素組 成的顯示板進(jìn)行檢查的顯示板檢查裝置，該顯示板檢査裝置包括檢測(cè) 單元，其檢測(cè)各個(gè)像素是否是有缺陷像素；和保持單元，其保持檢測(cè)單 元的檢測(cè)結(jié)果。優(yōu)選的是，所述檢測(cè)單元包括光檢測(cè)單元，其產(chǎn)生與來(lái)自像素的 輸出光對(duì)應(yīng)的檢測(cè)狀態(tài)；和判斷單元，其基于所述檢測(cè)狀態(tài)對(duì)該像素是 否是有缺陷像素進(jìn)行判斷，并且當(dāng)判斷結(jié)果表示該像素是有缺陷像素時(shí)
輸出檢測(cè)信號(hào)，并且，所述保持單元保持從所述判斷單元輸出的檢測(cè)信 號(hào)的狀態(tài)。此外，優(yōu)選的是，所述光檢測(cè)單元包括根據(jù)所述多個(gè)像素的排列方 向而設(shè)置的多個(gè)光檢測(cè)元件，所述判斷單元包括分別按與所述多個(gè)光檢 測(cè)元件相關(guān)聯(lián)的狀態(tài)而連接的多個(gè)有缺陷像素確定單元，并且所述保持 單元包括分別按與所述多個(gè)光檢測(cè)元件相關(guān)聯(lián)的狀態(tài)而連接的多個(gè)鎖存 單元。此外，同樣恰當(dāng)?shù)氖牵刂哂芯匦谓Y(jié)構(gòu)的顯示板的一條邊設(shè)置所 述多個(gè)光檢測(cè)元件，或者沿著具有矩形結(jié)構(gòu)的顯示板的對(duì)角線(xiàn)設(shè)置所述 多個(gè)光檢測(cè)元件。此外，所述顯示板檢査裝置還包括對(duì)從所述判斷單元輸出了檢測(cè)信 號(hào)進(jìn)行通知的通知單元。此外，優(yōu)選的是，所述顯示板檢查裝置還包括改變顯示板的工作環(huán) 境的工作環(huán)境改變單元。此外，優(yōu)選的是，所述工作環(huán)境改變單元包括改變顯示板的溫度環(huán) 境的溫度環(huán)境改變單元。此外，同樣恰當(dāng)?shù)氖?，所述工作環(huán)境改變單元包括對(duì)顯示板施加振 動(dòng)的振動(dòng)施加單元。此外，根據(jù)本發(fā)明，提供了一種對(duì)由多個(gè)像素組成的顯示板進(jìn)行檢 查的顯示板檢查方法，所述顯示板檢査方法包括以下步驟檢測(cè)步驟， 其檢測(cè)各個(gè)像素是否是有缺陷像素；和保持步驟，其保持所述檢測(cè)步驟中的檢測(cè)結(jié)果。優(yōu)選的是，所述檢測(cè)步驟包括光檢測(cè)步驟，其產(chǎn)生與來(lái)自像素的 輸出光對(duì)應(yīng)的檢測(cè)狀態(tài)；和判斷步驟，其基于所述檢測(cè)狀態(tài)來(lái)判斷該像 素是否是有缺陷像素，并且當(dāng)判斷結(jié)果表示該像素是有缺陷像素時(shí)輸出 檢測(cè)信號(hào)，在所述保持步驟中保持在所述判斷步驟中輸出的檢測(cè)信號(hào)的 狀態(tài)。此外，優(yōu)選的是，根據(jù)所述多個(gè)像素的排列方向多于一次地執(zhí)行所 述光檢測(cè)步驟，并且與所述多于一次地執(zhí)行的光檢測(cè)步驟中的每一次相
關(guān)聯(lián)地執(zhí)行所述判斷步驟和所述保持步驟。此外，同樣恰當(dāng)?shù)氖?，沿著具有矩形結(jié)構(gòu)的顯示板的一條邊執(zhí)行所 述光檢測(cè)步驟，或者沿著具有矩形結(jié)構(gòu)的顯示板的對(duì)角線(xiàn)執(zhí)行所述光檢 測(cè)步驟。此外，所述顯示板檢査方法還包括對(duì)在所述判斷歩驟中輸出了檢測(cè) 信號(hào)進(jìn)行通知的通知步驟。此外，優(yōu)選的是，所述顯示板檢查方法還包括改變顯示板的工作環(huán) 境的工作環(huán)境改變步驟。此外，優(yōu)選的是，在所述工作環(huán)境改變步驟中改變顯示板的溫度環(huán)境。此外，同樣恰當(dāng)?shù)氖?，在所述工作環(huán)境改變步驟中對(duì)顯示板施加振動(dòng)。本發(fā)明被設(shè)計(jì)為檢測(cè)像素是有缺陷像素并且保持檢測(cè)結(jié)果，這使得 即使在短暫地出現(xiàn)由于半接觸故障或半斷開(kāi)故障等而導(dǎo)致的漏線(xiàn)故障的 情況下也能夠可靠地檢測(cè)漏線(xiàn)故障。此外，在完成了檢查之后可以確認(rèn) 對(duì)短暫出現(xiàn)的漏線(xiàn)故障的檢測(cè)結(jié)果，這使得不需要檢査員在檢査過(guò)程中 通過(guò)視覺(jué)觀(guān)察進(jìn)行確認(rèn)，由此減少了檢査員的工作負(fù)擔(dān)。這可以在不對(duì) 檢査員造成負(fù)擔(dān)的情況下改進(jìn)對(duì)漏線(xiàn)故障的檢測(cè)精度。此外，基于與像素的輸出光對(duì)應(yīng)的檢測(cè)狀態(tài)來(lái)判斷該像素是否是有 缺陷像素，由此可靠且容易地指定出現(xiàn)了漏線(xiàn)故障的點(diǎn)。此外，由于可以改變顯示板的工作環(huán)境，所以可以可靠地檢測(cè)伴隨 著工作環(huán)境的各種變化而出現(xiàn)的漏線(xiàn)故障。具體來(lái)說(shuō)，關(guān)于顯示板的溫度環(huán)境的改變可以實(shí)現(xiàn)對(duì)由于因顯示板 內(nèi)部的溫度上升而導(dǎo)致電極、絕緣材料和雜質(zhì)發(fā)生熱膨脹從而出現(xiàn)的漏 線(xiàn)故障的可靠檢測(cè)。此外，沿著顯示板的一條邊設(shè)置多個(gè)光檢測(cè)單元使得能夠在短時(shí)間 段內(nèi)進(jìn)行對(duì)漏線(xiàn)故障的檢測(cè)。此外，可以減少光檢測(cè)單元、判斷單元和 保持單元的數(shù)量，這可以簡(jiǎn)化裝置結(jié)構(gòu)并且降低制造成本。對(duì)于判斷單元輸出檢測(cè)信號(hào)的通知使得可以容易地指定出現(xiàn)了漏線(xiàn)
故障的點(diǎn)。


圖1示例性地示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的顯示板檢査裝置的結(jié)構(gòu)的示例；圖2是用于說(shuō)明根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的顯示板檢查裝置的光檢測(cè)單元 中的配置狀態(tài)的示例的圖；圖3是用于說(shuō)明根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的顯示板檢査裝置中的從光檢測(cè) 單元到通知單元的連接狀態(tài)的圖；圖4是示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的顯示板檢查裝置中的將亮線(xiàn)檢査為 漏線(xiàn)故障的過(guò)程的流程圖；圖5示例性地示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的第一變型例的顯示板檢査裝 置的結(jié)構(gòu)的示例；圖6示例性地示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的第二變型例的顯示板檢査裝 置的結(jié)構(gòu)的示例；圖7是用于說(shuō)明根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的顯示板檢查裝置的光檢測(cè)單元 中的另一配置狀態(tài)的示例的圖；以及圖8是用于說(shuō)明根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的顯示板檢査裝置的光檢測(cè)單元 中的不同配置狀態(tài)的示例的圖。
具體實(shí)施方式
以下參照附圖對(duì)本發(fā)明的實(shí)施例進(jìn)行描述。 [1]對(duì)本發(fā)明實(shí)施例的描述圖1示例性地示出在根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的顯示板檢査裝置中將亮線(xiàn) 檢測(cè)為漏線(xiàn)故障的情況下的結(jié)構(gòu)的示例，圖2是用于說(shuō)明其光檢查單元 中的配置狀態(tài)的示例的圖，圖3是用于說(shuō)明其中的從光檢測(cè)單元到通知 單元的連接狀態(tài)的圖。如圖1所示，根據(jù)本實(shí)施例的顯示板檢査裝置IO是用于檢査由多個(gè) 像素11構(gòu)成的矩形LCD (液晶顯示器；顯示板)12中的漏線(xiàn)故障的裝
置，并且被構(gòu)成為包括以下部件的電路光檢測(cè)元件(檢測(cè)單元、光檢 測(cè)單元)25、電壓比較器(判斷單元、檢測(cè)單元、有缺陷像素判斷單元) 26、 二極管(保持單元、鎖存單元)28以及LED (發(fā)光二極管；通知單 元)30，并且還配置有工作環(huán)境改變單元17。漏線(xiàn)故障表示構(gòu)成LCD的多個(gè)像素中的不能實(shí)現(xiàn)其原定功能的有 缺陷像素以線(xiàn)的形式連續(xù)出現(xiàn)，在本實(shí)施例中，對(duì)如下的漏線(xiàn)故障的示 例進(jìn)行描述其中，如圖1所示，在LCD12的整個(gè)表面上顯示諸如黑色 的低亮度顏色的情況下出現(xiàn)亮線(xiàn)20。通常投入市場(chǎng)的LCD由幾十萬(wàn)或幾百萬(wàn)個(gè)像素組成，雖然本實(shí)施例 也被構(gòu)成為對(duì)具有幾十萬(wàn)或幾百萬(wàn)個(gè)像素的LCD進(jìn)行處理，但是僅僅為 了方便起見(jiàn)，從圖中省略了部分像素。此外，在以下對(duì)像素的描述中，將多個(gè)像素稱(chēng)為多個(gè)像素11，將單 個(gè)像素簡(jiǎn)稱(chēng)為像素ll。在該顯示板檢查裝置10中，將光檢測(cè)元件25設(shè)計(jì)為具有集電極側(cè) 端子21a和發(fā)射極側(cè)端子21b的光電二極管，電壓比較器26和二極管28 并聯(lián)連接于光檢測(cè)元件25的集電極側(cè)端子21a。此外，LED30連接到電 壓比較器26和二極管28的輸出側(cè)。電源單元(未示出)通過(guò)電阻器R2 連接到LED30，以通過(guò)電阻器R2提供外加電壓V2。電源單元(未示出) 通過(guò)電阻器R1連接到光檢測(cè)元件25的集電極側(cè)端子21a，由此通過(guò)電阻 器R1提供外加電壓V1。此外，光檢測(cè)元件25的發(fā)射極側(cè)端子21b連接 到地22。如圖1所示，各個(gè)光檢測(cè)元件25 (檢測(cè)單元)用于產(chǎn)生與像素11 的輸出光對(duì)應(yīng)的檢測(cè)狀態(tài)，并且用作稍后描述的光檢測(cè)單元13。響應(yīng)于檢測(cè)到輸出光24，該光檢測(cè)元件25根據(jù)輸出光24的光量來(lái) 增大其中的電流量，以使光檢測(cè)元件25的集電極側(cè)電壓Vd從外加電壓 VI下降，此電壓降用作檢測(cè)狀態(tài)。此外，作為光檢測(cè)元件25,使用將來(lái)自上述光電晶體管、光電二極 管或CCD (電荷耦合器件)等的光(或者光量)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)(電流、 電壓)的裝置。
可以根據(jù)漏線(xiàn)故障的判斷標(biāo)準(zhǔn)或者電路布置來(lái)任意設(shè)置要由光檢測(cè)元件25檢測(cè)的輸出光24的光量，例如，可以通過(guò)調(diào)整光檢測(cè)元件25內(nèi) 部的S/N比、或者通過(guò)改變/調(diào)整電阻器Rl、 R2或稍后提及的基準(zhǔn)電壓 Vref的值來(lái)進(jìn)行各種設(shè)置。如圖2所示，在根據(jù)本實(shí)施例的顯示板檢查裝置10中，沿著具有矩 形結(jié)構(gòu)的LCD 12的一條邊設(shè)置多個(gè)光檢測(cè)元件25，并且將所述多個(gè)光 檢測(cè)元件25相同地稱(chēng)為光檢測(cè)元件13 (參見(jiàn)圖3)。如圖2所示，所述多個(gè)光檢測(cè)元件25固定地緊固于在沿著具有矩形 結(jié)構(gòu)的LCD12的一條邊(在圖2所示的示例中，沿著紙面的橫向方向) 的直線(xiàn)上的板31。在圖2所示的示例中， 一個(gè)光檢測(cè)元件25主要檢測(cè)彼 此相鄰的三個(gè)像素11的輸出光24。此外，基于光檢測(cè)元件25的特性來(lái) 確定LCD 12與光檢測(cè)元件25之間的距離。如圖1所示，使得電壓比較器(檢測(cè)單元、有缺陷像素判斷單元) 26基于光檢測(cè)元件25的檢測(cè)狀態(tài)來(lái)判斷像素11是否是有缺陷像素，并 且如果該判斷表示像素11是有缺陷像素，則輸出檢測(cè)信號(hào)dl。電壓比較器26被設(shè)計(jì)為具有正輸入端子27a、負(fù)輸入端子27b以及 輸出端子27c的運(yùn)算放大器。正輸入端子27a連接到光檢測(cè)元件25的集 電極側(cè)端子21a，輸出端子27c連接到LED 30，向負(fù)輸入端子27b施加 基準(zhǔn)電壓Vref?？梢愿鶕?jù)漏線(xiàn)故障的判斷標(biāo)準(zhǔn)而將該基準(zhǔn)電壓Vref任意 設(shè)置為低于外加電壓V1的值。在電壓比較器26中的正輸入端子27a的檢測(cè)電壓Vd與負(fù)輸入端子 27b的基準(zhǔn)電壓Vref之間的比較結(jié)果表示檢測(cè)電壓Vd高于基準(zhǔn)電壓Vref 的情況下，輸出端子27c的電壓電平為高(High)態(tài)。另一方面，當(dāng)檢 測(cè)電壓Vd低于基準(zhǔn)電壓Vref時(shí)，輸出端子27c的電壓電平為低(Low) 態(tài)。因此，在輸出端子27c處電壓電平為低的狀態(tài)用作檢測(cè)信號(hào)dl。如圖3所示，與各個(gè)光檢測(cè)元件25對(duì)應(yīng)地設(shè)置所述電壓比較器26， 將這些多個(gè)電壓比較器26相同地稱(chēng)為判斷單元14。二極管(保持單元，鎖存單元)28用于保持(鎖存)從如圖l所示 的電壓比較器26輸出的檢測(cè)信號(hào)dl，并且用作稍后提及的保持單元15， 其陰極側(cè)端子29a連接到LED 30，而其陽(yáng)極側(cè)端子29b連接到光檢測(cè)元 件25的集電極側(cè)端子21a。如圖3所示，與各個(gè)光檢測(cè)元件25對(duì)應(yīng)地設(shè)置所述二極管28，將 這些多個(gè)二極管28相同地稱(chēng)為保持單元15。LED (通知單元)30用于向外部(例如檢査員)通知已經(jīng)從電壓比 較器26輸出了檢測(cè)信號(hào)dl的事實(shí)，并且在從電壓比較器26輸出了檢測(cè) 信號(hào)dl的情況下(即，當(dāng)在輸出端子27c處電壓電平變?yōu)榈蛻B(tài)時(shí))點(diǎn)亮。 因此，其用作通知單元16。此外，如圖1所示，在LED 30中，其陰極 側(cè)端子32b連接到電壓比較器26的輸出側(cè)端子27c，而其陽(yáng)極側(cè)端子32a 連接到電阻器R2。如圖3所示，與各個(gè)光檢測(cè)元件25對(duì)應(yīng)地設(shè)置所述LED 30，將這 些多個(gè)LED 30相同地稱(chēng)為通知單元16。工作環(huán)境改變單元17用于改變顯示板12的工作環(huán)境，例如，其配 備有用于通過(guò)按環(huán)繞狀態(tài)將具有光檢測(cè)單元的LCD 12加濕/冷卻到任意 溫度來(lái)改變LCD 12的溫度環(huán)境的加濕器/冷卻器等(溫度環(huán)境改變單元)、 或者配備有用于對(duì)LCD 12施加振動(dòng)的振動(dòng)施加單元?？梢杂酶鞣N現(xiàn)有技 術(shù)來(lái)實(shí)現(xiàn)這些加濕器、冷卻器和振動(dòng)施加單元。艮P，如圖3所示，根據(jù)本實(shí)施例的顯示板檢查裝置10在光檢測(cè)單元 13的集電極側(cè)端子21a處配備有判斷單元14和保持單元15。判斷單元 14由按對(duì)應(yīng)關(guān)系分別連接到多個(gè)光檢測(cè)元件25的多個(gè)電壓比較器(有缺 陷像素判斷單元)26組成，保持單元15由按對(duì)應(yīng)關(guān)系分別連接到多個(gè)光 檢測(cè)元件25的多個(gè)二極管(鎖存單元)28組成。通知單元16設(shè)置在判 斷單元14和保持單元15的輸出側(cè)，并且該通知單元16由按對(duì)應(yīng)關(guān)系分 別連接到多個(gè)電壓比較器26和多個(gè)二極管28的多個(gè)LED 30組成。參照?qǐng)D4的流程圖(步驟S11到S20)，下面描述通過(guò)根據(jù)本實(shí)施例 如此構(gòu)成的顯示板檢查裝置10檢測(cè)出亮線(xiàn)20為漏線(xiàn)故障的過(guò)程。首先，檢查員將光檢測(cè)元件25 (光檢測(cè)單元13)的受光部分(未示出)定位在作為檢查對(duì)象的像素11的發(fā)光面的上方以使它們彼此面對(duì)， 并且將組成LCD 12的所有多個(gè)像素11設(shè)置為黑屏顯示狀態(tài)(步驟Sll)。
隨后，將外加電壓VI施加到電阻器R1，并且將外加電壓V2施加 到電阻器R2。此外，將低于外加電壓V1的基準(zhǔn)電壓Vref施加到電壓比 較器26的負(fù)輸入端子27b，使得輸出端子27c的電壓電平被設(shè)置為高態(tài) (步驟S12)。此外，通過(guò)使用工作環(huán)境改變單元17，改變LCD12的溫 度環(huán)境或者使該LCD 12振動(dòng)(步驟S13;工作環(huán)境改變步驟)。
在此狀態(tài)下，如果在作為檢查對(duì)象的像素11中出現(xiàn)漏線(xiàn)故障(亮線(xiàn) 20)，則引起漏線(xiàn)故障的像素11發(fā)出輸出光24(發(fā)光)，設(shè)置為與發(fā)出輸 出光24的像素11面對(duì)的光檢測(cè)元件25檢測(cè)到來(lái)自亮線(xiàn)20的輸出光(步 驟S14)。
響應(yīng)于檢測(cè)到來(lái)自亮線(xiàn)20的輸出光24,光檢測(cè)元件25根據(jù)輸出光 24的光量而增大光檢測(cè)元件25的電流量，因此電壓比較器26的正輸入 端子27a的檢測(cè)電壓Vd相對(duì)于外加電壓Vl下降(步驟S15;光檢測(cè)步 驟，檢測(cè)步驟)。
在正輸入端子27a的檢測(cè)龜壓Vd與負(fù)輸入端子27b的基準(zhǔn)電壓Vref 之間的比較結(jié)果表示檢測(cè)電壓Vd變得低于基準(zhǔn)電壓Vref的情況下，各 個(gè)電壓比較器26將輸出端子27c的電壓電平從高態(tài)設(shè)置為低態(tài)。這在輸 出端子27c與電阻器Rl和R2之間產(chǎn)生電勢(shì)差(步驟S16;判斷步驟， 檢測(cè)步驟)。
因此，電流從電阻器Rl經(jīng)過(guò)二極管28流到電壓比較器26的輸出端 子27c，并且電流從電阻器R2經(jīng)過(guò)LED 30流到電壓比較器26的輸出端 子27c，由此LED30點(diǎn)亮(步驟S17;通知步驟)。
此外，即使在從LCD12瞬間地出現(xiàn)輸出光24的情況下，輸出端子 27c的電壓電平也保持在低態(tài)，二極管28繼續(xù)著從電阻器Rl經(jīng)過(guò)二極管 28到電壓比較器26的輸出端子27c的電流的流動(dòng)，由此將檢測(cè)電壓Vd 保持在低于基準(zhǔn)電壓Vref的狀態(tài)(步驟S18;保持步驟)。
因此，通過(guò)二極管28將龜壓比較器26的輸出端子27c的電壓電平 保持在低態(tài)，并且來(lái)自電阻器R2的電流持續(xù)地經(jīng)過(guò)LED30流動(dòng)到電壓 比較器26的輸出端子27c，由此LED30—直發(fā)光。
檢查員可以通過(guò)用視覺(jué)觀(guān)察來(lái)確認(rèn)LED 30的發(fā)光狀態(tài)從而知曉漏
線(xiàn)故障的出現(xiàn)，并且基于與該發(fā)光LED 30對(duì)應(yīng)的光檢測(cè)元件25的位置 來(lái)指定出現(xiàn)了作為漏線(xiàn)故障的亮線(xiàn)20的點(diǎn)(步驟S19)。此后，檢査員將 LED 30發(fā)光處的電路的基準(zhǔn)電壓Vref降低到低于檢測(cè)電壓Vd的值以熄 滅LED 30,并且將顯示板檢査裝置10復(fù)位(步驟S20)。由此，檢査結(jié) 束。由于如上所述，根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的顯示板檢査裝置IO被設(shè)計(jì)為檢 測(cè)作為亮線(xiàn)20的其中出現(xiàn)了漏線(xiàn)故障的像素11并且保持檢測(cè)結(jié)果，因 此，即使在由于諸如半接觸故障或者半斷開(kāi)故障的漏線(xiàn)故障而發(fā)出了短 暫的輸出光24的情況下，也可以識(shí)別出漏線(xiàn)故障的出現(xiàn)，并且進(jìn)一步可 以可靠地指定出現(xiàn)了漏線(xiàn)故障的像素11。此外，由于可以在完成檢査之 后確認(rèn)對(duì)因短暫出現(xiàn)的漏線(xiàn)故障而產(chǎn)生的輸出光24的檢測(cè)結(jié)果，所以不 需要檢査員在檢査期間通過(guò)視覺(jué)觀(guān)察來(lái)進(jìn)行確認(rèn)，這可以減少檢査員的 工作負(fù)擔(dān)。因此，可以在不對(duì)檢查員造成負(fù)擔(dān)的情況下改進(jìn)漏線(xiàn)故障的 檢測(cè)精度。此外，由于基于對(duì)來(lái)自像素11的輸出光24的檢測(cè)狀態(tài)來(lái)判斷像素 11是否是有缺陷像素，所以?xún)H通過(guò)檢測(cè)來(lái)自像素11的輸出光24就可以 可靠且容易地指定出現(xiàn)了漏線(xiàn)故障的像素11。此外，由于可以通過(guò)改變施加到LCD 12的溫度或者通過(guò)振動(dòng)LCD 12來(lái)改變LCD 12的工作環(huán)境，所以可以在各種工作環(huán)境下進(jìn)行對(duì)可能 的漏線(xiàn)故障的檢測(cè)。此外，沿著LCD 12的一條邊設(shè)置多個(gè)光檢測(cè)元件25使得能夠在短 時(shí)間段內(nèi)檢測(cè)漏線(xiàn)故障。此外還可以減少光檢測(cè)元件25、電壓比較器26、 二極管28以及LED 30的數(shù)量，由此簡(jiǎn)化裝置結(jié)果并且減少制造成本。此外，通過(guò)使用LED30來(lái)通知對(duì)輸出光24的檢測(cè)結(jié)果，可以視覺(jué) 上指定出現(xiàn)了漏線(xiàn)故障的點(diǎn)。其他應(yīng)該理解，本發(fā)明不限于上述實(shí)施例，并且旨在覆蓋本文所述的本 發(fā)明實(shí)施例的不脫離本發(fā)明精神和范圍的全部修改和變型。例如，雖然在上述實(shí)施例中，在整個(gè)全黑屏顯示中將漏線(xiàn)故障檢測(cè)
為亮線(xiàn)20，但本發(fā)明不限于此，在整個(gè)LCD表面顯示高亮度畫(huà)面(例如 白色)的情況下(此后稱(chēng)為全白屏顯示)，將暗線(xiàn)檢測(cè)為漏線(xiàn)故障也是適當(dāng)?shù)?。圖5是根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的第一變型例的顯示板檢查裝置的圖，其 示例性地示出了在將暗線(xiàn)41檢測(cè)為漏線(xiàn)故障的情況下顯示板檢査裝置40 的結(jié)構(gòu)的示例。在圖中，與以上使用的標(biāo)號(hào)相同的標(biāo)號(hào)表示相同或者總體相同的部 件，為了簡(jiǎn)潔起見(jiàn)省略其詳細(xì)描述。除了圖1所示的顯示板檢査裝置10的部件之外，圖5所示的顯示板 檢査裝置40還設(shè)置有位于光檢測(cè)元件(光檢測(cè)單元)25與電阻器R1的 上流側(cè)之間的信號(hào)反相電路42。此信號(hào)反相電路42用于對(duì)來(lái)自光檢測(cè)元 件25的檢測(cè)狀態(tài)進(jìn)行反相(反轉(zhuǎn))，將經(jīng)反相的檢測(cè)狀態(tài)輸出到電壓比 較器(判斷單元)26和二極管(保持單元)28。例如，如圖5所示，信號(hào)反相電路42由電阻器R3、晶體管43和二 極管44構(gòu)成。電阻器R3在其一端部連接到電阻器R1，此外在其另一端 部連接到光檢測(cè)元件25的集電極側(cè)端子21a。晶體管43是具有發(fā)射極側(cè) 端子45a、集電極側(cè)端子45b和基極側(cè)端子45c的NPN型，發(fā)射極側(cè)端 子45a連接到光檢測(cè)元件25的發(fā)射極側(cè)端子21b，而集電極側(cè)端子45b 連接到電阻器R1和電阻器R3的一端側(cè)。此外，基極側(cè)端子45c連接到 二極管44的陰極側(cè)端子(省略其標(biāo)號(hào))。在二極管44中，其陰極側(cè)端子 (省略其標(biāo)號(hào))連接到晶體管43的基側(cè)端子45c，并且其陽(yáng)極側(cè)端子(省 略其標(biāo)號(hào))連接到光檢測(cè)元件25的集電極側(cè)端子21a以及電阻器R3的此外，也可以采用除了上述設(shè)置之外的設(shè)置作為信號(hào)反相電路42， 并且也可以使用對(duì)由光檢測(cè)單元13產(chǎn)生的檢測(cè)狀態(tài)進(jìn)行反相并且將經(jīng)反 相的檢測(cè)狀態(tài)輸入電壓比較器26 (判斷單元14)和二極管28 (保持單元 15)的各種現(xiàn)有技術(shù)。在該顯示板檢查裝置40中，當(dāng)光檢測(cè)單元13沒(méi)有檢測(cè)到來(lái)自像素 11的輸出光(暗線(xiàn)41)時(shí)，光檢測(cè)元件25的電流量增大，從而使光檢
測(cè)元件25的集電極側(cè)電壓相對(duì)于外加電壓V1降低，由此電壓比較器確 定亮線(xiàn)的形成部分是正常的、暗線(xiàn)41的形成部分產(chǎn)生漏線(xiàn)故障。此外，對(duì)上述亮線(xiàn)20和暗線(xiàn)41兩者都進(jìn)行檢測(cè)也是恰當(dāng)?shù)?。圖6示例性地示出根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的第二變型例的顯示板檢査裝 置的結(jié)構(gòu)示例，并且示出可以按切換方式檢測(cè)亮線(xiàn)和暗線(xiàn)兩者的顯示板 檢査裝置50的結(jié)構(gòu)。在圖中，與以上使用的標(biāo)號(hào)相同的標(biāo)號(hào)表示相同或者總體上相同的 部件，為了簡(jiǎn)潔起見(jiàn)省略其詳細(xì)描述。圖6所示的顯示板檢查裝置50包括設(shè)置有光檢測(cè)單元13的亮線(xiàn)檢 測(cè)電路52、以及設(shè)置有光檢測(cè)單元13和信號(hào)反相電路42的暗線(xiàn)檢測(cè)電 路53，并且還包括設(shè)置在亮線(xiàn)檢測(cè)電路52的光檢測(cè)單元13與電壓比較 器26、 二極管28之間的切換開(kāi)關(guān)51，該切換開(kāi)關(guān)51用于針對(duì)連接到二 極管28和電壓比較器26在亮線(xiàn)檢測(cè)電路52與暗線(xiàn)檢測(cè)電路53之間執(zhí) 行切換。在顯示板檢查裝置50中，可以通過(guò)根據(jù)所檢測(cè)到的漏線(xiàn)故障對(duì)切換 開(kāi)關(guān)51進(jìn)行切換控制來(lái)以共享的方式使用二極管28、電壓比較器26和 LED 30等，由此改進(jìn)便利性，減少制造成本并且實(shí)現(xiàn)空間的節(jié)省。雖然在本實(shí)施例中，通過(guò)一個(gè)光檢測(cè)元件25來(lái)檢測(cè)三個(gè)像素11的 輸出光24，但本發(fā)明不限于此，增加由一個(gè)光檢測(cè)元件25檢測(cè)的輸出光 的數(shù)量也是恰當(dāng)?shù)?。在此情況下，根據(jù)光檢測(cè)元件25的受光面的尺寸(面 積)或者像素11的發(fā)光面的尺寸來(lái)多樣地確定要檢測(cè)的輸出光24的數(shù) 量，具體來(lái)說(shuō)，當(dāng)與各個(gè)像素11按對(duì)應(yīng)關(guān)系設(shè)置光檢測(cè)元件25以由一 個(gè)光檢測(cè)元件25來(lái)檢測(cè)一個(gè)輸出光24時(shí)，可以容易地指定出現(xiàn)了漏線(xiàn) 故障的點(diǎn)。此外，在LCD 12上按多行而不是一行來(lái)設(shè)置光檢測(cè)元件25以基于 多行的受光結(jié)果來(lái)指定出現(xiàn)了漏線(xiàn)故障的點(diǎn)也是恰當(dāng)?shù)?。例如，可以?交錯(cuò)的方式將多個(gè)光檢測(cè)元件25設(shè)置為三行，或者可以增加其行數(shù)以釆 用不同的設(shè)置圖案，以使得可以基于所述多個(gè)光檢測(cè)元件25的檢測(cè)結(jié)果 的組合來(lái)指定漏線(xiàn)故障的出現(xiàn)位置。 此外，雖然在本實(shí)施例中，如圖2所示地沿著LCD 12的一條邊設(shè) 置多個(gè)光檢測(cè)元件25，但本發(fā)明不限于此。圖7和8是用于說(shuō)明根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的顯示板檢査裝置中的光檢 測(cè)單元的不同設(shè)置狀態(tài)的圖。圖7是用于說(shuō)明沿著LCD的不同邊的光檢 測(cè)單元的設(shè)置狀態(tài)的圖，圖8是用于說(shuō)明沿著LCD的對(duì)角線(xiàn)的光檢測(cè)單 元的設(shè)置狀態(tài)的圖。例如，如圖7所示地沿著LCD12的不同邊(在圖7所示的示例中， 沿著紙面的垂直方向)設(shè)置多個(gè)光檢測(cè)元件25、或者如圖8所示地沿著 LCD 25的對(duì)角線(xiàn)設(shè)置多個(gè)光檢測(cè)元件25也是恰當(dāng)?shù)?。?dāng)沿著LCD12的對(duì)角線(xiàn)設(shè)置多個(gè)光檢測(cè)元件25時(shí)，可以同時(shí)檢測(cè) 來(lái)自在LCD 12的垂直和水平方向上直線(xiàn)形成的像素11的輸出光24,這 能夠減少光檢測(cè)元件25的數(shù)量并且能夠快速且可靠地檢測(cè)漏線(xiàn)故障。此外，雖然在本實(shí)施例中使用電壓比較器26作為判斷單元14，但 本發(fā)明不限于此，采用基于來(lái)自光檢測(cè)單元13的檢測(cè)狀態(tài)來(lái)判斷像素11 是否是有缺陷像素、從而當(dāng)該判斷表示其為有缺陷像素時(shí)輸出檢測(cè)信號(hào) dl的各種現(xiàn)有技術(shù)也是可接受的。此外，雖然在本實(shí)施例中使用二極管28作為保持單元15，但本發(fā) 明不限于此，也可以采用保持從判斷單元14輸出的檢測(cè)信號(hào)dl的各種 現(xiàn)有技術(shù)。例如，可以使用具有鎖存功能的電路(例如觸發(fā)器)來(lái)取代 二極管28。此外，例如，當(dāng)使用觸發(fā)器作為保持單元15時(shí)，優(yōu)選地將保 持單元15串聯(lián)連接到判斷單元14的輸出側(cè)。g卩，這使得能夠根據(jù)用于 保持單元15等的部件而多樣地改變顯示板檢查裝置10的電路設(shè)置。此外，雖然在本實(shí)施例中使用LED 30作為通知單元16，但本發(fā)明 不限于此，采用對(duì)外部進(jìn)行通知的各種現(xiàn)有技術(shù)也是可接受的。此外，除了上述技術(shù)之外的技術(shù)也是可接受的，也可以采用檢測(cè)像 素11是有缺陷像素并且保持檢測(cè)狀態(tài)的各種現(xiàn)有技術(shù)。此外，將多個(gè)光檢測(cè)元件25的集電極側(cè)端子2la連接到微計(jì)算機(jī)(未 示出)以在所述多個(gè)光檢測(cè)元件25的電壓之間進(jìn)行相對(duì)比較也是恰當(dāng)?shù)摹?例如，微計(jì)算機(jī)計(jì)算所述多個(gè)光檢測(cè)元件25的電壓的平均值，以檢測(cè)電
壓低于平均值的部位作為漏線(xiàn)故障的出現(xiàn)位置。雖然在此實(shí)施例中將工作環(huán)境改變單元17設(shè)計(jì)為包括加濕器、冷卻 器以及振動(dòng)施加單元，但本發(fā)明不限于此。例如，可以?xún)H使用這些裝置 中的一部分來(lái)設(shè)置工作環(huán)境改變單元17，并且，改變諸如溫度的溫度環(huán) 境或者改變除了振動(dòng)之外的工作環(huán)境也是可接受的?？梢圆捎酶鞣N現(xiàn)有 技術(shù)來(lái)改變這些工作環(huán)境。此外，除了LCD之外，上述顯示板檢查裝置還可以應(yīng)用于不同類(lèi)型 的顯示板，具體來(lái)說(shuō)，它對(duì)于點(diǎn)陣型顯示板是有效的，例如可以應(yīng)用于 PDP (等離子顯示板)或者有機(jī)EL顯示器(有機(jī)電致發(fā)光顯示器)。
權(quán)利要求
1、一種顯示板檢查裝置(10，40，50)，該顯示板檢查裝置(10，40，50)對(duì)由多個(gè)像素(11)組成的顯示板(12)進(jìn)行檢查，所述顯示板檢查裝置(10，40，50)包括檢測(cè)單元(13，14)，其檢測(cè)所述多個(gè)像素(11)中的每一個(gè)是否是有缺陷像素；和保持單元(15)，其保持所述檢測(cè)單元(13，14)的檢測(cè)結(jié)果。
2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示板檢査裝置，其中，所述檢測(cè)單元(13， 14)包括光檢測(cè)單元(13)，其產(chǎn)生與來(lái)自所述像素(11)的輸出光(24) 對(duì)應(yīng)的檢測(cè)狀態(tài)；和判斷單元(14)，其基于所述檢測(cè)狀態(tài)來(lái)判斷所述像 素(11)是否是有缺陷像素，并且當(dāng)該判斷表示所述像素(11)是有缺 陷像素時(shí)輸出檢測(cè)信號(hào)(dl),并且所述保持單元(15)保持從所述判斷單元(14)輸出的檢測(cè)信號(hào)(dl) 的狀態(tài)。
3、 根據(jù)權(quán)利要求2所述的顯示板檢查裝置，其中，所述光檢測(cè)單元 (13)包括根據(jù)所述多個(gè)像素(11)的排列方向而設(shè)置的多個(gè)光檢測(cè)元件(25)，所述判斷單元(14)包括多個(gè)有缺陷像素判斷單元(26),所述多個(gè) 有缺陷像素判斷單元(26)各自按對(duì)應(yīng)關(guān)系與所述多個(gè)光檢測(cè)元件(25) 中的相應(yīng)光檢測(cè)元件(25)相連接，并且所述保持單元(15)包括多個(gè)鎖存單元(28)，所述多個(gè)鎖存單元(28) 各自按對(duì)應(yīng)關(guān)系與所述多個(gè)光檢測(cè)元件(25)中的相應(yīng)光檢測(cè)元件(25) 相連接。
4、 根據(jù)權(quán)利要求3所述的顯示板檢査裝置，其中，所述多個(gè)光檢測(cè) 元件(25)是沿著具有矩形結(jié)構(gòu)的所述顯示板(12)的一條邊設(shè)置的。
5、 根據(jù)權(quán)利要求3所述的顯示板檢查裝置，其中，所述多個(gè)光檢測(cè) 元件(25)是沿著具有矩形結(jié)構(gòu)的所述顯示板(12)的對(duì)角線(xiàn)設(shè)置的。
6、 根據(jù)權(quán)利要求2到5中的任一項(xiàng)所述的顯示板檢查裝置，該顯示板檢查裝置進(jìn)一步包括通知單元(16)，所述通知單元(16)對(duì)從所述判 斷單元(14)輸出了檢測(cè)信號(hào)(dl)進(jìn)行通知。
7、 根據(jù)權(quán)利要求1到5中的任一項(xiàng)所述的顯示板檢査裝置，該顯示 板檢查裝置進(jìn)一步包括用于改變所述顯示板(12)的工作環(huán)境的工作環(huán) 境改變單元(17)。
8、 根據(jù)權(quán)利要求6所述的顯示板檢查裝置，該顯示板檢査裝置進(jìn)一 步包括用于改變所述顯示板(12)的工作環(huán)境的工作環(huán)境改變單元(17)。
9、 根據(jù)權(quán)利要求7所述的顯示板檢查裝置，其中，所述工作環(huán)境改 變單元(17)包括用于改變所述顯示板(12)的溫度環(huán)境的溫度環(huán)境改 變單元。
10、 根據(jù)權(quán)利要求7所述的顯示板檢査裝置，其中，所述工作環(huán)境 改變單元(17)包括用于對(duì)所述顯示板(12)施加振動(dòng)的振動(dòng)施加單元。
11、 一種顯示板檢查方法，該顯示板檢査方法檢査由多個(gè)像素(11) 組成的顯示板(12)，所述顯示板檢查方法包括以下步驟檢測(cè)步驟，其檢測(cè)所述多個(gè)像素(11)的每一個(gè)是否是有缺陷像素；和保持步驟，其保持所述檢測(cè)步驟中的檢測(cè)結(jié)果。
12、 根據(jù)權(quán)利要求11所述的顯示板檢查方法，其中，所述檢測(cè)步驟 包括光檢測(cè)步驟，其產(chǎn)生與來(lái)自所述像素(11)的輸出光(24)對(duì)應(yīng) 的檢測(cè)狀態(tài)；和判斷步驟，其基于所述檢測(cè)狀態(tài)來(lái)判斷所述像素(11) 是否是有缺陷像素，并且當(dāng)該判斷表示所述像素(11)是有缺陷像素時(shí) 輸出檢測(cè)信號(hào)(dl)，在所述保持步驟中保持在所述判斷步驟中輸出的檢測(cè)信號(hào)(dl)的 狀態(tài)。
13、 根據(jù)權(quán)利要求12所述的顯示板檢查方法，其中，根據(jù)所述多個(gè) 像素(11)的排列方向而多于一次地執(zhí)行所述光檢測(cè)步驟，并且與所述多于一次地執(zhí)行的光檢測(cè)步驟中的每一次相關(guān)聯(lián)地執(zhí)行所述 判斷步驟和所述保持步驟。
14、 根據(jù)權(quán)利要求13所述的顯示板檢查方法，其中，沿著具有矩形 結(jié)構(gòu)的所述顯示板(12)的一條邊執(zhí)行所述光檢測(cè)步驟。
15、 根據(jù)權(quán)利要求13所述的顯示板檢査方法，其中，沿著具有矩形 結(jié)構(gòu)的所述顯示板(12)的對(duì)角線(xiàn)執(zhí)行所述光檢測(cè)步驟。
16、 根據(jù)權(quán)利要求12到15中的任一項(xiàng)所述的顯示板檢査方法，該 顯示板檢查方法進(jìn)一步包括通知在所述判斷步驟中輸出了檢測(cè)信號(hào)(dl) 的通知步驟。
17、 根據(jù)權(quán)利要求11到15中的任一項(xiàng)所述的顯示板檢査方法，該 顯示板檢査方法進(jìn)一步包括改變所述顯示板(12)的工作環(huán)境的工作環(huán) 境改變步驟。
18、 根據(jù)權(quán)利要求16所述的顯示板檢査方法，該顯示板檢査方法進(jìn) 一步包括改變所述顯示板(12)的工作環(huán)境的工作環(huán)境改變步驟。
19、 根據(jù)權(quán)利要求17所述的顯示板檢査方法，其中，在所述工作環(huán) 境改變步驟中改變所述顯示板(12)的溫度環(huán)境。
20、 根據(jù)權(quán)利要求17所述的顯示板檢査方法，其中，在所述工作環(huán) 境改變步驟中對(duì)所述顯示板(12)施加振動(dòng)。
全文摘要
本發(fā)明提供顯示板檢查裝置和方法。本發(fā)明涉及用于對(duì)由多個(gè)像素(11)組成的顯示板(12)進(jìn)行檢查的顯示板檢查裝置(10)。該顯示板檢查裝置(10)包括檢測(cè)各個(gè)像素(11)是否是有缺陷像素的檢測(cè)單元(13，14)、以及保持所述檢測(cè)單元(13，14)的檢測(cè)結(jié)果的保持單元(15)，由此使得能夠可靠并且容易地檢測(cè)由于諸如半接觸故障或半斷開(kāi)故障的工作環(huán)境變化等而導(dǎo)致的短暫出現(xiàn)的有缺陷像素。
文檔編號(hào)G02F1/13GK101118713SQ20071007911
公開(kāi)日2008年2月6日 申請(qǐng)日期2007年2月13日 優(yōu)先權(quán)日2006年8月2日
發(fā)明者蜂須賀生治 申請(qǐng)人:富士通株式會(huì)社