專利名稱：基板電路接合結(jié)構(gòu)與其檢測(cè)方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明關(guān)于一種二基板接合結(jié)構(gòu)的引腳設(shè)計(jì)，特別是一種能夠在 二基板接合時(shí)進(jìn)行電路接合品質(zhì)檢測(cè)的引腳設(shè)計(jì)。
背景技術(shù)：
請(qǐng)參考圖1為一已知技術(shù)的二基板上的電路接合處的俯視透視示意圖，二基板IO、 50接合時(shí)，接合界面設(shè)有連接引腳11、 21，透過(guò)引 腳11、 21電性連接二基板10、 50的電路，尤其在顯示器面板如液晶 顯示器、有機(jī)發(fā)光顯示器及電漿顯示器等的組裝，區(qū)分為表面粘著技 術(shù)(Surface Mount Technique, SMT)、巻帶自動(dòng)接合(Tape Automated Bonding, TAP)、玻璃覆晶技術(shù)(Chip On Glass, COG)及薄膜覆晶技術(shù) (Chip On Film ,COF)等技術(shù)。請(qǐng)參考圖2，說(shuō)明二基板10、 50上的電路導(dǎo)通原理，基板10上的 電路以一絕緣層41保護(hù)，電路末端形成引腳ll，基板50上電路的引 腳21，以異向?qū)щ娔?0 (Anisotropic Conductive Film, ACF)連接二基板 10、 50的電路，異向?qū)щ娔?0的組成為在一膠膜31中散布許多導(dǎo)電 粒子32，因?qū)щ娏Ｗ?2表面絕緣處理為非導(dǎo)體，將ACF膠膜30置于 二基板引腳ll、 21間接合并熱壓著，膠膜31因熱壓著，導(dǎo)電粒子32 受垂直方向壓力，使絕緣膜上下受力破壞因而導(dǎo)通二引腳11、 21而導(dǎo) 通二基板10、 50的電路。對(duì)于一已知的巻帶自動(dòng)接合及薄膜覆晶技術(shù)，因其搭載的集成電 路(Integrated Circuit, IC)的基板材料為透光，可以直接使用光學(xué)顯微鏡 (Optical Microscope, OM)觀察其接合時(shí)引腳是否對(duì)位及異向?qū)щ娔さ?導(dǎo)電粒子的變形情況判斷其接觸品質(zhì)，但若是在基材不透光就無(wú)法使用。在已知的一技術(shù)，請(qǐng)參考圖3及圖4，將接合的一基板上電路的引 腳130中形成一細(xì)縫131，當(dāng)對(duì)位準(zhǔn)位時(shí)細(xì)縫便被另一基板的引腳210 覆蓋而不透光如圖3，當(dāng)未對(duì)位便因細(xì)縫131未被遮蓋而透光如圖4， 而未提供接合時(shí)即時(shí)檢測(cè)電路品質(zhì)的功能。已知的另一技術(shù)，請(qǐng)參考圖5，在基板上形成一對(duì)位窗140(window) 及參考引腳141(dummy pad),對(duì)位窗140 二基板上的電路接合處是否 接合，可利用觀察對(duì)位窗140的上參考引腳141是否對(duì)位即可，對(duì)接 合時(shí)并未提供即時(shí)檢測(cè)電路品質(zhì)的功能。已知的技術(shù)，請(qǐng)參考圖6， 二基板的電路引腳210、 150，其中一 引腳150的二側(cè)加高形成鍵結(jié)墊151(bondingpad)，熱壓接合時(shí)確保接 合點(diǎn)的鍵結(jié)墊151內(nèi)的異向?qū)щ娔さ膶?dǎo)電粒子32數(shù)量需足夠以避免因 熱壓外溢而導(dǎo)電不良，但上述方法仍未提供即時(shí)檢測(cè)電路品質(zhì)的功能?；迳想娐方雍系钠焚|(zhì)影響二基板所搭載的電路導(dǎo)通的品質(zhì)，而 二電路的引腳是否對(duì)位及與異向?qū)щ娔さ慕佑|品質(zhì)是影響接合電路品 質(zhì)的兩大主因，但需要于組裝完畢后再確認(rèn)其電路導(dǎo)通的品質(zhì)，對(duì)制 程來(lái)說(shuō)是一大缺點(diǎn)，尤其是在顯示器面板的組裝上，于面板組裝完畢 后再檢測(cè)是否含有亮點(diǎn)以確認(rèn)電路品質(zhì)，無(wú)法即時(shí)改善組裝條件而嚴(yán) 重影響組裝品質(zhì)，二基板接合時(shí)的監(jiān)控需要作即時(shí)檢測(cè)，供研發(fā)人員 迅速驗(yàn)證并除錯(cuò)及制程人員確認(rèn)制程的條件及方法，提升制程品質(zhì)的 一重要的技術(shù)。發(fā)明內(nèi)容為解決上述所提問(wèn)題，本發(fā)明之一目的是提供一種具有即時(shí)檢測(cè) 功能的基板接合結(jié)構(gòu)的引腳設(shè)計(jì)。
本發(fā)明的另一目的是提供一種即時(shí)的二基板的電路接合品質(zhì)的檢 測(cè)方法。為達(dá)上述目的，本發(fā)明的一實(shí)施例的二基板間，尤其是液晶顯示 器的顯示面板與承載驅(qū)動(dòng)電路的基板的接合結(jié)構(gòu)，包含一第一基板、 第一基板上的第一電路及第一電路末端的第一引腳，與一第二基板、 第二基板上的第二電路及第二電路末端的第二引腳，其中第二引腳需 與第一引腳相對(duì)設(shè)置，第二引腳包含訊號(hào)輸入端與檢測(cè)端，且訊號(hào)輸 入端與檢測(cè)端相互分離，通過(guò)異向?qū)щ娔みB接第一引腳與訊號(hào)輸入端 及檢測(cè)端。其中，異向?qū)щ娔ぐ瑢?dǎo)電粒子及絕緣體，導(dǎo)電粒子表層 以一絕緣膜處理以保持絕緣，并分布于異向?qū)щ娔さ慕^緣體中。具有此引腳設(shè)計(jì)的二基板電路接合的檢測(cè)方法如下，輸入訊號(hào)于 第二電路上的訊號(hào)輸入端，測(cè)量檢測(cè)端的輸出訊號(hào)，比較輸入訊號(hào)及 輸出訊號(hào)。接合時(shí)訊號(hào)輸入端的輸入訊號(hào)經(jīng)由異向?qū)щ娔さ膶?dǎo)電粒子進(jìn)入第 一引腳，再?gòu)牡谝灰_經(jīng)由異向?qū)щ娔みM(jìn)入檢測(cè)端，因而測(cè)量檢測(cè)端 的輸出訊號(hào)即可檢驗(yàn)二基板上的電路接合處的品質(zhì)。若輸出訊號(hào)與輸入訊號(hào)相同，則表示第一引腳與訊號(hào)輸入端完全 接合；若輸出訊號(hào)明顯衰減，則表示第一引腳與訊號(hào)輸入端接合不完 全。通過(guò)上述技術(shù)特征，本發(fā)明具有的有益效果如下 本發(fā)明可以廣泛地運(yùn)用在二基板的電路導(dǎo)通，其中基板為絕緣電 路基板，如印刷電路板、塑料板及玻璃基板，及巻帶式軟質(zhì)載板等絕 緣基板，不論基板透光或不透光皆可以利用此引腳接合結(jié)構(gòu)達(dá)到即時(shí) 檢測(cè)的功能，比傳統(tǒng)以目視方式判斷更具可信度。


圖l為已知技術(shù)的兩基板接合界面的俯視圖。圖2為已知技術(shù)的兩基板接合界面的截面圖。圖3為已知技術(shù)的兩基板接合界面對(duì)位的剖視圖。圖4為已知技術(shù)的兩基板接合界面未對(duì)位的剖視圖。圖5為已知技術(shù)的兩基板接合界面對(duì)位的剖視圖。圖6為已知技術(shù)的兩基板接合界面的截面圖。圖7為本發(fā)明一實(shí)施例的兩基板接合界面的截面分解圖。圖8為本發(fā)明一實(shí)施例的兩基板接合界面接合時(shí)的截面剖視圖。圖9為本發(fā)明一實(shí)施例的檢測(cè)方法流程圖。圖中符號(hào)說(shuō)明10、 50基板11、 21引腳30異向?qū)щ娔?1膠膜32導(dǎo)電粒子41絕緣層130引腳131細(xì)縫150、 210引腳140對(duì)位窗141參考引腳151鍵結(jié)墊100、 500基板420配向膜410絕緣層110第一引腳223間隙220第二引腳222檢測(cè)端221訊號(hào)輸入端310絕緣體300異向?qū)щ娔?24輸入?yún)^(qū)域320導(dǎo)電粒子710、 720、730步驟510檢測(cè)區(qū)域具體實(shí)施方式
請(qǐng)參考圖7，第一基板100包含一配向膜420、第一電路(被配向 膜420包覆，圖中未示)及絕緣層410，第一電路末端暴露于絕緣層410 外而形成第一引腳110，第二基板500包含第二電路(圖中未示)與第一
引腳110的相對(duì)位置為第二引腳220，第二引腳220以一間隙223分割 為訊號(hào)輸入端221及檢測(cè)端222。在二基板100、 500的第一引腳110、第二引腳220之間置入異向 導(dǎo)電膜300。異向?qū)щ娔?00包含絕緣體310及導(dǎo)電粒子320，因?yàn)閷?dǎo) 電粒子320表面以一絕緣膜處理而形成一絕緣的粒子，并分布于絕緣 體310中，當(dāng)受熱受壓時(shí)，導(dǎo)電粒子320表層的絕緣膜因被破壞而使 導(dǎo)電粒子320導(dǎo)通第一引腳110與訊號(hào)輸入端221，及導(dǎo)通第一引腳 110與檢測(cè)端222。訊號(hào)輸入端221上具有一訊號(hào)輸入?yún)^(qū)域224，檢測(cè)端222則具有一 檢測(cè)區(qū)域510。因訊號(hào)輸入端221與檢測(cè)端222間為斷路，故由檢測(cè)區(qū) 域510無(wú)法測(cè)量出訊號(hào)輸入?yún)^(qū)域224的輸入訊號(hào)，為確保訊號(hào)輸入端 221與檢測(cè)端222導(dǎo)通透過(guò)第一引腳110，第二引腳上的間隙223的寬 度應(yīng)較異向?qū)щ娔?00的導(dǎo)電粒子320的直徑大。請(qǐng)參考圖8，說(shuō)明電路導(dǎo)通的方式，當(dāng)二基板IOO、 500熱壓著時(shí)， 異向?qū)щ娔?00的絕緣體310在第一引腳110及第二引腳220的訊號(hào) 輸入端221及檢測(cè)端222間導(dǎo)電粒子320的表面絕緣膜被破壞而導(dǎo)通， 但在間隙223的位置膜膠內(nèi)的導(dǎo)電粒子320的表面絕緣膜并未破壞而 保持絕緣，第二電路的訊號(hào)輸入端221透過(guò)導(dǎo)電粒子320而與第一引 腳110導(dǎo)通；第一引腳110透過(guò)導(dǎo)電粒子320再與檢測(cè)端222導(dǎo)通。 若于檢測(cè)端222測(cè)量出由訊號(hào)輸入端221的輸入訊號(hào)，則表示二基板 100、 500上的第一與第二電路導(dǎo)通。參考圖9，并請(qǐng)同時(shí)參考圖8，說(shuō)明檢測(cè)方法步驟710，輸入一訊號(hào)于第二基板500的訊號(hào)輸入端221。步驟720，測(cè)量第二基板500的檢測(cè)端222的輸出訊號(hào)，輸入訊號(hào) 由第二基板500上的第二電路的訊號(hào)輸入端221經(jīng)由異向?qū)щ娔?00 的導(dǎo)電粒子320進(jìn)入第一基板100的第一引腳110，再?gòu)牡谝灰_110 經(jīng)由異向?qū)щ娔?00的導(dǎo)電粒子320進(jìn)入第二基板500上的檢測(cè)端222。步驟730，比較由訊號(hào)輸入端221的輸入訊號(hào)與檢測(cè)端222的輸出 訊號(hào)，若輸出訊號(hào)與輸入訊號(hào)相同，則表示第一引腳與訊號(hào)輸入端完 全接合；若輸出訊號(hào)呈現(xiàn)衰減失真，則表示第一引腳與訊號(hào)輸入端接 合不完全。此種設(shè)計(jì)可以廣泛地運(yùn)用在二基板的電路導(dǎo)通，其中基板為絕緣 電路基板，如印刷電路板(Printed Circuit Board, PCB)、塑料板(plastic substrate)及玻璃基板(glass substrate),及巻帶式軟質(zhì)載板(Tape Carrier Package, TCP)等絕緣基板，不論基板透光或不透光皆可以利用此引腳 接合結(jié)構(gòu)達(dá)到即時(shí)檢測(cè)的功能，較傳統(tǒng)以目視方式判斷更具可信度。應(yīng)用于在顯示器的設(shè)計(jì)時(shí)，承載驅(qū)動(dòng)集成電路的電路板作為第一 基板，承載顯示器電路的玻璃基板作為第二基板，甚至于軟式面板亦 可利用此引腳接合結(jié)構(gòu)而具有即時(shí)檢測(cè)的功能。以上所述，僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例，當(dāng)不能以的限制本發(fā)明的 范圍。即大凡依本發(fā)明申請(qǐng)專利范圍所做的均等變化及修飾，仍將不 失本發(fā)明的要義所在，亦不脫離本發(fā)明的精神及范圍，故都應(yīng)視為本 發(fā)明的進(jìn)一步實(shí)施狀況。
權(quán)利要求
1. 一種基板電路接合結(jié)構(gòu)，適用于一液晶顯示模塊，包含一第一基板，具有一第一電路，該第一電路的一端為一第一引腳，用以電性連接一外部電路；一第二基板，具有一第二電路，該第二電路的一端為一第二引腳，且與該第一引腳相對(duì)設(shè)置，用以連接該第一電路，其中該第二引腳具有一檢測(cè)端與一訊號(hào)輸入端，且該檢測(cè)端與該訊號(hào)輸入端相互分離；以及一異向?qū)щ娔ぃO(shè)置于該第一引腳及該第二引腳之間。
2. 如權(quán)利要求l所述的基板電路接合結(jié)構(gòu)，其中該第一基板包括 玻璃基板、印刷電路板或塑料板。
3. 如權(quán)利要求l所述的基板電路接合結(jié)構(gòu)，其中該第二基板包括 玻璃基板、印刷電路板或塑料板。
4. 如權(quán)利要求l所述的基板電路接合結(jié)構(gòu)，其中該檢測(cè)端具有一 檢測(cè)區(qū)域。
5. 如權(quán)利要求l所述的基板電路接合結(jié)構(gòu)，其中該檢測(cè)端與該訊 號(hào)輸入端經(jīng)由該異向?qū)щ娔け舜穗娦赃B接。
6. 如權(quán)利要求l所述的基板電路接合結(jié)構(gòu)，其中該異向?qū)щ娔ぐ?含復(fù)數(shù)個(gè)導(dǎo)電粒子及一絕緣體，其中該些導(dǎo)電粒子表面以一絕緣膜處 理，且分布于該絕緣體中。
7. 如權(quán)利要求l所述的基板電路接合結(jié)構(gòu)，其中該第一引腳及該 第二引腳的材料包括銅或銦錫化合物。
8. —種檢測(cè)方法，適用于如權(quán)利要求1所述的基板電路接合結(jié)構(gòu)， 包含輸入一訊號(hào)于該第二基板的該訊號(hào)輸入端，其中該訊號(hào)輸入端連 接該第二電路；量測(cè)該檢測(cè)端的輸出訊號(hào)；以及 比對(duì)該輸入訊號(hào)及該輸出訊號(hào)。
9. 如權(quán)利要求8所述的檢測(cè)方法，其中該比對(duì)步驟中，當(dāng)該輸出訊 號(hào)與輸入的該訊號(hào)相同時(shí)，表示該第一引腳與該第二基板的該訊號(hào)輸入端 完全接合；當(dāng)輸出訊號(hào)呈現(xiàn)衰減失真時(shí)，表示該第一引腳與該第二基板的 該訊號(hào)輸入端接合不完全。
全文摘要
本發(fā)明是一種基板電路接合結(jié)構(gòu)與其檢測(cè)方法，該結(jié)構(gòu)能夠在二基板接合時(shí)，即時(shí)進(jìn)行電路接合品質(zhì)的檢測(cè)，二基板所承載的電路是利用電路末端引腳導(dǎo)通，利用第一基板的電路一端的第一引腳保持完整，第二基板電路一端的第二引腳截?cái)酁橛嵦?hào)輸入端及檢測(cè)端，檢測(cè)端與訊號(hào)輸入端相互分離，當(dāng)接合二基板時(shí)，利用異向?qū)щ娔な沟玫诙宓挠嵦?hào)輸入端及檢測(cè)端分別與第一引腳導(dǎo)通。于檢測(cè)端若能檢測(cè)訊號(hào)輸入端的輸入訊號(hào)，即可檢測(cè)二基板的電路接合品質(zhì)，以供研發(fā)人員迅速驗(yàn)證并除錯(cuò)及制程人員可以確認(rèn)制程的條件及方法，以提升制程的品質(zhì)。
文檔編號(hào)G02F1/13GK101211073SQ20061015672
公開日2008年7月2日 申請(qǐng)日期2006年12月28日 優(yōu)先權(quán)日2006年12月28日
發(fā)明者徐名潭, 施奕丞 申請(qǐng)人:中華映管股份有限公司