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可同時(shí)測(cè)試多個(gè)lcm的夾具的制作方法

文檔序號(hào):2784603閱讀:377來(lái)源:國(guó)知局
專(zhuān)利名稱(chēng):可同時(shí)測(cè)試多個(gè)lcm的夾具的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及一種用于測(cè)試LCM(LCD Module,液晶顯示模塊)的夾具,尤其是能同時(shí)測(cè)試多個(gè)LCM的夾具。
背景技術(shù)
隨著時(shí)代發(fā)展,手機(jī)已經(jīng)實(shí)實(shí)在在成為人們?nèi)粘I钪械囊徊糠?,為人們的工作和生活提供著更多快捷與方便的服務(wù)。液晶顯示模塊作為手機(jī)一個(gè)重要的組成部分,這也同時(shí)給LCM的測(cè)試帶來(lái)了不小的壓力。
傳統(tǒng)的LCM測(cè)試夾具包括一一對(duì)應(yīng)的控制部分、LCM放置夾具和測(cè)試平臺(tái),其缺點(diǎn)是每一個(gè)LCM放置夾具都需要對(duì)應(yīng)一個(gè)控制部分,多個(gè)LCM放置夾具就需要多個(gè)控制部分,這樣一來(lái),一個(gè)測(cè)試夾具一次只能測(cè)試一個(gè)LCM,這樣不僅效率非常低,而且操作繁瑣,操作人員容易疲勞,夾具也容易損耗。

發(fā)明內(nèi)容
本實(shí)用新型就是為了解決傳統(tǒng)測(cè)試夾具測(cè)試效率低的問(wèn)題,提供一種可以一次測(cè)試多個(gè)LCM的測(cè)試夾具。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本實(shí)用新型提出一種可同時(shí)測(cè)試多個(gè)LCM的夾具,包括控制板、LCM放置板和測(cè)試平臺(tái),其特征是所述控制板通過(guò)接口與所述測(cè)試平臺(tái)相連,所述測(cè)試平臺(tái)還有多個(gè)接口分別與多個(gè)所述LCM放置板相連。
所述控制板為一個(gè)單獨(dú)的PCB板。
本實(shí)用新型由于將控制部分、LCM放置夾具和測(cè)試平臺(tái)這三者功能進(jìn)行適當(dāng)?shù)姆蛛x,用一個(gè)控制板即可控制多個(gè)LCM放置板,并且將它們放置于一個(gè)測(cè)試平臺(tái)上,這樣可以一次測(cè)試多個(gè)LCM,也可以對(duì)單個(gè)LCM進(jìn)行測(cè)試。大大提高了LCM的測(cè)試效率,同時(shí)也減輕操作人員的工作量。


圖1本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。
圖2A是本實(shí)用新型控制板上單片機(jī)及其擴(kuò)展的外部數(shù)據(jù)存儲(chǔ)塊示意圖。
圖2B是本實(shí)用新型控制板上譯碼器示意圖。
圖2C是本實(shí)用新型控制板上電源示意圖。
圖2D是本實(shí)用新型控制板上單向BUFFER示意圖。
圖2E是本實(shí)用新型控制板上雙向BUFFER示意圖。
圖2F是本實(shí)用新型控制板上存儲(chǔ)芯片適配器(或叫轉(zhuǎn)換座、管座、接口)示意圖。
具體實(shí)施方式
下面通過(guò)實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行進(jìn)一步的說(shuō)明。
如圖1所示,本實(shí)施例的方案是用一個(gè)單獨(dú)的PCB板作為控制板,用一個(gè)小PCB板(稱(chēng)為L(zhǎng)CM放置板)來(lái)放LCM,再用一個(gè)大PCB板作為測(cè)試平臺(tái),這個(gè)平臺(tái)有11個(gè)相同Interface(接口),一個(gè)Interface用于與控制板相連,另十個(gè)與放LCM的小PCB板相連。這樣用一個(gè)控制板即可以單個(gè)的測(cè)試LCM,也可以一次測(cè)試十個(gè)LCM。其結(jié)構(gòu)見(jiàn)圖1。
控制板的原理見(jiàn)圖2A-2F。如圖2A,控制板是用51單片機(jī)作為MCU(微控制單元)。16根數(shù)據(jù)線,P0口作為高八位數(shù)據(jù)線,P1口作為低八位數(shù)據(jù)線。19根地址線,用來(lái)擴(kuò)展512K字節(jié)的外部數(shù)據(jù)存儲(chǔ)空間,這樣可以測(cè)試更多的畫(huà)面。P0口做地址線的低八位,通過(guò)一個(gè)地址鎖存器74LS373(U1)將低八位地址鎖存。鎖存器的使能端接單片機(jī)的ALE,當(dāng)P0口向外輸出地址的低字節(jié)時(shí),ALE輸出一個(gè)高電平從而使能鎖存器74LS373將地址的低字節(jié)保存。P2口的P2.0-P2.5作為地址線的A08-A13位,P1口的P1.0-P1.4作為地址線的高5位,A14-A18位。這樣512K字節(jié)的空間被分為32小塊,每塊16K字節(jié)。
該控制板可以擴(kuò)展兩個(gè)512K字節(jié)的外部數(shù)據(jù)存儲(chǔ)塊M27C4001。這里是通過(guò)一個(gè)38譯碼器74HC138(U2)(如圖2B)來(lái)實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)塊的選擇。74HC138有三個(gè)輸入端,高位C固定接低電平,低兩位B,A接P2口的P2.7,P2.6。通過(guò)對(duì)P2.7,P2.6的控制來(lái)選擇外部數(shù)據(jù)存儲(chǔ)塊,當(dāng)P2.7,P2.6為0,0時(shí),38譯碼器74HC138輸出端的Y0為低電平這樣就選中了數(shù)據(jù)塊U4,當(dāng)P2.7,P2.6為0,1時(shí),74HC138輸出端的Y1為低電平這樣就選中了數(shù)據(jù)塊U5.此外,數(shù)據(jù)存儲(chǔ)塊M27C4001的使能端與MCU(U3)的讀操作使能腳P3.7相連,這樣當(dāng)MCU執(zhí)行讀操作的同時(shí)就使能數(shù)據(jù)存儲(chǔ)塊M27C4001了。
如圖2C,在電源方面,用一個(gè)LDO(穩(wěn)壓源)給LCM供電,以保證LCM的穩(wěn)定性。因?yàn)橐淮我?qū)動(dòng)十個(gè)LCM,為防止驅(qū)動(dòng)信號(hào)在傳輸過(guò)程中的衰減,特意在數(shù)據(jù)線,控制線上加了BUFFER(緩沖器)以保證信號(hào)的驅(qū)動(dòng)能力。在16位數(shù)據(jù)線上加了兩個(gè)雙向BUFFER(緩沖器)HD74HC245(U9,U10)(如圖2E),這樣讀寫(xiě)數(shù)據(jù)都得以保證。在控制線CS,RESET,RS,WR,RD上加一個(gè)單向BUFFER HD74HC244(U8)(如圖2D)。
整個(gè)測(cè)試平臺(tái)的原理就是用11個(gè)相同Interface(接口)與控制板相連和與放LCM的小PCB板相連,因此其圖略,該接口管座示意圖如圖2F所示。
本實(shí)用新型上述實(shí)施例可以一次測(cè)試最多10個(gè)LCM,也可以對(duì)單個(gè)LCM進(jìn)行測(cè)試。這樣大大提高了LCM的測(cè)試效率,同時(shí)也減輕操作人員的工作量。
權(quán)利要求1.一種可同時(shí)測(cè)試多個(gè)LCM的夾具,包括控制板、LCM放置板和測(cè)試平臺(tái),其特征是所述控制板通過(guò)接口與所述測(cè)試平臺(tái)相連,所述測(cè)試平臺(tái)還有多個(gè)接口分別與多個(gè)所述LCM放置板相連。
2.如權(quán)利要求1所述的可同時(shí)測(cè)試多個(gè)LCM的夾具,其特征是所述控制板為一個(gè)單獨(dú)的PCB板。
專(zhuān)利摘要本實(shí)用新型公開(kāi)一種可同時(shí)測(cè)試多個(gè)LCM的夾具,包括控制板、LCM放置板和測(cè)試平臺(tái),其特征是所述控制板通過(guò)接口與測(cè)試平臺(tái)相連,測(cè)試平臺(tái)還有多個(gè)接口分別與多個(gè)LCM放置板相連。由于將控制部分、LCM放置夾具和測(cè)試平臺(tái)這三者功能進(jìn)行適當(dāng)?shù)姆蛛x,用一個(gè)控制板即可控制多個(gè)LCM放置板,并且將它們放置于一個(gè)測(cè)試平臺(tái)上,這樣可以一次測(cè)試多個(gè)LCM,也可以對(duì)單個(gè)LCM進(jìn)行測(cè)試。大大提高了LCM的測(cè)試效率,同時(shí)也減輕操作人員的工作量。
文檔編號(hào)G02F1/13GK2837855SQ20052003585
公開(kāi)日2006年11月15日 申請(qǐng)日期2005年10月18日 優(yōu)先權(quán)日2005年10月18日
發(fā)明者劉嘉, 何志奇 申請(qǐng)人:比亞迪股份有限公司
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