專利名稱：光學機構調整測試板的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及掃描儀、數(shù)碼相機等光學影像產品的一種光學機構調整校驗工具，具體涉及上述產品調整校驗光學機構時所使用的一種光學測試板。
背景技術：
光機頭是掃描儀的核心，其光學效果好壞不僅與各光學影像部件有關，而且與裝配、調測等工藝有關。從某種程度上講，光機頭裝配后的光學調整非但不可缺少，而且相當重要，因為這種調整最直接的效果是發(fā)揮其最高光學性能。
光機頭主要由光頭架、鏡頭和CCD/B光電耦合器等組成，裝配時鏡頭插裝在光頭架的鏡頭孔中，CCD/B光電耦合器安裝在鏡頭成像位置上，從而構成光機頭組件。當光機頭組裝完成后需要用OMA-光學機構調整器具對其MTF值進行檢測，而這種測試設備上設有光學測試板。一般情況下在進行OMA作業(yè)前需要對其設備上的光學測試板位置進行校驗，以確定該位置的正確性。以往校驗方式一般采用專用校驗鐵塊進行定位，但由于測試板上的定位標記為三個相同的十字形，確定位置時通過目視，憑借經驗估計偏差，無法精確讀取位置偏差的數(shù)據(jù)，故難以調整測試板相對OMA校驗器具的位置偏差到一個很準確的位置，同時因無法讀取精確數(shù)據(jù)，也無法采用OMA軟體方式進行位置修正。為此，本實用新型設計了一種適合采用放大鏡觀察讀數(shù)，而且校驗精確的測試板，以快速有效的方式簡化校驗操作。

發(fā)明內容
為達到上述目的，本實用新型采用的技術方案是一種光學機構調整測試板，由片狀基板構成，其基板正面設有光學機構校驗樣板圖形以及測試板的定位標記，所述定位標記由至少三個相同的十字形構成，三個十字形分布在同一平面內其中心連線構成三角形，十字形的邊緣上設有等分的齒形結構或等分的孔形結構。
上述技術方案的有關內容和變化解釋如下1、所述“樣板圖形”是測試板上用于校驗光學機構的一種標準圖形，它隨著產品和要求的不同而變化。所述“定位標記”是指專門用來校正和確定測試板相對光學調整治具(OMA治具)位置的平面或立體形狀。當定位標記為平面形狀時主要是指平面幾何形狀；當定位標記為立體形狀時，主要是指凹凸的幾何形狀。測試板上所設的定位標記從數(shù)量上至少要三個，而且三個布置在一個平面內，而不能布置在一條直線上，其原因是測試板的定位是平面定位，而三點定位可以確定一個平面的位置。所述“等分”的概念是指至少所做的分割是等間距的。
2、上述技術方案中，當十字形的邊緣上設有等分的齒形時，齒形較好地方案為矩形，而且齒寬與齒間距相等。其中以正方形作為齒形，而且齒寬等于齒間距為最佳方案。
3、上述技術方案中，當十字形的邊緣上設有等分的孔形時，孔形較好地方案為矩形，而且孔寬與孔間距相等。其中以正方形作為孔形，而且孔寬等于孔間距為最佳方案。
本實用新型工作原理是將測試板上原來的十字形定位標記的邊緣上設計成帶有等分性質的幾何齒形或孔形，并將齒形或孔形的寬度和間距按一定尺寸確定下來作為刻度來表示，比如每格刻度為0.05mm或0.1mm等，參見附圖4所示，因此在測試板定位時，由于十字形定位標記標有刻度型幾何圖形，外加校驗塊(GAUGE)以及放大鏡的配合，可以對測試板的定位偏差進行校驗和準確讀數(shù)，快速有效地對測試板進行精確定位。
由于上述技術方案運用，本實用新型與現(xiàn)有技術相比具有下列優(yōu)點1、本實用新型在校驗和定位時可以在校驗塊(GAUGE)和放大鏡的配合下準確讀出位置偏差數(shù)值，為進一步校正提供準確依據(jù)。
2、本實用新型由于能夠目視觀察位置偏差讀數(shù)，因此可以采用OMA軟體方式進行位置修正。
3、本實用新型定位時精度高，結構簡單，以快速有效的方式簡化校驗操作，從而獲得了突出的效果，為提高光機頭調測效率發(fā)揮了積極作用。


附圖1為本實用新型測試板平面圖；附圖2為齒型十字定位標記示意圖；附圖3為孔型十字定位標記示意圖；附圖4為本實用新型測試板定位原理圖。
以上附圖中1、基板； 2、樣板圖形； 3、定位標記； 4、齒形； 5、孔形。
具體實施方式
以下結合附圖及實施例對本實用新型作進一步描述實施例一參見附圖1、圖2所示，一種光學機構調整測試板，由長方形條狀基板1構成，其基板1正面設有光學機構校驗樣板圖形2以及測試板的定位標記3，所述定位標記3由三個相同的十字形構成，其中一個布置在條狀基板1的一端，另兩個布置在條狀基板1的另一端，三個十字形為平面幾何形狀并處于基板1正面的同一平面內其中心連線構成三角形，十字形的每條側邊的邊緣上設有5個等分的齒形4，齒形4為正方形而且齒寬與齒間距相等，其尺寸為0.05mm。
實施例二參見附圖1、圖3所示，一種光學機構調整測試板，由長方形條狀基板1構成，其基板1正面設有光學機構校驗樣板圖形2以及測試板的定位標記3，所述定位標記3由三個相同的十字形構成，其中一個布置在條狀基板1的一端，另兩個布置在條狀基板1的另一端，三個十字形為平面幾何形狀并處于基板1正面的同一平面內其中心連線構成三角形，十字形的每條側邊的邊緣上設有5個等分的孔形5，孔形5為正方形而且齒寬與齒間距相等，其尺寸為0.05mm。
權利要求1.一種光學機構調整測試板，由片狀基板[1]構成，其基板[1]正面設有光學機構校驗樣板圖形[2]以及測試板的定位標記[3]，所述定位標記[3]由至少三個相同的十字形構成，三個十字形分布在同一平面內其中心連線構成三角形，其特征在于十字形的邊緣上設有等分的齒形[4]結構構或等分的孔形[5]結構。
2.根據(jù)權利要求1所述的光學機構調整測試板，其特征在于所述齒形[4]為矩形，而且齒寬與齒間距相等。
3.根據(jù)權利要求2所述的光學機構調整測試板，其特征在于所述齒形[4]為正方形。
4.根據(jù)權利要求1所述的光學機構調整測試板，其特征在于所述孔形[5]為矩形，而且孔寬與孔間距相等。
5.根據(jù)權利要求4所述的光學機構調整測試板，其特征在于所述孔形[5]為正方形。
專利摘要一種光學機構調整測試板，由片狀基板[1]構成，其基板[1]正面設有光學機構校驗樣板圖形[2]以及測試板的定位標記[3]，所述定位標記[3]由至少三個相同的十字形構成，三個十字形分布在同一平面內其中心連線構成三角形，其特征在于十字形的邊緣上設有等分的齒形[4]結構或等分的孔形[5]結構。所述齒形[4]或孔形[5]最好為正方形，而且齒寬與齒間距相等。本方案將原來的十字形定位標記的邊緣上設計成帶有等分性質的幾何齒形或孔形，并按一定尺寸確定下來作為刻度來表示，如每格為0.05mm，因此定位時在校驗塊(GAUGE)以及放大鏡的配合，可以對測試板的定位偏差進行準確讀數(shù)，以快速有效地進行精確定位。
文檔編號G02B27/62GK2556672SQ0226346
公開日2003年6月18日 申請日期2002年7月29日 優(yōu)先權日2002年7月29日
發(fā)明者余陸青 申請人:力捷電腦(中國)有限公司