支持多格式圖像色彩的tft-lcd液晶顯示測試系統(tǒng)的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種支持多格式圖像色彩的TFT-1XD液晶顯示測試系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]TFT-1XD具有高清晰度和全彩色的特點，由于其特別薄并且顯示畫面清晰、亮度和對比對度都很高，因此被人們廣泛應(yīng)用?，F(xiàn)有技術(shù)的TFT-LCD對圖像進行顯示時偶爾會出現(xiàn)圖像顯示不清晰、色彩的亮度或者圖像的分辨率較低的現(xiàn)象，因此我們需要對TFT-LCD的缺陷進行檢測，現(xiàn)有技術(shù)的TFT-LCD液晶顯示測試系統(tǒng)在對其進行檢測時需要花費大量的時間，并且檢測結(jié)果不夠精確。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]根據(jù)現(xiàn)有技術(shù)存在的問題，本發(fā)明公開了一種支持多格式圖像色彩的TFT-1XD液晶顯示測試系統(tǒng)，包括與TFT-LCD液晶顯示模組相連接的像素掃面單元、像素掃描單元、測試單元、中央處理單元和顯示單元；
[0004]所述測試單元與像素掃描單元相連接、對TFT-1XD液晶顯示模組顯示圖像色彩的缺陷信息進行數(shù)據(jù)采集；
[0005]所述中央處理單元接收測試單元傳送的數(shù)據(jù)信息，對數(shù)據(jù)信息進行數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換和數(shù)據(jù)處理，將測試結(jié)果輸出至顯示單元。
[0006]所述中央處理單元包括數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換模塊和數(shù)據(jù)存儲模塊。
[0007]所述測試單元對TFT-1XD液晶顯示模組的缺陷信息進行采集時包括點缺陷數(shù)據(jù)信息、線缺陷數(shù)據(jù)信息、偏光片缺陷信息以及顯示功能缺陷信息。
[0008]所述中央處理單元采用S3C2440A處理器。
[0009]本發(fā)明公開的支持多格式圖像色彩的TFT-LCD液晶顯示測試系統(tǒng)，利用測試單元對TFT-LCD液晶顯示模組的性能和缺陷問題等數(shù)據(jù)信息進行測試，并將檢測到的結(jié)果進行數(shù)據(jù)處理和數(shù)據(jù)信息，方便測試人員查看測試結(jié)果。
【附圖說明】
[0010]為了更清楚地說明本申請實施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本申請中記載的一些實施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
[0011]圖1為本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0012]圖2為中央處理單元的結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實施方式】
[0013]為使本發(fā)明的技術(shù)方案和優(yōu)點更加清楚,下面結(jié)合本發(fā)明實施例中的附圖，對本發(fā)明實施例中的技術(shù)方案進行清楚完整的描述:
[0014]如圖1和圖2所示的支持多格式圖像色彩的TFT-1XD液晶顯示測試系統(tǒng)，包括與TFT-1XD液晶顯示模組相連接的像素掃面單元、像素掃描單元、測試單元、中央處理單元和顯示單元；
[0015]所述測試單元與像素掃描單元相連接、對TFT-1XD液晶顯示模組顯示圖像色彩的缺陷信息進行數(shù)據(jù)采集；
[0016]所述中央處理單元接收測試單元傳送的數(shù)據(jù)信息，對數(shù)據(jù)信息進行數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換和數(shù)據(jù)處理，將測試結(jié)果輸出至顯示單元。
[0017]進一步的，所述中央處理單元包括數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換模塊和數(shù)據(jù)存儲模塊。
[0018]所述測試單元對TFT-1XD液晶顯示模組的缺陷信息進行采集時包括點缺陷數(shù)據(jù)信息、線缺陷數(shù)據(jù)信息、偏光片缺陷信息以及顯示功能缺陷信息。
[0019]進一步的，所述中央處理單元采用S3C2440A處理器。
[0020]本發(fā)明公開的支持多格式圖像色彩的TFT-LCD液晶顯示測試系統(tǒng)，可以在短時間內(nèi)檢測到TFT-1XD液晶顯示模組的缺陷信息，方便管理人員對該TFT-1XD液晶顯示模組進行缺陷處理。
[0021]以上所述，僅為本發(fā)明較佳的【具體實施方式】，但本發(fā)明的保護范圍并不局限于此，任何熟悉本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員在本發(fā)明揭露的技術(shù)范圍內(nèi)，根據(jù)本發(fā)明的技術(shù)方案及其發(fā)明構(gòu)思加以等同替換或改變，都應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。
【主權(quán)項】
1.一種支持多格式圖像色彩的TFT-1XD液晶顯示測試系統(tǒng)，其特征在于:包括與TFT-1XD液晶顯示模組相連接的像素掃面單元、像素掃描單元、測試單元、中央處理單元和顯示單元； 所述測試單元與像素掃描單元相連接、對TFT-LCD液晶顯示模組顯示圖像色彩的缺陷信息進行數(shù)據(jù)采集； 所述中央處理單元接收測試單元傳送的數(shù)據(jù)信息，對數(shù)據(jù)信息進行數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換和數(shù)據(jù)處理，將測試結(jié)果輸出至顯示單元。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的支持多格式圖像色彩的TFT-LCD液晶顯示測試系統(tǒng)，其特征還在于:所述中央處理單元包括數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換模塊和數(shù)據(jù)存儲模塊，所述數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換模塊用于接收所述測試單元傳送的數(shù)據(jù)信息，對數(shù)據(jù)格式進行轉(zhuǎn)換后將數(shù)據(jù)存儲在數(shù)據(jù)存儲模塊內(nèi)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的支持多格式圖像色彩的TFT-LCD液晶顯示測試系統(tǒng)，其特征還在于:所述測試單元對TFT-LCD液晶顯示模組的缺陷信息進行采集時包括點缺陷數(shù)據(jù)信息、線缺陷數(shù)據(jù)信息、偏光片缺陷信息以及顯示功能缺陷信息。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的支持多格式圖像色彩的TFT-LCD液晶顯示測試系統(tǒng)，其特征還在于:所述中央處理單元采用S3C2440A處理器。
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種支持多格式圖像色彩的TFT-LCD液晶顯示測試系統(tǒng)，包括與TFT-LCD液晶顯示模組相連接的像素掃面單元、像素掃描單元、測試單元、中央處理單元和顯示單元；所述測試單元與像素掃描單元相連接、對TFT-LCD液晶顯示模組顯示圖像色彩的缺陷信息進行數(shù)據(jù)采集；所述中央處理單元接收測試單元傳送的數(shù)據(jù)信息，對數(shù)據(jù)信息進行數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換和數(shù)據(jù)處理，將測試結(jié)果輸出至顯示單元。
【IPC分類】G09G3-36, G09G3-00
【公開號】CN104700753
【申請?zhí)枴緾N201310660122
【發(fā)明人】高鵬
【申請人】大連龍寧科技有限公司
【公開日】2015年6月10日
【申請日】2013年12月6日