專利名稱:顯示裝置及其測試電路的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種顯示裝置及其測試電路，特別是涉及一種根據(jù)一定電壓以決定是否致能測試電路，并可在測試完成后非致能該測試電路的顯示裝置及其測試電路。
背景技術(shù)：
近年來，平面顯示器的發(fā)展越來越迅速，已經(jīng)逐漸取代傳統(tǒng)的陰極射線管顯示器?，F(xiàn)今的平面顯示器主要有下列幾種有機發(fā)光二極管顯示器(OrganicLight-Emitting Diodes Display；OLED)、等離子體顯示器(Plasma DisplayPanel；PDP)、液晶顯示器(Liquid Crystal Display；LCD)以及場發(fā)射顯示器(Field Emission Display；FED)等。不論是上述何種平面顯示器，制作時皆須對其顯示陣列電路進行測試，以確定制作出來的平面顯示器能夠正常工作。
圖1為公知對于平面顯示器進行測試的電路圖。平面顯示器包含顯示陣列101以及測試單元103。顯示陣列101包含了多條電極配線，測試單元103則通過致能單元105電性連接至顯示陣列101，致能單元105經(jīng)致能信號100來決定是否輸入測試信號至這些電極配線用以對平面顯示器的顯示陣列進行測試。
公知的平面顯示器在進行完測試之后，會將測試單元103以及顯示陣列101的電性連接切斷，或者是使致能單元105不連接任何的信號而呈現(xiàn)浮接(floating)的狀態(tài)。并且以異方性導電膠膜(anisotropic conductive film；ACF)來連接顯示陣列101以及其它印刷電路板或驅(qū)動集成電路(IC)。但是，呈現(xiàn)浮接狀態(tài)的致能單元105仍然置放在平面顯示器中，由于異方性導電膠膜連接其它組件及/或信號可能會導致其它信號耦合(coupling)至致能單元105，此耦合信號可能會使致能單元105開啟，進而造成顯示陣列101所顯示的畫面異常。因此如何在平面顯示器測試之后，消除顯示畫面因原先的測試單元103以及致能單元105所產(chǎn)生的異常是此領(lǐng)域亟待解決的問題。
發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明的目的在于提供一種顯示裝置及其測試電路，來解決上述公知技術(shù)中存在的問題。
為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了一種應(yīng)用于一顯示裝置的測試電路，該顯示裝置包含一像素陣列及一前端電路。該測試電路包含一測試單元及一致能單元，該測試單元用以測試該像素陣列，該致能單元根據(jù)一定電壓以決定是否致能該測試單元。當該像素陣列測試完畢后，該定電壓由該前端電路所提供以非致能該測試單元。
為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明還提供了一種顯示裝置，包含一像素陣列、一前端電路、一測試電路及一致能電路。該測試電路用以測試該像素陣列，該致能電路根據(jù)一定電壓以決定是否致能該測試電路。當該像素陣列測試完畢后，該定電壓由該前端電路所提供以非致能該測試電路。
本發(fā)明提供一定電壓來決定致能電路是否致能測試電路，并在測試完畢后，定電壓持續(xù)的被提供(但電壓電位改變)使致能電路在顯示裝置運行時呈現(xiàn)非致能狀態(tài)。因此顯示裝置的像素陣列不會被測試電路以及致能電路影響而造成顯示異常，進而達到讓顯示裝置正常運行的目的。
以下結(jié)合附圖和具體實施例對本發(fā)明進行詳細描述，但不作為對本發(fā)明的限定。
圖1為公知的平面顯示器的示意圖；圖2為本發(fā)明的較佳實施例的示意圖；以及圖3為本發(fā)明的較佳實施例的另一示意圖。
其中，附圖標記100致能信號 101顯示陣列103測試單元 105致能單元2顯示裝置 20測試信號21像素陣列 22定電壓23測試電路 25致能電路
27前端電路 29測試機具30低電壓電位的定電壓具體實施方式
本發(fā)明的一較佳實施例如圖2所示，為一種顯示裝置2，其包含一像素陣列21、一測試電路23、一致能電路25以及一前端電路27。要測試時，顯示裝置2連接至一測試機具29，測試機具29提供一定電壓22來決定是否致能測試電路23。例如本較佳實施例中，當定電壓22為高電壓電位時，致能電路25即被致能，并使得測試電路23提供的測試信號20輸入至像素陣列21，使像素陣列21可以被測試。而當定電壓22為低電壓電位時，致能電路25即被非致能，使測試電路23提供的測試信號20無法輸入至像素陣列21，使得像素陣列21無法被測試。
當要測試像素陣列21時，定電壓22是由測試機具29所提供，以控制測試電路23何時將測試信號20送入像素陣列21。當像素陣列21測試完畢之后，其它組件要置入于顯示裝置2中時，如圖3所示，測試機具29會停止提供定電壓22至致能電路25，前端電路27將會被連接至致能電路25，并提供一低電壓電位的定電壓30以確保測試電路23處于非致能狀態(tài)，防止致能電路25或者是測試電路23因浮接而影響顯示裝置2的像素陣列21的正常運行。
本發(fā)明并不限定前端電路27的種類，上述實施例的前端電路27可以是驅(qū)動像素陣列21的一驅(qū)動電路、連接像素陣列21與系統(tǒng)端的一柔性印刷電路(Flexible Printed Circuit；FPC)或其它類型可以提供一固定電壓的任何電路，例如位于玻璃上直接壓合集成電路芯片(IC Chip on Glass)上的電路。
由上述可知，本發(fā)明在測試時，借助一定電壓來決定致能電路的開啟。在顯示裝置測試完畢后，定電壓則持續(xù)的被前端電路所提供以使得致能電路在顯示裝置運行時呈現(xiàn)非致能狀態(tài)，因此顯示裝置的像素陣列不會受致能電路或測試電路浮接的影響而造成顯示異常，進而達成讓顯示裝置正常運行的目的。
當然，本發(fā)明還可有其他多種實施例，在不背離本發(fā)明精神及其實質(zhì)的情況下，熟悉本領(lǐng)域的技術(shù)人員可根據(jù)本發(fā)明作出各種相應(yīng)的改變和變形，但這些相應(yīng)的改變和變形都應(yīng)屬于本發(fā)明所附的權(quán)利要求
的保護范圍。
權(quán)利要求
1.一種測試電路，應(yīng)用于一顯示裝置，該顯示裝置包含一像素陣列及一前端電路，其特征在于，該測試電路包含一測試單元，用以測試該像素陣列；以及一致能單元，根據(jù)一定電壓以決定是否致能該測試單元；其中，當該像素陣列測試完畢后，該定電壓由該前端電路所提供以非致能該測試單元。
2.根據(jù)權(quán)利要求
1所述的測試電路，其特征在于，該前端電路為驅(qū)動該像素陣列的一驅(qū)動電路。
3.根據(jù)權(quán)利要求
1所述的測試電路，其特征在于，該前端電路為一柔性印刷電路。
4.根據(jù)權(quán)利要求
1所述的測試電路，其特征在于，該前端電路位于玻璃上直接壓合的集成電路芯片上。
5.一種顯示裝置，其特征在于，包含一像素陣列；一前端電路；一測試電路，用以測試該像素陣列；以及一致能電路，根據(jù)一定電壓以決定是否致能該測試電路；其中，當該像素陣列測試完畢后，該定電壓由該前端電路所提供以非致能該測試電路。
6.根據(jù)權(quán)利要求
5所述的顯示裝置，其特征在于，該前端電路為驅(qū)動該像素陣列的一驅(qū)動電路。
7.根據(jù)權(quán)利要求
5所述的顯示裝置，其特征在于，該前端電路為一柔性印刷電路。
8.根據(jù)權(quán)利要求
5所述的顯示裝置，其特征在于，該前端電路位于玻璃上直接壓合的集成電路芯片上。
專利摘要
本發(fā)明公開了一種顯示裝置及其測試電路，該顯示裝置包含一像素陣列、一前端電路、一測試電路以及一致能電路，該測試電路用以測試該像素陣列，該致能電路根據(jù)一定電壓以決定是否致能該測試電路。當該像素陣列測試完畢后，該定電壓由該前端電路所提供以非致能該測試電路。
文檔編號G09G3/20GK1996443SQ200610140360
公開日2007年7月11日 申請日期2006年11月27日
發(fā)明者陳紀文, 施立偉 申請人:友達光電股份有限公司導出引文BiBTeX, EndNote, RefMan