本發(fā)明涉及觸控顯示技術領域，尤其涉及一種觸控顯示面板、觸控顯示裝置和顯示異常處理方法。

背景技術：

顯示產品通常由顯示處理器將生成的數據信號通過數據線傳輸至顯示單元，以實現畫面的顯示，在顯示產品的使用過程中，靜電的沖擊可能會造成顯示處理器中的電路異常，從而導致顯示畫面出現異常。

目前，針對靜電沖擊導致的顯示畫面出現異常的問題，通常采用周期性讀取顯示處理器中特定寄存器的狀態(tài)值的方式，判斷特定寄存器的狀態(tài)值是否異常，如果特定寄存器的狀態(tài)值異常，則使顯示處理器執(zhí)行復位流程，從而恢復正常的顯示畫面。但是，并不是所有情況下靜電沖擊都會使特定寄存器的狀態(tài)值發(fā)生變化，因此仍存在由于靜電沖擊導致顯示畫面出現異常。

技術實現要素：

有鑒于此，本發(fā)明實施例提供了一種觸控顯示面板、觸控顯示裝置和顯示異常處理方法，能夠降低由于靜電沖擊導致的顯示畫面出現異常的概率。

一方面，本發(fā)明實施例提供了一種觸控顯示面板，包括掃描線、觸控信號線和數據線，所述觸控信號線復用為公共電極線，所述觸控顯示面板還包括：

檢測單元，用于在測試時段中，輸出相同的預設脈沖信號至所述掃描線、所述觸控信號線和所述數據線；

復位單元，用于在所述測試時段中，接收所述觸控信號線上的反饋信號，并在所述反饋信號滿足預設條件時輸出復位信息。

可選地，所述復位單元進一步包括：

處理模塊，用于在所述測試時段中，接收所述觸控信號線上的所述反饋信號，并輸出對應所述反饋信號的數值；

復位模塊，用于接收所述處理模塊輸出的對應所述反饋信號的數值，并在對應所述反饋信號的數值超過預設值時輸出所述復位信息。

可選地，所述測試時段包括多個子測試時段；

所述觸控顯示面板包括多個觸控時段，所述多個觸控時段中的部分觸控時段被用為所述多個子測試時段。

可選地，所述測試時段包括多個周期性的子測試時段；

所述觸控顯示面板包括多個周期性的觸控時段，所述多個周期性的觸控時段中的部分觸控時段被用為所述多個周期性的子測試時段。

可選地，上述觸控顯示面板還包括：

時鐘信號線，所述檢測單元包括時鐘信號控制模塊，所述時鐘信號控制模塊用于在所述測試時段中，輸出所述預設脈沖信號至所述時鐘信號線。

可選地，上述觸控顯示面板還包括：

顯示處理器；

所述顯示處理器，用于接收所述復位信息，并執(zhí)行復位流程。

另一方面，本發(fā)明實施例還提供一種觸控顯示裝置，包括上述的觸控顯示面板。

另一方面，本發(fā)明實施例還提供一種觸控顯示裝置，包括：

上述的觸控顯示面板；

主控板；

所述觸控顯示面板還包括顯示處理器；

所述主控板用于，接收所述復位信息，并輸出復位指令；

所述顯示處理器，用于接收所述復位指令，并執(zhí)行復位流程。

另一方面，本發(fā)明實施例還提供一種顯示異常處理方法，用于觸控顯示裝置，所述觸控顯示裝置包括掃描線、觸控信號線、數據線和顯示處理器，所述觸控信號線復用為公共電極線，所述方法包括：

在測試時段中，輸出相同的預設脈沖信號至所述掃描線、所述觸控信號線和所述數據線，并接收所述觸控信號線上的反饋信號；

當所述反饋信號滿足預設條件時，使所述顯示處理器執(zhí)行復位流程。

可選地，所述當所述反饋信號滿足預設條件時，使所述顯示處理器執(zhí)行復位流程的過程包括：

對所述反饋信號進行處理，得到對應所述反饋信號的數值；

當對應所述反饋信號的數值超過預設值時，使所述顯示處理器執(zhí)行復位流程。

可選地，所述測試時段包括多個子測試時段；

所述觸控顯示面板包括多個觸控時段，所述多個觸控時段中的部分觸控時段被用為所述多個子測試時段。

可選地，所述測試時段包括多個周期性的子測試時段；

所述觸控顯示面板包括多個周期性的觸控時段，所述多個周期性的觸控時段中的部分觸控時段被用為所述多個周期性的子測試時段。

可選地，所述觸控顯示裝置還包括主控板；

所述當所述反饋信號滿足預設條件時，使所述顯示處理器執(zhí)行復位流程的過程包括：

當所述反饋信息滿足所述預設條件時，輸出復位信息至所述主控板；

所述主控板響應于所述復位信息輸出復位指令至所述顯示處理器；

所述顯示處理器響應于所述復位指令執(zhí)行所述復位流程。

本發(fā)明實施例中的觸控顯示面板、觸控顯示裝置和顯示異常處理方法，在測試時段中，輸出相同的預設脈沖信號至掃描線、觸控信號線和數據線，以使觸控信號線進入靜電沖擊檢測的狀態(tài)，測試時段中觸控信號線不會受到干擾，同時接收觸控信號線上的反饋信號，并在反饋信號滿足預設條件時輸出復位信息，以使顯示處理器復位，與現有技術相比，本發(fā)明實施例中的觸控顯示面板在進行異常檢測時，無需讀取寄存器的狀態(tài)值，能夠更加準確地判斷是否出現靜電沖擊，并作為顯示處理器是否復位的依據，從而降低了由于靜電沖擊導致的顯示畫面出現異常的概率。

【附圖說明】

為了更清楚地說明本發(fā)明實施例的技術方案，下面將對實施例中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動性的前提下，還可以根據這些附圖獲得其它的附圖。

圖1為本發(fā)明實施例中一種觸控顯示面板的結構示意圖；

圖2為本發(fā)明實施例中一種在測試時段向掃描線、數據線和觸控信號線輸出的信號時序圖；

圖3為本發(fā)明實施例中一種復位單元的結構框圖；

圖4為本發(fā)明實施例中一種在各時段向掃描線、數據線和觸控信號線輸出的信號時序圖；

圖5為本發(fā)明實施例中另一種觸控顯示面板的結構示意圖；

圖6為本發(fā)明實施例中一種觸控顯示裝置的結構示意圖；

圖7為本發(fā)明實施例中另一種觸控顯示裝置的結構示意圖；

圖8為本發(fā)明實施例中一種顯示異常處理方法的流程示意圖；

圖9為本發(fā)明實施例中另一種顯示異常處理方法的流程示意圖；

圖10為本發(fā)明實施例中另一種顯示異常處理方法的流程示意圖。

【具體實施方式】

為了更好的理解本發(fā)明的技術方案，下面結合附圖對本發(fā)明實施例進行詳細描述。

應當明確，所描述的實施例僅僅是本發(fā)明一部分實施例，而不是全部的實施例?；诒景l(fā)明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動前提下所獲得的所有其它實施例，都屬于本發(fā)明保護的范圍。

在本發(fā)明實施例中使用的術語是僅僅出于描述特定實施例的目的，而非旨在限制本發(fā)明。在本發(fā)明實施例和所附權利要求書中所使用的單數形式的“一種”、“所述”和“該”也旨在包括多數形式，除非上下文清楚地表示其他含義。

取決于語境，如在此所使用的詞語“如果”可以被解釋成為“在……時”或“當……時”或“響應于確定”或“響應于檢測”。類似地，取決于語境，短語“如果確定”或“如果檢測(陳述的條件或事件)”可以被解釋成為“當確定時”或“響應于確定”或“當檢測(陳述的條件或事件)時”或“響應于檢測(陳述的條件或事件)”。

如圖1所示，圖1為本發(fā)明實施例中一種觸控顯示面板的結構示意圖，本發(fā)明實施例提供一種觸控顯示面板，包括掃描線11、觸控信號線(圖中未示出)和數據線12，觸控信號線復用為公共電極線，多條掃描線11與多條數據線12交叉限定了呈矩陣分布的多個顯示單元，顯示單元位于顯示區(qū)域13，即圖1中點狀填充的陰影區(qū)域，數據線12用于傳輸數據信號，以使顯示單元根據數據信號進行發(fā)光顯示，掃描線11用于傳輸掃描信號至顯示單元，以使顯示單元根據掃描信號逐行接收數據信號，觸控顯示面板還包括呈矩陣分布的多個觸控電極(圖中未示出)，每個觸控電極電連接于一條對應的觸控信號線，在觸控時段，觸控信號線用于傳輸觸控信號，在顯示時段，觸控信號線用于傳輸公共電極電壓，使觸控電極復用為公共電極。觸控顯示面板還包括：檢測單元2，用于在測試時段中，輸出相同的預設脈沖信號至掃描線11、觸控信號線和數據線12；復位單元3，用于在測試時段中，接收觸控信號線上的反饋信號，并在反饋信號滿足預設條件時輸出復位信息。觸控顯示面板還可以包括顯示處理器4，顯示處理器4用于生成數據信號并通過數據線12將數據信號傳輸至顯示單元，而上述復位信息用于使顯示處理器4復位。

具體地，靜電沖擊會導致顯示面板上信號線傳輸的數據出現異常，因此，可以在測試時段向掃描線11、觸控信號線和數據線12輸出相同的預設脈沖信號，以使觸控信號線進入靜電沖擊檢測的狀態(tài)，測試時段中觸控信號線不會受到干擾，如圖2所示，圖2為本發(fā)明實施例中一種在測試時段向掃描線、數據線和觸控信號線輸出的信號時序圖，其中，Vgate表示輸出至掃描線11的脈沖信號，Vdata表示輸出至數據線12的脈沖信號，Vtp表示輸出至觸控信號線的脈沖信號，同時，在測試時段，接收觸控信號線上的反饋信號，若沒有靜電沖擊，在正常狀態(tài)下，在觸控信號線上接收到的反饋信號應與上述脈沖信號相對應，即反饋信號在正常狀態(tài)下具有特定波形；若有靜電沖擊，在靜電沖擊的影響下，觸控信號線上的反饋信號會出現異常，即反饋信號在靜電沖擊的狀態(tài)下不是上述特定波形。上述預設條件與上述特定波形相關，當反饋信號為上述特定波形時，反饋信號不滿足預設條件，說明此時沒有靜電沖擊，繼續(xù)正常顯示即可；當反饋信號不為上述特定波形時，反饋信號滿足預設條件，說明此時有靜電沖擊，顯示處理器需要進行執(zhí)行復位流程，恢復至初始狀態(tài)，以消除靜電沖擊對顯示處理器的不良影響。

需要說明的是，本發(fā)明實施例中的觸控顯示面板可以為如圖1中所示的液晶顯示面板或者電子紙顯示面板，另外，本發(fā)明實施例中的觸控顯示面板也可以為有機發(fā)光二極管(Organic Light-Emitting Diode，OLED)顯示面板。

本發(fā)明實施例中的觸控顯示面板，在測試時段中，輸出相同的預設脈沖信號至掃描線、觸控信號線和數據線，以使觸控信號線進入靜電沖擊檢測的狀態(tài)，測試時段中觸控信號線不會受到干擾，同時接收觸控信號線上的反饋信號，并在反饋信號滿足預設條件時輸出復位信息，以使顯示處理器復位，與現有技術相比，本發(fā)明實施例中的觸控顯示面板在進行異常檢測時，無需讀取寄存器的狀態(tài)值，能夠更加準確地判斷是否出現靜電沖擊，并作為顯示處理器是否復位的依據，從而降低了由于靜電沖擊導致的顯示畫面出現異常的概率。

可選地，如圖3所示，圖3為本發(fā)明實施例中一種復位單元的結構框圖，復位單元3進一步包括：處理模塊31，用于在測試時段中，接收觸控信號線上的反饋信號，并輸出對應反饋信號的數值；復位模塊32，用于接收處理模塊輸出的對應反饋信號的數值，并在對應反饋信號的數值超過預設值時輸出復位信息。

具體地，觸控信號線上的反饋信號為模擬信號，不利于直接與預設條件進行對比判斷，因此可以先將反饋信號轉換為對應的數值，同時將數值是否超過預設值作為判斷反饋信號是否滿足預設條件的標準。

可選地，如圖4所示，圖4為本發(fā)明實施例中一種在各時段向掃描線、數據線和觸控信號線輸出的信號時序圖，測試時段包括多個子測試時段t(圖4中僅示意了一個子測試時段t)；觸控顯示面板包括多個觸控時段tp，多個觸控時段tp中的部分觸控時段被用為多個子測試時段t。

具體地，觸控顯示面板在顯示過程中，以幀為周期進行顯示，一幀指觸控顯示面板完成一次畫面顯示的刷新時間，即在每一幀中完成對所有行顯示單元的掃描，在一幀中，可以包括多個觸控時段tp和多個顯示時段td，觸控時段tp和顯示時段td交替進行，在本發(fā)明實施例中，將其中的部分觸控時段tp作為子測試時段t，在子測試時段t中，不進行觸控檢測，而是進行顯示異常檢測，以此來保證異常檢測的過程不會影響正常的顯示和觸控功能。需要說明的是，圖4中僅示意了在子測試時段t中向掃描線、數據線和觸控信號線輸出的信號波形，省略了在觸控時段tp和顯示時段td向掃描線、數據線和觸控信號線輸出的信號波形。

可選地，如圖4所示，可以進一步地將各種類型的時段設置為周期性的，測試時段包括多個周期性的子測試時段t(圖4中僅示意了一個子測試時段t)；觸控顯示面板包括多個周期性的觸控時段tp，多個周期性的觸控時段tp中的部分觸控時段被用為多個周期性的子測試時段t。周期性的時段是指時段會循環(huán)重復出現，且每一次循環(huán)所經歷的時間均相同，例如，每一幀中包括周期性出現的120個觸控時段tp，將其中的第60個觸控時段和第120個觸控時段作為子測試時段t來進行異常測試，以實現將子測試時段t同樣設置為周期性的時段。在觸控顯示面板的工作過程中，隨時可能出現由于靜電沖擊而導致的畫面顯示異常，因此，周期性的時段設置，能夠更加全面和及時地進行異常測試，且將子測試時段t周期性的設置在正常的顯示過程中，對于正常顯示及觸控功能的影響較小，子測試時段t的周期可以根據需要進行設置，周期越長，則對于觸控功能的影響越小，周期越短，則能夠更加及時地進行異常測試。

可選地，如圖5所示，圖5為本發(fā)明實施例中另一種觸控顯示面板的結構示意圖，圖5為圖1的一種具體結構示意圖，圖1中僅示意了檢測單元2的連接關系，圖5中進一步示意了檢測單元所包含的部件，上述觸控顯示面板還包括：時鐘信號線(圖中未示出)，檢測單元2可以包括時鐘信號控制模塊5、數據線控制模塊6和柵極驅動電路7，圖5中點狀填充的陰影區(qū)域為顯示區(qū)域13，時鐘信號控制模塊5用于在測試時段中，輸出上述預設脈沖信號至時鐘信號線，數據線控制模塊6用于在測試時段中，輸出上述預設脈沖信號至觸控信號線和數據線12，柵極驅動電路7連接于時鐘信號線，柵極驅動電路7連接于掃描線11，其中，柵極驅動電路7用于為掃描線11提供掃描信號，時鐘信號線用于為柵極驅動電路7提供掃描所需要時鐘信號，為了使柵極驅動電路7輸出上述預設脈沖信號，需要給時鐘信號線提供相同的預設脈沖信號。需要說明的是，上述時鐘信號控制模塊5、數據線控制模塊6和復位單元3可以與顯示處理器4集成于驅動芯片中。

可選地，如圖1和圖5所示，顯示處理器4可以包括兩種復位方式，在第一種復位方式中，復位單元3將復位信息直接發(fā)送至顯示處理器4，上述顯示處理器4，還用于接收上述復位信息，并響應于復位信息執(zhí)行復位流程，從而恢復至初始狀態(tài)，以消除靜電沖擊對顯示處理器4的不良影響，在第一種復位方式中，顯示處理器4響應于復位信息進行復位，第二種復位方式會在后續(xù)實施例中進行說明。第一種復位方式，可以將實現異常測試及復位功能的部件和顯示處理器4集成于同一個芯片中，因此無需在觸控顯示面板之外額外設置的元件參與畫面異常測試。

如圖6所示，圖6為本發(fā)明實施例中一種觸控顯示裝置的結構示意圖，本發(fā)明實施例還提供一種觸控顯示裝置，包括上述的觸控顯示面板100。其中，觸控顯示面板100的具體結構和原理與上述實施例相同，在此不再贅述。顯示裝置可以是例如觸摸顯示屏、手機、平板計算機、筆記本電腦、電紙書或電視機等任何具有顯示功能的電子設備。

本發(fā)明實施例中的顯示裝置，在測試時段中，輸出相同的預設脈沖信號至掃描線、觸控信號線和數據線，以使觸控信號線進入靜電沖擊檢測的狀態(tài)，測試時段中觸控信號線不會受到干擾，同時接收觸控信號線上的反饋信號，并在反饋信號滿足預設條件時輸出復位信息，以使顯示處理器復位，與現有技術相比，本發(fā)明實施例中的觸控顯示面板在進行異常檢測時，無需讀取寄存器的狀態(tài)值，能夠更加準確地判斷是否出現靜電沖擊，并作為顯示處理器是否復位的依據，從而降低了由于靜電沖擊導致的顯示畫面出現異常的概率。

如圖7所示，圖7為本發(fā)明實施例中另一種觸控顯示裝置的結構示意圖，本發(fā)明實施例還提供一種觸控顯示裝置，包括：上述的觸控顯示面板100；主控板200；圖7中點狀填充的陰影區(qū)域為顯示區(qū)域13，觸控顯示面板還包括顯示處理器8；主控板200用于，接收復位單元3發(fā)送的復位信息，并輸出復位指令至顯示處理器8；顯示處理器8，用于接收復位指令，并響應于復位指令執(zhí)行復位流程。在如圖7所示的觸控顯示裝置中，與圖5所示實施例中的第一種復位方式不同的是，顯示處理器8還可以通過第二種復位方式進行復位，在第二種復位方式中，復位單元3將復位信息輸出至主控板200，主控板200響應于復位信息輸出復位指令至顯示處理器8，顯示處理器8響應于主控板200發(fā)送的復位指令進行復位。在第二種復位方式中，顯示處理器8是響應于主控板200所發(fā)送的復位指令來執(zhí)行復位流程的，在現有技術中，顯示處理器8就是由主控板200來控制執(zhí)行復位等流程的，因此，與第一種復位方式相比，第二種復位方式能夠兼容現有的復位流程，實現的方式更為簡單。其中，觸控顯示面板100的具體結構和原理與上述實施例相同，在此不再贅述。顯示裝置可以是例如觸摸顯示屏、手機、平板計算機、筆記本電腦、電紙書或電視機等任何具有顯示功能的電子設備。需要說明的是，圖7并不是觸控顯示裝置的完整結構示意，僅示意了觸控顯示面板100和主控板200之間的連接關系示意，在實際的觸控顯示裝置中，例如手機中，主控板200通常位于觸控顯示面板100的背面。

本發(fā)明實施例中的顯示裝置，在測試時段中，輸出相同的預設脈沖信號至掃描線、觸控信號線和數據線，以使觸控信號線進入靜電沖擊檢測的狀態(tài)，測試時段中觸控信號線不會受到干擾，同時接收觸控信號線上的反饋信號，并在反饋信號滿足預設條件時輸出復位信息，以使顯示處理器復位，與現有技術相比，本發(fā)明實施例中的觸控顯示面板在進行異常檢測時，無需讀取寄存器的狀態(tài)值，能夠更加準確地判斷是否出現靜電沖擊，并作為顯示處理器是否復位的依據，從而降低了由于靜電沖擊導致的顯示畫面出現異常的概率。

本發(fā)明實施例還提供一種顯示異常處理方法，用于觸控顯示裝置，如圖6和圖7所示，觸控顯示裝置包括觸控顯示面板100，如圖1和圖7所示，觸控顯示面板包括掃描線11、觸控信號線、數據線12和顯示處理器，該顯示處理器可以為圖1所示實施例中的顯示處理器4或圖7中所示實施例的顯示處理器8，觸控信號線復用為公共電極線，如圖8所示，圖8為本發(fā)明實施例中一種顯示異常處理方法的流程示意圖，該方法包括：

步驟101、在測試時段中，輸出相同的預設脈沖信號至掃描線11、觸控信號線和數據線12，并接收觸控信號線上的反饋信號；

步驟102、當反饋信號滿足預設條件時，使顯示處理器執(zhí)行復位流程。

當反饋信號不滿足預設條件時，繼續(xù)正常的顯示流程，顯示處理器不執(zhí)行復位流程。

其中，觸控顯示裝置的具體結構和原理與上述圖6和圖7對應的實施例相同，在此不再贅述。

本發(fā)明實施例中的顯示異常處理方法，在測試時段中，輸出相同的預設脈沖信號至掃描線、觸控信號線和數據線，以使觸控信號線進入靜電沖擊檢測的狀態(tài)，測試時段中觸控信號線不會受到干擾，同時接收觸控信號線上的反饋信號，并在反饋信號滿足預設條件時輸出復位信息，以使顯示處理器復位，與現有技術相比，本發(fā)明實施例中的觸控顯示面板在進行異常檢測時，無需讀取寄存器的狀態(tài)值，能夠更加準確地判斷是否出現靜電沖擊，并作為顯示處理器是否復位的依據，從而降低了由于靜電沖擊導致的顯示畫面出現異常的概率。

可選地，如圖9所示，圖9為本發(fā)明實施例中另一種顯示異常處理方法的流程示意圖，上述步驟102、當反饋信號滿足預設條件時，使顯示處理器執(zhí)行復位流程的過程包括：

步驟1021、對反饋信號進行處理，得到對應反饋信號的數值；

步驟1022、當對應反饋信號的數值超過預設值時，使顯示處理器執(zhí)行復位流程。

可選地，如圖4所示，測試時段包括多個子測試時段t；觸控顯示面板包括多個觸控時段tp，多個觸控時段tp中的部分觸控時段被用為多個子測試時段t。觸控顯示面板在顯示過程中，以幀為周期進行顯示，一幀指觸控顯示面板完成一次畫面顯示的刷新時間，即在每一幀中完成對所有行顯示單元的掃描，在一幀中，可以包括多個觸控時段tp和多個顯示時段td，觸控時段tp和顯示時段td交替進行，在本發(fā)明實施例中，將其中的部分觸控時段作為子測試時段t，在子測試時段t中，不進行觸控檢測，而是進行顯示異常檢測，以此來保證異常檢測的過程不會影響正常的顯示和觸控功能。需要說明的是，圖4中僅示意了在子測試時段t中向掃描線、數據線和觸控信號線輸出的信號波形，省略了在觸控時段tp和顯示時段td向掃描線、數據線和觸控信號線輸出的信號波形。

可選地，如圖4所示，可以進一步地將各種類型的時段設置為周期性的，測試時段包括多個周期性的子測試時段t；觸控顯示面板包括多個周期性的觸控時段tp，多個周期性的觸控時段tp中的部分觸控時段被用為多個周期性的子測試時段t。周期性的時段是指時段會循環(huán)重復出現，且每一次循環(huán)所經歷的時間均相同，例如，每一幀中包括周期性出現的120個觸控時段tp，將其中的第60個觸控時段和第120個觸控時段作為子測試時段t來進行異常測試。在觸控顯示面板的工作過程中，隨時可能出現由于靜電沖擊而導致的畫面顯示異常，因此，周期性的時段設置，能夠更加全面和及時地進行異常測試，且將子測試時段t周期性的設置在正常的顯示過程中，對于正常顯示及觸控功能的影響較小，子測試時段t的周期可以根據需要進行設置，周期越長，則對于觸控功能的影響越小，周期越短，則能夠更加及時地進行異常測試。

可選地，如圖7所示，觸控顯示裝置還包括主控板200，如圖10所示，圖10為本發(fā)明實施例中另一種顯示異常處理方法的流程示意圖，上述步驟102、當反饋信號滿足預設條件時，使顯示處理器執(zhí)行復位流程的過程包括：

步驟103、當反饋信息滿足預設條件時，輸出復位信息至主控板200；

步驟104、主控板200響應于復位信息輸出復位指令至顯示處理器8；

步驟105、顯示處理器8響應于復位指令執(zhí)行復位流程。

具體地，如圖7所示，復位單元3將復位信息輸出至主控板200，主控板200響應于復位信息輸出復位指令至顯示處理器8，顯示處理器8響應于主控板200發(fā)送的復位指令進行復位。顯示處理器8是響應于主控板200所發(fā)送的復位指令來執(zhí)行復位流程的，在現有技術中，顯示處理器8就是由主控板200來控制執(zhí)行復位等流程的，因此，這種復位方式能夠兼容現有的復位流程，實現的方式更為簡單。

本發(fā)明實施例中的顯示異常處理方法，在測試時段中，輸出相同的預設脈沖信號至掃描線、觸控信號線和數據線，以使觸控信號線進入靜電沖擊檢測的狀態(tài)，測試時段中觸控信號線不會受到干擾，同時接收觸控信號線上的反饋信號，并在反饋信號滿足預設條件時輸出復位信息，以使顯示處理器復位，與現有技術相比，本發(fā)明實施例中的觸控顯示面板在進行異常檢測時，無需讀取寄存器的狀態(tài)值，能夠更加準確地判斷是否出現靜電沖擊，并作為顯示處理器是否復位的依據，從而降低了由于靜電沖擊導致的顯示畫面出現異常的概率。

以上所述僅為本發(fā)明的較佳實施例而已，并不用以限制本發(fā)明，凡在本發(fā)明的精神和原則之內，所做的任何修改、等同替換、改進等，均應包含在本發(fā)明保護的范圍之內。