專利名稱：液晶顯示器斷線檢測電路及檢測方法
技術領域：
本發(fā)明涉及液晶顯示領域的檢測電路，尤其涉及一種液晶顯示器雙向驅動的斷線檢測電路及檢測方法。
背景技術：
目前大尺寸的薄膜晶體管液晶顯示器(Thin Film Transistor一Liquid CrystalDisplay, TFT-1XD)設計中，經(jīng)常會采用雙向驅動的設計方法，以保證大尺寸顯示區(qū)像素充電均勻。故采用的信號線數(shù)量多，一般在設計雙向電路時要對其信號線進行檢測，判斷是否存在斷線，以提高液晶顯示器的顯示質量。目前的液晶顯示器雙驅動電路的檢測電路，如圖1所示，多條柵極信號線15及多條數(shù)據(jù)信號線16，多個第一晶體管11，其柵極、源極分別與柵極信號線15和數(shù)據(jù)信號線16連接。柵極信號線15通過柵極引線17，18與連接在柵極焊點23，24上的柵極短路棒19，20，21，22連接。數(shù)據(jù)信號線16通過數(shù)據(jù)引線10與連接在數(shù)據(jù)焊點25，26，27上的數(shù)據(jù)短路棒110，120，130連接。該柵極短路棒19，20，21，22為多條柵極引線17，18短路連接而成，該數(shù)據(jù)短路棒110，120，130為多條數(shù)據(jù)引線10短路連接而成。圖中標號12，13為柵極集成電路的安裝位置，14為數(shù)據(jù)集成電路的安裝位置。陣列檢測設備在左右兩側的柵極焊點23、24中扎針注入波形信號，該波形信號分別通過短路棒19、21、20、22及柵極引線17，18進入顯示區(qū)，同時數(shù)據(jù)焊點25、26、27扎針注入該波形信號，分別通過短路棒110、120、130及數(shù)據(jù)引線10進入顯示區(qū)逐個對第一晶體管11充電。陣列檢測設備逐個檢測該第一晶體管11對應的像素電壓是否為第一晶體管11正常工作時的像素電壓，以確定每個第一晶體管11是否正常工作。若該某一個第一晶體管11未正常工作，則確定與該第一晶體管連接的柵極信號線15發(fā)生斷線?，F(xiàn)有的液晶顯示器雙驅動檢測電路中，如果顯示區(qū)中任意一條信號線發(fā)生斷路，因陣列檢測設備在兩側柵極焊點都會注入波形信號，所以斷路位置兩側都可以接收信號并傳輸至第一晶體管11，使其正常工作；即使僅在一側柵極焊點23，24中注入信號，斷路的柵極信號線15與其他柵極信號線15通過兩側的短路棒19，20，21，22形成回路，斷路位置的兩側同樣可以接收信號并傳輸至第一晶體管11，使其正常工作，導致陣列檢測設備檢測出的該第一晶體管11對應的像素電壓為正常值，信號線斷路問題無法檢出。雖然斷路位置兩側信號因RC delay會出現(xiàn)信號電壓差異，此信號電壓差異較小，陣列檢測設備并不會判定為斷路。如圖2所示，若柵極信號線15上任意位置150發(fā)生斷路，柵極信號線15通過柵極短路棒21，22與柵極信號線15形成環(huán)路，當陣列檢測設備在單側的柵極焊點23，24注入信號時，該發(fā)生斷路的柵極信號線15仍然全部可接收到信號，并傳輸至每一個第一晶體管11上，對其充電，使其正常工作。陣列檢測設備逐一檢測出第一晶體管11對應的像素電壓為其正常工作時的像素電壓，故不能檢測出信號線是否斷路。

發(fā)明內容
本發(fā)明的主要目的在于針對現(xiàn)有技術中存在的液晶顯示器采用雙向驅動的檢測電路無法檢出斷線情況的缺陷，提出了一種可檢測出斷線的檢測電路及檢測方法。本發(fā)明提供一種液晶顯示器斷線檢測電路及檢測方法，該檢測電路包括多條柵極信號線和多條數(shù)據(jù)信號線、多個第一晶體管、多條數(shù)據(jù)引線、多條柵極引線、多個數(shù)據(jù)焊點、多個柵極焊點、多個第二晶體管、外圍焊點；所述每個第一晶體管的柵極與所述每條柵極信號線連接，源極與所述每條數(shù)據(jù)信號線連接，所述每條數(shù)據(jù)信號線的第一端直接通過對應的數(shù)據(jù)引線與所述數(shù)據(jù)焊點連接，所述每條柵極信號線的第一端直接通過對應的柵極引線與所述柵極焊點連接，所述每個第二晶體管的源極與對應的柵極信號線的第二端連接，所述每個第二晶體管的漏極通過對應的柵極引線與所述柵極焊點連接，所述多個第二晶體管的柵極串聯(lián)成一條引線與所述外圍焊點連接。上述的液晶顯示器斷線檢測電路中，在所述數(shù)據(jù)焊點和所述柵極焊點中分別注入波形信號，關閉所述多個第二晶體管時，該波形信號僅由所述每條柵極信號線的第一端傳輸至每個第一晶體管進行充電，使每個第一晶體管對應的像素電壓值在預定范圍內，若有至少一個像素電壓值超出預定范圍，則確定與該至少一個像素電壓值對應的第一晶體管連接的柵極信號線發(fā)生斷線。上述的液晶顯示器斷線檢測電路中，在通過所述外圍焊點輸入信號使所述多個第二晶體管都導通時，所述每條柵極信號線兩端均傳輸該波形信號至每個第一晶體管。上述的液晶顯示器斷線檢測電路中，更包括多個第三晶體管，所述每個第三晶體管的源極通過對應的數(shù)據(jù)引線與所述數(shù)據(jù)焊點連接，漏極與所述內條數(shù)據(jù)信號線的第二端連接，且所述多個第三晶體管的柵極串聯(lián)成一條引線與所述外圍焊點連接。上述的液晶顯示器斷線檢測電路中，在數(shù)據(jù)焊點和柵極焊點中分別注入波形信號，關閉所述多個第二和/或第三晶體管時，該波形信號僅由所述每條柵極信號線和/或數(shù)據(jù)信號線的第一端傳輸至每個第一晶體管進行充電，使每個第一晶體管對應的像素電壓值在預定范圍內，若有至少一個像素電壓值超出預定范圍，則與該至少一個像素電壓值對應的第一晶體管連接的柵極信號線和/或數(shù)據(jù)信號線發(fā)生斷線。上述的液晶顯示器斷線檢測電路中，在通過所述外圍焊點輸入信號使所述多個第二和/或第三晶體管都導通時，所述每條柵極信號線和/或所述每條數(shù)據(jù)信號線兩端均傳輸該波形信號至每個第一晶體管。一種液晶顯示器斷線檢測方法，包括以下步驟提供一液晶顯示器斷線檢測電路，該液晶顯示器斷線檢測電路包括多條柵極信號線和多條數(shù)據(jù)信號線、多個第一晶體管、多條數(shù)據(jù)引線、多條柵極引線、多個數(shù)據(jù)焊點、多個柵極焊點、多個第二晶體管、外圍焊點；所述每個第一晶體管的柵極與所述每條柵極信號線連接，源極與所述每條數(shù)據(jù)信號線連接，所述每條數(shù)據(jù)信號線的第一端直接通過對應的數(shù)據(jù)引線與所述數(shù)據(jù)焊點連接，所述每條柵極信號線的第一端直接通過對應的柵極引線與所述柵極焊點連接，所述每個第二晶體管的源極與對應的柵極信號線的第二端連接，所述每個第二晶體管的漏極通過對應的柵極引線與所述柵極焊點連接，所述多個第二晶體管的柵極串聯(lián)成一條引線與所述外圍焊點連接；在所述每條柵極信號線和所述每條數(shù)據(jù)信號線中輸入波形信號；
關閉所述多個第二晶體管，使該波形信號僅由所述每條柵極信號線的第一端傳輸至所述每個第一晶體管；逐一檢測所述每個第一晶體管對應的像素電壓值，判斷該像素電壓值是否在預定范圍內，若至少一個像素電壓值超出預定范圍，則確定與該像素電壓值對應的第一晶體管連接的柵極信號線發(fā)生斷線。上述的液晶顯示器斷線檢測方法中，該斷線檢測方法提供的液晶顯示器斷線檢測電路還包括多個第三晶體管，所述每個第三晶體管的源極通過所述數(shù)據(jù)引線與所述數(shù)據(jù)焊點連接，漏極與所述數(shù)據(jù)信號線第二端連接，且所述多個第三晶體管的柵極串聯(lián)成一條引線與所述外圍焊點連接。上述的液晶顯示器斷線檢測方法中還包括在所述每條柵極信號線和所述每條數(shù)據(jù)信號線中輸入波形信號；關閉所述多個第二和/或第三晶體管，使該波形信號僅在所述每條柵極信號線和/或數(shù)據(jù)信號線的第一端傳輸至所述每個第一晶體管；逐一檢測所述每個第一晶體管對應的像素電壓值，判斷該像素電壓值是否在預定范圍內，若至少一個像素電壓值超出預定范圍，則確定與該像素電壓值對應的第一晶體管連接的柵極信號線發(fā)生斷線。實施本發(fā)明液晶顯示器斷線檢測電路及檢測方法的有益效果在于采用增加一組第二晶體管和/或第三晶體管控制一側信號線的信號傳輸，在陣列檢測時，關閉所有的第二晶體管和/或第三晶體管，則與該第二晶體管和/或第三晶體管連接的一側信號線不能傳輸信號，則該側的第一晶體管不能充電，導致陣列檢測設備檢測出該第一晶體管對應的像素電壓異常，根據(jù)該第一晶體管的位置可判斷出斷線位置。還可在需要雙驅動的光配向制程中，打開所有的第二晶體管和/或第三晶體管，形成雙向電路。采用這種電路在陣列檢測時可檢出大尺寸雙向驅動信號線中的斷路位置，并進行修補，提升產(chǎn)品質量，降低斷路漏放率。


下面將結合附圖及實施例對本發(fā)明液晶顯示器斷線檢測電路及檢測方法作進一步說明，附圖中圖1為現(xiàn)有技術中液晶顯示器斷線檢測電路圖；圖2為圖1所示檢測電路的簡化圖；圖3為本發(fā)明提供的液晶顯示器斷線檢測電路第一較佳實施例圖；圖4為圖3所示檢測電路的簡化圖；圖5為本發(fā)明提供的液晶顯示器斷線檢測電路第二較佳實施例圖。
具體實施例方式對于一般大尺寸的屏幕，柵極信號線較長且打開第一晶體管所需的電壓較高(一般是27V或33V)，電阻電容延遲效應明顯；數(shù)據(jù)信號線長度較短，電壓較低(一般是O至14V),電阻電容延遲效應影響較小，一般采用柵極雙向、數(shù)據(jù)單向驅動電路。而對于特大尺寸的屏幕，所需要的數(shù)據(jù)信號線較長，故采用柵極雙向、數(shù)據(jù)雙向驅動電路。所以本發(fā)明提供的液晶顯示器雙向驅動的斷線檢測電路，包括柵極雙向、數(shù)據(jù)單向驅動的斷線檢測電路和柵極雙向、數(shù)據(jù)雙向驅動的斷線檢測電路。參考圖3至圖4，本發(fā)明提供的液晶顯示器斷線檢測電路的第一較佳實施例圖，為柵極雙向、數(shù)據(jù)單向驅動的斷線檢測電路。圖4為圖3所示檢測電路圖的簡化圖。該電路包括多條柵極信號線15、多條數(shù)據(jù)信號線16、多個第一晶體管11、多條數(shù)據(jù)引線10、多條柵極引線17，18、多個數(shù)據(jù)焊點25，26，27、多個柵極焊點23，24、多個第二晶體管28、外圍焊點31、多個柵極短路棒19，20，21，22、多個數(shù)據(jù)短路棒110，120，130。該多條柵極信號線15、多條數(shù)據(jù)信號線16、多個第一晶體管11可以為現(xiàn)有技術中液晶顯示器的元件。每個第一晶體管11的柵極與每條柵極信號線15連接、源極與每條數(shù)據(jù)信號線16連接。每個第二晶體管28的源極與每條柵極信號線15的一端連接(可將此端命名為第二端)。每個第二晶體管28的漏極通過每條柵極引線17與連接在柵極焊點23，24上的柵極短路棒19，21連接。所有的第二晶體管28的柵極串聯(lián)成一條引線30與外圍焊點31連接。每條柵極信號線15的另一端(此端命名為第一端)通過每條柵極引線18與連接在柵極焊點23，24上的柵極短路棒20，22連接。每條數(shù)據(jù)信號線16的一端(此端命名為第一端)通過每條數(shù)據(jù)引線10與連接在數(shù)據(jù)焊點25，26，27上的數(shù)據(jù)短路棒110，120，130連接。該柵極短路棒19，20，21，22為多條柵極引線17，18短路連接而成，該數(shù)據(jù)短路棒110，120，130為多條數(shù)據(jù)引線10短路連接而成。圖中標號12，13為柵極集成電路的安裝位置，14為數(shù)據(jù)集成電路的安裝位置。陣列檢測時，陣列檢測設備的探針在左右兩側的數(shù)據(jù)焊點25，26，27和柵極焊點23，24中注入波形信號。外圍焊點31中不注入信號，所有的第二晶體管28的關閉。與第二晶體管28相連的柵極信號線15的第二端無法傳遞該波形信號，只能由柵極信號線15的第一端傳遞該波形信號至每個第一晶體管11。如圖4所示，若柵極信號線15在150位置發(fā)生斷路，此時僅150位置右側的柵極信號線151有波形信號輸入，而150位置左側的柵極信號線152因第二晶體管28的關閉而無法接收到該波形信號。此時，150位置右側的柵極信號線能將波形信號逐一傳輸至第一晶體管11，使其打開充電，則與每個第一晶體管11對應的像素電壓值正常，即在預定范圍內；而150位置左側的第一晶體管11因未接收到波形信號而無法充電，則與該第一晶體管11對應的像素電壓值異常，即超出預定范圍。陣列檢測設備通過檢測第一晶體管11對應的像素電壓是否為正常值(第一晶體管11正常工作時的像素電壓)，以此確定第一晶體管11是否正常工作，從而確定該柵極信號線15有無斷線以及斷點的位置。在光配向制程中需要雙向電路，在外圍焊點31中注入信號，較佳為高壓信號，該信號由引線30傳輸至第二晶體管28，使所有的第二晶體管28導通。此時在左右兩側的柵極焊點23，24及數(shù)據(jù)焊點25，26，27中注入波形信號，每條柵極信號線15均可從兩側傳輸該波形信號至每一個第一晶體管11，形成雙向電路進行光配向。參考圖5，為本發(fā)明提供的液晶顯示器斷線檢測電路的第二較佳實施例圖，為柵極雙向、數(shù)據(jù)雙向驅動電路提供的斷線檢測電路。與上述斷線檢測電路不同之處在于，在上述檢測電路的基礎上，增加第三晶體管29，所述每個第三晶體管29的源極通過所述數(shù)據(jù)引線10與所述數(shù)據(jù)焊點25，26，27連接，漏極與所述數(shù)據(jù)信號線16的第二端連接。所有的第三晶體管29的柵極串聯(lián)成引線30，連接到外圍焊點31。數(shù)據(jù)信號線16的第一端直接通過數(shù)據(jù)引線10與數(shù)據(jù)短路棒180，190，200連接，該數(shù)據(jù)短路棒180，190，200兩側均連接數(shù)據(jù)焊點25，26，27。而柵極短路棒19，20，21，22的兩端均連接柵極焊點23，24。從而使柵極信號線15從左下、右下、左上、右上四個方向均連接有柵極焊點23，24 ;使數(shù)據(jù)信號線16從左下、右下、左上、右上四個方向均連接有數(shù)據(jù)焊點25，26，27。在數(shù)據(jù)信號線16的第一端也設置一個數(shù)據(jù)集成電路安裝位置32。陣列檢測時，陣列檢測設備的探針向所有的柵極焊點23，24和數(shù)據(jù)焊點25，26，27注入波形信號，而所有的外圍焊點31中均不注入信號。此時，所有的第二晶體管28和第三晶體管29均關閉，左上側及右下側的波形信號不能傳輸至柵極信號線15，左下側及右下側的波形信號不能傳輸至數(shù)據(jù)信號線16，從而形成了只有右側的柵極信號線15和上側的數(shù)據(jù)信號線16能將該波形信號逐一傳輸至第一晶體管11。若在柵極信號線15和數(shù)據(jù)信號線16上出現(xiàn)斷點，則斷點右側的第一晶體管11能逐一打開充電，但斷點左側的所有的第一晶體管11不能充電。如柵極信號線斷點和數(shù)據(jù)信號線斷點位置相同，則斷點上側的第一晶體管11逐一打開充電，則該第一晶體管11對應的像素電壓值正常，斷點下側所有的第一晶體管11不能充電，則其對應的像素電壓值異常。陣列檢測設備逐一檢測第一晶體管11對應的像素電壓是否為第一晶體管11正常值，以判斷第一晶體管11是否正常工作，從而確定柵極信號線或數(shù)據(jù)信號線有無斷線，以及斷線的位置。在光配向制程中需要雙向電路，在所有的外圍焊點31中注入信號，較佳為高壓信號，該信號由引線30傳輸至所有的第二晶體管28和第三晶體管29，使所有的第二晶體管28和第三晶體管29呈導通狀態(tài)，此時在所有的柵極焊點23，24及數(shù)據(jù)焊點25，26，27中注入波形信號，則左右兩側的柵極信號線15以及上下兩側的數(shù)據(jù)信號線16均可將波形信號傳輸至第一晶體管11，形成雙向電路進行光配向。本發(fā)明根據(jù)上述的斷線檢測電路還提供了使用該電路的方法，該方法包括以下步驟陣列檢測設備在兩側的柵極焊點23，24和數(shù)據(jù)焊點25，26，27中針扎注入波形信號，該波形信號經(jīng)柵極引線17，18和數(shù)據(jù)引線10傳輸至每一條柵極信號線15和每一條數(shù)據(jù)信號線16 ；關閉所有的第二晶體管28，使該波形信號僅由每條柵極信號線15的第一端傳輸至每個第一晶體管11;陣列檢測設備逐一檢測第一晶體管11對應的像素電壓是否在預定范圍內，以此確定第一晶體管11是否正常工作。若某一個第一晶體管11未正常工作，則確定與該第一晶體管11連接的柵極信號線15發(fā)生斷線。還可根據(jù)該未正常工作的第一晶體管11的位置確定該發(fā)生斷線的柵極信號線15的斷點位置。還包括以下步驟關閉所有的第二晶體管28和第三晶體管29，使波形信號僅由每條柵極信號線15和/或數(shù)據(jù)信號線16的第一端傳輸至每一個第一晶體管11。陣列檢測設備逐一檢測第一晶體管11對應的像素電壓是否在預定范圍內，以此確定第一晶體管11是否正常工作。若某一個第一晶體管11未正常工作，則確定該第一晶體管11連接的柵極信號線15和/或數(shù)據(jù)信號線16發(fā)生斷線。還可根據(jù)該未正常工作的第一晶體管11的位置確定該發(fā)生斷線的柵極信號線15和/或數(shù)據(jù)信號線16的斷點位置。應當理解的是，對本領域普通技術人員來說，可以根據(jù)上述說明加以改進或變換，而所有這些改進和變換都應屬于本發(fā)明所附權利要求的保護范圍。
權利要求
1.一種液晶顯示器斷線檢測電路，用于檢測一液晶顯示器雙向驅動電路是否斷線，其特征在于，包括: 多條柵極信號線和多條數(shù)據(jù)信號線、多個第一晶體管、多條數(shù)據(jù)引線、多條柵極引線、多個數(shù)據(jù)焊點、多個柵極焊點、多個第二晶體管、外圍焊點；所述每個第一晶體管的柵極與所述每條柵極信號線連接、源極與所述每條數(shù)據(jù)信號線連接，所述每條數(shù)據(jù)信號線的第一端直接通過對應的數(shù)據(jù)引線與所述數(shù)據(jù)焊點連接，所述每條柵極信號線的第一端直接通過對應的柵極引線與所述柵極焊點連接，所述每個第二晶體管的源極與對應的柵極信號線的第二端連接，所述每個第二晶體管的漏極通過對應的柵極引線與所述柵極焊點連接，所述多個第二晶體管的柵極串聯(lián)成一條引線與所述外圍焊點連接。
2.根據(jù)權利要求1所述的液晶顯示器斷線檢測電路，其特征在于，在所述數(shù)據(jù)焊點和所述柵極焊點中分別注入波形信號，關閉所述多個第二晶體管時，該波形信號僅由所述每條柵極信號線的第一端傳輸至每個第一晶體管進行充電，使每個第一晶體管對應的像素電壓值在預定范圍內，若有至少一個像素電壓值超出預定范圍，則確定與該至少一個像素電壓值對應的第一晶體管連接的柵極信號線發(fā)生斷線。
3.根據(jù)權利要求2所述的液晶顯示器斷線檢測電路，其特征在于，在通過所述外圍焊點輸入信號使所述多個第二晶體管都導通時，所述每條柵極信號線兩端均傳輸該波形信號至每個第一晶體管。
4.根據(jù)權利要求1所述的液晶顯示器斷線檢測電路，其特征在于，更包括多個第三晶體管，所述每個第三晶體管的源極通過對應的數(shù)據(jù)引線與所述數(shù)據(jù)焊點連接，漏極與所述每條數(shù)據(jù)信號線的第二端連接，且所述多個第三晶體管的柵極串聯(lián)成一條引線與所述外圍焊點連接。
5.根據(jù)權利要求4所述的液晶顯示器斷線檢測電路，其特征在于，在數(shù)據(jù)焊點和柵極焊點中分別注入波形信號，關閉所述多個第二和/或第三晶體管時，該波形信號僅由所述每條柵極信號線和/或數(shù)據(jù)信號線的第一端傳輸至每個第一晶體管進行充電，使每個第一晶體管對應的像素電壓值在預定范圍`內，若有至少一個像素電壓值超出預定范圍，則與該至少一個像素電壓值對應的第一晶體管連接的柵極信號線和/或數(shù)據(jù)信號線發(fā)生斷線。
6.根據(jù)權利要求5所述的液晶顯示器斷線檢測電路，其特征在于，在通過所述外圍焊點輸入信號使所述多個第二和/或第三晶體管都導通時，所述每條柵極信號線和/或所述每條數(shù)據(jù)信號線兩端均傳輸該波形信號至每個第一晶體管。
7.一種液晶顯示器斷線檢測方法，其特征在于，包括以下步驟: 提供一液晶顯示器斷線檢測電路，該液晶顯示器斷線檢測電路包括:多條柵極信號線和多條數(shù)據(jù)信號線、多個第一晶體管、多條數(shù)據(jù)引線、多條柵極引線、多個數(shù)據(jù)焊點、多個柵極焊點、多個第二晶體管、外圍焊點；所述每個第一晶體管的柵極與所述每條柵極信號線連接，源極與所述每條數(shù)據(jù)信號線連接，所述每條數(shù)據(jù)信號線的第一端直接通過對應的數(shù)據(jù)引線與所述數(shù)據(jù)焊點連接，所述每條柵極信號線的第一端直接通過對應的柵極引線與所述柵極焊點連接，所述每個第二晶體管的源極與對應的柵極信號線的第二端連接，所述每個第二晶體管的漏極通過對應的柵極引線與所述柵極焊點連接，所述多個第二晶體管的柵極串聯(lián)成一條引線與所述外圍焊點連接； 在所述每條柵極信號線和所述每條數(shù)據(jù)信號線中輸入波形信號；關閉所述多個第二晶體管，使該波形信號僅由所述每條柵極信號線的第一端傳輸至所述每個第一晶體管； 逐一檢測所述每個第一晶體管對應的像素電壓值，判斷該像素電壓值是否在預定范圍內，若至少一個像素電壓值超出預定范圍，則確定與該像素電壓值對應的第一晶體管連接的柵極信號線發(fā)生斷線。
8.根據(jù)權利要求7所述的液晶顯示器斷線檢測方法，其特征在于，該斷線檢測方法提供的液晶顯示器斷線檢測電路還包括:多個第三晶體管，所述每個第三晶體管的源極通過對應的數(shù)據(jù)引線與所述數(shù)據(jù)焊點連接，漏極與所述每條數(shù)據(jù)信號線的第二端連接，且所述多個第三晶體管的柵極串聯(lián)成一條引線與所述外圍焊點連接。
9.根據(jù)權利要求8所述的液晶顯示器斷線檢測方法，其特征在于，還包括: 在所述每條柵極信號線和所述每條數(shù)據(jù)信號線中輸入波形信號； 關閉所述多個第二和/或第三晶體管，使該波形信號僅在所述每條柵極信號線和/或數(shù)據(jù)信號線的第一端傳輸至所述每個第一晶體管； 逐一檢測所述每個第一晶體管對應的像素電壓值，判斷該像素電壓值是否在預定范圍內， 若至少一個像素電壓值超出預定范圍，則確定與該像素電壓值對應的第一晶體管連接的柵極信號線發(fā)生斷線。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種液晶顯示器斷線檢測電路及檢測方法，該電路中，每個第一晶體管的柵極與每條柵極信號線連接，源極與每條數(shù)據(jù)信號線連接，每條數(shù)據(jù)信號線的第一端通過對應的數(shù)據(jù)引線與數(shù)據(jù)焊點連接，每條柵極信號線的第一端直接通過對應的柵極引線與柵極焊點連接，每個第二晶體管的源極與對應的柵極信號線的第二端連接，每個第二晶體管的漏極通過對應的柵極引線與柵極焊點連接，多個第二晶體管的柵極串聯(lián)成一條引線與外圍焊點連接。采用本發(fā)明可以檢測出信號線有無斷線及斷線的具體位置。
文檔編號G09G3/36GK103077674SQ201310033728
公開日2013年5月1日 申請日期2013年1月29日 優(yōu)先權日2013年1月29日
發(fā)明者付延峰 申請人:深圳市華星光電技術有限公司