專利名稱：用于檢測(cè)殘像的液晶模組檢測(cè)裝置、檢測(cè)評(píng)定系統(tǒng)及方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及液晶模組檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及ー種用于檢測(cè)殘像的液晶模組檢測(cè)裝置、檢測(cè)評(píng)定系統(tǒng)及方法。
背景技術(shù)：
薄膜晶體管液晶顯不器(ThinFilm Transistor-Liquid Crystal Display,TFT-IXD)具有體積小、功耗低、無輻射等特點(diǎn)，已經(jīng)廣泛地應(yīng)用于人們的生產(chǎn)和生活當(dāng)中，這其中包括TV、Monitor、以及便攜式的電子顯示產(chǎn)品等，各大面板廠商都在努力提高產(chǎn)品 的性能，例如降低能耗，増大視角，減小響應(yīng)時(shí)間等。這其中對(duì)于顯示面板殘像的改善尤為重要，因?yàn)樗苯佑绊懥孙@示畫面的品質(zhì)。殘像是指長(zhǎng)時(shí)間驅(qū)動(dòng)特定停止畫像后，變換為其他畫像時(shí)留有原來畫像的圖案的現(xiàn)象。殘像是發(fā)生在液晶盒內(nèi)部的ー種現(xiàn)象，由于長(zhǎng)時(shí)間顯示靜止畫面后，改變?yōu)槠渌麍D像時(shí)，液晶分子不能即時(shí)完全的發(fā)生偏轉(zhuǎn)以適應(yīng)新的畫面，從而影響了顯示效果。殘像依據(jù)發(fā)生的形態(tài)不同可以分為面殘像(area image sticking)和線殘像(line image sticking)兩種。對(duì)殘像機(jī)理的研究表明，產(chǎn)生殘像的主要原因是殘留電荷的影響，這包括外加電場(chǎng)作用下在液晶盒內(nèi)部產(chǎn)生的極化電荷以及在液晶盒內(nèi)部雜質(zhì)電荷的不同分布。這些殘留的電荷會(huì)影響液晶在液晶盒頂部和底部的取向，從而使得殘像發(fā)生在整個(gè)面板區(qū)域，比較嚴(yán)重的分布在具有明顯顏色差別的圖像交界位置。殘像的產(chǎn)生還受其他因素影響，比如外界溫度、畫面類型和靜止時(shí)間長(zhǎng)短、亮度等級(jí)等。通常，在液晶模組裝配完成后，需要對(duì)其畫面品質(zhì)、灰塵、異物等等方面進(jìn)行檢測(cè)，以提高液晶模組的品質(zhì)及成品率。這其中包括對(duì)殘像進(jìn)行檢測(cè)及評(píng)定的部分。液晶模組的檢測(cè)環(huán)境需要達(dá)到一定的溫度，傳統(tǒng)的對(duì)殘像進(jìn)行評(píng)定的系統(tǒng)主要包括兩大部分一部分為信號(hào)發(fā)生部分，一部分為外界的加熱和溫控設(shè)備，由于加熱和溫控設(shè)備需要外加大功率電源和復(fù)雜的控溫裝置，所以傳統(tǒng)的殘像檢測(cè)系統(tǒng)通常體積很大，造價(jià)也高，并且由于設(shè)備體積大，所以不便移動(dòng)，需要專用的評(píng)價(jià)場(chǎng)地，無法進(jìn)行便利的實(shí)時(shí)評(píng)價(jià)，從而不利于對(duì)殘像等級(jí)進(jìn)行隨時(shí)監(jiān)控。

發(fā)明內(nèi)容
(一)要解決的技術(shù)問題本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是提供一種體積小、方便攜帯的用于檢測(cè)殘像的液晶模組檢測(cè)裝置、檢測(cè)評(píng)定系統(tǒng)及方法。(ニ)技術(shù)方案為解決上述問題，本發(fā)明提供了ー種用于檢測(cè)殘像的液晶模組檢測(cè)裝置，該裝置包括密封隔熱透明容器，用于容納待測(cè)液晶模組；溫度控制模塊，用于對(duì)所述容器內(nèi)的溫度進(jìn)行調(diào)節(jié)；信號(hào)發(fā)生模塊，用于為所述待測(cè)液晶模組提供驅(qū)動(dòng)信號(hào)。優(yōu)選地，所述溫度控制模塊包括溫度控制單元和溫度調(diào)節(jié)單元，其中，所述溫度控制單元用于感應(yīng)所述容器內(nèi)的溫度，井根據(jù)感應(yīng)到的溫度開閉所述溫度調(diào)節(jié)單元；所述溫度調(diào)節(jié)單元與所述溫度控制單元相連，用于對(duì)所述容器內(nèi)的溫度進(jìn)行調(diào)節(jié)。優(yōu)選地，所述溫度控制單元集成于所述容器內(nèi)。優(yōu)選地，所述溫度調(diào)節(jié)單元集成于所述容器內(nèi)。優(yōu)選地，所述信號(hào)發(fā)生模塊集成于所述容器內(nèi)。優(yōu)選地，所述溫度控制單元包括溫度傳感器和控制器，其中，所述溫度傳感器用于感應(yīng)所述容器內(nèi)的溫度，并將感應(yīng)到的溫度數(shù)據(jù)發(fā)送至所述控制器；所述控制器根據(jù)所述溫度數(shù)據(jù)開閉所述溫度調(diào)節(jié)單元。優(yōu)選地，所述信號(hào)發(fā)生模塊為可編程邏輯控制器。優(yōu)選地，所述控制器與所述信號(hào)發(fā)生模塊為同一塊可編程邏輯控制器。 本發(fā)明還提供了ー種用于檢測(cè)殘像的液晶模組檢測(cè)評(píng)定系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括上述的裝置。本發(fā)明還提供了ー種用于檢測(cè)殘像的液晶模組檢測(cè)評(píng)定方法，該方法包括步驟SI.將待測(cè)液晶模組放入密封隔熱透明容器內(nèi)；S2.為所述待測(cè)液晶模組提供驅(qū)動(dòng)信號(hào)，將所述待測(cè)液晶模組點(diǎn)亮；S3.感應(yīng)所述容器內(nèi)的溫度，若感應(yīng)到的溫度未達(dá)到檢測(cè)溫度基準(zhǔn)范圍，則等待；若感應(yīng)到的溫度超出了所述檢測(cè)溫度基準(zhǔn)范圍，則調(diào)節(jié)所述容器內(nèi)的溫度，直至感應(yīng)到的溫度位于檢測(cè)溫度基準(zhǔn)范圍內(nèi)，開始對(duì)所述待測(cè)液晶模組的檢測(cè)。(三)有益效果本發(fā)明的裝置、系統(tǒng)及方法通過對(duì)待測(cè)液晶模組定制密閉、絕熱特性好的透明容器，使用模組自身背光和面板所發(fā)出的熱量來形成測(cè)試所需的溫度環(huán)境，減小了裝置體積，降低了成本；將信號(hào)發(fā)生模塊和溫度控制模塊集成在容器內(nèi)，可進(jìn)ー步減小裝置體積，使其方便攜帯，有利于液晶模組檢測(cè)評(píng)定的實(shí)時(shí)監(jiān)控。


圖I為依照本發(fā)明ー種實(shí)施方式的用于檢測(cè)殘像的液晶模組檢測(cè)裝置結(jié)構(gòu)示意圖；圖2為依照本發(fā)明ー種實(shí)施方式的用于檢測(cè)殘像的液晶模組檢測(cè)評(píng)定方法流程圖。
具體實(shí)施例方式本發(fā)明提出的用于檢測(cè)殘像的液晶模組檢測(cè)裝置、檢測(cè)評(píng)定系統(tǒng)及方法，結(jié)合附圖及實(shí)施例詳細(xì)說明如下。液晶模組背光所發(fā)出的光線通常只有5%左右可以透過面板，最終起到顯示效果，而其余能量大部分都轉(zhuǎn)化為熱量排出。本發(fā)明的核心思想在于利用液晶模組自身背光和面板所發(fā)出的熱量來形成檢測(cè)所需的溫度環(huán)境，從而減少附加的加熱和溫控設(shè)備増加的體積，并降低成本。如圖I所示，依照本發(fā)明ー種實(shí)施方式的用于檢測(cè)殘像的液晶模組檢測(cè)裝置包括密封隔熱透明容器I、溫度控制模塊、以及信號(hào)發(fā)生模塊4。其中，密封隔熱透明容器I用于容納待測(cè)液晶模組5，該容器采用絕熱性好且透明的材料制成，其尺寸可根據(jù)不同的待測(cè)液晶模組的尺寸進(jìn)行定制，以充分利用液晶模組自身的熱量；溫度控制模塊用于對(duì)容器I內(nèi)的溫度進(jìn)行調(diào)節(jié)；信號(hào)發(fā)生模塊4用于為待測(cè)液晶模組5提供驅(qū)動(dòng)信號(hào)。在本實(shí)施方式的裝置中，該溫度控制模塊可進(jìn)ー步包括溫度控制單元2以及溫度調(diào)節(jié)單元3。其中，溫度控制單元2用于感應(yīng)容器I內(nèi)的溫度，井根據(jù)感應(yīng)到的溫度開閉溫度調(diào)節(jié)單元3 ;溫度調(diào)節(jié)單元3與溫度控制單元2相連，用于在該溫度控制單元2的控制下，對(duì)容器I內(nèi)的溫度進(jìn)行調(diào)節(jié)，以避免由于熱量的過多累積使得容器I內(nèi)的溫度超出檢測(cè)評(píng)定的基準(zhǔn)溫度范圍。為了減小裝置的體積，以實(shí)現(xiàn)攜帶方便，從而便于殘像的實(shí)時(shí)監(jiān)控，可將溫度控制単元2、溫度調(diào)節(jié)單元3以及信號(hào)發(fā)生模塊4全部或部分集成于容器I內(nèi)。在本實(shí)施方式的裝置中，該溫度控制單元2可進(jìn)ー步包括溫度傳感器和控制器。其中，溫度傳感器用于感應(yīng)容器I內(nèi)的溫度，并將感應(yīng)到的溫度數(shù)據(jù)發(fā)送至控制器；控制器 根據(jù)所述溫度數(shù)據(jù)開閉所述溫度調(diào)節(jié)單元3。在本實(shí)施方式的裝置中，信號(hào)發(fā)生模塊4為可編程邏輯控制器(ProgrammableLogic Controller, PLC)(不限于此)，為待測(cè)液晶模組5提供驅(qū)動(dòng)信號(hào)。進(jìn)ー步地，控制器的功能可由可編程邏輯控制器(Programmable LogicController, PLC)(不限于此)來實(shí)現(xiàn)，控制器根據(jù)溫度傳感器發(fā)送的溫度數(shù)據(jù)進(jìn)而控制溫度調(diào)節(jié)單元3的開閉。優(yōu)選地，控制器的功能也可由同一塊PLC來控制實(shí)現(xiàn)，以進(jìn)ー步減小裝置體積。溫度調(diào)節(jié)單元3可為與溫度控制單元2相連的閥門或熱交換設(shè)備等，只要能實(shí)現(xiàn)將容器I內(nèi)的多余熱量排出容器即可，具體的實(shí)現(xiàn)形式在此不作為對(duì)本發(fā)明的限制。本發(fā)明還提供了ー種用于檢測(cè)殘像的液晶模組檢測(cè)評(píng)定系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括上述檢測(cè)裝置。如圖2所示，依照本發(fā)明ー種實(shí)施方式的用于檢測(cè)殘像的液晶模組檢測(cè)評(píng)定方法，包括步驟SI.將待測(cè)液晶模組放入密封隔熱透明容器內(nèi)；S2.開啟信號(hào)發(fā)生模塊，為待測(cè)液晶模組的面板和背光源提供驅(qū)動(dòng)信號(hào)，將待測(cè)液晶豐旲組點(diǎn)売;S3.溫度控制模塊實(shí)時(shí)感應(yīng)容器內(nèi)的溫度，若感應(yīng)到的溫度未達(dá)到檢測(cè)溫度基準(zhǔn)范圍，則等待；若感應(yīng)到的溫度超出了所述檢測(cè)溫度基準(zhǔn)范圍，則調(diào)節(jié)所述容器內(nèi)的溫度，直至感應(yīng)到的溫度位于檢測(cè)溫度基準(zhǔn)范圍內(nèi)，開始對(duì)待測(cè)液晶模組的檢測(cè)。以上實(shí)施方式僅用于說明本發(fā)明，而并非對(duì)本發(fā)明的限制，有關(guān)技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍的情況下，還可以做出各種變化和變型，因此所有等同的技術(shù)方案也屬于本發(fā)明的范疇，本發(fā)明的專利保護(hù)范圍應(yīng)由權(quán)利要求限定。
權(quán)利要求
1.ー種用于檢測(cè)殘像的液晶模組檢測(cè)裝置，其特征在于，該裝置包括 密封隔熱透明容器，用于容納待測(cè)液晶模組； 溫度控制模塊，用于對(duì)所述容器內(nèi)的溫度進(jìn)行調(diào)節(jié)； 信號(hào)發(fā)生模塊，用于為所述待測(cè)液晶模組提供驅(qū)動(dòng)信號(hào)。
2.如權(quán)利要求I所述的用于檢測(cè)殘像的液晶模組檢測(cè)裝置，其特征在于，所述溫度控制模塊包括溫度控制單元和溫度調(diào)節(jié)單元，其中， 所述溫度控制單元用于感應(yīng)所述容器內(nèi)的溫度，井根據(jù)感應(yīng)到的溫度開閉所述溫度調(diào)節(jié)單元; 所述溫度調(diào)節(jié)單元與所述溫度控制單元相連，用于對(duì)所述容器內(nèi)的溫度進(jìn)行調(diào)節(jié)。
3.如權(quán)利要求2所述的用于檢測(cè)殘像的液晶模組檢測(cè)裝置，其特征在于，所述溫度控制単元集成于所述容器內(nèi)。
4.如權(quán)利要求2所述的用于檢測(cè)殘像的液晶模組檢測(cè)裝置，其特征在于，所述溫度調(diào)節(jié)單元集成于所述容器內(nèi)。
5.如權(quán)利要求I所述的用于檢測(cè)殘像的液晶模組檢測(cè)裝置，其特征在于，所述信號(hào)發(fā)生模塊集成于所述容器內(nèi)。
6.如權(quán)利要求2所述的用于檢測(cè)殘像的液晶模組檢測(cè)裝置，其特征在于，所述溫度控制単元包括溫度傳感器和控制器，其中， 所述溫度傳感器用于感應(yīng)所述容器內(nèi)的溫度，并將感應(yīng)到的溫度數(shù)據(jù)發(fā)送至所述控制器； 所述控制器，根據(jù)所述溫度數(shù)據(jù)開閉所述溫度調(diào)節(jié)單元。
7.如權(quán)利要求6所述的用于檢測(cè)殘像的液晶模組檢測(cè)裝置，其特征在于，所述信號(hào)發(fā)生模塊為可編程邏輯控制器。
8.如權(quán)利要求7所述的用于檢測(cè)殘像的液晶模組檢測(cè)裝置，其特征在于，所述控制器與所述信號(hào)發(fā)生模塊為同一塊可編程邏輯控制器。
9.ー種用于檢測(cè)殘像的液晶模組檢測(cè)評(píng)定系統(tǒng)，其特征在干，該系統(tǒng)包括權(quán)利要求1-8任一項(xiàng)所述的裝置。
10.ー種用于檢測(cè)殘像的液晶模組檢測(cè)評(píng)定方法，其特征在于，該方法包括步驟 .51.將待測(cè)液晶模組放入密封隔熱透明容器內(nèi)； .52.為所述待測(cè)液晶模組提供驅(qū)動(dòng)信號(hào)，將所述待測(cè)液晶模組點(diǎn)亮； . 53.感應(yīng)所述容器內(nèi)的溫度，若感應(yīng)到的溫度未達(dá)到檢測(cè)溫度基準(zhǔn)范圍，則等待；若感應(yīng)到的溫度超出了所述檢測(cè)溫度基準(zhǔn)范圍，則調(diào)節(jié)所述容器內(nèi)的溫度，直至感應(yīng)到的溫度位于檢測(cè)溫度基準(zhǔn)范圍內(nèi)，開始對(duì)所述待測(cè)液晶模組的檢測(cè)。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種用于檢測(cè)殘像的液晶模組檢測(cè)裝置、檢測(cè)評(píng)定系統(tǒng)及方法，涉及液晶模組檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域。該裝置包括密封隔熱透明容器，用于容納待測(cè)液晶模組；溫度控制模塊，用于對(duì)所述容器內(nèi)的溫度進(jìn)行調(diào)節(jié)；信號(hào)發(fā)生模塊，用于為所述待測(cè)液晶模組提供驅(qū)動(dòng)信號(hào)。本發(fā)明的裝置、系統(tǒng)及方法通過對(duì)待測(cè)液晶模組定制密閉、絕熱特性好的透明容器，使用模組自身背光和面板所發(fā)出的熱量來形成測(cè)試所需的溫度環(huán)境，減小了裝置體積，降低了成本；將信號(hào)發(fā)生模塊和溫度控制模塊集成在容器內(nèi)，可進(jìn)一步減小裝置體積，使其方便攜帶，有利于液晶模組檢測(cè)評(píng)定的實(shí)時(shí)監(jiān)控。
文檔編號(hào)G09G3/00GK102682683SQ20121016821
公開日2012年9月19日 申請(qǐng)日期2012年5月25日 優(yōu)先權(quán)日2012年5月25日
發(fā)明者張培林, 柳在健 申請(qǐng)人:京東方科技集團(tuán)股份有限公司