專(zhuān)利名稱(chēng)：顯示面板測(cè)試裝置及測(cè)試方法
顯示面板測(cè)試裝置及測(cè)試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種顯示面板測(cè)試裝置及測(cè)試方法，特別是涉及一種液晶顯示面板測(cè) 試裝置及測(cè)試方法。
背景技術(shù)：
隨著便攜式電子設(shè)備的流行和普及，應(yīng)用在這些設(shè)備上的顯示模塊也得到了很快 的發(fā)展，產(chǎn)量也不斷增大?，F(xiàn)有的顯示模塊包括液晶顯示(Liquid CrystalDisplay, IXD) 模塊、有機(jī)發(fā)光顯示模塊(OLED)等多個(gè)種類(lèi)，其基本結(jié)構(gòu)都包括顯示面板、驅(qū)動(dòng)電路、背 光模塊等元件，這些元件在組合前要對(duì)其各自功能進(jìn)行測(cè)試。圖1繪示現(xiàn)有的一種顯示面 板測(cè)試裝置的俯視示意圖，圖2繪示圖1中顯示面板測(cè)試裝置的側(cè)視示意圖。如圖1和圖2 所示的顯示面板測(cè)試裝置10包括臺(tái)面11 ；面板容置槽111設(shè)置在所述臺(tái)面11上；下壓板 12通過(guò)轉(zhuǎn)軸14連接在所述臺(tái)面11上，下壓板12可藉由轉(zhuǎn)軸14翻轉(zhuǎn)移動(dòng)至所述面板容置 槽111上；顯示面板測(cè)試裝置10還包括設(shè)置在所述下壓板12上的多個(gè)數(shù)據(jù)測(cè)試信號(hào)探針 131、多個(gè)掃描測(cè)試信號(hào)探針133、一個(gè)參考電壓探針138、一個(gè)測(cè)試開(kāi)關(guān)電壓探針132。顯示 面板測(cè)試裝置10還包括信號(hào)發(fā)生器(未繪示)，信號(hào)發(fā)生器輸出數(shù)據(jù)測(cè)試信號(hào)至數(shù)據(jù)測(cè)試 信號(hào)探針131、輸出測(cè)試開(kāi)關(guān)電壓至測(cè)試開(kāi)關(guān)電壓探針132、輸出掃描測(cè)試信號(hào)至掃描測(cè)試 信號(hào)探針133、輸出參考電壓信號(hào)至參考電壓探針138。圖3繪示現(xiàn)有一種顯示面板20的局部俯視示意圖。如圖3所示的顯示面板20具 有第一基板21，第一基板21上設(shè)置有多條數(shù)據(jù)線(xiàn)211、多條掃描線(xiàn)231，數(shù)據(jù)線(xiàn)211和掃描 線(xiàn)231的交錯(cuò)區(qū)域?qū)?yīng)顯示區(qū)域28，第二基板(未繪示)覆蓋顯示區(qū)域28。顯示面板20 還具有多條數(shù)據(jù)測(cè)試線(xiàn)251、多條掃描測(cè)試線(xiàn)252、多個(gè)測(cè)試開(kāi)關(guān)元件(例如為晶體管)261 和多條測(cè)試開(kāi)關(guān)線(xiàn)241，所述測(cè)試開(kāi)關(guān)線(xiàn)241連接測(cè)試開(kāi)關(guān)元件261的控制端2611，控制所 述測(cè)試開(kāi)關(guān)元件261的開(kāi)啟；一條所述數(shù)據(jù)測(cè)試線(xiàn)251連接部分測(cè)試開(kāi)關(guān)元件261的輸入 端2612、一條數(shù)據(jù)線(xiàn)211連接一個(gè)測(cè)試開(kāi)關(guān)元件261的輸出端2613，從而一條數(shù)據(jù)測(cè)試線(xiàn) 251通過(guò)部分個(gè)所述測(cè)試開(kāi)關(guān)元件261連接部分條所述數(shù)據(jù)線(xiàn)211 ；同理，一條所述掃描測(cè) 試線(xiàn)252通過(guò)部分個(gè)所述測(cè)試開(kāi)關(guān)元件261連接部分條所述掃描線(xiàn)231。所述數(shù)據(jù)線(xiàn)211 具有輸入端2111，所述掃描線(xiàn)231具有輸入端2311，所述數(shù)據(jù)測(cè)試線(xiàn)具有輸入端2511，所述 掃描測(cè)試線(xiàn)252具有輸入端2521，所述測(cè)試開(kāi)關(guān)線(xiàn)241具有輸入端2411。所述顯示面板具 有設(shè)置在第二基板上的參考電極，參考電極具有連接至第一基板的輸入端(未繪示)。圖5和圖6繪示使用如圖1所示的測(cè)試裝置對(duì)圖3所示的顯示面板進(jìn)行測(cè)試的過(guò) 程示意圖。如圖5所示首先將顯示面板20放置在凹槽111內(nèi)，再如圖6所示將下壓板12 翻轉(zhuǎn)移動(dòng)至所述面板容置槽111上，使數(shù)據(jù)測(cè)試信號(hào)探針131分別抵觸數(shù)據(jù)測(cè)試線(xiàn)251的 輸入端2511、多個(gè)掃描測(cè)試信號(hào)探針133分別抵觸掃描測(cè)試線(xiàn)252的輸入端2521、參考電 壓探針138抵觸參考電極的輸入端、測(cè)試開(kāi)關(guān)電壓探針132抵觸測(cè)試開(kāi)關(guān)線(xiàn)241的輸入端 2411。再啟動(dòng)信號(hào)發(fā)生器，即可對(duì)顯示面板20進(jìn)行驅(qū)動(dòng)測(cè)試，使用肉眼或自動(dòng)影像檢測(cè)設(shè) 備檢測(cè)顯示面板20的圖像是否存在缺陷。對(duì)于自身不發(fā)光的顯示面板(例如液晶顯示面
3板)，測(cè)試裝置10可以進(jìn)一步包括設(shè)置在面板容置槽111底部的背光源(未繪示)，以便對(duì) 顯示面板進(jìn)行觀察。部分的顯示面板會(huì)存在缺陷，一種常見(jiàn)的缺陷是多個(gè)測(cè)試開(kāi)關(guān)元件中的某一個(gè)測(cè) 試開(kāi)關(guān)元件被靜電擊穿。圖4繪示存在這種缺陷的顯示面板20’的局部俯視示意圖，多個(gè) 測(cè)試開(kāi)關(guān)元件261中的某一個(gè)測(cè)試開(kāi)關(guān)元件2610被靜電擊穿，導(dǎo)致對(duì)應(yīng)的測(cè)試開(kāi)關(guān)線(xiàn)241 與數(shù)據(jù)線(xiàn)短路。具有這種缺陷的顯示面板在檢測(cè)時(shí)會(huì)發(fā)現(xiàn)線(xiàn)條缺陷，需要維修。一般的維 修方式是使用激光在圖4中區(qū)域29內(nèi)截?cái)鄿y(cè)試開(kāi)關(guān)元件2610與對(duì)應(yīng)數(shù)據(jù)線(xiàn)的連接。在維 修后需要對(duì)顯示面板進(jìn)行再次檢測(cè)，對(duì)維修的結(jié)果進(jìn)行確認(rèn)，但如圖1中的測(cè)試裝置10不 能用于這類(lèi)檢測(cè)，因?yàn)闇y(cè)試開(kāi)關(guān)元件2610與對(duì)應(yīng)數(shù)據(jù)線(xiàn)已斷開(kāi)，數(shù)據(jù)測(cè)試信號(hào)無(wú)法驅(qū)動(dòng)這 一對(duì)應(yīng)數(shù)據(jù)線(xiàn)。如圖7所示為現(xiàn)有技術(shù)另外一種顯示面板測(cè)試裝置30的俯視示意圖，如圖7所示 的顯示面板測(cè)試裝置30包括臺(tái)面31 ；面板容置槽311設(shè)置在所述臺(tái)面31上；下壓板32通 過(guò)轉(zhuǎn)軸34連接在所述臺(tái)面31上，下壓板32可藉由轉(zhuǎn)軸34翻轉(zhuǎn)移動(dòng)至所述面板容置槽311 上；顯示面板測(cè)試裝置30還包括設(shè)置在所述下壓板32上的導(dǎo)電橡膠塊334、多個(gè)掃描測(cè)試 信號(hào)探針333、一個(gè)參考電壓探針338、一個(gè)測(cè)試開(kāi)關(guān)電壓探針332。顯示面板測(cè)試裝置30 還包括信號(hào)發(fā)生器(未繪示)，信號(hào)發(fā)生器輸出數(shù)據(jù)信號(hào)至導(dǎo)電橡膠塊334、輸出測(cè)試開(kāi)關(guān) 電壓至測(cè)試開(kāi)關(guān)電壓探針332、輸出掃描測(cè)試信號(hào)至掃描測(cè)試信號(hào)探針333、輸出參考電壓 信號(hào)至參考電壓探針338。當(dāng)使用如圖7所示的測(cè)試裝置對(duì)維修后的顯示面板20’進(jìn)行測(cè) 試時(shí)，首先將顯示面板20’放置在凹槽311內(nèi)，再將下壓板32翻轉(zhuǎn)移動(dòng)至所述面板容置槽 311上，使導(dǎo)電橡膠塊334抵觸多條數(shù)據(jù)線(xiàn)211的輸入端2111、多個(gè)掃描測(cè)試信號(hào)探針333 分別抵觸掃描測(cè)試線(xiàn)352的輸入端3521、參考電壓探針338抵觸參考電極的輸入端、測(cè)試開(kāi) 關(guān)電壓探針332抵觸測(cè)試開(kāi)關(guān)線(xiàn)241的輸入端2411。再啟動(dòng)信號(hào)發(fā)生器，即可對(duì)顯示面板 20’進(jìn)行驅(qū)動(dòng)測(cè)試，使用肉眼或自動(dòng)影像檢測(cè)設(shè)備檢測(cè)顯示面板20’的圖像是否存在缺陷。 對(duì)于自身不發(fā)光的顯示面板(例如液晶顯示面板)，測(cè)試裝置30可以進(jìn)一步包括設(shè)置在面 板容置槽111底部的背光源(未繪示)，以便對(duì)顯示面板進(jìn)行觀察。由于導(dǎo)電橡膠塊334的 大小不能做到很精確，所以在測(cè)試中其還會(huì)抵觸到數(shù)據(jù)線(xiàn)211的輸入端2111周邊的區(qū)域， 例如測(cè)試開(kāi)關(guān)元件261上。正常情況下，第一基板的表面具有阻抗層，所以導(dǎo)電橡膠塊334 不會(huì)與測(cè)試開(kāi)關(guān)元件261短路，但當(dāng)使用激光對(duì)顯示面板進(jìn)行維修后，阻抗層可能被破壞， 因此有時(shí)會(huì)發(fā)生導(dǎo)電橡膠334與測(cè)試開(kāi)關(guān)元件261短路，由于測(cè)試開(kāi)關(guān)電壓(大于20伏) 較高，就會(huì)燒蝕導(dǎo)電橡膠乃至測(cè)試開(kāi)關(guān)線(xiàn)241、數(shù)據(jù)線(xiàn)211的輸入端2111等。

發(fā)明內(nèi)容為避免如圖7所示的顯示面板測(cè)試裝置帶來(lái)的燒蝕問(wèn)題，本發(fā)明的一個(gè)目的是提 供一種顯示面板測(cè)試裝置，其包括面板容置槽；下壓板，所述下壓板可移動(dòng)至所述面板容 置槽上；設(shè)置在所述下壓板上的導(dǎo)電橡膠塊；設(shè)置在所述下壓板上的多個(gè)第一類(lèi)探針、至 少一個(gè)第二類(lèi)探針；信號(hào)發(fā)生器，所述信號(hào)發(fā)生器輸出數(shù)據(jù)信號(hào)至所述導(dǎo)電橡膠塊，輸出掃 描測(cè)試信號(hào)至所述第一類(lèi)探針；輸出參考電壓信號(hào)至所述第二類(lèi)探針。作為可選的技術(shù)方案，上述數(shù)據(jù)信號(hào)為高電平5伏、低電平0伏的方波信號(hào)。作為可選的技術(shù)方案，上述導(dǎo)電橡膠塊的輸出端為斜面。
作為可選的技術(shù)方案，上述的測(cè)試裝置包括臺(tái)面，所述面板容置槽設(shè)置在所述臺(tái) 面上，所述下壓板通過(guò)轉(zhuǎn)軸連接在所述臺(tái)面上。作為可選的技術(shù)方案，上述的測(cè)試裝置，包括設(shè)置在所述容置槽底部的背光源。本發(fā)明的另一個(gè)目的是提供一種顯示面板測(cè)試方法，其包括步驟1 提供測(cè)試裝置，所述測(cè)試裝置包括面板容置槽；下壓板，所述下壓板可移 動(dòng)至所述面板容置槽上；設(shè)置在所述下壓板上的導(dǎo)電橡膠塊；設(shè)置在所述下壓板上的多個(gè) 第一類(lèi)探針、至少一個(gè)第二類(lèi)探針；信號(hào)發(fā)生器，所述信號(hào)發(fā)生器輸出數(shù)據(jù)信號(hào)至所述導(dǎo)電 橡膠塊，輸出掃描信號(hào)至所述第一類(lèi)探針；輸出參考電壓信號(hào)至所述第二類(lèi)探針；步驟2 放置所述顯示面板至所述面板容置槽內(nèi)，所述顯示面板具有多條數(shù)據(jù)測(cè) 試線(xiàn)和多條數(shù)據(jù)線(xiàn)、多條掃描測(cè)試線(xiàn)和多條掃描線(xiàn)；所述顯示面板具有多個(gè)測(cè)試開(kāi)關(guān)元件 和多條測(cè)試開(kāi)關(guān)線(xiàn)，所述測(cè)試開(kāi)關(guān)線(xiàn)控制所述測(cè)試開(kāi)關(guān)元件的開(kāi)啟；一條所述數(shù)據(jù)測(cè)試線(xiàn) 通過(guò)部分所述測(cè)試開(kāi)關(guān)元件連接部分所述數(shù)據(jù)線(xiàn)；一條所述掃描測(cè)試線(xiàn)通過(guò)部分所述測(cè)試 開(kāi)關(guān)元件連接部分所述掃描線(xiàn)；所述顯示面板具有參考電極，參考電極具有輸入端；步驟3 移動(dòng)所述下壓板至所述面板容置槽上，使所述導(dǎo)電橡膠塊接觸所述多條 數(shù)據(jù)線(xiàn)的輸入端，使多個(gè)所述第一類(lèi)探針?lè)謩e接觸所述多條掃描測(cè)試線(xiàn)的輸入端，使至少 一個(gè)所述第二類(lèi)探針接觸所述參考電極的輸入端；所述多條測(cè)試開(kāi)關(guān)線(xiàn)的輸入端空置；步驟4 觀察所述顯示面板的顯示圖案，如存在線(xiàn)條缺陷則判定不合格，如不存在 線(xiàn)條缺陷則判定合格。作為可選的技術(shù)方案，所述測(cè)試裝置包括設(shè)置在所述容置槽底部的背光源；所述 測(cè)試方法包括開(kāi)啟所述背光源。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明顯示模塊測(cè)試裝置的好處在于，不向面板輸入電壓較高 的測(cè)試開(kāi)關(guān)電壓，而同樣能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)顯示面板進(jìn)行檢測(cè)的目的，避免了燒蝕現(xiàn)象。

圖1繪示現(xiàn)有的一種顯示面板測(cè)試裝置的俯視示意圖；圖2繪示圖1中顯示面板測(cè)試裝置的側(cè)視示意圖；圖3繪示現(xiàn)有一種顯示面板的局部俯視示意圖；圖4繪示一種存在缺陷的顯示面板20’的局部俯視示意圖；圖5和圖6繪示使用如圖1所示的測(cè)試裝置對(duì)圖3所示的顯示面板進(jìn)行測(cè)試的過(guò) 程示意圖；圖7繪示現(xiàn)有的另一種顯示面板測(cè)試裝置的俯視示意圖；圖8繪示本發(fā)明一種實(shí)施方式的顯示面板測(cè)試裝置的俯視示意圖；圖9繪示圖8中測(cè)試裝置的正視示意圖。
具體實(shí)施方式
請(qǐng)參考圖8和圖9，圖8繪示本發(fā)明一種實(shí)施方式的顯示面板測(cè)試裝置的在俯視示 意圖；圖9繪示圖8中測(cè)試裝置的正視示意圖。本實(shí)施方式的顯示面板測(cè)試裝置40包括 設(shè)置在臺(tái)面41上的面板容置槽411 ；下壓板42通過(guò)轉(zhuǎn)軸44連接在所述臺(tái)面41上，下壓板 42可藉由轉(zhuǎn)軸44翻轉(zhuǎn)移動(dòng)至所述面板容置槽411上；顯示面板測(cè)試裝置40還包括設(shè)置在所述下壓板42上的導(dǎo)電橡膠塊434、多個(gè)第一類(lèi)探針433、一個(gè)第二類(lèi)探針438。顯示面板 測(cè)試裝置40還包括信號(hào)發(fā)生器(未繪示)，信號(hào)發(fā)生器輸出數(shù)據(jù)信號(hào)至導(dǎo)電橡膠塊434、輸 出掃描測(cè)試信號(hào)至第一類(lèi)探針433、輸出參考電壓信號(hào)至第二類(lèi)探針438。在本實(shí)施方式中，上述數(shù)據(jù)信號(hào)為高電平5伏、低電平0伏的方波信號(hào)。在不同的 實(shí)施方式中數(shù)據(jù)信號(hào)或掃描測(cè)試信號(hào)可以根據(jù)被測(cè)試顯示面板的參數(shù)進(jìn)行調(diào)整。本發(fā)明的一種實(shí)施方式的顯示面板測(cè)試方法包括步驟1 提供上述實(shí)施方式中的顯示面板測(cè)試裝置40 ；步驟2 放置圖4所示顯示面板20’至所述面板容置槽411內(nèi)，由前面的說(shuō)明可知 顯示面板20’具有多條數(shù)據(jù)測(cè)試線(xiàn)251和多條數(shù)據(jù)線(xiàn)211、多條掃描測(cè)試線(xiàn)252和多條掃描 線(xiàn)231 ；所述顯示面板20’具有多個(gè)測(cè)試開(kāi)關(guān)元件261和多條測(cè)試開(kāi)關(guān)線(xiàn)241，所述測(cè)試開(kāi) 關(guān)線(xiàn)241控制所述測(cè)試開(kāi)關(guān)元件261的開(kāi)啟；一條所述數(shù)據(jù)測(cè)試線(xiàn)251通過(guò)部分個(gè)所述測(cè) 試開(kāi)關(guān)元件261連接部分條所述數(shù)據(jù)線(xiàn)211 ；—條所述掃描測(cè)試線(xiàn)252通過(guò)部分個(gè)所述測(cè) 試開(kāi)關(guān)元件261連接部分條所述掃描線(xiàn)231 ；所述顯示面板具有參考電極，所述參考電極具 有連接至第一基板21的輸入端；步驟3 移動(dòng)所述下壓板42至所述面板容置槽411上，使所述導(dǎo)電橡膠塊434接 觸所述多條數(shù)據(jù)線(xiàn)211的輸入端2111，使多個(gè)所述第一類(lèi)探針433分別接觸所述多條掃描 測(cè)試線(xiàn)252的輸入端2521，使一個(gè)所述第二類(lèi)探針438接觸所述參考電極的輸入端；所述 多條測(cè)試開(kāi)關(guān)線(xiàn)241的輸入端2411空置。如圖9所示，上述導(dǎo)電橡膠塊434的輸出端4341 為斜面。當(dāng)導(dǎo)電橡膠塊434的輸出端與顯示面板抵觸時(shí)，輸出端4341的一端先接觸顯示面 板，再全面接觸，導(dǎo)電橡膠塊434的形變較小，與數(shù)據(jù)線(xiàn)211的輸入端2111對(duì)位準(zhǔn)確。步驟4 觀察所述顯示面板的顯示圖案，如存在線(xiàn)條缺陷則判定不合格，如不存在 線(xiàn)條缺陷則判定合格。雖然在本方法中將輸入端2411空置，測(cè)試開(kāi)關(guān)元件261不會(huì)充分開(kāi) 啟，但導(dǎo)電橡膠塊434已將數(shù)據(jù)信號(hào)正常的輸入數(shù)據(jù)線(xiàn)211，在僅對(duì)面板20’是否存在線(xiàn)條 缺陷進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，已經(jīng)可以判斷是否存在缺陷。而且這樣避免了由導(dǎo)電橡膠與測(cè)試開(kāi)關(guān)元 件短路造成的燒蝕現(xiàn)象。在本實(shí)施方式中，測(cè)試裝置40可以包括設(shè)置在所述容置槽411底部的背光源(未 繪示)；所述測(cè)試方法包括開(kāi)啟所述背光源的步驟。
權(quán)利要求
一種顯示面板測(cè)試裝置，其特征在于包括面板容置槽；下壓板，所述下壓板可移動(dòng)至所述面板容置槽上；設(shè)置在所述下壓板上的導(dǎo)電橡膠塊；設(shè)置在所述下壓板上的多個(gè)第一類(lèi)探針、至少一個(gè)第二類(lèi)探針；信號(hào)發(fā)生器，所述信號(hào)發(fā)生器輸出數(shù)據(jù)信號(hào)至所述導(dǎo)電橡膠塊，輸出掃描測(cè)試信號(hào)至所述第一類(lèi)探針；輸出參考電壓信號(hào)至所述第二類(lèi)探針。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征在于所述數(shù)據(jù)信號(hào)為高電平5伏、低電平0 伏的方波信號(hào)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征在于所述導(dǎo)電橡膠塊的輸出端為斜面。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征在于包括臺(tái)面，所述面板容置槽設(shè)置在所 述臺(tái)面上，所述下壓板通過(guò)轉(zhuǎn)軸連接在所述臺(tái)面上。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征在于包括設(shè)置在所述容置槽底部的背光源。
6.一種顯示面板測(cè)試方法，其特征在于包括步驟1 提供測(cè)試裝置，所述測(cè)試裝置包括面板容置槽；下壓板，所述下壓板可移動(dòng)至 所述面板容置槽上；設(shè)置在所述下壓板上的導(dǎo)電橡膠塊；設(shè)置在所述下壓板上的多個(gè)第一 類(lèi)探針、至少一個(gè)第二類(lèi)探針；信號(hào)發(fā)生器，所述信號(hào)發(fā)生器輸出數(shù)據(jù)信號(hào)至所述導(dǎo)電橡膠 塊，輸出掃描測(cè)試信號(hào)至所述第一類(lèi)探針；輸出參考電壓信號(hào)至所述第二類(lèi)探針；步驟2 放置所述顯示面板至所述面板容置槽內(nèi)，所述顯示面板具有多條數(shù)據(jù)測(cè)試線(xiàn) 和多條數(shù)據(jù)線(xiàn)、多條掃描測(cè)試線(xiàn)和多條掃描線(xiàn)；所述顯示面板具有多個(gè)測(cè)試開(kāi)關(guān)元件和多 條測(cè)試開(kāi)關(guān)線(xiàn)，所述測(cè)試開(kāi)關(guān)線(xiàn)控制所述測(cè)試開(kāi)關(guān)元件的開(kāi)啟；一條所述數(shù)據(jù)測(cè)試線(xiàn)通過(guò) 部分所述測(cè)試開(kāi)關(guān)元件連接部分條所述數(shù)據(jù)線(xiàn)；一條所述掃描測(cè)試線(xiàn)通過(guò)部分所述測(cè)試開(kāi) 關(guān)元件連接部分條所述掃描線(xiàn)；所述顯示面板具有參考電極，所述參考電極具有輸入端；步驟3 移動(dòng)所述下壓板至所述面板容置槽上，使所述導(dǎo)電橡膠塊接觸所述多條數(shù)據(jù) 線(xiàn)的輸入端，使多個(gè)所述第一類(lèi)探針?lè)謩e接觸所述多條掃描測(cè)試線(xiàn)的輸入端，使至少一個(gè) 所述第二類(lèi)探針接觸所述參考電極的輸入端；所述多條測(cè)試開(kāi)關(guān)線(xiàn)的輸入端空置；步驟4 觀察所述顯示面板的顯示圖案，如存在線(xiàn)條缺陷則判定不合格，如不存在線(xiàn)條 缺陷則判定合格。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的顯示面板測(cè)試方法，其特征在于所述測(cè)試裝置包括設(shè)置在所 述容置槽底部的背光源；所述測(cè)試方法包括開(kāi)啟所述背光源。
全文摘要
一種顯示面板測(cè)試裝置及測(cè)試方法，涉及顯示面板測(cè)試裝置及測(cè)試方法領(lǐng)域。本發(fā)明要解決的技術(shù)問(wèn)題是提供一種顯示面板測(cè)試裝置，其包括面板容置槽；下壓板，所述下壓板可移動(dòng)至所述面板容置槽上；設(shè)置在所述下壓板上的導(dǎo)電橡膠塊；設(shè)置在所述下壓板上的多個(gè)第一類(lèi)探針、至少一個(gè)第二類(lèi)探針；信號(hào)發(fā)生器，所述信號(hào)發(fā)生器輸出數(shù)據(jù)信號(hào)至所述導(dǎo)電橡膠塊，輸出掃描測(cè)試信號(hào)至所述第一類(lèi)探針；輸出參考電壓信號(hào)至所述第二類(lèi)探針。
文檔編號(hào)G09G3/00GK101958093SQ20091016010
公開(kāi)日2011年1月26日 申請(qǐng)日期2009年7月17日 優(yōu)先權(quán)日2009年7月17日
發(fā)明者蔡水源, 陳玉庭 申請(qǐng)人:友達(dá)光電(廈門(mén))有限公司;友達(dá)光電股份有限公司