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電致發(fā)光顯示裝置和電致發(fā)光顯示裝置的顯示偏差補償方法

文檔序號:2590012閱讀:219來源:國知局
專利名稱:電致發(fā)光顯示裝置和電致發(fā)光顯示裝置的顯示偏差補償方法
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及在各像素中具有電致發(fā)光元件的顯示裝置的顯示偏差的補償。
技術(shù)背景作為將自發(fā)光元件的電致發(fā)光元件(在下面稱為"EL元件")用于各 像素的顯示元件的EL顯示裝置,人們正在期待作為下一代的平面顯示裝 置并在研究開發(fā)。對于這樣的EL顯示裝置,在玻璃、塑料等的基板上,形成EL元件 和用于針對每個像素而驅(qū)動該EL元件的薄膜晶體管(TFT)等的EL面板 (panel),然后,經(jīng)過幾次檢查,作為制品而出廠。在各像素中具有TFT的目前的有源矩陣型EL顯示裝置中,產(chǎn)生該 TFT造成的顯示不均勻,特別是由于TFT的閾值Vth的偏差,產(chǎn)生EL元 件的亮度偏差,構(gòu)成合格率下降的主要原因。提高這樣的制品的合格率是 非常重要的,伴隨元件設(shè)計、材料、制造方法等的改進,要求減小顯示缺 陷和顯示不均勻(顯示偏差),并且在JP特開2005—316408 (在下面稱 為專利文獻(xiàn)l)等中,在產(chǎn)生顯示不均勻等的情況下,人們嘗試通過對其 進行補償,形成良好的面板。在專利文獻(xiàn)l中,使EL面板發(fā)光,測定各像素的亮度,對應(yīng)于該亮 度的偏差,對供向像素的數(shù)據(jù)信號(圖像信號)進行補償。另外,作為另 一方法,提出在各像素中,組裝對控制流過EL元件的電流的元件驅(qū)動晶 體管的Vth的偏差進行補償?shù)碾娐贰T谌鐚@墨I(xiàn)l那樣,使EL面板發(fā)光,通過照相機對其進行拍攝, 測定亮度偏差時,如果EL面板進行高精細(xì)化處理,像素數(shù)量增加,則為 了針對每個像素,測定其亮度偏差,測定和補償對象多,必須要求提高照 相機的分辨率,擴大補償信息的存儲部的容量等。另外,即使在Vth補償用的電路元件未組裝于像素中的情況下,對 TFT的Vth的偏差造成的顯示不均勻進行補償?shù)囊蠓浅?。發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明的目的在于正確而有效地測定EL顯示裝置的顯示偏差,可對 該顯示偏差進行補償。本發(fā)明涉及一種電致發(fā)光顯示裝置的顯示偏差補償方法,其中,上述 顯示裝置在各像素中具備二極管結(jié)構(gòu)的電致發(fā)光元件和元件驅(qū)動晶體管, 該元件驅(qū)動晶體管與該電致發(fā)光元件連接并用于控制流過該電致發(fā)光元 件的電流,向各像素供給使上述電致發(fā)光元件為發(fā)光電平的檢査用導(dǎo)通顯 示信號,并且使上述元件驅(qū)動晶體管在該晶體管的飽和區(qū)域動作,檢測流 過上述電致發(fā)光元件的電流,根據(jù)該電流值,對供給到對應(yīng)的像素的上述 數(shù)據(jù)信號進行補償。本發(fā)明的另一形式涉及一種電致發(fā)光顯示裝置,該電致發(fā)光顯示裝置 具備具有多個像素的顯示部;用于對顯示偏差進行補償?shù)难a償數(shù)據(jù)存儲 部;和用于對上述顯示偏差進行補償?shù)难a償部,上述多個像素的每一個, 具備電致發(fā)光元件和與該電致發(fā)光元件連接的元件驅(qū)動晶體管,在上述補 償數(shù)據(jù)存儲部中存儲有與在供給了使上述電致發(fā)光元件為發(fā)光電平的檢 查用導(dǎo)通顯示信號時流過上述電致發(fā)光元件的電流相對應(yīng)的補償數(shù)據(jù),上 述補償部按照上述補償數(shù)據(jù),對供給到各像素的數(shù)據(jù)信號進行補償。本發(fā)明的還一形式涉及一種電致發(fā)光顯示裝置,該電致發(fā)光顯示裝置 具備具有多個像素的顯示部;用于對顯示偏差進行補償?shù)难a償數(shù)據(jù)存儲 部;和用于對上述顯示偏差進行補償?shù)难a償部,上述多個像素的每一個具 備電致發(fā)光元件和與該電致發(fā)光元件連接的元件驅(qū)動晶體管,在上述補償 數(shù)據(jù)存儲部中存儲有與導(dǎo)通截止電流差對應(yīng)的補償數(shù)據(jù),該導(dǎo)通截止電流 差為在供給了使上述電致發(fā)光元件為非發(fā)光電平的檢查用截止顯示信號 和使上述電致發(fā)光元件為發(fā)光電平的檢查用導(dǎo)通顯示信號時對應(yīng)于上述 檢查用截止顯示信號流過上述電致發(fā)光元件的電流、和對應(yīng)于上述檢查用 導(dǎo)通顯示信號流過上述電致發(fā)光元件的電流之間的導(dǎo)通截止電流差,上述 補償部按照上述補償數(shù)據(jù),對供給到各像素的數(shù)據(jù)信號進行補償。本發(fā)明的又一形式涉及一種電致發(fā)光顯示裝置,該電致發(fā)光顯示裝置具備具有多個像素的顯示部;用于檢測各像素的顯示偏差的偏差檢測部; 和用于對上述顯示偏差進行補償?shù)难a償部,上述多個像素的每一個具備電 致發(fā)光元件和與該電致發(fā)光元件連接的元件驅(qū)動晶體管,上述偏差檢測部 對在供給了使上述電致發(fā)光元件為非發(fā)光電平的檢查用截止顯示信號和 使上述電致發(fā)光元件為發(fā)光電平的檢査用導(dǎo)通顯示信號時對應(yīng)于上述檢 査用截止顯示信號流過上述電致發(fā)光元件的電流、和對應(yīng)于上述檢査用導(dǎo) 通顯示信號流過上述電致發(fā)光元件的電流之間的導(dǎo)通截止電流差進行檢 測,并且將檢測到的上述導(dǎo)通截止電流差與基準(zhǔn)值進行比較,上述補償部 按照上述比較的結(jié)果,對供給到各像素的數(shù)據(jù)信號進行補償。本發(fā)明的還一形式涉及上述電致發(fā)光顯示裝置,其中,還具備存儲與 上述導(dǎo)通截止電流差相對應(yīng)的補償數(shù)據(jù)的補償數(shù)據(jù)存儲部,上述補償部根 據(jù)上述存儲的上述導(dǎo)通截止電流差,對上述數(shù)據(jù)信號進行補償。另外,還可包括存儲上述導(dǎo)通截止電流差的初始電流差數(shù)據(jù)的存儲 部,上述補償部根據(jù)上述初始電流差數(shù)據(jù)與上述已檢測到的導(dǎo)通截止電流 差,對上述數(shù)據(jù)信號進行補償。在本發(fā)明的又一形式中,流過上述電致發(fā)光元件的電流為例如,陰極 電流。按照本發(fā)明,在飽和區(qū)域使設(shè)置于各像素中的、驅(qū)動EL元件的元件 驅(qū)動晶體管動作,使EL元件發(fā)光,測定此時流過EL元件的電流,例如 陰極電流。在EL元件中,流過元件的電流和發(fā)光亮度具有相關(guān)關(guān)系,可 通過測定電流,檢測EL元件的顯示偏差。還有,由于測定對象不是發(fā)光亮度,而是電流,故可通過簡單的結(jié)構(gòu) 測定。另外,如果使EL元件導(dǎo)通截止,測定此時的導(dǎo)通截止電流值,則 能以截止作電流為基準(zhǔn),正確地得知導(dǎo)通電流,可容易地進行正確而高速 的測定和補償處理。此外,通過在顯示裝置中設(shè)置流過EL元件的電流的測定功能,還可 對應(yīng)于后來發(fā)生的顯示不均勻的產(chǎn)生,對其進行補償。


圖1為說明本發(fā)明的實施方式相關(guān)的EL顯示裝置的概略電路結(jié)構(gòu)的等效電 路圖。圖2為說明本發(fā)明的實施方式相關(guān)的元件驅(qū)動晶體管的特性偏差測定原理的圖。圖3為標(biāo)本發(fā)明的實施方式相關(guān)的EL顯示裝置的結(jié)構(gòu)和陰極電流檢查裝置的概略結(jié)構(gòu)的圖。圖4為表示采用圖3的檢査裝置的發(fā)光狀態(tài)檢査步驟的一個實例的圖。圖5為表就fi^l」用陰極電流的高速的檢查用的驅(qū)動波形的圖。圖6為表示本發(fā)明的實施方式相關(guān)的陰極電流檢測和具有補償功能的EL顯示裝置的動作步驟的一個實例的圖。
具體實施方式
下面通過附圖,對本發(fā)明的優(yōu)選實施方式(在下面稱為實施方式)進 行描述。(檢測原理)在本實施方式中,顯示裝置具體為有源矩陣型的有機EL顯示裝置, 具有多個像素的顯示部形成于EL面板100上。圖1為表示本實施方式相 關(guān)的有源矩陣型EL顯示裝置的電路結(jié)構(gòu)的等效電路結(jié)構(gòu)的圖。在EL面 板100的顯示部中,呈矩陣狀設(shè)置多個像素,沿矩陣的水平掃描(行方向), 依次形成輸出選擇信號的選擇線GL,沿垂直掃描方向(列方向),形成 輸出數(shù)據(jù)信號(Vsig)的數(shù)據(jù)線DL,在作為被驅(qū)動的有機EL元件(在下 面簡稱為"EL元件")中,形成用于供給驅(qū)動電源PVDD的電源線VL。各像素設(shè)置于大致通過這些線劃分的區(qū)域,各像素包括作為被驅(qū)動元 件的EL元件。另外,設(shè)置通過n型溝道的TFT構(gòu)成的選擇線晶體管Trl(以下稱為"選擇Trl"),保持容量Cs,由p型溝道的TFT構(gòu)成的元件 驅(qū)動晶體管Tr2 (以下稱為"元件驅(qū)動Tr2")。在選擇Trl中,其漏極與數(shù)據(jù)線DL連接,該數(shù)據(jù)線DL將數(shù)據(jù)電壓(Vsig)供給沿垂直掃描方向并列的各像素,柵極與柵極線GL連接,該 柵極線GL用于選擇在1水平掃描線上并列的像素,其源極與元件驅(qū)動Tr2 的柵極連接。另外,元件驅(qū)動Tr2的源極與電源線VL連接,漏極與EL元件的陽 極連接。EL元件的陰極按照通過各像素共用的方式形成,與陰極電源CV 連接。EL元件通過二極管結(jié)構(gòu),在下部電極和上部電極之間,具有發(fā)光元 件層。發(fā)光元件層包括例如,至少具有有機發(fā)光材料的發(fā)光層,可根據(jù)發(fā) 光元件層所采用的材料特性等,采用單層結(jié)構(gòu),2層,3層或4層以上的 多層結(jié)構(gòu)。在本實施方式中,下部電極用作針對每個像素,按照各自形狀 進行制作圖案處理,并作為上述陽極發(fā)揮功能,與元件驅(qū)動Tr2連接。另 外,上部電極按照與多個像素共用的方式用作陰極。在針對每個像素,具有上述那樣的電路結(jié)構(gòu)的有源矩陣型EL顯示裝 置中,如果元件驅(qū)動Tr2的動作閾值Vth有偏差,則即使將同一數(shù)據(jù)信號 供給各像素的,同一電流也不從驅(qū)動電源PVDD供給到EL元件,其成為 亮度偏差(顯示偏差)的原因。圖2表示產(chǎn)生元件驅(qū)動Tr2的特性偏差(電流供給特性的偏差,例如, 動作閾值Vth的偏差)時的像素的等效電路和元件驅(qū)動Tr2和EL元件的 IV特性。在元件驅(qū)動Tr2的動作閾值Vth產(chǎn)生偏差時,通過電路方式,如 圖2 (b)所示的那樣,可看到在元件驅(qū)動Tr2的漏極側(cè),連接大于正常的 電阻,或小于正常的電阻。于是,流過EL元件的電流(在本實施方式中, 陰極電流Icv)特性不相對正常像素而變化,但是,實際上,流過EL元件 的電流對應(yīng)于元件驅(qū)動Tr2的特性偏差而變化。在元件驅(qū)動Tr2上的外加電壓滿足Vgs—Vth<Vds時,元件驅(qū)動Tr2 在飽和區(qū)域動作。如圖2 (a)所示的那樣,在元件驅(qū)動Tr2的動作閾值 Vth高于正常像素的像素中,該晶體管的漏極與源極之間的電流Ids小于 正常的晶體管,對EL元件的供給電流量,即,流過EL元件的電流小于 正常像素(AI大),其結(jié)果是,該像素的發(fā)光亮度小于正常像素的發(fā)光亮 度,造成顯示偏差。反之,在元件驅(qū)動Tr2的動作閾值Vth小于正常像素的像素中,該晶 體管的漏極與源極之間的電流Ids大于正常的晶體管,流過EL元件的電 流大于正常像素,發(fā)光亮度增加。另夕卜,在對元件驅(qū)動Tr2的外加電壓滿足Vgs—Vth〉Vds時,該元件驅(qū)動Tr2在線性區(qū)域動作,在該線性區(qū)域,在閾值vth高的元件驅(qū)動Tr2 和閾值vth低的元件驅(qū)動Tr2中,Ids—Vds特性的差小,由此,對EL元 件的供給電流量的差(AI)也小。由此,EL元件不依賴元件驅(qū)動Tr2的 特性偏差的有無,呈現(xiàn)基本相同的發(fā)光亮度,難以在線性區(qū)域檢測特性偏 差造成的顯示偏差,但是,如上述那樣,通過在飽和區(qū)域使元件驅(qū)動Tr2 動作,可檢測該元件驅(qū)動Tr2的特性偏差造成的顯示偏差。此外,如果根據(jù)已檢測到的電流值,對供給各像素的數(shù)據(jù)信號進行補 償,則能夠可靠地對顯示偏差進行補償。例如,元件驅(qū)動Tr2的閾值I Vth I 小于正常值時,供給基準(zhǔn)的數(shù)據(jù)信號時的EL元件的發(fā)光亮度高于通常值。于是,在該情況下,通過對應(yīng)于相對閾值lvthl的基準(zhǔn)的偏離值,減小數(shù)據(jù)信號的絕對值I Vsig I ,可對亮度偏差進行補償。在元件驅(qū)動Tr2的閾值lvthl高于正常時,通過對應(yīng)于相對閾值lvthl的基準(zhǔn)的偏離值,增加數(shù)據(jù)信號的絕對值I Vsig I ,可對亮度偏差進行補償。另外,在以上的像素電路中,元件驅(qū)動晶體管采用p型溝道的TFT, 但是,也可采用n型溝道的TFT。此外,在以上的像素電路中,對針對l 個像素,采用具有作為晶體管的選擇晶體管和驅(qū)動晶體管的2個晶體管的 結(jié)構(gòu)的實例進行了說明,但是,晶體管并不限于2個類型和上述電路結(jié)構(gòu)。 (具體實例)下面參照圖3 圖5,對基于上述原理的陰極電流的檢查和顯示偏差 補償進行具體說明。圖3表示測定陰極電流,對亮度偏差進行補償?shù)难b置的概略結(jié)構(gòu)。電 流檢查部300作為下述的檢查裝置而提供,該檢查裝置用于在出廠時,根 據(jù)陰極電流的測定檢查EL面板100的顯示偏差的檢查裝置,檢查用信號 發(fā)生電路320根據(jù)控制部310的控制,產(chǎn)生檢查所必需的檢查用電源,檢 查用的時刻信號,顯示信號等,將其通過端子IOOT供向EL面板IOO。偏 差檢測部340根據(jù)陰極電流檢測部350檢測到的陰極電流Icv,檢測顯示 偏差是否發(fā)生。EL面板驅(qū)動裝置200與EL面板100 —起構(gòu)成EL顯示裝置,其包括 用于驅(qū)動EL面板100的面板驅(qū)動部210;補償值存儲部(補償參數(shù)設(shè)定 部)250;偏差補償部240,該偏差補償部240采用在出廠時存儲于該補償值存儲部250中的補償值,對數(shù)據(jù)信號進行補償。圖4表示陰極電流的測定和顯示偏差的補償?shù)牟襟E的一個實例。在顯 示裝置的出廠之前,通過電流檢查部300的檢查用信號發(fā)生電路320的信 號,使各像素的選擇Trl導(dǎo)通,并且將檢查用導(dǎo)通(on)顯示信號通過相 應(yīng)的像素的選擇Trl,外加于元件驅(qū)動Tr2的柵極上(Sl)。此時,元件驅(qū)動Tr2按照在飽和區(qū)域動作,如上所述,滿足Vgs—Vth <Vds的方式設(shè)定。元件驅(qū)動Tr2采用p型溝道的TFT時的電壓與普通顯 示模式相同,作為一個實例,將驅(qū)動電源PVDD為8.0V,陰極電源CV為 一3V,供給各像素的檢查用導(dǎo)通顯示信號采用OV的信號。陰極電流檢測部350在飽和區(qū)域,使相應(yīng)的像素的元件驅(qū)動Tr2動作, 檢測使EL元件發(fā)光時的陰極電流Icv (S2)。偏差檢測部340對已檢測的 陰極電流Icv和基準(zhǔn)值(基準(zhǔn)范圍)進行比較,在陰極電流大于基準(zhǔn)值時, 計算增加供給到EL面板100的數(shù)據(jù)信號的電壓,減小流過EL元件的電 流所必需的補償值,另外在小于基準(zhǔn)范圍時,計算減小數(shù)據(jù)信號的電壓, 增加流過EL元件的電流所必需的補償值。這些補償值作為每個像素的補 償值,存儲于存儲部250中(S3)。另外,對于EL面板驅(qū)動裝置200的 偏差補償部240的功能,也可在存儲部250中,不直接存儲補償值,而存 儲補償所必需的參數(shù)和已測定的每個像素的陰極電流值(初始陰極電流 值)。另外,在偏差檢測部340中,作為對陰極電流Icv和基準(zhǔn)值進行比 較的結(jié)果,陰極電流Icv超過允許范圍,大于基準(zhǔn)值時,或在小于該基準(zhǔn) 值時,即使通過對數(shù)據(jù)信號進行補償,仍不能夠補償,即,判定顯示缺陷 的發(fā)生,如果可矯正,則可返回到矯正處理步驟。還有,在元件驅(qū)動Tr2為n型溝道的TFT時,對已檢測到的陰極電流 Icv和基準(zhǔn)值進行比較,在陰極電流大于基準(zhǔn)值時,求得減小供給到EL面 板100的數(shù)據(jù)信號的電壓并增加流過EL元件的電流所必需的補償值,另 外,在小于基準(zhǔn)值時,計算增大供給到EL面板100的數(shù)據(jù)信號的電壓, 減小流過EL元件的電流所必需的補償值。如上述那樣,在存儲部250中存儲補償值,另外,進行其它的檢查, 最終將判定為良品的EL顯示裝置出廠,該EL顯示裝置在動作時, 一邊 對數(shù)據(jù)信號進行補償, 一邊進行顯示。在對從外部供給的圖像信號進行處理,將每個像素的數(shù)據(jù)信號供給到EL面板100時,偏差補償部240判斷該數(shù)據(jù)信號的圖像地址是否為補償 的必需的像素,在地址一致,即,是補償必需的像素時(S10),從存儲 部250讀出補償參數(shù)等的補償信息(S11),計算對數(shù)據(jù)信號的補償值 (S12)。通過將已計算的補償值,與例如所供給的數(shù)據(jù)信號相乘的方式,對數(shù) 據(jù)信號進行補償(S13),該數(shù)據(jù)信號(Vsig)通過EL面板100的圖1所 示的數(shù)據(jù)線DL被供給到相應(yīng)的像素,EL元件按照與已補償?shù)臄?shù)據(jù)信號相 對應(yīng)的亮度發(fā)光,進行顯示(S14)。 (陰極電流高速測定)圖5表示釆用陰極電流Icv,高速地檢查顯示偏差時的EL面板100 的驅(qū)動波形。在圖5所示的檢查方法中,在選擇l個像素的期間中(l個 水平時鐘信號的2分之1周期),相對該像素,連續(xù)地外加導(dǎo)通顯示信號 (EL發(fā)光)和截止(off)顯示信號(EL非發(fā)光)來作為檢査用顯示信號 Vsig。另外,圖3的檢查用信號發(fā)生電路320采用水平起始信號STH、水 平時鐘信號CKH等,由此,制作該檢查用顯示信號。陰極電流檢測部350 分別檢測與導(dǎo)通顯示信號相對應(yīng)的EL元件的陰極電流Icv。n和與截止顯示 信號相對應(yīng)的EL元件的陰極電流Icv。ff (根據(jù)需要,對電流進行放大), 偏差檢測部340計算導(dǎo)通和截止的陰極電流的差分AIcv,對該差分?jǐn)?shù)據(jù), 與例如基于正常像素的差分?jǐn)?shù)據(jù)的基準(zhǔn)值進行比較,由此,可撿測顯示偏 差。此外,同樣在圖5所示的檢查方法中,如上述那樣,按照元件驅(qū)動 T。在飽和區(qū)域動作的方式設(shè)定驅(qū)動電源PVDD和陰極電流CV。另外, 在圖5中,垂直時鐘信號CKV為與垂直方向的像素數(shù)相對應(yīng)的時鐘信號, 使能(enable) ENB為用于防止在1個水平掃描期間的最初和最后,在數(shù) 據(jù)信號Vsig未確定的時候,將選擇信號輸出給各水平掃描線(柵極線GL) 時的禁止信號。如上那樣,測定截止顯示信號時的陰極信號ICV。ff,以該IcV。ff為基準(zhǔn),相對地把握導(dǎo)通顯示信號時的陰極電流Icv。n,由此,不必正確地判斷導(dǎo)通顯示信號時的陰極電流ICV。n的絕對值,不必測定形成另一基準(zhǔn)的截止顯示信號時的陰極電流ICV。ff,可高精度地進行高速的自動檢査。具體來說,作為一個實例,可針對R, G, B的各像素,分別按照小于3秒的時間,進 行陰極電流的測定,可進行極高速度的檢查。例如,與使EL元件發(fā)光, 通過照相機對其進行拍攝,根據(jù)該拍攝數(shù)據(jù),分析亮度的方法相比較,可 顯著地縮短檢查時間,另外,可針對全部像素,檢測顯示偏差。顯然,在 必須減小補償值存儲部250的容量時,也可將陰極電流的測定對象作為多 個像素單元,存儲多個像素(區(qū)域)單元的補償值。此時,例如,在偏差 補償部240中,可通過對鄰接的多個像素區(qū)域的補償值進行線性內(nèi)插處理 等的方法,確定對關(guān)注像素的補償值。另外,在圖5所示的檢査方法中,確定沿矩陣設(shè)置的像素的列方向, 即向各數(shù)據(jù)線DL輸出顯示信號的期間的水平啟始信號STH,在2列的選 擇期間設(shè)定。在普通顯示時,各水平掃描線上的像素按照相應(yīng)的1H期間 而選擇,在此時相應(yīng)的數(shù)據(jù)線DL上,每次按照相當(dāng)于以l個水平掃描方 向的像素數(shù)量分割1H期間的期間,輸出顯示信號Vsig。相對該情況,在 偏差檢査時采用檢查用的水平開始信號STH,由此,相對1根數(shù)據(jù)線DL, 在2像素量的顯示信號輸出期間,供給檢查用顯示信號Vsig。 gp,在同一 水平掃描線中并列的像素中,鄰接的2個像素同時構(gòu)成檢查對象。另外, 該像素的同時檢查對象數(shù)并不限于2,例如,也可將每次3個像素作為檢 査對象。象這樣,針對1個像素,連續(xù)多次地形成檢査對象,由此,在同 步信號、檢査用顯示信號Vsig等疊加噪音并產(chǎn)生像素誤顯示的情況下, 由于這樣的噪音疊加在多個期間連續(xù)地發(fā)生的概率小,故可減小噪音的誤、、、在這里,用于驅(qū)動EL面板100的顯示部的各像素用的驅(qū)動電路中的 水平方向驅(qū)動電路,包括與水平掃描方向的像素數(shù)量相對應(yīng)的級數(shù)的移位 寄存器,該移位寄存器對應(yīng)于水平時鐘信號CKH,依次轉(zhuǎn)送水平啟始信 號STH,并且從寄存器的各級,相對采樣電路,輸出確定向相應(yīng)的數(shù)據(jù)線 DL輸出顯示信號Vsig的期間(采樣期間)的采樣保持信號。另外,呈現(xiàn) 該采樣保持信號的采樣期間與上述水平啟始信號STH的期間(在這里,H 電平期間)相對應(yīng)。由此,如果相對EL面板100的水平方向驅(qū)動電路, 在缺陷檢查時,供給檢査用信號發(fā)生電路320所制作的圖5所示的這樣的檢查用的水平啟始信號STH來作為水平啟始信號STH,另外,向在各數(shù) 據(jù)線DL上經(jīng)采樣電路而連接的視頻信號線,輸出圖5所示那樣的檢查用 顯示信號Vsig,則可每次針對多個像素,供給檢查用顯示信號Vsig,進行檢査。另外,圖5的驅(qū)動方法對于包括與供給到數(shù)據(jù)線DL的顯示信號的驅(qū) 動波形的切換時刻聯(lián)動,設(shè)定元件驅(qū)動Tr2的導(dǎo)通截止(EL元件的發(fā)光, 非發(fā)光)時刻的像素電路時是有效的,作為一個實例,可應(yīng)用于圖l所示 的那樣的像素電路結(jié)構(gòu)。另外,即使在向用于控制各像素的保持電容Cs 的電位用的電容線CL,供給所需的交流信號這樣的像素電路結(jié)構(gòu)的情況 下,仍可附加在檢查時,固定電容線CL的電位的電容電位控制開關(guān)等, 使元件驅(qū)動Tr2對應(yīng)于供給到數(shù)據(jù)線DL的顯示信號的時刻而動作,這樣, 可采用圖5那樣的檢査方法。(帶有顯示偏差測定功能的顯示裝置)以上針對在出廠時測定陰極電流,預(yù)先存儲補償值的方法進行了說 明,但是,也可在EL顯示裝置中設(shè)置陰極電流測定(顯示偏差測定)功 能。下面參照圖6,對具有顯示偏差測定功能和補償功能的EL顯示裝置 進行說明。EL顯示裝置的結(jié)構(gòu)通過下述的方式實現(xiàn),該方式為圖3所示的電 流檢查部300與EL面板100和EL面板驅(qū)動裝置200 —起設(shè)置,從電流 檢查部300的檢查用信號發(fā)生電路320,例如如上述圖5所示的那樣,供 給使EL元件為非發(fā)光電平的檢查用截止顯示信號和使其為發(fā)光電平的檢 查用導(dǎo)通顯示信號,測定此時的陰極電流差A(yù)Icv。另外,該陰極電流測定 最好例如在裝置啟動時、等待時等的普通動作時以外的期間進行。陰極電流測定的方法如上所述,與圖5相同,使選擇Td導(dǎo)通,使元 件驅(qū)動Tr2處于飽和狀態(tài),施加檢查用導(dǎo)通顯示信號、檢查用截止顯示信 號(S30),陰極電流檢測部350檢測陰極電流,偏差檢測部340檢測陰 極電流AIcv (S31)。偏差檢測部340還對該陰極電流差A(yù)Icv是否為基準(zhǔn)值(基準(zhǔn)范圍) 進行比較(S32),對應(yīng)于其結(jié)果,求出補償值(S33)。如果陰極電流差 AIcv在基準(zhǔn)范圍內(nèi),則由于為正常像素(沒有顯示偏差),故偏差補償部240選擇對于該像素的補償量為0的參數(shù),在不在基準(zhǔn)范圍內(nèi)時,由于產(chǎn) 生顯示偏差,因此計算與基準(zhǔn)值的差相對應(yīng)的補償參數(shù)。象這樣計算的補 償參數(shù)在補償值存儲部250中設(shè)定。在普通顯示時,偏差補償部240與圖 4的顯示裝置出廠后的使用時的步驟(S10 S14)相同,采用已設(shè)定的補 償參數(shù),對必要的像素的數(shù)據(jù)信號進行補償,供給該數(shù)據(jù)信號,進行顯示 (S34)。通過象這樣,在顯示裝置中設(shè)置陰極電流測定功能,即使在通過出廠 后的伴隨時間的變化,在元件驅(qū)動Tr2等產(chǎn)生特性變化的情況下,仍可對 應(yīng)于其變化,對數(shù)據(jù)信號進行補償,可長期地維持顯示質(zhì)量,可提高顯示 裝置的壽命。另外,在出廠時,測定初始狀態(tài)(出廠)中的相同的陰極電流差A(yù)Icv, 將其測定值作為基準(zhǔn)值,存儲于存儲部250中,由此,可更加正確地檢測 伴隨使用的特性隨時間而產(chǎn)生的變化,另外,可考慮伴隨時間的變化,進 行補償運算。此外,以上,以在EL顯示裝置中設(shè)置陰極電流測定功能時,測定陰 極電流AIcv的方案為實例而進行了描述,但是,也可在出廠后的顯示偏 差檢測時,測定僅僅將檢查用導(dǎo)通顯示信號供給到各像素時的陰極電流, 預(yù)先存儲規(guī)定基準(zhǔn)值(例如初始陰極電流),將其與該基準(zhǔn)值進行比較。還有,以上,作為在出廠時或出廠后中的任意情況下顯示偏差的檢測 方法,以測定陰極電流的方法為實例進行了說明,但是,也可針對在出廠 時的顯示偏差檢測,如圖3中的虛線所示的那樣,采用使EL元件發(fā)光, 對其進行拍攝的照相機400,檢測發(fā)光亮度,根據(jù)該亮度,計算補償值。 另外,還可在出廠后,通過電流檢查部300,檢測陰極電流,進一步對數(shù) 據(jù)信號進行補償。再有,如果就以上描述的偏差補償部240的補償來說,最終將供給到 產(chǎn)生顯示偏差的像素的數(shù)據(jù)信號調(diào)整到合適的電平,對EL元件的發(fā)光亮 度進行補償,則運算處理、補償處理方法沒有特別的限制。另外,可提供下述的顯示裝置,其中,將偏差補償部240、內(nèi)置于顯 示裝置中時的電流檢査部300與面板驅(qū)動部210—起進行集成,由此,可 通過非常小的驅(qū)動電路,進行顯示偏差的檢測和補償。此外,可相對補償值存儲部250,依次改寫或添加在電流檢查部300 中檢測到的陰極電流值(AIcv)或補償信息,由此,可恒久地實現(xiàn)沒有顯 示不均勻的顯示裝置。還有,在以上的說明中,給出了采用EL元件的陰極電流(例如AIcv) 作為偏差補償?shù)臋z查時測定的電流的實例,但是,可根據(jù)流過EL元件的 電流Ioled (AIoled)進行檢查。流過該EL元件的電流Ioled也可不是例如 上述陰極電流Icv,而是陽極電流Iano。也可代替將EL元件的各像素的個 別電極作為陽極電極,多個像素中公共的電極作為陰極電極的方案,在個 別電極為陰極電極,公共電極為陽極電極時,如上述那樣,測定流過公共 電極的電流的陽極電流(AIano)。
權(quán)利要求
1.一種電致發(fā)光顯示裝置的顯示偏差補償方法,上述顯示裝置在各像素中具備二極管結(jié)構(gòu)的電致發(fā)光元件和元件驅(qū)動晶體管,該元件驅(qū)動晶體管與該電致發(fā)光元件連接并用于控制流過該電致發(fā)光元件的電流,向各像素供給使上述電致發(fā)光元件為發(fā)光電平的檢查用導(dǎo)通顯示信號,并且使上述元件驅(qū)動晶體管在該晶體管的飽和區(qū)域動作,檢測流過上述電致發(fā)光元件的電流,根據(jù)該電流值,對供給到對應(yīng)的像素的上述數(shù)據(jù)信號進行補償。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的顯示偏差補償方法,其特征在于, 流過上述電致發(fā)光元件的電流為陰極電流。
3. —種電致發(fā)光顯示裝置的顯示偏差補償方法,上述顯示裝置在各像素中具備二極管結(jié)構(gòu)的電致發(fā)光元件和元件驅(qū) 動晶體管,該元件驅(qū)動晶體管與該電致發(fā)光元件連接并用于控制流過該電 致發(fā)光元件的電流,使各像素的上述元件驅(qū)動晶體管在該晶體管的飽和區(qū)域動作,并且向 該像素供給使上述電致發(fā)光元件為發(fā)光電平的檢查用導(dǎo)通顯示信號和使 上述電致發(fā)光元件為非發(fā)光電平的檢查用截止顯示信號,檢測對應(yīng)于上述檢查用導(dǎo)通顯示信號而流過上述電致發(fā)光元件的電 流,和對應(yīng)于上述檢查用截止顯示信號而流過上述電致發(fā)光元件的電流之 間的導(dǎo)通截止電流差,將上述導(dǎo)通截止電流差與基準(zhǔn)值進行比較,檢測動作的像素的特性偏差,按照上述檢測到的特性偏差,對供給到對應(yīng)的像素的上述數(shù)據(jù)信號進 行補償。
4. 一種電致發(fā)光顯示裝置,具備具有多個像素的顯示部;用于對顯示偏差進行補償?shù)难a償數(shù)據(jù) 存儲部;和用于對上述顯示偏差進行補償?shù)难a償部,上述多個像素的每一個,具備電致發(fā)光元件和與該電致發(fā)光元件連接 的元件驅(qū)動晶體管,在上述補償數(shù)據(jù)存儲部中存儲有與在供給了使上述電致發(fā)光元件為 發(fā)光電平的檢查用導(dǎo)通顯示信號時流過上述電致發(fā)光元件的電流相對應(yīng) 的補償數(shù)據(jù),上述補償部按照上述補償數(shù)據(jù),對供給到各像素的數(shù)據(jù)信號進行補償。
5. —種電致發(fā)光顯示裝置,具備具有多個像素的顯示部;用于對顯示偏差進行補償?shù)难a償數(shù)據(jù) 存儲部;和用于對上述顯示偏差進行補償?shù)难a償部,上述多個像素的每一個具備電致發(fā)光元件和與該電致發(fā)光元件連接 的元件驅(qū)動晶體管,在上述補償數(shù)據(jù)存儲部中存儲有與導(dǎo)通截止電流差對應(yīng)的補償數(shù)據(jù), 該導(dǎo)通截止電流差為在供給了使上述電致發(fā)光元件為非發(fā)光電平的檢查 用截止顯示信號和使上述電致發(fā)光元件為發(fā)光電平的檢查用導(dǎo)通顯示信 號時對應(yīng)于上述檢查用截止顯示信號的上述電致發(fā)光元件的陰極電流、和 對應(yīng)于上述檢查用導(dǎo)通顯示信號的上述電致發(fā)光元件的陰極電流之間的 導(dǎo)通截止電流差,上述補償部按照上述補償數(shù)據(jù),對供給到各像素的數(shù)據(jù)信號進行補償。
6. —種電致發(fā)光顯示裝置,具備具有多個像素的顯示部;用于檢測各像素的顯示偏差的偏差檢 測部;和用于對上述顯示偏差進行補償?shù)难a償部,上述多個像素的每一個具備電致發(fā)光元件和與該電致發(fā)光元件連接 的元件驅(qū)動晶體管,上述偏差檢測部對在供給了使上述電致發(fā)光元件為非發(fā)光電平的檢 査用截止顯示信號和使上述電致發(fā)光元件為發(fā)光電平的檢査用導(dǎo)通顯示 信號時流過對應(yīng)于上述檢查用截止顯示信號的上述電致發(fā)光元件的電流、 和流過對應(yīng)于上述檢查用導(dǎo)通顯示信號的上述電致發(fā)光元件的電流之間 的導(dǎo)通截止電流差進行檢測,并且將檢測到的上述導(dǎo)通截止電流差與基準(zhǔn)數(shù)。然而,所選的量化參數(shù)僅適用于很有限數(shù)目的字段.這影響到必 須以未量化的方式傳輸大量字段.顯然,這限制了數(shù)據(jù)的數(shù)字壓縮的 效率.本發(fā)明的一個特定目的是它克服在本專業(yè)狀態(tài)中的這些缺點。 更具體地說,本發(fā)明的一個目的旨在提供一個數(shù)據(jù)信號,以及<吏 用這個信號的方法和設(shè)備,以便于大大減小編碼所必須的數(shù)據(jù)并因此傳輸和/或保存特別是以例如VRML和MPEG- 4標(biāo)準(zhǔn)的動畫圖形場景。本發(fā)明的另一個目的旨在提供一個對代表圖形場景的數(shù)據(jù)編碼 的技術(shù),它能以低的通過量在一個網(wǎng)絡(luò)上傳輸場景,并在終端中重建 這些場景,而其中終端不是必需的主要硬件或軟件裝置.本發(fā)明的另一個目的旨在提供這樣一個技術(shù),以使其對任何類型 的場景和構(gòu)成這個場景一部分的任何類型的元素都有效,而不需要對 一些元素特別的(換句話說以一種未量化的方式)處理.這些目的和后面將描述的其它目的,按照本發(fā)明通過使用一個固 形場景的動畫數(shù)據(jù)信號來實現(xiàn),該圖形場景被建造圖象的裝置所使 用,該圖象可以被顯示在至少一個屏幕上, 一個信號,其中所說的場 景以一組動畫對象的形式來描述,每個對象與定義所說對象的一個參 數(shù)的至少一個特征字段有關(guān),并包括至少一個量化對象,對于該對 象,特征字段定義所說的動畫對象的特征字段的量化規(guī)則,每個適用 于至少兩個不同的特征字段,因此具有一個數(shù)值的所說的動畫對象的多數(shù)或全部特征字段可以被量化.因此,有限數(shù)目的量化類型或規(guī)則可以被定義以覆蓋所有可能的 情況.此外,已經(jīng)提議作為一個對象或結(jié)點來傳輸量化參數(shù).作為一個 結(jié)點來傳輸這些參數(shù)的優(yōu)點是從與在一個場景描迷流中的傳輸結(jié)點 有關(guān)的所有功能中得益-說明在場景中的一個結(jié)點,在預(yù)定義缺省值的情況下等效于說明它的所有字段;-說明任何字段是重新定義一個值而不是這個字段的缺省值的一種方法;-這個結(jié)點可以被標(biāo)識,然后每當(dāng)在場景中需要時,只要簡單地 通過指出它的標(biāo)識符就可被重新使用.
全文摘要
一種電致發(fā)光顯示裝置的顯示偏差補償方法,在飽和區(qū)域,使用于控制供給到EL元件的驅(qū)動電流的元件驅(qū)動晶體管動作,根據(jù)使EL元件為發(fā)光電平時的陰極電流,對數(shù)據(jù)信號進行補償,由此,可進行高速的顯示偏差檢查和高精度的顯示偏差補償。另外,通過在EL顯示裝置中設(shè)置電流測定功能,從而還可對應(yīng)于顯示裝置出廠后的特性變化而進行補償。
文檔編號G09G3/30GK101221723SQ200710182199
公開日2008年7月16日 申請日期2007年9月20日 優(yōu)先權(quán)日2006年9月21日
發(fā)明者小川隆司 申請人:三洋電機株式會社;三洋半導(dǎo)體株式會社
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