專利名稱：電光裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及電光裝置。
背景技術(shù)：
近年來，隨著顯示圖像的高精細化、畫面的大型化等，電光裝置、例如有機電致發(fā)光顯示器，越來越要求像素電路的增大、以及構(gòu)成像素電路的布線圖形和電極圖形的細微化。因此，有機電致發(fā)光顯示器(有機EL顯示器)的各制造工序，都要求復(fù)雜且高難度的技術(shù)。同時，為了保證這些有機EL顯示器的性能·可靠性，在出場前的各制造工序中，各種(例如全燈檢查等)檢查也變得更為重要。而且，進行這些各種檢查的檢查電路，與多個像素電路一起設(shè)在基板上(例如，專利文獻1、2)。
在專利文獻1中，基板上的保護電光元件的密封部件，是以密封部件的安裝部與形成在基板上的檢查電路交迭起來的方式安裝的，實現(xiàn)了裝置的小型化。此外，專利文獻2中，構(gòu)成檢查電路的晶體管元件被配置在使用密封材料的密封區(qū)域(密封材料與基板粘合的區(qū)域)上，使得密封區(qū)域這一死角(dead space)得到有效利用。
專利文獻1特開2004-200034號公報專利文獻2特開平10-214065號公報然而，由于上述兩個檢查電路都形成在與密封部件重合的部分上，所以無法受到密封部件的充分保護。而且，由于兩個檢查電路均與密封部件的粘合面對峙，所以，當某種力施加在密封部件上時，該力會直接施加在檢查電路上，這樣就有可能損傷到該檢查電路。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明正是為解決上述問題點而提出的，其目的在于提供一種電光裝置，能夠保護基板上形成的用于檢查的檢查電路，避開周圍環(huán)境的侵害。
本發(fā)明的電光裝置，在基板的顯示區(qū)域上，形成多個單位電路，該單位電路包括多條掃描線、多條數(shù)據(jù)線、以及對應(yīng)這些掃描線和數(shù)據(jù)線的交叉部設(shè)置的電光元件，同時，將密封所述顯示區(qū)域上形成的多個像素電路的電光元件的密封部件與所述基板粘合，其中，在將所述基板和所述密封部件粘合的粘合區(qū)域與所述顯示區(qū)域之間，形成檢查電路。
根據(jù)本發(fā)明的電光裝置，形成在基板上的檢查電路完全被密封部件內(nèi)包，所以可以避開外部濕氣、氧等得到完全的保護。此外，由于檢查電路形成在不與密封部件的粘合面直接對峙的、顯示區(qū)域與粘合區(qū)域之間，所以，施加在密封部件上的力，例如，在將密封部件粘合在基板上時，使密封部件抵接在基板上的力，不會通過粘合面而直接加在檢查電路上。因此，檢查電路因由于某些原因被施加在密封部件上的力而受到損傷的可能性較小。此外，例如，如果密封部件選擇不銹鋼等金屬性的密封部件，那么外部的電磁噪聲就會被密封部件完全屏蔽，檢查電路就不會由于電磁噪聲而發(fā)生誤動作。
在上述的電光裝置中，所述檢查電路，可至少具備向所述多條數(shù)據(jù)線的每一條供給檢查數(shù)據(jù)信號的數(shù)據(jù)線控制用檢查電路部、以及用來向所述多條掃描線的每一條有選擇地供給檢查用選擇信號的掃描線控制用檢查電路部的其中一個。
根據(jù)本電光裝置，對至少具備數(shù)據(jù)線控制用檢查電路部和掃描線控制用檢查電路部的其中一方的電光裝置而言，其具有的檢查電路部會得到保護，不受周圍環(huán)境的侵害(濕氣、氧、外力)。
在本電光裝置中，所述數(shù)據(jù)線控制用檢查電路部可包括供給檢查模式信號的檢查模式信號供給線；供給檢查數(shù)據(jù)信號的檢查數(shù)據(jù)信號供給線；以及晶體管，設(shè)于所述檢查數(shù)據(jù)信號供給線與所述多條數(shù)據(jù)線的每一條之間，根據(jù)所述檢查模式信號將所述檢查數(shù)據(jù)信號分別提供給對應(yīng)的所述數(shù)據(jù)線。
根據(jù)本電光裝置，由于上述數(shù)據(jù)線控制用檢查電路部，是由檢查模式信號供給線、檢查數(shù)據(jù)信號供給線、以及晶體管這種最小限度的電路結(jié)構(gòu)形成，因此在顯示區(qū)域和粘合區(qū)域之間能夠形成該檢查電路部。
在本電光裝置中，所述檢查模式信號供給線和所述檢查數(shù)據(jù)信號供給線，可分別與所述基板的四個角中的任意一個角部上形成的檢查用外部端子電連接。
根據(jù)本電光裝置，檢查用外部端子，在與各數(shù)據(jù)線的延長線上的基板的一邊上形成的數(shù)據(jù)線的外部端子分離的、上述基板的角部上形成。因此，不用加大基板的尺寸，就可以使該檢查用外部端子的尺寸變大。
根據(jù)本電光裝置，可以檢查各種顏色的電光元件。
在本電光裝置中，所述掃描線控制用檢查電路部可包括供給檢查用選擇信號的選擇信號供給線；供給檢查用時鐘信號的時鐘信號供給線；供給檢查模式信號的檢查模式信號供給線；以及，移位寄存器，其對應(yīng)所述多條數(shù)據(jù)線的每一條設(shè)置，響應(yīng)所述時鐘信號來將所述選擇信號從一方向另一方移位，并向?qū)?yīng)的掃描線輸出，還包括根據(jù)所述檢查模式信號，將所述選擇信號提供給掃描線的晶體管。
根據(jù)本電光裝置，由于掃描線控制用檢查電路部，是由選擇信號供給線、時鐘信號供給線、檢查模式信號供給線、移位寄存器以及晶體管這種最小限度的電路結(jié)構(gòu)形成，所以在顯示區(qū)域和粘合區(qū)域之間能夠形成該檢查電路部。
在本電光裝置中，所述選擇信號供給線、所述時鐘信號供給線以及所述檢查模式信號供給線，分別與所述基板的四個角中的任意一個角部上形成的檢查用外部端子電連接。
根據(jù)本電光裝置，選擇信號供給線、時鐘信號供給線和檢查模式信號供給線的檢查用外部端子，在與各掃描線的延長線上的基板的一邊上形成的掃描線的外部端子分離的、上述基板的角部上形成。因此，不用加大基板的尺寸，就可以使檢查用外部端子的尺寸變大。
本發(fā)明的電光裝置，在基板的顯示區(qū)域上形成多個單位電路，該單位電路包括分別被供給選擇信號的多條掃描線、分別被供給數(shù)據(jù)信號的多條數(shù)據(jù)線、以及對應(yīng)這些掃描線和數(shù)據(jù)線的交叉部設(shè)置的電光元件，在與所述顯示區(qū)域鄰接的位置上形成檢查電路，同時，將密封所述顯示區(qū)域上形成的多個單位電路的密封部件與所述基板粘合，其中，將用于所述檢查電路的檢查用外部端子，形成在比粘合所述密封部件和所述基板的粘合區(qū)域更靠外側(cè)的、所述基板的拐角部上。
根據(jù)本電光裝置，檢查用外部端子，在與各掃描線和各數(shù)據(jù)線的延長線上的基板的一邊分離的、上述基板的拐角部上形成。因此，不用加大基板的尺寸，就可以使該檢查用外部端子的尺寸變大。而且，由于它們形成在比密封區(qū)域更靠外的外側(cè)，所以即使是在粘合上密封部件之后也可以實行檢查。
在本電光裝置中，包括多個選擇信號輸入端子，其與所述多條掃描線的每一條電連接，并供給所述選擇信號；以及，多個數(shù)據(jù)信號輸入端子，其與所述多條數(shù)據(jù)線的每一條電連接，并供給所述數(shù)據(jù)信號，所述多個選擇信號輸入端子，設(shè)于所述基板的第1邊，所述多個數(shù)據(jù)信號輸入端子，設(shè)于不同于所述基板的所述第1邊的第2邊，所述檢查用外部端子，形成在所述基板的所述第1邊和所述第2邊交叉的拐角部上。
根據(jù)本電光裝置，第1邊與第2邊交叉的基板拐角部上，不形成第1邊上形成的選擇信號輸入端子和第2邊上形成的數(shù)據(jù)信號輸入端子。所以，對于檢查用外部端子而言，不用加大基板的尺寸，就可以使該檢查用外部端子的尺寸變大。
本發(fā)明的電光裝置，在基板的顯示區(qū)域上形成多個單位電路，該單位電路包括分別被供給選擇信號的多條掃描線、分別被供給數(shù)據(jù)信號的多條數(shù)據(jù)線、以及對應(yīng)這些掃描線和數(shù)據(jù)線的交叉部設(shè)置的電光元件，在與所述顯示區(qū)域鄰接的位置上形成檢查電路，其中，具有將密封所述顯示區(qū)域上形成的多個單位電路的密封部件與所述基板粘合的粘合區(qū)域，將兼作為對準標記的所述檢查電路用的多個檢查用外部端子，形成在比所述粘合區(qū)域更靠外的外側(cè)。
根據(jù)本發(fā)明的電光裝置，由于在將檢查用外部端子形成在基板上時，可以將該檢查用外部端子作為對準標記使用，所以例如，在制造多個電光元件的工序中，可以應(yīng)用到定位作業(yè)中。另外，由于檢查用外部端子，形成在比密封部件密封的區(qū)域更靠外的外側(cè)，所以在將密封部件貼合到基板上時，也可以將其應(yīng)用到定位作業(yè)中。
在本電光裝置中，所述多個檢查用外部端子，可形成在所述基板的拐角部上。
根據(jù)本電光裝置，由于檢查用外部端子形成在拐角部上，所以，可以加大作為外部端子的尺寸，這樣與探針的連接會變得容易，同時，即便是作為對準標記，由于尺寸變大了，將密封部件貼合到基板上時，可以比較容易地進行高精度的定位作業(yè)。
在本電光裝置中，所述多個檢查用外部端子，可形成在所述基板的各拐角部上，并沿著各拐角部的邊配置形成。
根據(jù)本電光裝置，由于多個檢查用外部端子是沿拐角部的邊配置形成的，所以，通過多個相鄰的檢查用外部端子的配置關(guān)系，可以進行精度更高的定位。
根據(jù)本電光裝置，可以檢查各種顏色的電光元件，同時，在制造電光元件的工序中，檢查用外部端子可以作為定位標記加以利用。
在本電光裝置中，上述電光元件可以是電致發(fā)光元件。
根據(jù)本電光裝置，可以檢查電致發(fā)光元件，同時，在制造電致發(fā)光元件的工序中，檢查用外部端子可以作為定位標記加以利用。
根據(jù)本電光裝置，可以檢查有機電致發(fā)光元件，同時，在制造有機電致發(fā)光元件的工序中，例如，在利用液滴噴出裝置進行制造的情況下，檢查用外部端子可以作為定位標記加以利用。
在本電光裝置中，上述顯示區(qū)域中形成有發(fā)射紅光的多個電光元件、發(fā)射綠光的多個電光元件、發(fā)射藍光的多個電光元件，上述檢查電路的信號供給線可以包括供給發(fā)射紅光的電光元件用的檢查數(shù)據(jù)信號的紅光用檢查數(shù)據(jù)信號供給線、供給發(fā)射綠光的電光元件用的檢查數(shù)據(jù)信號的綠光用檢查數(shù)據(jù)信號供給線、以及供給發(fā)射藍光的電光元件用的檢查數(shù)據(jù)信號的藍光用檢查數(shù)據(jù)信號供給線。
在本電光裝置中，上述電光元件可以是電致發(fā)光元件。
根據(jù)本電光裝置，可以對電致發(fā)光元件進行檢查。
在本電光裝置中，上述電致發(fā)光元件的發(fā)光層，可以由有機發(fā)光材料構(gòu)成。
根據(jù)本電光裝置，可以對有機電致發(fā)光元件進行檢查。


圖1是本發(fā)明的有機EL顯示器的立體圖。
圖2是有機EL顯示器的主要部分的截面圖。
圖3是用于說明有機EL顯示器的電結(jié)構(gòu)的電路圖。
圖4是用于說明像素電路的電路圖。
圖5是用于說明掃描線控制用檢查電路部的電路圖。
圖6是用于說明數(shù)據(jù)線控制用檢查電路部的另一個例子的電路圖。
圖中1-作為電光裝置的有機EL顯示器，2-作為基板的透明基板，3-顯示區(qū)域，4-像素，4R-紅光用像素電路，4G-綠光用像素電路，4B-藍光用像素電路，5-數(shù)據(jù)線外部端子，6-掃描線外部端子，7-作為電光元件的有機電致發(fā)光元件，8a-上側(cè)數(shù)據(jù)線控制用檢查電路部，8b-下側(cè)數(shù)據(jù)線控制用檢查電路部，9a-左側(cè)掃描線控制用檢查電路部，9b-右側(cè)掃描線控制用檢查電路部，10-檢查模式信號外部端子，11-紅光用檢查數(shù)據(jù)外部端子，12-綠光用檢查數(shù)據(jù)外部端子，13-藍光用檢查數(shù)據(jù)外部端子，15-選擇信號外部端子，16-時鐘信號外部端子，17-紅光用檢查電源線外部端子，18-綠光用檢查電源線外部端子，19-藍光用檢查電源線外部端子，20-接地用外部端子，21-密封基板，33R、33G、33B-發(fā)光層，L0-檢查模式信號供給線，L1-紅光用檢查數(shù)據(jù)信號供給線，L2-綠光用檢查數(shù)據(jù)信號供給線，L3-藍光用檢查數(shù)據(jù)信號供給線，L4-檢查模式信號供給線，L5-選擇信號供給線，L6-時鐘信號供給線，Lr、Lg、Lb-數(shù)據(jù)線，Ly-掃描線，Sm、Sy-選擇信號，SR-移位寄存器，Zl-粘合區(qū)域，Dr、Dg、Db-數(shù)據(jù)信號，Dmr-紅光用檢查數(shù)據(jù)信號，Dmg-綠光用檢查數(shù)據(jù)信號，Dmb-藍光用檢查數(shù)據(jù)信號，MD-檢查模式信號，Q3、Q4-柵極晶體管。
具體實施例方式
以下，按照附圖，對將本發(fā)明的電光裝置具體化的一個實施方式進行說明。圖1是有機EL顯示器的立體圖，圖2是該有機EL顯示器的主要部分的截面圖。
如圖1所示，作為電光裝置的有機EL顯示器1，具有四邊形的透明基板2。在本實施方式中，透明基板2由無堿玻璃基板形成。
透明基板2的表面(元件形成面)2a上，形成有由二點虛線包圍的近似四邊形的顯示區(qū)域3。如圖1所示，m×n個像素4在顯示區(qū)域3中形成矩陣狀。詳細地講就是，在顯示區(qū)域3中形成有n行、每行m個的像素4群，或m列、每列n個的像素4群。
如圖3所示，各像素4由以下3種像素電路構(gòu)成，即，具有發(fā)射紅光的紅光用有機EL元件7(參照圖4)的紅光用像素電路4R、具有發(fā)射綠光的綠光用有機EL元件7(參照圖4)的綠光用像素電路4G、以及具有發(fā)射藍光的藍光用有機EL元件7(參照圖4)的藍光用像素電路4B。作為單位電路的紅光用、綠光用和藍光用像素電路4R、4G、4B，沿著行方向按照紅光用像素電路4R、綠光用像素電路4G、藍光用像素電路4B的順序配置。也就是說，各像素電路4R、4G、4B，沿著行方向按照紅光用像素電路4R、綠光用像素電路4G、藍光用像素電路4B、紅光用像素電路4R、綠光用像素電路4G、…的順序反復(fù)配置。此外，同色的像素電路4R、4G、4B，被沿列方向配置。
在顯示區(qū)域3中，數(shù)據(jù)線Lr、Lg、Lb對應(yīng)各列方向上配置的各色像素電路4R、4G、4B，分別沿列方向形成，各自向其列方向上的同色像素電路4R、4G、4B供給數(shù)據(jù)信號Dr、Dg、Db。此外，多條掃描線Ly，分別對應(yīng)各行方向上反復(fù)配置的各色像素電路4R、4G、4B，沿行方向形成，并分別向行方向上的各像素電路4R、4G、4B供給選擇信號Sy(參照圖4)。也就是說，各像素電路4R、4G、4B，形成在各自對應(yīng)的各數(shù)據(jù)線Lr、Lg、Lb和各掃描線Ly的交叉部上。
列方向上形成的各數(shù)據(jù)線Lr、Lg、Lb的上下兩端部，延伸形成到透明基板2的上下兩端部，與數(shù)據(jù)線外部端子5電連接，該數(shù)據(jù)線外部端子5形成在透明基板2上下兩側(cè)邊的除去左右角部(拐角部)的端緣上。作為對應(yīng)各數(shù)據(jù)線Lr、Lg、Lb形成的數(shù)據(jù)信號輸入端子的數(shù)據(jù)線外部端子5，是用銅箔等形成的端子，它沿著作為透明基板2的第2側(cè)邊的上側(cè)邊和下側(cè)邊，在表面(元件形成面)2a上等間距地排列形成。
而且，各上下兩側(cè)的各數(shù)據(jù)線外部端子5，通過所謂各向異性導(dǎo)電膜(ACF)方式，與多個連接端子(未圖示)電連接。上述多個連接端子，形成在沒有圖示出的數(shù)據(jù)線用柔性基板上，該基板的本體由聚酰亞胺樹脂形成。柔性基板上安裝有數(shù)據(jù)線驅(qū)動用IC芯片，從該數(shù)據(jù)線驅(qū)動用IC芯片輸出提供給各像素電路4R、4G、4B的數(shù)據(jù)信號Dr、Dg、Db。而且，在本實施方式中，各數(shù)據(jù)線Lr、Lg、Lb，從上下兩側(cè)部經(jīng)過對應(yīng)的數(shù)據(jù)線外部端子5，同步供給內(nèi)容相同的數(shù)據(jù)信號Dr、Dg、Db。
另一方面，行方向上形成的多條掃描線Ly的左右兩端部，延伸形成到透明基板2的左右兩端部，與掃描線外部端子6電連接，該掃描線外部端子6形成在透明基板2的左右兩側(cè)邊的除去上下角部(拐角部)的端緣上。作為對應(yīng)各掃描線Ly形成的選擇信號輸入端子的掃描線外部端子6，是用銅箔等形成的端子，它沿著作為透明基板2的第1側(cè)邊的左側(cè)邊和右側(cè)邊，在表面(元件形成面)2a上等間距地排列形成。
而且，各左右兩側(cè)的各掃描線外部端子6，通過各向異性導(dǎo)電膜(ACF)方式，與多個連接端子電連接。所述多個連接端子形成在掃描線用柔性基板上，該基板本體由聚酰亞胺樹脂形成。柔性基板上安裝有掃描線驅(qū)動用IC芯片，從該掃描線驅(qū)動用IC芯片向各掃描線Ly輸出選擇信號Sy。而且，在本實施方式中，各掃描線Ly是從左右兩端部側(cè)經(jīng)由對應(yīng)的掃描線外部端子6，同步供給選擇信號Sy。
另外，在顯示區(qū)域3中，多條電源線Lvr、Lvg、Lvb分別對應(yīng)各列方向上配置的各色像素電路4R、4G、4B，沿著列方向形成，供給與列方向上的同色像素電路4R、4G、4B相對應(yīng)的驅(qū)動電壓Vr、Vg、Vb(參照圖4)。另外，多條電源線Lvr、Lvg、Lvb的上下兩端，與分別沿著行方向形成的對應(yīng)的共用電源線Lcr、Lcg、Lcb電連接。
在上側(cè)形成的共用電源線Lcr、Lcg、Lcb的左側(cè)部，分別延伸形成到透明基板2的左端部，與透明基板2的左上角部(拐角部)上形成的紅光用、綠光用、藍光用的檢查用電源線外部端子17、18、19電連接。此外，在下側(cè)形成的共用電源線Lcr、Lcg、Lcb的右側(cè)部，分別延伸形成到透明基板2的右端部，與透明基板2右下角部(拐角部)形成的紅光用、綠光用、藍光用的檢查用電源線外部端子17、18、19電連接。紅光用、綠光用、藍光用的檢查用電源線外部端子17、18、19，是檢查用外部端子，出廠前進行檢查時，被檢查裝置(未圖示)供應(yīng)驅(qū)動電壓Vr、Vg、Vb。此外，紅光用、綠光用、藍光用的檢查用電源線外部端子17、18、19，是銅箔等形成的端子。這些檢查用的外部端子17～19分別設(shè)在角部，由于數(shù)量較少，所以用大于上述數(shù)據(jù)線外部端子5、上述掃描線外部端子6等的尺寸形成。
另一方面，在上側(cè)形成的共用電源線Lcr、Lcg、Lcb的左側(cè)部，和在下側(cè)形成的共用電源線Lcr、Lcg、Lcb的右側(cè)部，與未圖示的共用電源線外部端子電連接，該共用電源線外部端子與數(shù)據(jù)線外部端子5鄰接而形成。未圖示的共用電源線外部端子，采用與數(shù)據(jù)線外部端子5相同的方法來形成，與數(shù)據(jù)線用柔性基板上形成的電源供給用連接端子電連接。另外，本實施方式中，從數(shù)據(jù)線用柔性基板上形成的連接端子中，輸出提供給各個電源線Lvr、Lvg、Lvb的驅(qū)動電壓Vr、Vg、Vb。所以，電源線Lvr、Lvg、Lvb，是從上下兩端部側(cè)經(jīng)由對應(yīng)的共用電源線Lcr、Lcg、Lcb供給驅(qū)動電壓Vr、Vg、Vb。
圖4表示構(gòu)成像素4的紅光用像素電路4R、綠光用像素電路4G和藍光用像素電路4B的電路結(jié)構(gòu)。為方便說明，以下對紅光用像素電路4R進行說明，省略有關(guān)其他像素電路4G、4B的說明。
紅光用像素電路4R分別具備驅(qū)動晶體管Q1、開關(guān)晶體管Q2、以及保持電容C1。驅(qū)動晶體管Q1和開關(guān)晶體管Q2，由導(dǎo)電型為N溝道的薄膜晶體管(TFT)構(gòu)成。驅(qū)動晶體管Q1中，源極與作為發(fā)射紅光的電光元件的有機EL元件7的陽極連接，漏極與對應(yīng)的電源線Lvr連接。驅(qū)動晶體管Q1的柵極與保持電容C1連接。該保持電容C1的另一端，與電源線Lvr連接。
開關(guān)晶體管Q2的柵極，與掃描線Ly連接。此外，開關(guān)晶體管Q2中，漏極與數(shù)據(jù)線Lr連接，源極與驅(qū)動晶體管Q1的柵極和保持電容C1的一端連接。
另外，在綠光用像素電路4G中，驅(qū)動晶體管Q1的漏極與電源線Lvg連接，同時，開關(guān)晶體管Q2的漏極與數(shù)據(jù)線Lg連接。此外，綠光用像素電路4G的有機EL元件7，是發(fā)射綠光的有機EL元件。同樣，在藍光用像素電路4B中，驅(qū)動晶體管Q1的漏極與電源線Lvb連接，同時，開關(guān)晶體管Q2的漏極與數(shù)據(jù)線Lb連接。此外，藍光用像素電路4B的有機EL元件7，是發(fā)射藍光的有機EL元件。
而且，當選擇信號Sy被以規(guī)定期間輸出到掃描線Ly后，紅光用像素電路4R、綠光用像素電路4G和藍光用像素電路4B的開關(guān)晶體管Q2在規(guī)定期間內(nèi)導(dǎo)通，數(shù)據(jù)信號Dr、Dg、Db分別通過數(shù)據(jù)線Lr、Lg、Lb供給。于是，數(shù)據(jù)信號Dr、Dg、Db被通過開關(guān)晶體管Q2分別供給到保持電容C1。各像素電路4R、4G、4B的保持電容C1，儲存并保持與數(shù)據(jù)信號Dr、Dg、Db相應(yīng)的電荷量。此外，各像素電路4R、4G、4B的驅(qū)動晶體管Q1的柵極端子的電位，會被數(shù)據(jù)信號Dr、Dg、Db抬高，在驅(qū)動晶體管Q1的漏極/源極上，將與數(shù)據(jù)信號Dr、Dg、Db相應(yīng)的驅(qū)動電流Ir、Ig、Ib分別提供給有機EL元件7。該驅(qū)動電流Ir、Ig、Ib，是保持電容C1儲存的數(shù)據(jù)信號Dr、Dg、Db所對應(yīng)的電荷量的相對值。
也就是說，驅(qū)動晶體管Q1會響應(yīng)數(shù)據(jù)信號Dr、Dg、Db而導(dǎo)通，并保持該導(dǎo)通狀態(tài)，來將驅(qū)動電流Ir、Ig、Ib提供給有機EL元件7。這樣，各像素電路4R、4G、4B的有機EL元件7就會在這一時刻，分別以相對于數(shù)據(jù)信號Dr、Dg、Db的亮度發(fā)光。
這樣，如圖3所示，選擇信號Sy被以規(guī)定期間，從上側(cè)的掃描線Ly向下側(cè)的掃描線Ly，依次輸出給由顯示區(qū)域3中以矩陣狀配置形成的各像素電路4R、4G、4B構(gòu)成的各個像素4。而且，數(shù)據(jù)信號Dr、Dg、Db，被通過數(shù)據(jù)線Lr、Lg、Lb，一齊提供給輸出選擇信號Sy的掃描線Ly上的被選中的各像素4(像素電路4R、4G、4B)，且該被選中的掃描線Ly上的被選中的各像素4(像素電路4R、4G、4B)中的有機EL元件7發(fā)光。也就是說，從最上側(cè)的掃描線Ly上的各像素4起、到最下側(cè)的掃描線Ly上，各像素4被依次實施發(fā)光控制，一幀圖像按所謂的線順序顯示在顯示區(qū)域3中。
圖2是表示像素電路4R、4G、4B的各有機EL元件7的結(jié)構(gòu)的有機EL顯示器1的主要部分截面圖。另外，為方便說明，圖2中，將發(fā)射紅光的有機EL元件7記為紅光用有機EL元件7R，將發(fā)射綠光的有機EL元件7記為綠光用有機EL元件7G，將發(fā)射藍光的有機EL元件7記為藍光用有機EL元件7B。
如圖2所示，各有機EL元件7R、7G、7B形成在電路形成層2b上，電路形成層2b形成在透明基板2的元件形成面2a上。該電路形成層2b，是形成以下電路元件的一部分或全部的層，這些元件是顯示區(qū)域3上形成的驅(qū)動上述各像素電路4R、4G、4B的驅(qū)動晶體管Q1等的電路元件；以及，構(gòu)成在顯示區(qū)域3外側(cè)形成的后述的數(shù)據(jù)線控制用檢查電路部8a、8b和掃描線控制用檢查電路部9a、9b的電路元件。
此外，在電路形成層2b上的對應(yīng)顯示區(qū)域3的區(qū)域中，形成有堤岸(bank)B，它將各有機EL元件7R、7G、7B劃分成矩陣狀。在由各堤岸B劃分的凹狀區(qū)域的各底部，形成有陽極31(像素電極或個別電極)。本實施方式中，陽極31是透明電極，由具有光透過性的導(dǎo)電性材料即銦錫化合物(ITO)構(gòu)成。
各陽極31通過觸孔H與對應(yīng)的驅(qū)動晶體管Q1電連接。在本實施方式中，各陽極31上，形成有按照空穴輸送層32、發(fā)光層33R、33G、33B的順序疊層構(gòu)成的功能層34。發(fā)光層33R是由發(fā)射紅光的有機發(fā)光材料構(gòu)成的發(fā)光層，發(fā)光層33G是由發(fā)射綠光的有機發(fā)光材料構(gòu)成的發(fā)光層，發(fā)光層33B是由發(fā)射藍光的有機發(fā)光材料構(gòu)成的發(fā)光層。
作為共用電極的陰極35，在功能層34的整個面上形成。陰極35由鋁膜形成。保護膜36，形成為覆蓋陰極35的整個面。然后，上述陽極31、功能層34和陰極35被疊層，構(gòu)成各有機EL元件7(7R、7G、7B)。
而且，由于從各有機EL元件7(7R、7G、7B)發(fā)出的光，通過透明電極的陽極31照射到圖2的下側(cè)。另外，向陰極35發(fā)射的光被鋁膜構(gòu)成的陰極35反射，經(jīng)由陽極31照射到下側(cè)。因此，本實施方式的有機EL顯示器1是底部發(fā)射型的顯示器。
在圖1中，與上述顯示區(qū)域3鄰接的上下兩側(cè)的透明基板2的元件形成面2a上，在行方向上形成有作為數(shù)據(jù)線用檢查電路的數(shù)據(jù)線控制用檢查電路部8a、8b。如圖3所示，上側(cè)和下側(cè)的數(shù)據(jù)線控制用檢查電路部8a、8b，分別對應(yīng)各數(shù)據(jù)線Lr、Lg、Lb設(shè)置有柵極晶體管Q3。柵極晶體管Q3，由導(dǎo)電型為N溝道的薄膜晶體管(TFT)構(gòu)成。各柵極晶體管Q3的柵極，分別與沿著行方向形成的檢查模式信號供給線L0電連接。而且，當用于檢查的高電位(H電平)的檢查模式信號MD供給到檢查模式信號供給線L0時，各柵極晶體管Q3一齊導(dǎo)通。
各柵極晶體管Q3的源極，分別與對應(yīng)的數(shù)據(jù)線Lr、Lg、Lb連接。各柵極晶體管Q3中、源極與紅光用數(shù)據(jù)線Lr連接的各柵極晶體管Q3，其漏極分別與沿著行方向形成的紅光用檢查數(shù)據(jù)信號供給線L1電連接。此外，各柵極晶體管Q3中、源極與綠光用數(shù)據(jù)線Lg連接的各柵極晶體管Q3，其漏極分別與沿著行方向形成的綠光用檢查數(shù)據(jù)信號供給線L2電連接。另外，各柵極晶體管Q3中、源極與藍光用數(shù)據(jù)線Lb連接的各柵極晶體管Q3，其漏極分別與沿著行方向形成的藍光用檢查數(shù)據(jù)信號供給線L3電連接。
上側(cè)數(shù)據(jù)線控制用檢查電路部8a的各供給線L0、L1、L2、L3，一起相鄰形成，其右側(cè)部延伸形成到透明基板2的四角中的右上角部。而且，檢查模式信號供給線L0與透明基板2的右上角部(拐角部)形成的檢查模式信號外部端子10電連接。紅光用檢查數(shù)據(jù)信號供給線L1與透明基板2的右上角部(拐角部)形成的紅光用檢查數(shù)據(jù)外部端子11電連接。綠光用檢查數(shù)據(jù)信號供給線L2與透明基板2的右上角部(拐角部)形成的綠光用檢查數(shù)據(jù)外部端子12電連接。藍光用檢查數(shù)據(jù)信號供給線L3與透明基板2的右上角部(拐角部)形成的藍光用檢查數(shù)據(jù)外部端子13電連接。
下側(cè)數(shù)據(jù)線控制用檢查電路部8b的各供給線L0、L1、L2、L3也是同樣，一起相鄰形成，其左側(cè)部延伸形成到透明基板2的四角中的左下角部。而且，與上側(cè)數(shù)據(jù)線控制用檢查電路部8a同樣，檢查模式信號供給線L0與檢查模式信號外部端子10電連接。紅光用檢查數(shù)據(jù)信號供給線L1與紅光用檢查數(shù)據(jù)外部端子11電連接。綠光用檢查數(shù)據(jù)信號供給線L2與綠光用檢查數(shù)據(jù)外部端子12電連接。藍光用檢查數(shù)據(jù)信號供給線L3與藍光用檢查數(shù)據(jù)外部端子13電連接。
分別與上側(cè)和下側(cè)的數(shù)據(jù)線控制用檢查電路部8a、8b的各供給線L0、L1、L2、L3相連接的外部端子10～13，是由銅箔等形成的端子。此外，由于這些外部端子10～13被分別設(shè)于角部，且數(shù)量也較少，所以它們以大于上述數(shù)據(jù)線外部端子5、上述掃描線外部端子6等的尺寸來形成。
這些外部端子10～13是檢查用外部端子，出廠前進行檢查時，被檢查裝置供給檢查模式信號MD、檢查數(shù)據(jù)信號Dmr、Dmg、Dmb。而且，在被從檢查模式信號外部端子10供給檢查用的檢查模式信號MD的狀態(tài)下，各檢查數(shù)據(jù)外部端子11～13上分別被供給各個檢查數(shù)據(jù)信號Dmr、Dmg、Dmb時，各個檢查數(shù)據(jù)信號Dmr、Dmg、Dmb被通過柵極晶體管Q3分別提供給對應(yīng)的各數(shù)據(jù)線Lr、Lg、Lb。
在圖1中，上述顯示區(qū)域3中鄰接的左右兩側(cè)的透明基板2的元件形成面2a上，在列方向上形成有作為掃描線用檢查電路的掃描線控制用檢查電路部9a、9b。如圖5所示，左側(cè)和右側(cè)的掃描線控制用檢查電路部9a、9b，對應(yīng)各掃描線Ly分別設(shè)置有柵極晶體管Q4和移位寄存器SR。
柵極晶體管Q4由導(dǎo)電型為N溝道的薄膜晶體管(TFT)構(gòu)成。各柵極晶體管Q4的柵極，分別與沿著列方向形成的檢查模式信號供給線L4電連接。檢查模式信號供給線L4的一端與上述檢查模式信號供給線L0連接。因此，當用于檢查的H電平的檢查模式信號MD被供給到檢查模式信號供給線L4時，各柵極晶體管Q4一齊導(dǎo)通。各柵極晶體管Q4中，源極分別與對應(yīng)的掃描線Ly連接，漏極分別與對應(yīng)的移位寄存器SR連接。
各移位寄存器SR被串聯(lián)連接，最上側(cè)的掃描線Ly所對應(yīng)的移位寄存器SR被與選擇信號供給線L5連接。而且，由選擇信號供給線L5供給的檢查用的H電平的選擇信號Sm，被輸入到與最上側(cè)的掃描線Ly對應(yīng)的移位寄存器SR中。各移位寄存器SR，分別與沿著列方向形成的時鐘信號供給線L6電連接，輸入由時鐘信號供給線L6供給的時鐘信號CL。
而且，輸入到最上側(cè)的移位寄存器SR的H電平的選擇信號Sm，響應(yīng)時鐘信號CL，從上側(cè)的移位寄存器SR起向下側(cè)的移位寄存器SR移位。因而，被移位輸入選擇信號Sm的移位寄存器SR，將該H電平的選擇信號Sm通過柵極晶體管Q4輸出到對應(yīng)的掃描線Ly上，直到下個時鐘信號CL發(fā)生為止。因此，通過與時鐘信號CL同步移位的選擇信號Sm，掃描線Ly被從上側(cè)掃描線Ly到下側(cè)掃描線Ly依次選擇。
左側(cè)掃描線控制用檢查電路部9a的供給線L5的端部，延伸形成到透明基板2的四角中的左上角部。而且，選擇信號供給線L5與透明基板2的左上角部(拐角部)上形成的選擇信號外部端子15電連接。時鐘信號供給線L6與透明基板2的四角中的左下角部(拐角部)上形成的時鐘信號外部端子16電連接。
右側(cè)掃描線控制用檢查電路部9b的供給線L5的端部，延伸形成到透明基板2的四角中的右上角部。而且，選擇信號供給線L5與透明基板2的右上角部(拐角部)上形成的選擇信號外部端子15電連接。時鐘信號供給線L6與透明基板2的四角中的右下角部(拐角部)上形成的時鐘信號外部端子16電連接。
左側(cè)和右側(cè)的掃描線控制用檢查電路部9a、9b的選擇信號外部端子15和時鐘信號外部端子16，是由銅箔等形成的端子。此外，由于選擇信號外部端子15和時鐘信號外部端子16被分別設(shè)于角部，且數(shù)量也較少，所以它們以大于上述數(shù)據(jù)線外部端子5、上述掃描線外部端子6等的尺寸形成。
這些外部端子15、16，是檢查用外部端子，出廠前進行檢查時，它們分別被檢查裝置供給選擇信號Sm、時鐘信號CL。而且，在各個柵極晶體管Q4導(dǎo)通，且選擇信號Sm被從選擇信號外部端子15供給的狀態(tài)下，時鐘信號CL被提供給時鐘信號外部端子16，并將選擇信號Sm依次供給到各掃描線Ly上。
在圖1中，包圍數(shù)據(jù)線控制用檢查電路部8a、8b和掃描線控制用檢查電路部9a、9b的區(qū)域的外側(cè)，在檢查用的上述各外部端子5、6、10～13、15、16、17～19、20的內(nèi)側(cè)的透明基板2的元件形成面2a上，設(shè)有作為密封部件的密封基板21的粘合區(qū)域Z1。密封基板21是不銹鋼制的，在該透明基板2一側(cè)的面上凹陷設(shè)置有收容凹部22，其形成為四邊形環(huán)狀的外周邊23為粘合面，在粘合區(qū)域Z1上借助粘合劑貼合到透明基板2上。這時，如圖2所示，粘合區(qū)域Z1與顯示區(qū)域3之間，形成了掃描線控制用檢查電路部9a、9b(數(shù)據(jù)線控制用檢查電路部8a、8b也是同樣)。因此，透明基板2除去外部端子5、6、10～13、15、16、17～19、20以外，在各檢查電路部8a、8b、9a、9b和顯示區(qū)域3上形成的各像素電路4R、4G、4B，被內(nèi)包并密封在密封基板21的收容凹部22中。其結(jié)果，各像素電路4R、4G、4B、各檢查電路部8a、8b、9a、9b，被密封基板21所保護，不受濕度和氧等的影響。
上述檢查用的各外部端子10～13、15～19、20，在比密封基板21(由密封基板21密封的密封區(qū)域)更靠外側(cè)的透明基板2的四角(拐角部)上分開形成。也就是說，如圖1所示，分別是在左上角部配置選擇信號外部端子15和各檢查用電源線外部端子17、18、19，在左下角配置檢查模式信號外部端子10、時鐘信號外部端子16和各檢查數(shù)據(jù)外部端子11～13。此外，在右下角部配置時鐘信號外部端子16和各檢查用電源線外部端子17、18、19，在右上角配置檢查模式信號外部端子10、選擇信號外部端子15和各檢查數(shù)據(jù)外部端子11～13。此外，左上角部和右下角部，分別形成接地外部端子20來作為與檢查裝置的接地用探針(probe)相連接的檢查用外部端子，該接地外部端子20與各像素電路4R、4G、4B的有機EL元件7的陰極電連接。而且，在本實施方式中，各角都分別沿著拐角將5個檢查用外部端子排列形成為直角，并作為在將上述的密封基板21粘合在透明基板2上時的對準標記。
下面，對如上構(gòu)成的有機EL顯示器1的檢查方法進行說明。有機EL顯示器1在出廠前，要使用檢查裝置進行亮點檢查、暗點檢查。
首先，透明基板2的各角部上形成的各外部端子10～13、15～20，分別與對應(yīng)的檢查裝置的探針連接。也就是說，檢查模式信號外部端子10與供給檢查模式信號MD的探針連接。紅光用檢查數(shù)據(jù)外部端子11與供給紅光用檢查數(shù)據(jù)信號Dmr的探針連接。綠光用檢查數(shù)據(jù)外部端子12與供給綠光用檢查數(shù)據(jù)信號Dmg的探針連接。藍光用檢查數(shù)據(jù)外部端子13與供給藍光用檢查數(shù)據(jù)信號Dmb的探針連接。此外，選擇信號外部端子15與供給選擇信號Sm的探針連接。時鐘信號外部端子16與供給時鐘信號CL的探針連接。另外，紅光用、綠光用、藍光用的各檢查用電源線外部端子17、18、19，分別與供給驅(qū)動電壓Vr、Vg、Vb的探針連接。接地外部端子20，與接地(地)探針連接。
然后，檢查裝置在將各驅(qū)動電壓Vr、Vg、Vb分別供給到紅光用、綠光用、藍光用的各檢查用電源線外部端子17、18、19的狀態(tài)下，向檢查模式信號外部端子10輸出H電平的檢查模式信號MD。這樣一來，上側(cè)和下側(cè)的數(shù)據(jù)線控制用檢查電路部8a、8b的柵極晶體管Q3以及左側(cè)和右側(cè)的掃描線控制用檢查電路部9a、9b的柵極晶體管Q4一齊導(dǎo)通。這種狀態(tài)下，向選擇信號外部端子15輸出H電平的選擇信號Sm，同時，向紅光用、綠光用、藍光用的檢查數(shù)據(jù)外部端子11、12、13輸出紅、綠、藍光用的檢查數(shù)據(jù)信號Dmr、Dmg、Dmb。
其結(jié)果，最上側(cè)的掃描線Ly被選擇，該被選擇的掃描線Ly上的各像素電路4R、4G、4B，分別被通過數(shù)據(jù)線Lr、Lg、Lb供給紅、綠、藍光用的檢查數(shù)據(jù)信號Dmr、Dmg、Dmb并保持，有機EL元件7基于紅、綠、藍光用的檢查數(shù)據(jù)信號Dmr、Dmg、Dmb發(fā)光。
而且之后，每當向時鐘信號外部端子16供給時鐘信號CL，就會使上述選擇信號Sm在移位寄存器SR中移位，使各掃描線Ly上的各像素電路4R、4G、4B的有機EL元件7同樣發(fā)光。而且，當選擇最下側(cè)的掃描線Ly，并使該掃描線Ly上的各像素電路4R、4G、4B的有機EL元件7發(fā)光時，顯示區(qū)域3的所有像素電路4R、4G、4B都以基于紅、綠、藍光用的檢查數(shù)據(jù)信號Dmr、Dmg、Dmb的亮度來發(fā)光。
然后，觀察該顯示區(qū)域3的顯示狀態(tài)，檢查有缺陷的像素4。例如，在檢查暗點的情況下，檢查裝置對各像素電路4R、4G、4B供給使各有機EL以最亮的亮度發(fā)光的紅、綠、藍光用的檢查數(shù)據(jù)信號Dmr、Dmg、Dmb，使各像素4以最亮的亮度發(fā)光。在該狀態(tài)下，檢查顯示區(qū)域3內(nèi)不發(fā)光的有缺陷的像素4。
在檢查亮點的情況下，檢查裝置對各像素電路4R、4G、4B分別供給不讓各有機EL發(fā)光的紅、綠、藍光用的檢查數(shù)據(jù)信號Dmr、Dmg、Dmb，使顯示區(qū)域3中的各像素4不發(fā)光。在該狀態(tài)下，檢查顯示區(qū)域3內(nèi)發(fā)光的有缺陷的像素4。
如上所述，根據(jù)本實施方式，會有以下效果。
(1)根據(jù)本實施方式，僅通過將檢查裝置的探針接觸到透明基板2的四角上形成的檢查用的各外部端子10～13、15～20，就可以進行暗點檢查、亮點檢查等缺陷像素的檢查。而且，由于各外部端子形成在比密封基板21(由密封基板21密封的密封區(qū)域)更靠外側(cè)的拐角部，因此，即使在將密封基板21貼合之后，也可以實行檢查。
(2)根據(jù)本實施方式，將檢查用的各外部端子10～13、15～20形成在透明基板2的四角上。也就是說，外部端子10～13、15～20，形成在空間上充裕的透明基板2的角部上，離開了各數(shù)據(jù)線Lr、Lg、Lb和各掃描線Ly的延長線上的透明基板2的一邊上形成的各數(shù)據(jù)線Lr、Lg、Lb和各掃描線Ly的外部端子5、6。因此，不用加大透明基板2的尺寸(邊框部分)，就可以使檢查用的各外部端子10～13、15～20的尺寸大于外部端子5、6的尺寸。而且，由于能夠加大檢查用的各外部端子10～13、15～20的尺寸，因此可以容易且短時間地將檢查裝置的探針高精度地與各外部端子10～13、15～20連接。
(3)根據(jù)本實施方式，將檢查用的外部端子10～13、15～20形成在密封基板21的外側(cè)，并在將該密封基板21貼合到透明基板2上時作為對準標記。因此，無需確保僅用作將密封基板21貼合到透明基板2上時的對準標記的區(qū)域，同時，也可以省略相應(yīng)的制造工序。而且，由于將檢查用的外部端子10～13、15～20分別沿著四個角(拐角部)排列形成為直角，因此可以將密封基板21高精度地貼合到透明基板2上。
另外，由于檢查用的外部端子10～13、15～20，能夠在形成有機EL元件7R、7G、7B的功能層34之前就已然形成，因此，在用噴墨方式形成有機EL元件7R、7G、7B的功能層34時，可以將其作為對準標記來利用?？傊?，檢查用的外部端子10～13、15～20，可以在其形成后所進行的各種制造工序中，被作為對準標記來利用。
(4)根據(jù)本實施方式，將檢查電路，也就是上側(cè)和下側(cè)的數(shù)據(jù)線控制用檢查電路部8a、8b，以及左側(cè)和右側(cè)的掃描線控制用檢查電路部9a、9b，形成在密封基板21的收容凹部22所內(nèi)包的位置上。因此，各檢查電路部8a、8b、9a、9b能得到完全的保護，不受外部濕氣和氧等的影響。此外，由于各檢查電路部8a、8b、9a、9b，形成在粘合區(qū)域Z1的內(nèi)側(cè)(顯示區(qū)域3和粘合區(qū)域Z1之間)，不直接與密封基板21的粘合面對峙，所以，施加在密封基板21上的力，例如，在將密封基板21粘合在基板2上時，使密封基板21抵接在透明基板2上的力，不會通過粘合面直接施加在各檢查電路部8a、8b、9a、9b上。因此，各檢查電路部8a、8b、9a、9b，因由于某些原因被施加在密封基板21上的力導(dǎo)致?lián)p傷的可能性就可以減小。
(5)根據(jù)本實施方式，密封基板21由不銹鋼形成。所以，借助密封基板21，外部的電磁噪聲會被密封部件完全屏蔽，因而各檢查電路部8a、8b、9a、9b不會由于電磁噪聲而發(fā)生誤動作。
(6)根據(jù)本實施方式，由于上側(cè)和下側(cè)的數(shù)據(jù)線控制用檢查電路部8a、8b，僅由對各數(shù)據(jù)線Lr、Lg、Lb設(shè)置的柵極晶體管Q3構(gòu)成，因此，電路規(guī)模就可以縮小，并用這部分空間增加顯示區(qū)域3。此外，由于電路規(guī)模縮小了，所以將上側(cè)和下側(cè)的數(shù)據(jù)線控制用檢查電路部8a、8b內(nèi)包在密封基板21的收容凹部22中就會變得容易。
(7)根據(jù)本實施方式，由于左側(cè)和右側(cè)的掃描線控制用檢查電路部9a、9b，僅由對掃描線Ly設(shè)置的柵極晶體管Q4和移位寄存器SR構(gòu)成，因此，電路規(guī)模就可以縮小，并用這部分空間增加顯示區(qū)域3。此外，由于電路規(guī)?？s小了，所以將左側(cè)和右側(cè)的掃描線控制用檢查電路部9a、9b內(nèi)包在密封基板21的收容凹部22中就會變得容易。
另外，本發(fā)明的實施方式并不限于上述實施方式，也可以如下實施。
○在上述實施方式中，檢查電路雖然是使各有機EL元件7R、7G、7B發(fā)光，但也不限于此，也可以應(yīng)用于驅(qū)動晶體管Q1、布線等其他檢查對象的檢查電路。
○在上述實施方式中，檢查用的外部端子10～13、15～20，雖然全都是用于輸入來自檢查裝置的信號的輸入端子，但也可以是向檢查裝置輸出信號的輸出端子。
○在上述實施方式中，上側(cè)和下側(cè)的數(shù)據(jù)線控制用檢查電路部8a、8b，構(gòu)成為當一條掃描線Ly被選擇時，紅光用、綠光用、藍光用的各檢查數(shù)據(jù)信號Dmr、Dmg、Dmb，分別被一齊輸出給所有的數(shù)據(jù)線Lr、Lg、Lb。可將其變?yōu)閳D6所示的上側(cè)和下側(cè)的數(shù)據(jù)線控制用檢查電路部8a、8b來實施。
在圖6中，上側(cè)和下側(cè)的數(shù)據(jù)線控制用檢查電路部8a、8b，對應(yīng)各數(shù)據(jù)線Lr、Lg、Lb設(shè)置有移位寄存器SR1。各柵極晶體管Q3的柵極，分別與對應(yīng)的移位寄存器SR1相連接。
各移位寄存器SR1被串聯(lián)連接，對應(yīng)最左側(cè)的數(shù)據(jù)線Lr的移位寄存器SR與選擇信號供給線L41連接。而且，選擇信號供給線L41所供給的檢查用的H電平的選擇信號Sm1，被輸入到最左側(cè)的移位寄存器SR1中。各移位寄存器SR1，分別與沿著行方向形成的時鐘信號供給線L42電連接，并輸入由時鐘信號供給線L42所供給的時鐘信號CL1。另外，選擇信號供給線L41和時鐘信號供給線L42，與透明基板2的角部上形成的檢查用外部端子41、42電連接。
另外，輸入到最左側(cè)的移位寄存器SR1中的H電平的選擇信號Sm1，響應(yīng)時鐘信號CL1，從左側(cè)的移位寄存器SR1起向右側(cè)的移位寄存器SR1移位。因此，被移位輸入選擇信號Sm1的移位寄存器SR1，通過該H電平的選擇信號Sm1僅使對應(yīng)的柵極晶體管Q3為導(dǎo)通狀態(tài)，直到下個時鐘信號CL1發(fā)生為止。因此，通過適當控制時鐘信號CL1，可以選擇數(shù)據(jù)線Lr、Lg、Lb中的一個，并將檢查數(shù)據(jù)信號只供給到該被選擇的數(shù)據(jù)線上，進行檢查。
○雖然在上述實施方式中，作為密封部件的密封基板21是由不銹鋼(金屬)形成的，但只要是能在玻璃基板上形成收容凹部等、具有密封部件本身的功能的材料即可。
○雖然在上述實施方式中，檢查模式信號外部端子10以及檢查模式信號供給線L0，被對上側(cè)和下側(cè)的數(shù)據(jù)線控制用檢查電路部8a、8b以及左側(cè)和右側(cè)的掃描線控制用檢查電路部9a、9b共用設(shè)置，但也可以獨立地設(shè)置。
○雖然在上述實施方式中，在左側(cè)和右側(cè)的掃描線控制用檢查電路部9a、9b中設(shè)置有柵極晶體管Q4，但也可以將其省略。
○雖然在上述實施方式中，設(shè)置了上側(cè)和下側(cè)的數(shù)據(jù)線控制用檢查電路部8a、8b這兩個檢查電路，但也可以只設(shè)置其中的一方來應(yīng)用。
○雖然在上述實施方式中，設(shè)置了左側(cè)和右側(cè)的掃描線控制用檢查電路部9a、9b這兩個檢查電路，但也可以只設(shè)置其中的一方來應(yīng)用。
○在上述實施方式中，上側(cè)和下側(cè)的數(shù)據(jù)線控制用檢查電路部8a、8b，分別從兩側(cè)向共用的數(shù)據(jù)線Lr、Lg、Lb供給檢查數(shù)據(jù)信號Dmr、Dmg、Dmb。也可以如下實施例如，上側(cè)數(shù)據(jù)線控制用檢查電路部8a向第奇數(shù)條數(shù)據(jù)線輸出數(shù)據(jù)信號，下側(cè)數(shù)據(jù)線控制用檢查電路部8b向第偶數(shù)條數(shù)據(jù)線輸出數(shù)據(jù)信號。
○在上述實施方式中，左側(cè)和右側(cè)的掃描線控制用檢查電路部9a、9b，分別從兩側(cè)選擇共用的掃描線Ly。也可以如下實施例如，左側(cè)的掃描線控制用檢查電路部9a選擇第奇數(shù)條掃描線Ly，右側(cè)的掃描線控制用檢查電路部9b選擇第偶數(shù)條掃描線Ly。在上述實施方式中，雖然設(shè)置了數(shù)據(jù)線控制用檢查電路部8a、8b和掃描線控制用檢查電路部9a、9b，但例如也可以只設(shè)置數(shù)據(jù)線控制用檢查電路部8a、8b，相反，也可以只設(shè)置掃描線控制用檢查電路部9a、9b來應(yīng)用。
○雖然在上述實施方式中，檢查用外部端子被具體化為全部的四角的拐角部，但也可以是在任意一個拐角部。
○雖然在上述實施方式中，檢查電路使各有機EL元件7R、7G、7B發(fā)光，但也不限于此，可以應(yīng)用于驅(qū)動晶體管Q1、布線等其他檢查對象的檢查電路中。
○雖然在上述實施方式中，檢查用的外部端子10～13、15～20全都是用于輸入來自檢查裝置的信號的輸入端子，但也可以是向檢查裝置輸出信號的輸出端子。
○雖然在上述實施方式中，電光裝置被具體化為有機EL顯示器1中的底部發(fā)射型，但也可以是頂部發(fā)射型。
○掃描線控制用檢查電路部9a、9b(數(shù)據(jù)線控制用檢查電路部8a、8b也是同樣)，也可以形成在粘合區(qū)域Z1和形成陰極35(電光元件的共用電極)的區(qū)域之間。這樣，各檢查電路部8a、8b、9a、9b和作為電光元件的有機電致發(fā)光元件7，會得到完全的保護，不受外部濕氣和氧等的影響。此外，還可以覆蓋掃描線控制用檢查電路部9a、9b(數(shù)據(jù)線控制用檢查電路部8a、8b也是同樣)地形成陰極(電光元件的共用電極)。這樣，外部的電磁噪聲會被密封部件完全屏蔽，因而各檢查電路部8a、8b、9a、9b不會由于電磁噪聲而發(fā)生誤動作。
○此外，雖然在圖2中，保護膜36覆蓋在陰極35(電光元件的共用電極)上形成，但也可以覆蓋各檢查電路部8a、8b、9a、9b來形成保護膜36。從而，各檢查電路部8a、8b、9a、9b和作為電光元件的有機電致發(fā)光元件7以及陰極35，會得到完全的保護，不受外部濕氣和氧等的影響，同時，可以減小各檢查電路部8a、8b、9a、9b因由于某些原因被加在密封基板21上的力而受到損傷的可能性。此外，優(yōu)選覆蓋住各檢查電路部8a、8b、9a、9b來形成保護膜，同時，以使粘合區(qū)域Z1和保護膜36連在一起的方式形成保護膜。從而，各檢查電路部8a、8b、9a、9b和作為電光元件的有機電致發(fā)光元件7以及陰極35，會得到完全的保護，不受外部濕氣和氧等的影響。
○雖然在上述實施方式中，電光裝置被具體化為有機EL顯示器1，但也不限于此，例如，也可以是液晶顯示器等，或者，也可以是具備平面狀的電子發(fā)射元件、且利用由從該元件發(fā)射的電子實現(xiàn)的熒光物質(zhì)的發(fā)光的場效應(yīng)型顯示裝置(FED和SED等)。同樣，作為電光元件，可以是有機電致發(fā)光元件、液晶、電子發(fā)射元件。
權(quán)利要求
1.一種電光裝置，在基板的顯示區(qū)域上，形成多個單位電路，該單位電路包括多條掃描線、多條數(shù)據(jù)線、以及對應(yīng)這些掃描線和數(shù)據(jù)線的交叉部設(shè)置的電光元件，同時，將密封所述顯示區(qū)域上形成的多個像素電路的電光元件的密封部件與所述基板粘合，其特征在于，在將所述基板和所述密封部件粘合的粘合區(qū)域與所述顯示區(qū)域之間，形成檢查電路。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電光裝置，其特征在于，所述檢查電路，至少具備向所述多條數(shù)據(jù)線的每一條供給檢查數(shù)據(jù)信號的數(shù)據(jù)線控制用檢查電路部、以及用來向所述多條掃描線的每一條有選擇地供給檢查用選擇信號的掃描線控制用檢查電路部的其中一個。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電光裝置，其特征在于，所述數(shù)據(jù)線控制用檢查電路部包括供給檢查模式信號的檢查模式信號供給線；供給檢查數(shù)據(jù)信號的檢查數(shù)據(jù)信號供給線；以及，晶體管，設(shè)于所述檢查數(shù)據(jù)信號供給線與所述多條數(shù)據(jù)線的每一條之間，根據(jù)所述檢查模式信號將所述檢查數(shù)據(jù)信號分別提供給對應(yīng)的所述數(shù)據(jù)線。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的電光裝置，其特征在于，所述檢查模式信號供給線和所述檢查數(shù)據(jù)信號供給線，分別與所述基板的四個角中的任意一個角部上形成的檢查用外部端子電連接。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電光裝置，其特征在于，所述掃描線控制用檢查電路部包括供給檢查用選擇信號的選擇信號供給線；供給檢查用時鐘信號的時鐘信號供給線；供給檢查模式信號的檢查模式信號供給線；以及，移位寄存器，其對應(yīng)所述多條數(shù)據(jù)線的每一條設(shè)置，響應(yīng)所述時鐘信號來將所述選擇信號從一方向另一方移位，并向?qū)?yīng)的掃描線輸出，還包括根據(jù)所述檢查模式信號，將所述選擇信號提供給掃描線的晶體管。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的電光裝置，其特征在于，所述選擇信號供給線、所述時鐘信號供給線以及所述檢查模式信號供給線，分別與所述基板的四個角中的任意一個角部上形成的檢查用外部端子電連接。
7.一種電光裝置，在基板的顯示區(qū)域上形成多個單位電路，該單位電路包括分別被供給選擇信號的多條掃描線、分別被供給數(shù)據(jù)信號的多條數(shù)據(jù)線、以及對應(yīng)這些掃描線和數(shù)據(jù)線的交叉部設(shè)置的電光元件，在與所述顯示區(qū)域鄰接的位置上形成檢查電路，同時，將密封所述顯示區(qū)域上形成的多個單位電路的密封部件與所述基板粘合，其特征在于，將用于所述檢查電路的檢查用外部端子，形成在比粘合所述密封部件和所述基板的粘合區(qū)域更靠外側(cè)的、所述基板的拐角部上。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的電光裝置，其特征在于，包括多個選擇信號輸入端子，其與所述多條掃描線的每一條電連接，并供給所述選擇信號；以及，多個數(shù)據(jù)信號輸入端子，其與所述多條數(shù)據(jù)線的每一條電連接，并供給所述數(shù)據(jù)信號，所述多個選擇信號輸入端子，設(shè)于所述基板的第1邊，所述多個數(shù)據(jù)信號輸入端子，設(shè)于不同于所述基板的所述第1邊的第2邊，所述檢查用外部端子，形成在所述基板的所述第1邊和所述第2邊交叉的拐角部上。
9.一種電光裝置，在基板的顯示區(qū)域上形成多個單位電路，該單位電路包括分別被供給選擇信號的多條掃描線、分別被供給數(shù)據(jù)信號的多條數(shù)據(jù)線、以及對應(yīng)這些掃描線和數(shù)據(jù)線的交叉部設(shè)置的電光元件，在與所述顯示區(qū)域鄰接的位置上形成檢查電路，其特征在于，具有將密封所述顯示區(qū)域上形成的多個單位電路的密封部件與所述基板粘合的粘合區(qū)域，將兼作為對準標記的所述檢查電路用的多個檢查用外部端子，形成在比所述粘合區(qū)域更靠外的外側(cè)。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的電光裝置，其特征在于，所述多個檢查用外部端子，形成在所述基板的拐角部上。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的電光裝置，其特征在于，所述多個檢查用外部端子，形成在所述基板的各拐角部上，并沿著各拐角部的邊配置形成。
全文摘要
本發(fā)明提供一種電光裝置，能夠保護基板上形成的用于檢查的檢查電路，不受周圍環(huán)境的影響。透明基板(2)的顯示區(qū)域(3)內(nèi)形成有多個像素(4)。密封基板(21)被貼合在透明基板(2)所設(shè)置的粘合區(qū)域(Z1)上。在顯示區(qū)域(3)與粘合區(qū)域(Z1)之間的透明基板(2)上，形成有上側(cè)和下側(cè)的數(shù)據(jù)線控制用檢查電路部(8a、8b)，以及左側(cè)和右側(cè)的掃描線控制用檢查電路部(9a、9b)。此外，在透明基板(2)的四角上，形成有與檢查電路部(8a、8b、9a、9b)電連接的檢查用的各外部端子(10～13、15～20)。
文檔編號G09G3/00GK1825619SQ2006100042
公開日2006年8月30日 申請日期2006年2月13日 優(yōu)先權(quán)日2005年2月14日
發(fā)明者林孝明 申請人:精工愛普生株式會社