專利名稱：光電綜合實驗平臺的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型屬于實驗教學(xué)儀器，更具體的應(yīng)屬于光電綜合實驗平臺。
背景技術(shù)：
綜觀我國理工科院?，F(xiàn)有的大學(xué)實驗教學(xué)儀器，都屬于單一模式的儀器，即光學(xué)工程類、模電、數(shù)電類、傳感器類等單一功能的實驗教學(xué)儀器，這些實驗教學(xué)儀器雖然能夠進(jìn)行本學(xué)科的單科教學(xué)實驗，但是，不能進(jìn)行多學(xué)科綜合性的實驗教學(xué)，更無法培養(yǎng)學(xué)生的綜合實驗技能。

發(fā)明內(nèi)容
本實用新型提供了一種光電綜合實驗平臺，通過基本光電實驗平臺的整體設(shè)計，使儀器具有光、機(jī)、電、算相結(jié)合。
本發(fā)明的光電綜合實驗平臺，包括計算機(jī)系統(tǒng)1，光學(xué)實驗平臺2，測量儀表平臺3，電路實驗臺4，信號源輸出端口5，光電倍增管實驗裝置6，信號產(chǎn)生電路板7，功能板8，示波輸入端口9組成；其特征是示波輸入端口與功能電路板連接，功能電路板與計算機(jī)系統(tǒng)連接；實驗平臺上或光學(xué)實驗平臺搭建的被檢測系統(tǒng)通過功能電路板將需要檢測的信號送至計算機(jī)中，計算機(jī)顯示屏幕上顯示獲得被測信號的圖形。
所述的光學(xué)實驗臺由導(dǎo)磁材料平板構(gòu)成，其上安裝能夠搭建成各種光學(xué)系統(tǒng)的多種光學(xué)調(diào)整架，并且在這些光學(xué)調(diào)整架的輸出端連接光電接收器，進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換，再將光電接收器的輸出接到由電路實驗臺組建的測量電路。
所述的測量儀表臺上安裝有數(shù)字電流表與數(shù)字電壓表，分別用來測量電路實驗臺搭建的電路直流參數(shù)；電路實驗臺上安裝有多種電子元器件和搭建電路用的插孔，以便搭建出各種實驗電路。
所述的實驗平臺提供多種信號輸出端口，這些信號均來源于實驗平臺內(nèi)部安裝的信號產(chǎn)生電路板。
所述的實驗平臺前面設(shè)置有光電倍增管。使光電倍增管實驗?zāi)軌蚣确奖阌朱`活地進(jìn)行。
所述的示波輸入插口是四個，能夠同步、并行輸入四路電信號；它們是二個量程可變的數(shù)字電流表、二個量程可變的數(shù)字電壓表、一個量程可變的數(shù)字高壓表和一個自動改變量程的數(shù)字照度計測量儀表，直接用來組成各種測量電路。
所述的電路實驗臺上安裝有多種常用的電子元器件，利用這些器件和連接導(dǎo)線能夠組裝成各種實驗電路和光電檢測電路，進(jìn)行各種各樣的實驗；電路實驗臺上設(shè)置有易損件安裝窗口，平臺上的所有易損電子器件都安放在此，以便于更換。
所述的一種光電綜合實驗平臺，其特征是所述的實驗平臺前面板是可拉開式結(jié)構(gòu)。
本發(fā)明的功能電路板是使實驗平臺具有示波與圖示功能的重要部件，將具有同步邏輯控制器81、示波邏輯82、參數(shù)設(shè)置83、A/D組84、存儲器組85、伏安特性控制邏輯86、數(shù)字階梯波發(fā)生器87、數(shù)字鋸齒波發(fā)生器組88、接口控制電路89等功能的電子元器件焊接在電路板上。
功能電路板測試多路同步示波功能的方法是由同步邏輯控制器產(chǎn)生示波邏輯，控制A/D組同步對多路被測信號進(jìn)行轉(zhuǎn)換，并將轉(zhuǎn)換結(jié)果存放在存儲器組中，再經(jīng)接口控制電路輸出到接口總線上，接口總線傳遞給計算機(jī)系統(tǒng)，將波形顯示在計算機(jī)屏幕上。
多路同步示波功能的示波邏輯信號的各種具體參數(shù)由計算機(jī)軟件通過接口總線、接口控制電路進(jìn)行參數(shù)設(shè)置，實現(xiàn)同步信號可調(diào)。
功能電路板測試多路同步示波功能的方法是同步邏輯控制器81產(chǎn)生SH、SP和FC三路同步脈沖，其邏輯關(guān)系如圖6所示，再通過示波邏輯82產(chǎn)生示波控制信號同步控制A/D轉(zhuǎn)換電路組84，A/D1～A/Dn； CH1～CHn為連接被測電路的n條信號通道即示波輸入端口9，分別連接n組A/D轉(zhuǎn)換電路84；在示波控制信號的控制下同時對n條信號通道進(jìn)行A/D轉(zhuǎn)換并將數(shù)字信息存放到各自相應(yīng)的存儲器85內(nèi)；示波邏輯發(fā)生器在采樣數(shù)量達(dá)到要求后，向接口控制電路89發(fā)出信號，請求接口控制電路89傳輸數(shù)據(jù)，接口控制電路89通過計算機(jī)接口總線90實現(xiàn)與計算機(jī)系統(tǒng)1間的數(shù)據(jù)傳輸；計算機(jī)軟件讀取各信號通道的數(shù)據(jù)，并分別顯示在計算機(jī)系統(tǒng)1的顯示器上；SH、SP、FC信號的各種具體設(shè)置由計算機(jī)軟件通過接口總線90、接口控制電路89發(fā)送到同步邏輯控制器81。
功能電路板測試晶體管、光電耦合器件與各種光電器件的伏安特性的方法其特征是采用同步邏輯控制器、伏安特性控制器控制數(shù)字階梯波發(fā)生器產(chǎn)生階梯波送給板外光源；伏安特性控制器還控制數(shù)字鋸齒波發(fā)生器組產(chǎn)生多組鋸齒波控制多個板外被測電路或器件；板外被測電路或器件的輸出信號通過光電綜合實驗平臺的示波輸入端口9與A/D組的輸入信號相連；伏安特性控制器A/D組同步對多路被測信號進(jìn)行轉(zhuǎn)換，并將轉(zhuǎn)換結(jié)果存放在存儲器組中，再經(jīng)接口控制電路輸出接口總線上，傳遞給計算機(jī)系統(tǒng)，將波形顯示在計算機(jī)屏幕上。
功能電路板測試晶體管、光電耦合器件與各種光電器件的伏安特性的方法是將晶體管、光電耦合器件與各種光電器件的伏安特性測試功能的伏安特性控制信號的各種具體參數(shù)可由計算機(jī)軟件通過接口總線、接口控制電路進(jìn)行參數(shù)設(shè)置，從而實現(xiàn)伏安特性控制信號可調(diào)。
功能電路板測試晶體管、光電耦合器件與各種光電器件的伏安特性的方法同步邏輯控制器81產(chǎn)生SH、SP和FC三路同步脈沖，通過伏安特性控制邏輯86分別送給兩組數(shù)字信號發(fā)生器—數(shù)字階梯波發(fā)生器87和數(shù)字鋸齒波發(fā)生器組88，SH、SP和FC以及階梯波與鋸齒波的邏輯關(guān)系如圖7所示。階梯波信號驅(qū)動外部光源設(shè)備；鋸齒波信號驅(qū)動n個被測電路或元器件，階梯波信號驅(qū)動的外部光源設(shè)備將光信號傳遞給受鋸齒波信號驅(qū)動的n個被測電路或元器件。n個被測電路或元器件的輸出信號分別連接n組A/D轉(zhuǎn)換電路A/D1～A/Dn；在伏安測試信號的控制下同時對n個輸出信號進(jìn)行A/D轉(zhuǎn)換并將數(shù)字信息存放到各自相應(yīng)的存儲器內(nèi)，伏安測試信號邏輯發(fā)生器在采樣數(shù)量達(dá)到要求后，向接口控制電路發(fā)出信號，請求接口控制電路傳輸數(shù)據(jù)；接口控制電路通過計算機(jī)接口總線實現(xiàn)與計算機(jī)間的數(shù)據(jù)傳輸，計算機(jī)軟件讀取各信號通道的數(shù)據(jù)，并分別顯示在顯示器上；SH、SP、FC信號的各種具體設(shè)置由計算機(jī)軟件通過接口總線、接口控制電路發(fā)送到同步邏輯控制器。
計算機(jī)系統(tǒng)，對同步邏輯信號的各項參數(shù)進(jìn)行設(shè)置，并啟動設(shè)備開始工作，然后進(jìn)入等待狀態(tài)，等待硬件申請中斷，硬件在設(shè)置參數(shù)并啟動后進(jìn)行多通道同步的A/D轉(zhuǎn)換，并將轉(zhuǎn)換結(jié)果存入存儲器內(nèi)，然后計數(shù)，如果計數(shù)器的值達(dá)到設(shè)置的數(shù)值則申請中斷，否則繼續(xù)A/D轉(zhuǎn)換，當(dāng)硬件產(chǎn)生中斷請求后，軟件響應(yīng)請求，并開始傳輸數(shù)據(jù)、顯示波形。數(shù)據(jù)傳輸結(jié)束后，判斷是否要停止設(shè)備，如果要停止設(shè)備，則停止硬件設(shè)備，退出多路同步示波功能，否則等待下一次硬件中斷請求。
利用光電實驗平臺不僅可以滿足學(xué)習(xí)電學(xué)、光學(xué)、光電器件、光電技術(shù)、光電檢測技術(shù)等課程的實驗教學(xué)要求，而且，對每種實驗都能進(jìn)行深入的實驗設(shè)計，從而提高實驗水平。光電綜合實驗平臺提供了各種電子器件，學(xué)生可以自己動手用連接導(dǎo)線接成各種實驗電路并通過平臺提供的數(shù)字電壓與電流表或虛擬測量儀器測量電路參數(shù)。


圖1光電綜合實驗平臺基本結(jié)構(gòu)；圖2功能電路板組成模塊；圖3多路同步示波功能系統(tǒng)；
圖4計算機(jī)控制流程圖；圖5多路伏安特性測試系統(tǒng)；圖6多路同步示波同步邏輯；圖7伏安特性測試控制信號邏輯。
圖8帶有泰曼—格林干涉系統(tǒng)的光電綜合實驗平臺；圖9(a)晶體管共發(fā)射極交流放大電路實驗裝置；圖9(b)晶體管共發(fā)射極交流放大電路圖；圖10光電三極管特性參數(shù)測量裝置。
其中1-計算機(jī)系統(tǒng)，2-光學(xué)實驗平臺，3-測量儀表平臺，4-電子實驗操作平臺，5-信號源輸出端口，6-光電倍增管實驗裝置，7-信號產(chǎn)生電路板，8-功能電路板，9-示波輸入端口，10-He-Ne激光器光源，11-小孔光闌，12-擴(kuò)束鏡1，13-擴(kuò)束鏡2，14-折光反光鏡，15-分光鏡，16-測量反光鏡，17-參考光反光鏡，18-成像物鏡，19-光電器件，20-光學(xué)元件調(diào)整、支持架，21-數(shù)字電壓表，22-數(shù)字電壓表的測量端子，23-數(shù)字電壓表的量程轉(zhuǎn)換開關(guān)，24-電阻接插孔，25-三極管的3個接插孔，26-數(shù)字電位器的3個接線插孔，27-數(shù)字電流表，28-示波輸入插孔。29-LED光源，30-易損件安裝窗口，31-CPLD編程口，41-電子元件接插孔，81-同步邏輯控制器、82-示波邏輯、83-參數(shù)設(shè)置、84-A/D組、85-存儲器組、86-伏安特性控制邏輯、87-數(shù)字階梯波發(fā)生器、88-數(shù)字鋸齒波發(fā)生器組、89-接口控制電路、90-接口總線，91-電阻。
具體實施方式
以下結(jié)合附圖和具體實施方式
對本發(fā)明做進(jìn)一步的詳細(xì)說明圖1中所示的光學(xué)實驗平臺2為導(dǎo)磁材料的平臺，其上可以安裝多種光學(xué)調(diào)整架，以便構(gòu)成各種光學(xué)系統(tǒng)，進(jìn)行各種光學(xué)及光電系統(tǒng)的實驗；測量儀表平臺3處安裝有二個量程可變的數(shù)字電流表、二個量程可變的數(shù)字電壓表、一個量程可變的數(shù)字高壓表和一個自動改變量程的數(shù)字照度計等測量儀表，它們均可為實驗者提供各種實驗所需數(shù)字儀表，直接用來組成各種測量電路；電路實驗操作平臺4上安裝有多種常用的電子元器件及其接插孔41，利用這些器件和連接導(dǎo)線能夠組裝成各種實驗電路和光電檢測電路，進(jìn)行各種各樣的實驗。電路實驗操作平臺4的右側(cè)有一個易損件安裝窗口30，平臺上的所有易損電子器件都安裝在此，非常易于更換。儀器上還裝有四個示波輸入端口9，可用來并行輸入四路信號，便于分析所測電路的電氣參數(shù)。另外，將光電倍增管實驗裝置6安裝在實驗平臺前面板上，前面板又為可拉開式結(jié)構(gòu)，便于學(xué)生觀看實驗結(jié)構(gòu)。
儀器內(nèi)備有計算機(jī)系統(tǒng)，由計算機(jī)及其操作軟件構(gòu)成簡單虛擬儀器，能夠完成示波、器件特性曲線等的測量與顯示，這些功能由信號產(chǎn)生電路板7和功能電路板8實現(xiàn)。使實驗平臺構(gòu)成功能性很強(qiáng)的平臺性質(zhì)的儀器設(shè)備。
另外，實驗平臺的易損件安裝窗口30上有CPLD編程口31，通過編程口31與計算機(jī)編程軟件，可以完成數(shù)字電子技術(shù)的所有邏輯電路實驗，其邏輯輸出波形既可以用計算機(jī)模擬仿真的方法在計算機(jī)顯示屏上觀察，又可以用儀器示波輸入端口采集I/O輸出端的輸出電壓，在計算機(jī)顯示屏上觀測電路I/O口真實的輸出邏輯波形。
光電實驗平臺的主要部件有1、半導(dǎo)體光電器件與光電倍增管等光電器件由電子市場上購買各種品牌的半導(dǎo)體光電器件與光電倍增管均可以用作備測器件。
2、線陣CCD圖像傳感器可用于測量光柵的線陣CCD有很多，如TCD1500C(5340像元)、TCD1702C(7500像元)、TCD2901D(10550×3像元)等，這些線陣CCD均為日本東芝公司生產(chǎn)，當(dāng)然其它公司生產(chǎn)的類似線陣CCD均可以采用。
3、面陣CCD圖像傳感器可由電子市場上購買多種品牌的面陣CCD圖像傳感器。
4、各種光源可從電子市場上購買各種光源。
5、計算機(jī)系統(tǒng)可由電子市場上購買多種品牌的計算機(jī)系統(tǒng)。
6、數(shù)字電壓表、數(shù)字電流表及數(shù)字照度計可由電子市場上購買多種品牌的數(shù)字電壓表、數(shù)字電流表及數(shù)字照度計。
通過本發(fā)明的光電實驗平臺可以完成如下的實驗1.現(xiàn)代光學(xué)儀器實驗光電綜合實驗平臺的光學(xué)實驗平2臺為易于安裝各種光學(xué)器件的磁性平臺，其上規(guī)則地排列著安裝螺孔，便于安裝各種光學(xué)調(diào)整機(jī)構(gòu)，完成多種功能的光學(xué)實驗，與一般的光學(xué)平臺無區(qū)別。而光電綜合實驗平臺區(qū)別于其它光學(xué)平臺之處在于光電綜合平臺下面為能夠進(jìn)行光電檢測的綜合實驗器材。能夠進(jìn)行現(xiàn)代光學(xué)實驗所需的實驗，是其它光學(xué)實驗臺無法獨立完成的工作。
在光學(xué)實驗平臺2上按圖6所示的光學(xué)原理圖構(gòu)成泰曼-格林(Twyman-Green)干涉系統(tǒng)，其中，激光器用小功率He-Ne或(中功率)半導(dǎo)體激光器為光源10，激光光源發(fā)出的光經(jīng)小孔光闌11去除雜散光后再經(jīng)透鏡組擴(kuò)束鏡112(凸透鏡L1)與擴(kuò)束鏡213(凸透鏡L2)擴(kuò)束后投射到折光路用的折光反光鏡14上，它反射出去的寬光束入射到分光鏡15上，其中一路經(jīng)參考光反光鏡17反射回到分光鏡形成參考光束；另一路透過分光鏡的光經(jīng)測量反光鏡16也反射回到分光鏡形成測量光束；這兩束光相遇后由于存在著“波相差”而產(chǎn)生對比度很強(qiáng)的干涉條紋(稱為泰曼-格林干涉條紋)。這就是泰曼-格林干涉原理。泰曼-格林干涉條紋經(jīng)透鏡18匯聚成像到光電器件19處，光電器件便可檢測到干涉條紋信息。利用干涉條紋所載信息可以進(jìn)行精密位移量的測量，測量原理及其計算公式請參考“工程光學(xué)”與“物理光學(xué)”的相關(guān)章節(jié)。若光電器件為線陣CCD器件，則將其輸出接入實驗平臺的計算機(jī)數(shù)據(jù)采集卡上，計算機(jī)系統(tǒng)將完成反光鏡位移量Δl的測量。
2.模擬電子技術(shù)實驗利用光電綜合實驗平臺電路實驗操作平臺4上提供的電子元器件可以進(jìn)行多種模擬電子技術(shù)實驗，例如晶體三極管特性參數(shù)測試實驗、各種晶體三極管交、直流放大器實驗等?，F(xiàn)以晶體管共發(fā)射極交流放大電路實驗為例說明。
在光電綜合實驗平臺電路實驗操作平臺4上，先用連接導(dǎo)線將圖9(a)中所示的三極管25、電流表27、電壓表21、電位器26與電阻24等連接成如圖9(b)所示的晶體管共發(fā)射極交流放大電路。連接方法如下將電位器R126的一端與+12V電源連接，另一端與電流表27相連。電流表27的另外一端與電阻R224相連，電阻R224的另一端與三極管T25的基極相連。三極管T25的集電極通過電阻R391與+12V電源相連。電壓表21一端與三極管T25的基極連接，另一端與三極管T25的發(fā)射極連接。將三極管T25集電極與CH228連接。其中電位器R126的調(diào)整范圍為10～51kΩ，電阻R224為5.1kΩ，電阻R391為100kΩ。將電路連接好后，調(diào)整電位器R126，使Ii從0.01mA開始增大，觀測電壓Ui的變化，測出晶體三極管共發(fā)射極電路的一條伏安特性曲線，即為共發(fā)射極三極管交流放大器的輸入特性曲線。分析輸入特性曲線找到輸入特性。
3.數(shù)字電子技術(shù)實驗利用光電綜合實驗平臺提供的器材完全可以進(jìn)行各種數(shù)字電子技術(shù)方面的實驗，而且實驗檔次高，學(xué)生收效大。十分有利于對學(xué)生動手能力的培養(yǎng)，使學(xué)生盡快接觸最新的科學(xué)技術(shù)。
綜合實驗平臺提供的現(xiàn)場可編程邏輯器件(Altera公司的CPLD器件)的編程口31及其編程軟件(QUARTUS II)可以實現(xiàn)各種功能的數(shù)字邏輯電路。它的I/O端口均引出到電子操作實驗平臺4上，而且電子操作實驗平臺4提供了四路同步觀測的示波輸入端口9，可同步觀測和分析四路邏輯信號波形。
4.光電器件與光電技術(shù)實驗光電器件的種類很多，實驗裝置與實驗方法類似，現(xiàn)以光電三極管特性參數(shù)測試實驗為例說明光電器件特性參數(shù)的測試實驗。
光電三極管特性參數(shù)實驗裝置如圖10所示，主要包括LED光源支架、光電三極管支架20，LED光源29和光電三極管19部分構(gòu)成。通過支架20將LED光源29與光電三極管19安裝在光學(xué)實驗平臺2上，將LED光源的電源線連接到電路實驗臺上提供的電源上，光電三極管的兩個電極也通過連接導(dǎo)線連接到電路實驗操作平臺4上，并在電路實驗臺上搭建出測量電路；再將測試電路的電源接入實驗電路，便可以進(jìn)行電三極管特性參數(shù)實驗。
本發(fā)明公開和提出的光電綜合實驗平臺，本領(lǐng)域技術(shù)人員可通過借鑒本文內(nèi)容，適當(dāng)改變結(jié)構(gòu)和組件等環(huán)節(jié)實現(xiàn)。本發(fā)明的儀器已通過較佳實施例子進(jìn)行了描述，相關(guān)技術(shù)人員明顯能在不脫離本發(fā)明內(nèi)容、精神和范圍內(nèi)對本文所述的儀器進(jìn)行改動或適當(dāng)變更與組合，來實現(xiàn)本發(fā)明技術(shù)。特別需要指出的是，所有相類似的替換和改動對本領(lǐng)域技術(shù)人員來說是顯而易見的，他們都被視為包括在本發(fā)明精神、范圍和內(nèi)容中。
權(quán)利要求1.一種光電綜合實驗平臺，包括計算機(jī)系統(tǒng)(1)，光學(xué)實驗平臺(2)，測量儀表平臺(3)，電路實驗臺(4)，信號源輸出端口(5)，光電倍增管實驗裝置(6)，信號產(chǎn)生電路板(7)，功能板(8)，示波輸入端口(9)組成；其特征是示波輸入端口與功能電路板連接，功能電路板與計算機(jī)系統(tǒng)連接；實驗平臺上或光學(xué)實驗平臺搭建的被檢測系統(tǒng)通過功能電路板將需要檢測的信號送至計算機(jī)中，計算機(jī)顯示屏幕上顯示獲得被測信號的圖形。
2.如權(quán)利要求1所述的一種光電綜合實驗平臺，其特征是所述的功能電路板是將同步邏輯控制器(81)、示波邏輯(82)、參數(shù)設(shè)置(83)、A/D組(84)、存儲器組(85)、伏安特性控制邏輯(86)、數(shù)字階梯波發(fā)生器(87)、數(shù)字鋸齒波發(fā)生器組(88)、接口控制電路(89)等功能的電子元器件焊接在電路板上。
3.如權(quán)利要求2所述的一種光電綜合實驗平臺，其特征是所述的光學(xué)實驗臺由導(dǎo)磁材料平板構(gòu)成，其上安裝能夠搭建成各種光學(xué)系統(tǒng)的多種光學(xué)調(diào)整架，并且在這些光學(xué)調(diào)整架的輸出端連接光電接收器，進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換，再將光電接收器的輸出接到由電路實驗臺組建的測量電路。
4.如權(quán)利要求2所述的一種光電綜合實驗平臺，其特征是所述的測量儀表臺上安裝有數(shù)字電流表與數(shù)字電壓表，它們是二個量程可變的數(shù)字電流表、二個量程可變的數(shù)字電壓表、一個量程可變的數(shù)字高壓表和一個自動改變量程的數(shù)字照度計測量儀表，直接用來組成各種測量電路，分別用來測量電路實驗臺搭建的電路直流參數(shù)；電路實驗臺上安裝有多種電子元器件和搭建電路用的插孔，以便搭建出各種實驗電路。
5.如權(quán)利要求2所述的一種光電綜合實驗平臺，其特征是所述的實驗平臺提供多種信號輸出端口，這些信號均來源于實驗平臺內(nèi)部安裝的信號產(chǎn)生電路板。
6.如權(quán)利要求2所述的一種光電綜合實驗平臺，其特征是所述的實驗平臺前面設(shè)置有光電倍增管實驗裝置。
7.如權(quán)利要求4所述的一種光電綜合實驗平臺，其特征是所述的示波輸入插口是四個，能夠同步、并行輸入四路電信號。
8.如權(quán)利要求2所述的一種光電綜合實驗平臺，其特征是所述的電路實驗臺上安裝有多種常用的電子元器件，利用這些器件和連接導(dǎo)線能夠組裝成各種實驗電路和光電檢測電路，進(jìn)行各種各樣的實驗；電路實驗臺上設(shè)置有易損件安裝窗口，以便更換易損件。
9.如權(quán)利要求2所述的一種光電綜合實驗平臺，其特征是所述的實驗平臺前面板是可拉開式結(jié)構(gòu)。
專利摘要本實用新型屬于光電綜合實驗平臺。包括計算機(jī)系統(tǒng)，光學(xué)實驗平臺，測量儀表平臺，電路實驗臺，信號源輸出端口，光電倍增管實驗裝置，信號產(chǎn)生電路板，功能板，示波輸入端口組成；示波輸入端口與功能電路板連接，功能電路板與計算機(jī)系統(tǒng)連接；實驗平臺上或光學(xué)實驗平臺搭建的被檢測系統(tǒng)通過功能電路板將需要檢測的信號送至計算機(jī)中，計算機(jī)顯示獲得被測信號的圖形。本實用新型不僅可以滿足學(xué)習(xí)電學(xué)、光學(xué)、光電器件、光電技術(shù)、光電檢測技術(shù)等課程的實驗教學(xué)要求，而且，對每種實驗都能進(jìn)行深入的實驗設(shè)計，光電綜合實驗平臺提供了各種電子器件，學(xué)生自己動手用連接導(dǎo)線接成各種實驗電路并通過平臺提供的數(shù)字電壓與電流表或虛擬測量儀器測量電路參數(shù)。
文檔編號G09B25/00GK2870044SQ20052013106
公開日2007年2月14日 申請日期2005年12月31日 優(yōu)先權(quán)日2005年12月31日
發(fā)明者王慶有 申請人:王慶有