專利名稱：基于顯示區(qū)域外的多個測量像素上的測量結(jié)果、具有dc電壓補(bǔ)償?shù)挠性淳仃囷@示裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種有源矩陣顯示裝置，并且尤其涉及包括位于兩電極間的電光材料如液晶(LC)的顯示裝置。這種類型的顯示裝置例如典型地可以用于電視、計算機(jī)監(jiān)視器、和移動電話中。
這種形式的一種普通的顯示裝置是AMLCD(有源矩陣液晶顯示裝置)。其一個例子在US-A-5130829中描述，其內(nèi)容作為參考材料在此處被結(jié)合使用。在該裝置中，提供了一種排列成行和列的像素矩陣。每個像素包括由電光單元構(gòu)成的顯示元件，該電光單元包括位于兩電極間的LC，和相應(yīng)的開關(guān)裝置，典型地是薄膜晶體管(TFT)。通常將顯示元件第一電極與像素TFT和耦合到像素TFT上的很多組行、選擇，和列、數(shù)據(jù)、地址導(dǎo)體一起置于一個基板上。顯示元件第二電極一般由置于在與第一基板有一定間隔的第二基板上的公共、對置電極構(gòu)成，并且將LC材料插入在兩基板間。
通過將交流電壓施加到像素陣列來驅(qū)動顯示裝置以產(chǎn)生顯示圖像。交流電壓用于避免電光材料的老化。對于一個像素被尋址的每個時間(對于每個顯示幀)，其顯示元件被驅(qū)動成相反的極性，也就是說，應(yīng)用反轉(zhuǎn)驅(qū)動方法。施加的數(shù)據(jù)電壓在像素被選擇的每個時間內(nèi)被反轉(zhuǎn)，結(jié)果是改變跨越LC顯示元件的電壓極性。然而，已經(jīng)發(fā)現(xiàn)，由于很多原因，跨越單元可能產(chǎn)生寄生DC成分。當(dāng)單元具有不對稱結(jié)構(gòu)時，如例如在反射型顯示裝置中，其中該裝置包括反射器或者單元電極本身是反射性的，情況尤其是這樣?；貟?kickback)，經(jīng)由TFT柵-漏電容的選通(選擇)脈沖信號的回轉(zhuǎn)耦合，并且其是AMLCD中公知的現(xiàn)象，是產(chǎn)生跨越單元的DC成分的另一個原因。當(dāng)在連續(xù)幀中將顯示元件充電到相反極性時，上述DC成分不同程度地影響顯示元件電壓。因而，當(dāng)在連續(xù)幀內(nèi)施加到顯示裝置上的驅(qū)動電壓的絕對值確定為相同時，DC成分將導(dǎo)致每一幀內(nèi)顯示元件上發(fā)展的不同的絕對電壓，導(dǎo)致閃爍和圖像殘留形式的可視缺陷。

圖1示出了顯示元件LC單元的透射率T與單元上的施加電壓V的曲線圖?？梢钥闯鰧τ诰哂邢嗤穹珮O性相反的電壓，透射率是相同的。寄生DC成分，或DC偏移量d也示于曲線上。因此通過相關(guān)的列地址導(dǎo)體施加到單元的驅(qū)動電壓Vcol也因此發(fā)生了偏移。對于正極性幀，跨越單元的電壓振幅是Vcol+d。對于負(fù)極性幀，跨越單元的電壓振幅是Vcol-d。可以看出對于給定值Vcol，相反極性幀中的透射率等級是不同的并且變化了f％。因此，對于具有振幅為Vcol的恒定驅(qū)動電壓來說，對于每一幀周期，單元透射率將變化f％。這就在半幀頻處導(dǎo)致了閃爍。
為了減小在這種方法中出現(xiàn)的閃爍，公知的是調(diào)整施加到跨越單元的電壓。例如，通過調(diào)整公共、對置電極上的電壓可以實現(xiàn)這一點。典型地，在電流產(chǎn)生過程中，手動地調(diào)整顯示裝置的公共電極電壓電平以校正閃爍影響，這是一個耗時并且昂貴的過程。同樣，其不能補(bǔ)償在顯示裝置的壽命期間的寄生DC成分的變化，其可能由于例如電極老化造成的。同樣，如果顯示裝置的驅(qū)動頻率改變，則DC成分的振幅也可能變化。例如，顯示裝置可以具有不同的操作模式，例如利用不同驅(qū)動頻率的正?；虻碗娫茨Ｊ?。
WO99/57706，其內(nèi)容在此結(jié)合并作為參考材料，公開了一種顯示裝置，其中測量跨越顯示元件(位于用于顯示圖像的區(qū)域外面)的電壓。然后響應(yīng)于包含在裝置內(nèi)的電路測量的電壓，調(diào)整顯示裝置的控制電壓以抵消閃爍。可以使用起到單個測量元件功能的偽像素行而不是單個像素。上述方法的效果可能受到測量的顯示元件電壓在整個寬范圍值內(nèi)快速擺動的事實的影響，并且電壓測量容易受到噪聲的影響。
一種選擇性的技術(shù)已經(jīng)出現(xiàn)在了WO2003/019520(PHGB020014)內(nèi)，在其中校正裝置包括測量像素和為所施加的跨越顯示元件單元的電極上的每個電壓極性產(chǎn)生表示測量像素單元的電容的各個信號的裝置，該校正裝置排列為響應(yīng)所述信號以修正驅(qū)動電路產(chǎn)生的電壓。將電光單元如LC顯示元件的電容直接與其透射率相關(guān)，而在跨越顯示元件的電壓應(yīng)用和響應(yīng)該電壓應(yīng)用而移動到最后位置的LC之間存在時間滯后。因而，測量像素的顯示元件的電容的測量(勝于出現(xiàn)跨越其作為正常尋址周期的電壓)能提供抵消跨越顯示元件的寄生DC成分所需的更精確的校正指示并能補(bǔ)償閃爍。
該技術(shù)，如以前的技術(shù)，也可以用在實現(xiàn)對溫度變化影響的自動校正。通常用作像素開關(guān)裝置的TFT(薄膜晶體管)的閾值電壓電平和遷移率都是溫度相關(guān)的。
優(yōu)選的是使用位于顯示像素陣列外的偽像素，偽像素和實際顯示像素具有相同的電路結(jié)構(gòu)。使用一批互連的偽像素可以按比例增加并且其可以通過將偽像素的顯示元件第一電極耦合在一起而得到。其具有提高被測量的顯示元件電容大小的效果，而這有助于提供更高的信噪比。
雖然該技術(shù)提供了改進(jìn)，但發(fā)現(xiàn)其還需要更進(jìn)一步的改進(jìn)，尤其是在相對大的面積和高分辨率顯示裝置方面。
根據(jù)本發(fā)明，提供了一種包括像素陣列的有源矩陣顯示裝置，其響應(yīng)驅(qū)動電路裝置提供的驅(qū)動電壓產(chǎn)生顯示輸出，每個像素具有顯示元件，該顯示元件包括位于兩電極之間的電光材料和相關(guān)的經(jīng)由開關(guān)裝置將驅(qū)動電壓提供到一個電極的所述開關(guān)裝置，提供到跨越每個單元的電極電壓的極性周期反轉(zhuǎn)；上述有源矩陣顯示裝置還包括校正裝置，用于提供表示像素的DC電壓電平的測量結(jié)果以及根據(jù)該測量結(jié)果修正驅(qū)動電路裝置提供的電壓，從而補(bǔ)償由于DC電壓電平導(dǎo)致的顯示假像，校正裝置包括多個測量像素，該多個測量像素位于產(chǎn)生顯示輸出的像素陣列區(qū)域的外面，多個測量像素沿陣列的至少一邊互相獨立地在有間隔的地方排列，并且該校正裝置排列成從每個測量像素提供各個測量結(jié)果。
較早使用的方法假定導(dǎo)致不希望顯示假像的DC電壓在所有顯示像素內(nèi)基本上是相似的并且從測量像素，單個像素或一組互連的像素得到的測量結(jié)果是其電平的代表。然而，這是不必要的情形。尤其是，在更大、高分辨率型AMLCD內(nèi)可以發(fā)現(xiàn)根據(jù)沿著其行的像素的位置，作為當(dāng)對像素進(jìn)行尋址時用于控制像素開關(guān)裝置的行選擇(選通)信號的失真的結(jié)果，回掃電荷的不同電平可以被耦合到像素內(nèi)。上述失真是由于例如承載上述信號的行地址導(dǎo)體的分布電容和電阻造成的。使用多個分布在具有間隔的位置內(nèi)并且能提供獨立測量的單獨的測量像素，允許被測量的并且用于像素驅(qū)動信號調(diào)整的回掃電平內(nèi)的這些變化相對簡明以提供有效的補(bǔ)償。這就導(dǎo)致了實質(zhì)上改進(jìn)了的圖像質(zhì)量，或可以選擇地，甚至能產(chǎn)生具有可接收顯示質(zhì)量的較大的顯示裝置。上述方法使得顯示裝置自身調(diào)整并且同樣能穩(wěn)定地處理各種變化。上述過程變化，例如金屬線寬度、層厚、以及隨之發(fā)生的金屬層薄片電阻率變化等等，可以近似地導(dǎo)致跨越陣列的像素內(nèi)的不同的回掃電平。
測量像素可以僅沿陣列的一邊排列，例如沿著陣列的上邊或下邊排列，從而提供一種行方向內(nèi)的像素DC電壓電平變化的表示。優(yōu)選的是，將測量像素提供在陣列一邊的至少相對末端。
在優(yōu)選的實施例中，沿著陣列的上邊和下邊都提供測量像素。
僅利用位于陣列的上邊或下邊的每個末端的兩個測量像素在很多條件下可以提供充分的校正。一個或多個位于兩個末端測量像素之間的附加的測量像素可以有利于圖像校正的進(jìn)一步改進(jìn)，并且將例如允許由于回掃變化造成的其他緩慢變化的自動校正，諸如整個顯示像素陣列區(qū)域上的變化的未對準(zhǔn)特征。在陣列的上邊和下邊都提供測量像素能例如同樣對整個顯示像素陣列的列方向內(nèi)回掃電平內(nèi)的變化進(jìn)行校正。
校正裝置可以與前面提到的WO99/57706和WO2003/019520內(nèi)描述的校正裝置，或與其他各種公知的用于測量并且抵消回掃和導(dǎo)致像素內(nèi)DC電壓成分的其他效果(如WO2003/019509內(nèi)描述的)的校正電路類似。在上述情況下，校正裝置能可操作地修正顯示像素的驅(qū)動電壓。在利用TFT開關(guān)裝置和所有像素共有的公共、對置電極的AMLCD的情況下，被修正的驅(qū)動電壓可以是經(jīng)由列地址導(dǎo)體提供到像素的數(shù)據(jù)電壓和/或提供公共電極上的數(shù)據(jù)信號。在兩-電平或公共電極調(diào)制驅(qū)動方法中，調(diào)整可以包括補(bǔ)充到公共電極上的適當(dāng)?shù)腄C電壓。然而，將公共電極分成片段并且因此調(diào)整提供到每個片段內(nèi)的電壓以允許一些調(diào)整變化是可行的。然而，優(yōu)選地，調(diào)整構(gòu)成數(shù)據(jù)信號的驅(qū)動電壓。位于陣列一邊末端的測量像素的輸出可以用在校正裝置內(nèi)，例如在簡單的左-右(行方向)變化的情況下，根據(jù)沿著顯示陣列內(nèi)的行的位置產(chǎn)生數(shù)據(jù)信號平均電壓的偏移量。上述調(diào)整可以通過對輸入的視頻信號進(jìn)行數(shù)字處理很容易實現(xiàn)，從輸入的視頻信號中產(chǎn)生數(shù)據(jù)信號。
現(xiàn)在將參考附圖詳細(xì)描述根據(jù)本發(fā)明的有源矩陣顯示裝置的例子，尤其是一種AMLCD，其中
圖1示出了對于構(gòu)成典型的LC顯示元件的LC單元的透射率與所施加電壓的圖；圖2示出了非常簡單的部分LC顯示裝置的橫截面圖；圖3示出了一種AMLCD的電路圖；和圖4示出了根據(jù)本發(fā)明顯示裝置的一個實施例的平面示意圖。
在整個附圖中相同的附圖標(biāo)記表示相同或相似的部分。
圖2是LC顯示裝置1的部分橫截面圖。為了清楚僅示出了幾個像素。將扭曲向列LC材料2提供在由例如玻璃構(gòu)成的兩基板3、4之間。將單獨的顯示元件電極6的陣列提供在一個基板4上，而將公共、對置電極5提供在另一個基板3的相對表面上。在例如透射型顯示裝置中，電極5和6由透明材料，如氧化銦錫(ITO)構(gòu)成。在反射型顯示裝置中，僅在一個基板上存在電極，尤其是公共電極，該公共電極需要是透明的。每個顯示元件電極6、公共電極5的相對部分和插入LC材料2一起形成構(gòu)成像素的顯示元件的LC單元。對于透射型顯示裝置，將兩個偏光器7和8布置在各個基板3、4的外表面，并且它們的偏光方向互相垂直。對于反射型顯示裝置僅需要一個偏光器。在顯示元件和公共電極6、5上提供各個定向?qū)?，以將LC材料2定向在基板3、4的內(nèi)壁上。在像素上施加電壓，在合成電場內(nèi)LC自身對準(zhǔn)，改變了顯示元件的透射率。
典型的AMLCD的主元件示于圖3中。顯示裝置的每個像素25包括開關(guān)元件19和LC單元18。每個開關(guān)元件分別耦合到一組行或選擇、地址導(dǎo)體17的其中之一和分別耦合到一組列或數(shù)據(jù)、地址導(dǎo)體11的其中一個。在各個行尋址周期內(nèi)通過連接到每個行導(dǎo)體17的行驅(qū)動電路16產(chǎn)生的行選擇信號順序地選擇行導(dǎo)體17。列導(dǎo)體11連接到提供數(shù)據(jù)信號的列驅(qū)動電路10。如果必要，輸入線13上的輸入到顯示裝置的視頻信號中包含的視頻數(shù)據(jù)通過定時和控制單元15被首先處理。從處理器15沿著驅(qū)動線12將數(shù)據(jù)和同步脈沖反饋到行和列驅(qū)動電路16、10內(nèi)。
在此種情況下的開關(guān)元件19是TFT。每個TFT的柵電極20電耦合到各個行導(dǎo)體17、其源電極21電耦合到各個列導(dǎo)體11、并且其漏電極22電耦合到各個LC單元18的顯示元件電極6。當(dāng)通過各個行導(dǎo)體17上的行選擇信號選擇行像素內(nèi)的每個TFT19時，將存在于相應(yīng)列導(dǎo)體11上的數(shù)據(jù)信號電壓經(jīng)由TFT19傳送到各個顯示元件電極。驅(qū)動像素使得提供到LC單元18的電壓極性在每幀反轉(zhuǎn)。
圖3中的顯示裝置對于每個像素25包括一個輔助、或存儲電容器23。如圖所示將電容器23連接在漏電極22和LC單元18的公共點和前一行像素的行導(dǎo)體17之間。顯示裝置中的第一像素行被提供有輔助行導(dǎo)體17′。在另一種結(jié)構(gòu)中，可以將電容器連接在所述公共點和后一行電極之間，或所述公共點和單獨的電容器線之間。
顯示裝置通常按傳統(tǒng)的方式制造和操作，因此將不再描述這些方面。對于這些方面的進(jìn)一步描述可以參考US-A-5130829中的描述。
如前面描述的，這種形式的顯示裝置，即在其中提供到顯示元件的驅(qū)動電壓的極性周期性地反轉(zhuǎn)，典型地是每幀，可能出現(xiàn)下述問題即跨越LC單元的寄生DC電壓成分的出現(xiàn)所導(dǎo)致的閃爍。該DC成分可能是回掃作用的結(jié)果，通常是由于用于尋址像素行(該像素行通過像素TFT的寄生柵-漏電容而耦合)的行選擇脈沖的下降沿造成的。如果存在，在反射型顯示裝置的情況下，由不同材料的相對電極引起的LC單元的不對稱特性也會導(dǎo)致不希望的DC成分的出現(xiàn)。
用于克服上述問題的校正裝置的例子即提供一種表示DC成分電平的測量結(jié)果并且根據(jù)測量結(jié)果調(diào)整用于驅(qū)動像素的驅(qū)動電壓以進(jìn)行補(bǔ)償，已經(jīng)在前面的說明書中描述了。這些校正裝置使用包括一個LC單元和與顯示陣列的情況相似但位于顯示陣列外面的測量像素，或一組彼此互連的這些像素以幫助測量操作。然而，這種方法將僅提供一個單元的電性能的測量，或者互連單元組的平均值，因此任何基于上述測量的提供到顯示像素陣列上的校正在整個像素陣列上通常是一致的。
根據(jù)本發(fā)明的一個實施例，代替的是使用多個單獨的沿著像素陣列至少一邊相互以一定間隔布置、并且可執(zhí)行獨立測量的測量像素。在這種方法中能得到多個例如在整個陣列中的同樣表示回掃作用內(nèi)的變化的測量結(jié)果，考慮上述變化可以得到驅(qū)動電壓調(diào)整，并且因此產(chǎn)生更高質(zhì)量的圖像。
圖4用示意圖示出了，表示根據(jù)本發(fā)明實施例的測量像素排列實例的AMLCD的平面圖。此處每個塊40表示包括一個偽像素或一組與顯示陣列的像素25相似但位于顯示陣列區(qū)域外面的互連的偽像素，此處表示為45。上述測量像素與顯示陣列的像素同時制成并且從而與其最靠近的陣列內(nèi)的那些像素具有相似的特性。本實施例中的每個塊40包括多個互連的偽像素，從而提高信噪比以進(jìn)行更好地測量?？梢钥闯鋈齻€上述塊沿著像素陣列的上邊和下邊46、47以一定間隔提供，像素陣列在上述每條邊具有兩個位于一邊的相鄰相對末端的塊、和一個位于沿著邊長度方向的大約中間位置的第三個塊。沿著一邊的測量像素組40包括一偽像素行的各個部分，每個部分由一組相鄰像素構(gòu)成。
現(xiàn)在將討論跨越整個陣列的像素LC單元產(chǎn)生的DC成分電平變化的特性和原因。行導(dǎo)體17的分布電容和電阻導(dǎo)致由行驅(qū)動電路16沿著導(dǎo)體17長度方向提供到導(dǎo)體17上的行選擇信號的失真。這種情況在大、高分辨率裝置中更明顯并且在被驅(qū)動和沒有被驅(qū)動的導(dǎo)體17的末端，也就是分別靠近和遠(yuǎn)離電路16的末端，在選通脈沖的形狀中導(dǎo)致更大的差異。當(dāng)一行中像素的TFT20關(guān)斷時，在行選擇周期的結(jié)尾處具有這種結(jié)果。因為選擇脈沖信號沿著行導(dǎo)體17前進(jìn)，所以行導(dǎo)體電阻和耦合其上的寄生電容負(fù)載的組合使該選擇脈沖信號失真。這意味著雖然信號可以在驅(qū)動末尾附近具有快的上升和下降時間，但沿著導(dǎo)體17的長度方向的上升和下降時間逐漸惡化，在遠(yuǎn)離行驅(qū)動電路16的末端變得相對比較慢。慢的下降時間導(dǎo)致像素TFT20向保持導(dǎo)通狀態(tài)的遠(yuǎn)端前進(jìn)比預(yù)定行尋址周期更長，從而使部分耦合到通過寄生柵/漏電容相關(guān)的像素內(nèi)的電荷被帶走。選通脈沖形狀內(nèi)的變化因而導(dǎo)致耦合到沿著像素行位置的像素的回掃電荷電平的差異并且由此引起的像素電荷因此沿著行方向發(fā)生變化，導(dǎo)致顯示閃爍和圖像滯留。如果行導(dǎo)體電阻和電容增大這種結(jié)果將更糟，其發(fā)生在較大的顯示裝置中，并且如果TFT20的遷移率提高也同樣產(chǎn)生上述問題。
利用圖4中所示的測量像素40的排列，回掃內(nèi)的變化可以被測量并且根據(jù)它們沿著行方向的位置，通過適當(dāng)?shù)卣{(diào)整顯示像素的列、數(shù)據(jù)、電壓信號提供適當(dāng)?shù)难a(bǔ)償。定時和控制單元，此處表示為50，接收外部輸入視頻信號VS并且提供數(shù)據(jù)和定時信號到列和行驅(qū)動電路10和16并且經(jīng)由線57提供驅(qū)動電壓信號到公共電極(未示出)，該定時和控制單元包括閃爍校正處理裝置55。信號在構(gòu)成各個測量像素40的每組偽像素和表示偽像素內(nèi)DC電壓成分的控制電路55之間被傳送，臨近于測量像素40的像素陣列區(qū)域中顯示像素25中的DC電壓也同樣如此。因而，從沿著陣列上邊的三個測量像素40得到的測量結(jié)果信號提供關(guān)于沿著行方向的像素25內(nèi)的DC成分變化的信息。沿著像素陣列下邊的三個測量像素40提供關(guān)于跨越陣列下邊的顯示像素的電特性的信息。校正處理裝置50進(jìn)行的數(shù)據(jù)信號調(diào)整可以是基于上邊和下邊的相應(yīng)測量像素40對的平均輸出，假定沒有導(dǎo)致垂直列方向的像素DC電壓成分變化的原因。
可以將電路50和處理裝置55提供在遠(yuǎn)離行和列驅(qū)動電路的IC內(nèi)，或與其結(jié)合在一起。可以選擇的是，上述電路可以與行和列驅(qū)動電路一起全部集成在承載有源矩陣電路11、17、20的基板4上，并且與它們同時制成，例如使用如在圖4的實施例中描述的多晶硅技術(shù)。
如圖4中所示的，使用在像素陣列周圍分布的測量像素40，提供了表示回掃內(nèi)變化的測量結(jié)果和對驅(qū)動電壓(隨后由電路50和55產(chǎn)生)的適當(dāng)補(bǔ)償調(diào)整，使得顯示裝置自身調(diào)整并具有穩(wěn)定的處理變化的能力，如金屬線寬度變化、金屬層薄片電阻率變化等等(當(dāng)利用薄膜制造方法時可能產(chǎn)生上述變化)。
為了提供表示沿著行方向的回掃作用變化的測量結(jié)果，最少需要兩個測量像素，優(yōu)選的是在像素陣列的上邊或下邊的每個末端處有一個測量像素。進(jìn)一步的測量像素，如圖4中實施例的情形，提供改進(jìn)了的校正并且還允許其他回掃變化的慢變化原因的自動校正，諸如整個像素陣列區(qū)域上的變化的未對準(zhǔn)。如果需要，可以為每一邊提供多于三個的測量像素40。
測量像素的輸出用于調(diào)整驅(qū)動條件。在簡單的左-右變化的情況下，其可以簡單地導(dǎo)致顯示裝置中的特定位置的列裝置電壓的偏移，其可以通過對輸入的視頻信號的數(shù)字處理實現(xiàn)。對于理想的情況，需要列電壓驅(qū)動范圍的小的增加。然而，變化回掃的主要影響是在中間灰度區(qū)域最容易看到的閃爍。因而，在不增加列電壓范圍的情況下可以實現(xiàn)相當(dāng)大的可覺察到的改進(jìn)。
沿著一邊的三個測量像素40是尤其需要的，利用如連接到導(dǎo)體17的相對末端的電路16的另一行驅(qū)動電路，從兩末端驅(qū)動行導(dǎo)體17。
在上面實施例中描述的形成校正裝置的每個測量像素40和處理裝置55通常優(yōu)選的是如WO2003/019520內(nèi)描述的，它們的結(jié)構(gòu)和操作可以參考WO2003/019520，并且其內(nèi)容在此結(jié)合并作為參考材料。該校正技術(shù)涉及為施加到顯示元件的每個電壓極性產(chǎn)生表示測量像素電容的各個信號并且響應(yīng)上述信號修正驅(qū)動電路產(chǎn)生的電壓?？梢赃x擇的是，每個測量像素和校正裝置的處理裝置可以基本上如WO99/57706和WO2003/019509所述的，它們的內(nèi)容結(jié)合在此。上述利用了不同技術(shù)以提供表示顯示像素內(nèi)DC電壓電平的測量結(jié)果。也可以使用其他形式的能提供上述測量和校正的測量和校正電路。在WO2003/019509內(nèi)一個測量像素包括兩個偽像素，偽像素的顯示元件利用具有相反極性的驅(qū)動信號驅(qū)動并且然后與剩余電壓并聯(lián)連接，該剩余電壓是由于元件內(nèi)存在的DC偏移產(chǎn)生了存儲在兩個顯示元件內(nèi)的電荷差異所導(dǎo)致的，測量和使用該剩余電壓以對用于像素的隨后的驅(qū)動電壓提供調(diào)整。
雖然特別描述的是AMLCD，可以設(shè)想也可以將本發(fā)明有利地用于其他形式的有源矩陣顯示裝置中。
從本發(fā)明公開中可見，對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說其他修改是顯而易見的。上述修改可以是有源矩陣顯示裝置和元件部分領(lǐng)域公知的、以及在此處已經(jīng)描述了的替代的或附加的其他特征。
權(quán)利要求
1.一種包括像素(25)陣列(45)的有源矩陣顯示裝置，其響應(yīng)驅(qū)動電路裝置(50、15、16)提供的驅(qū)動電壓產(chǎn)生顯示輸出，每個像素具有顯示元件(18)，該顯示元件(18)包括位于兩電極(6、5)之間的電光材料(2)和相關(guān)的經(jīng)由開關(guān)裝置將驅(qū)動電壓提供到一個電極(6)的所述開關(guān)裝置(19)，提供到跨越每個單元的電極電壓的極性周期反轉(zhuǎn)；上述有源矩陣顯示裝置還包括校正裝置(40、55)，用于提供表示像素(25)的DC電壓電平的測量結(jié)果以及根據(jù)該測量結(jié)果修正驅(qū)動電路裝置(50、15、16)提供的電壓，從而補(bǔ)償由于DC電壓電平導(dǎo)致的顯示假像，校正裝置包括多個測量像素(40)，該多個測量像素(40)位于產(chǎn)生顯示輸出的像素(25)陣列(45)區(qū)域的外面，多個測量像素沿陣列的至少一邊(46、47)互相獨立地在有間隔的地方排列，并且所述校正裝置排列成從每個測量像素提供測量結(jié)果(55)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所速的裝置，其中顯示像素(25)排列在行和列陣列(45)內(nèi)并且其中測量像素(40)排列在顯示像素陣列的一邊(46、47)的每個末端，顯示像素陣列的邊沿著顯示像素行平行延伸。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的裝置，其中測量像素同樣排列在與一邊相對的像素陣列邊的每個末端。
4.根據(jù)權(quán)利要求2或3所述的裝置，其中至少一個另一測量像素(40)以一定間隔排列在陣列一邊、或每邊末端的測量像素之間。
5.根據(jù)前面任一權(quán)利要求所述的裝置，其中校正裝置(40、55)根據(jù)沿著一邊的每個測量像素的各個測量結(jié)果內(nèi)的變化可操作改變一邊方向內(nèi)的顯示像素驅(qū)動電壓的修正。
6.根據(jù)前面任一權(quán)利要求所述的裝置，其中每個測量像素包括多個互連的偽像素。
7.根據(jù)前面任一權(quán)利要求所述的裝置，其中顯示元件包括液晶顯示元件。
全文摘要
一種有源矩陣顯示裝置，尤其是一種包括利用反轉(zhuǎn)極性驅(qū)動電壓驅(qū)動的顯示像素(25)陣列的液晶顯示裝置，該顯示裝置包括用于提供表示像素(25)內(nèi)的DC電壓電平的測量結(jié)果，如由回掃作用引起的，和因此修正像素驅(qū)動電壓以補(bǔ)償任何顯示假像的校正裝置(40，55)。所述校正裝置包括多個測量像素(40)，每個測量像素包括一個或多個偽顯示像素，其沿著像素陣列(45)的至少一邊排列在具有間隔的位置并且其提供表示在其附近的顯示像素性能的獨立的測量結(jié)果。校正裝置然后能例如解釋整個陣列內(nèi)的像素DC電平的變化。
文檔編號G09G3/36GK1729503SQ200380106824
公開日2006年2月1日 申請日期2003年12月8日 優(yōu)先權(quán)日2002年12月19日
發(fā)明者S·C·迪恩 申請人:皇家飛利浦電子股份有限公司