專利名稱：可修補數(shù)據(jù)線的缺陷的平面顯示器及其修補方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種線缺陷的修補方法，特別是涉及一種平面顯示器(flatpanel display，F(xiàn)PD)的數(shù)據(jù)線(data line)和柵極線(gate line)的修補方法。
背景技術(shù)：
液晶顯示器(liquid crystal display，LCD)是目前最被廣泛使用的一種平面顯示器，具有低消耗電功率、薄型輕量以及低電壓驅(qū)動等特征，其顯示原理是利用液晶分子的材料特性，于外加電場后使液晶分子的排列狀態(tài)改變，造成液晶材料產(chǎn)生各種光電效應。一般而言，LCD的顯示區(qū)域包含多個像素區(qū)域，每一個像素區(qū)域系指由兩條柵極線(gate line)(又稱掃描線，scan line)與兩條數(shù)據(jù)線(data line)所定義之矩形區(qū)域，其內(nèi)設(shè)置有一薄膜晶體管(thin film transistor，以下簡稱TFT)以及一像素電極，此薄膜晶體管為一種開關(guān)組件(switching device)。
柵極線與數(shù)據(jù)線主要是用來提供影像訊號以驅(qū)動像素電極，但是礙于制作時基板表面的高低起伏、熱處理、蝕刻制造工藝等影響，柵極線與數(shù)據(jù)線很容易發(fā)生斷線，進而導致斷路(open circuit)或短路(short circuit)的現(xiàn)象。而且，當LCD面板之面積擴大并提高分辨率時，需要制作數(shù)量更多的柵極線與數(shù)據(jù)線，且線寬變得更窄，則制造工藝困難度的提高更容易導致斷線現(xiàn)象。因此，為了避免LCD面板的操作受到少部份斷線的影響，亟需發(fā)展出一種修補(repair)缺陷的結(jié)構(gòu)及其使用方法。
請參考圖1，其顯示現(xiàn)有修補數(shù)據(jù)線斷線的方法的上視圖?，F(xiàn)有一LCD之基板10上包含有多條橫向延伸之柵極線12，多個柵極墊14分別設(shè)置于每一條柵極線12之一端，多條縱向延伸之數(shù)據(jù)線16，多個數(shù)據(jù)墊18分別設(shè)置于每一條數(shù)據(jù)線16之一端，以及多個矩陣排列之顯示區(qū)域20。每一個顯示區(qū)域20是由兩條柵極線12與兩條數(shù)據(jù)線16所垂直交叉定義型成，且均設(shè)置有一像素電極22。。除此之外，基板10另包含有多條輔助線24A、24B、24C，位于顯示區(qū)域20周圍的非顯示區(qū)域，且多條輔助線24A、24B、24C跨越每一條數(shù)據(jù)線16之兩端。
舉例來說，當數(shù)據(jù)線16A發(fā)生斷線而形成一開口A時，通過數(shù)據(jù)線16A之影像訊號無法到達開口A處，則可以利用激光或是其它技術(shù)，使數(shù)據(jù)線16A與輔助線24A的交叉點26a、26b產(chǎn)生電連接，并依據(jù)所選擇最短之路徑在切點28a、28b將輔助線24A切斷，如此一來，傳送到數(shù)據(jù)線16A的影像訊號便可以經(jīng)由輔助線24A提供。不過，當影像訊號通過輔助線24A與其它數(shù)據(jù)線16之交會點時，會使影像訊號扭曲惡化，尤其當數(shù)據(jù)線16數(shù)目眾多時，輔助線24A上之交會點的數(shù)目也會增加，則影像訊號惡化的情況會更加嚴重。而且，由上述可知，要修補一條數(shù)據(jù)線16A便需要耗費一條輔助線24A，因此隨著輔助線24之數(shù)目與長度增加、柵極線12與數(shù)據(jù)線16之寬度設(shè)計變窄，輔助線24所產(chǎn)生的電阻值與電容值也會增加，這將使得訊號遲滯增長而影響LCD之顯示品質(zhì)。此外，輔助線24之制作數(shù)目會受到空間與面積的限制，因此可修補之斷線數(shù)目相當有限。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此，本發(fā)明則提出一種數(shù)據(jù)線的修補方法，是在不額外制作輔助線的情況下，利用顯示區(qū)域之遮光金屬線來修補線缺陷，且可修補之斷線數(shù)目沒有限制。該方法亦可用于柵極線的修補。
本發(fā)明提供一種可修補數(shù)據(jù)線的缺陷的平面顯示器，其結(jié)構(gòu)如下所述。于每一像素區(qū)域內(nèi)的像素電極和數(shù)據(jù)線之間分別設(shè)置第一遮光金屬線，且每一第一遮光金屬線彼此分開。第一修補備用導線橫跨于相鄰之第一遮光金屬線和數(shù)據(jù)線，每一第一遮光金屬線至少分配兩對應之第一修補備用導線，且第一修補備用導線至少與數(shù)據(jù)線和第一遮光金屬線擇一絕緣。
上述的可修補數(shù)據(jù)線的缺陷的平面顯示器中，第一修補備用導線可延伸自數(shù)據(jù)線、第一遮光金屬線、或者與兩者均絕緣。
在第一修補備用導線延伸自數(shù)據(jù)線的情況下，第一修補備用導線與第一遮光金屬線的交錯點為修補點。其中第一遮光金屬線和柵極線屬第一層金屬層，第一修補備用導線和數(shù)據(jù)線屬第二層金屬層；或者第一修補備用導線和數(shù)據(jù)線屬第一層金屬層，第一遮光金屬線和柵極線屬第二層金屬層。
在第一修補備用導線延伸自第一遮光金屬線的情況下，第一修補備用導線與數(shù)據(jù)線之交錯點為修補點。其中第一修補備用導線、第一遮光金屬線和柵極線屬第一層金屬層，數(shù)據(jù)線屬第二層金屬層；或者數(shù)據(jù)線屬第一層金屬層，第一修補備用導線、第一遮光金屬線和柵極線屬第二層金屬層。
在第一修補備用導線與數(shù)據(jù)線和第一遮光金屬線均絕緣的情況下，第一修補備用導線與數(shù)據(jù)線及第一遮光金屬線之交錯點為修補點。其中第一修補備用導線和柵極線屬第一層金屬層，第一遮光金屬線和數(shù)據(jù)線屬第二層金屬層；或者第一遮光金屬線和數(shù)據(jù)線屬第一層金屬層，第一修補備用導線和柵極線屬第二層金屬層。
上述之可修補數(shù)據(jù)線的缺陷的平面顯示器的結(jié)構(gòu)中，更包括如下所述之可用于修補柵極線的缺陷的結(jié)構(gòu)。于每一像素區(qū)域內(nèi)之像素電極和柵極線之間分別設(shè)置第二遮光金屬線，且每一第二遮光金屬線彼此分開。第二修補備用導線橫跨于相鄰之第二遮光金屬線和柵極線，每一第二遮光金屬線至少分配兩對應之第二修補備用導線，且第二修補備用導線至少與柵極線和第二遮光金屬線擇一絕緣。
針對可用于修補柵極線的缺陷的結(jié)構(gòu)方面，第二修補備用導線可延伸自柵極線、第二遮光金屬線、或者與兩者均絕緣。
在第二修補備用導線延伸自柵極線的情況下，第二修補備用導線與第二遮光金屬線之交錯點為修補點。
在第二修補備用導線延伸自第二遮光金屬線的情況下，第二修補備用導線與柵極線之交錯點為修補點。
在第二修補備用導線與柵極線和第二遮光金屬線均絕緣的情況下，第二修補備用導線與柵極線及第二遮光金屬線之交錯點為修補點。
當數(shù)據(jù)線之一具有缺陷時，將鄰近之第一遮光金屬線藉由對應之一對第一修補備用導線與具有上述缺陷之數(shù)據(jù)線電連接，其中該對第一修補備用導線分別位于缺陷之兩側(cè)。
當柵極線之一具有缺陷時，將鄰近之第二遮光金屬線藉由對應之一對第二修補備用導線與具有上述缺陷之柵極線電連接，其中該對第二修補備用導線分別位于缺陷之兩側(cè)。


圖1顯示現(xiàn)有修補數(shù)據(jù)線之斷線的方法的上視圖。
圖2顯示本發(fā)明修補數(shù)據(jù)線方法的電路示意圖。
圖3是顯示本發(fā)明之第一實施例之修補結(jié)構(gòu)的上視圖。
圖4A至圖4B顯示沿圖3之切線IV-IV進行修補的剖面示意圖。
圖5是顯示本發(fā)明之第二實施例之修補結(jié)構(gòu)的上視圖。
圖6A至圖6B顯示沿圖5之切線VI-VI進行修補的剖面示意圖。
圖7是顯示本發(fā)明之第三實施例之修補結(jié)構(gòu)的上視圖。
圖8A至圖8B顯示沿圖7之切線VIII-VIII進行修補的剖面示意圖。
圖9是顯示本發(fā)明之第四實施例之修補結(jié)構(gòu)的上視圖。
圖10A至圖10B顯示沿圖9之切線X-X進行修補的剖面示意圖。
圖11是顯示本發(fā)明之第五實施例之修補結(jié)構(gòu)的上視圖。
圖12A至圖12B顯示沿圖11之切線XII-XII進行修補的剖面示意圖。
圖13是顯示本發(fā)明之第六實施例之修補結(jié)構(gòu)的上視圖。
圖14A至圖14B顯示沿圖13之切線XIV-XIV進行修補的剖面示意圖。
圖15是顯示本發(fā)明之第七實施例之修補結(jié)構(gòu)的上視圖。
圖16顯示本發(fā)明修補柵極線方法的電路示意圖。
附圖標號說明30數(shù)組基板34薄膜晶體管36像素電極32、32a、32b、62遮光金屬線38a、38b、38c、68a、68c導線38、68修補備用導線(或凸塊)341柵極342漏極電極343源極電極40柵極線50數(shù)據(jù)線42絕緣層44保護層46接觸洞
具體實施例方式
本發(fā)明在制備好液晶顯示面板之主動數(shù)組基板后，在尚未與另一基板進行組裝之前，即進行檢測，確認是否有斷線的存在。若發(fā)現(xiàn)有斷線，可針對斷線處，利用鄰近之遮光金屬線進行修補。
數(shù)據(jù)線的斷線修補請參閱圖2，其顯示本發(fā)明修補數(shù)據(jù)線方法的電路示意圖。液晶顯示面板的數(shù)組基板30上包含有許多柵極線GL1、GL2和GL3和數(shù)據(jù)線DL1、DL2和DL3。柵極線GL1、GL2和GL3與數(shù)據(jù)線DL1、DL2和DL3以矩陣的形式排列，其垂直交叉所構(gòu)成之矩形區(qū)域定義為像素區(qū)，每一像素區(qū)均配置一薄膜晶體管(TFT)34和像素電極36。在像素電極36邊緣和數(shù)據(jù)線DL1、DL2和DL3之間設(shè)置許多遮光金屬線32，這些遮光金屬線32主要系用以避免漏光問題的發(fā)生，且每一遮光金屬線32為浮置狀態(tài)(floatingstate)。
當主動數(shù)組基板30形成后，將會進行測試，以找出線缺陷的所在位置。之后，利用鄰近之浮置的遮光金屬線32進行修補。
舉例而言，當數(shù)據(jù)線DL2發(fā)生斷線而在端點A、B之間形成開口時，傳輸至數(shù)據(jù)線DL2之影像訊號便無法通過端點A、B。本發(fā)明的修補方法是，將端點A和B處的數(shù)據(jù)線DL2分別藉由導線38a和38b連接至鄰近之遮光金屬線32。因此，路徑C→D→E→F即構(gòu)成一條修補線，藉此繞過斷線處來修補數(shù)據(jù)線DL2之端點A、B間的線缺陷問題。
以下系以數(shù)個實施例詳細說明修補數(shù)據(jù)線于端點A和B的斷線的方法，以及所構(gòu)成之修補線的詳細結(jié)構(gòu)。
第一實施例請參閱圖3及圖4A至圖4B，其中圖3是顯示本發(fā)明之修補結(jié)構(gòu)的上視圖，圖4A至圖4B顯示沿圖3之切線IV-IV進行修補的剖面示意圖，其中圖4A為修補前的示意圖，圖4B為修補后的示意圖。
如圖3和圖4A所示，一般在基板30上所進行之制造工藝，系先于基板30上形成第一層金屬層，并定義其圖案，以形成柵極線40、TFT結(jié)構(gòu)34之柵極341、以及可用來進行修補之遮光金屬線32。遮光金屬線32之位置系在不影響電性表現(xiàn)的考量下，設(shè)置在數(shù)據(jù)線50與像素電極36之間，用以遮蔽像素電極36靠近數(shù)據(jù)線50之邊緣的光線，且處于浮置的狀態(tài)。然后，依序于已形成柵極線40、柵極341和遮光金屬線32的基板30上依序形成一絕緣層42、至少一半導體層(未顯示)以及第二層金屬層。之后，定義第二層金屬層之圖案，以形成漏極電極342、源極電極343、數(shù)據(jù)線50與修補備用導線38。因為在此實施例之修補備用導線38為數(shù)據(jù)線50的凸出部份，故修補備用導線在此又稱為凸塊38。接著，于由第二金屬層所形成之漏極電極302、源極電極303、數(shù)據(jù)線40與凸塊38的上方形成一保護層44以及一導電層，并定義導電層的圖案以形成像素電極36，如此便大致完成基板30上線路的制作。上述之第一金屬層與第二金屬層系由一般金屬類導電體物質(zhì)所構(gòu)成，而用以制備像素電極36之導電層的材質(zhì)可使用錫銦氧化物(indium tin oxide；ITO)。像素電極36經(jīng)由接觸洞46與漏極342電連接。
為說明方便，于數(shù)據(jù)線DL2斷線處鄰近之遮光金屬線系以32a和32b表示，將用于修補的凸塊系以38a和38b表示。
為了確?；?0之制作品質(zhì)，可藉由觀察像素區(qū)36的點亮狀態(tài)來判斷是否有數(shù)據(jù)線50在某處發(fā)生線缺陷。舉例來說，當發(fā)現(xiàn)數(shù)據(jù)線DL2于柵極線GL2和GL3之間發(fā)生斷線時，便可以進行下述的修補方法。首先，為了使數(shù)據(jù)線DL2斷線處的端點A、B電連接起來，可以選擇鄰近的遮光金屬線32a或/和32b進行修補。在此實施例中，系以選擇遮光金屬線32a進行修補為例進行說明。接著，對修補點D和E進行激光熔接(laser fusing)，移除部份的絕緣層42，使得由第二層金屬層所定義出之凸塊38a和38b能與由第一層金屬層所定義出之遮光金屬線32a電連接，結(jié)果如圖4B所示。因此，數(shù)據(jù)線DL2可以繞過斷線端點A和B，而改經(jīng)由凸塊38a、遮光金屬線32a和凸塊38b導通形成電連接回路，用以作為數(shù)據(jù)線DL2之修補線。
在此實施例中，遮光金屬線32與柵極341和柵極線40同時制備，且均來自第一層金屬層；修補備用導線38與數(shù)據(jù)線50同時制備，且均來自第二層金屬層。本發(fā)明于數(shù)據(jù)線50延伸出修補備用導線(即凸塊)38，并利用激光技術(shù)使斷線的數(shù)據(jù)線50經(jīng)由數(shù)據(jù)線50本身的延伸部，即凸塊38，與其下方鄰近的金屬遮蔽層32導通，以繞過斷線處而形成電連接回路，用來作為數(shù)據(jù)線50之修補線。
第二實施例請參閱圖5及圖6A至圖6B，其中圖5是顯示本發(fā)明之修補結(jié)構(gòu)的上視圖，圖6A至圖6B顯示沿圖5之切線VI-VI進行修補的剖面示意圖，其中圖6A為修補前的示意圖，圖6B為修補后的示意圖。
在此實施例中，數(shù)組基板30的制造工藝大致與第一實施例相同，不同處在于修補備用導線38的位置。在此，修補備用導線38和遮光金屬線32與柵極341和柵極線40同時制備，且均來自第一層金屬層；數(shù)據(jù)線50系來自第二層金屬層。在此實施例之修補備用導線38為遮光金屬線32的凸出部份，因此，修補備用導線在此亦稱為凸塊38。
同樣地，為說明方便，于數(shù)據(jù)線DL2斷線處鄰近之遮光金屬線系以32a和32b表示，將用于修補的凸塊系以38a和38b表示。
當完成數(shù)組基板30的制備后，會藉由觀察像素區(qū)36的點亮狀態(tài)來判斷是否有數(shù)據(jù)線50在某處發(fā)生線缺陷。舉例來說，當發(fā)現(xiàn)數(shù)據(jù)線DL2于柵極線GL2和GL3之間發(fā)生斷線時，其修補方法如下所述。首先，為了使數(shù)據(jù)線DL2斷線處的端點A、B電連接起來，可以選擇鄰近的遮光金屬線32a或/和32b進行修補。在此實施例中，系以選擇遮光金屬線32a進行修補為例進行說明。接著，對修補點C和F進行激光熔接，移除部份的絕緣層42，使得由第二層金屬層所定義出之數(shù)據(jù)線DL2能與由第一層金屬層所定義出之凸塊38a和38b電連接，結(jié)果如圖6B所示。因此，數(shù)據(jù)線DL2可以繞過斷線端點A和B，而改經(jīng)由凸塊38a、遮光金屬線32a和凸塊38b導通形成電連接回路，用以作為數(shù)據(jù)線DL2之修補線。
第三實施例請參閱圖7及圖8A至圖8B，其中圖7是顯示本發(fā)明之修補結(jié)構(gòu)的上視圖，圖8A至圖8B顯示沿圖7之切線VIII-VIII進行修補的剖面示意圖，其中圖8A為修補前的示意圖，圖8B為修補后的示意圖。
在此實施例中，數(shù)組基板30的制造工藝大致與第一實施例相同，不同處在于修補備用導線38和遮光金屬線32的位置。在此，修補備用導線38與柵極341和柵極線40同時制備，且均來自第一層金屬層；遮光金屬線32與數(shù)據(jù)線50同時制備，且均來自第二層金屬層。在未進行任何修補動作前，修補備用導線38和遮光金屬線32均為浮置狀態(tài)。
同樣地，為說明方便，于數(shù)據(jù)線DL2斷線處鄰近之遮光金屬線系以32a和32b表示，將用于修補的修補備用導線系以38a和38b表示。
當完成數(shù)組基板30的制備后，會藉由觀察像素區(qū)36的點亮狀態(tài)來判斷是否有數(shù)據(jù)線50在某處發(fā)生線缺陷。舉例來說，當發(fā)現(xiàn)數(shù)據(jù)線DL2于柵極線GL2和GL3之間發(fā)生斷線時，其修補方法如下所述。首先，為了使數(shù)據(jù)線DL2斷線處的端點A、B電連接起來，可以選擇鄰近的遮光金屬線32a或/和32b進行修補。在此實施例中，系以選擇遮光金屬線32a進行修補為例進行說明。接著，對修補點C、D、E和F進行激光熔接，移除部份的絕緣層42，使得由第二層金屬層所定義出之數(shù)據(jù)線DL2能與由第一層金屬層所定義出之修補備用導線38a和38b電連接，結(jié)果如圖8B所示。因此，數(shù)據(jù)線DL2可以繞過斷線端點A和B，而改經(jīng)由導線38a、遮光金屬線32a和導線38b導通形成電連接回路，用以作為數(shù)據(jù)線DL2之修補線。
第四實施例請參閱圖9及圖10A至圖10B，其中圖9是顯示本發(fā)明之修補結(jié)構(gòu)的上視圖，圖10A至圖10B顯示沿圖9之切線X-X進行修補的剖面示意圖，其中圖10A為修補前的示意圖，圖10B為修補后的示意圖。
如圖9和圖10A所示，一般在基板30上所進行之制造工藝，系先于基板30上形成第一層金屬層，并定義其圖案，以形成TFT結(jié)構(gòu)34之漏極電極342、TFT結(jié)構(gòu)34之源極電極343、數(shù)據(jù)線50與修補備用導線38。然后，依序于已形成漏極電極342、源極電極343、數(shù)據(jù)線50與修補備用導線38的基板30上依序形成至少一半導體層(未顯示)、一絕緣層42以及第二層金屬層。之后，定義第二層金屬層之圖案，以形成柵極線40、TFT結(jié)構(gòu)34之柵極341、以及可用來進行修補之遮光金屬線32。遮光金屬線32之位置系在不影響電性表現(xiàn)的考量下，設(shè)置在數(shù)據(jù)線50與像素電極36之間，用以遮蔽像素電極36靠近數(shù)據(jù)線50之邊緣的光線，且處于浮置的狀態(tài)。因為在此實施例之修補備用導線38為數(shù)據(jù)線50的凸出部份，故修補備用導線在此又稱為凸塊38。接著，于由第二金屬層所形成之柵極線40、柵極341、以及遮光金屬線32的上方形成一保護層44以及一導電層，并定義導電層的圖案以形成像素電極36，如此便大致完成基板30上線路的制作。上述之第一金屬層與第二金屬層系由一般金屬類導電體物質(zhì)所構(gòu)成，而用以制備像素電極36之導電層的材質(zhì)可使用錫銦氧化物(indium tin oxide；ITO)。像素電極36經(jīng)由接觸洞46與漏極342電連接。
為說明方便，于數(shù)據(jù)線DL2斷線處鄰近之遮光金屬線系以32a和32b表示，將用于修補的凸塊系以38a和38b表示。
為了確?；?0之制作品質(zhì)，可藉由觀察像素區(qū)36的點亮狀態(tài)來判斷是否有數(shù)據(jù)線50在某處發(fā)生線缺陷。舉例來說，當發(fā)現(xiàn)數(shù)據(jù)線DL2于柵極線GL2和GL3之間發(fā)生斷線時，便可以進行下述的修補方法。首先，為了使數(shù)據(jù)線DL2斷線處的端點A、B電連接起來，可以選擇鄰近的遮光金屬線32a或/和32b進行修補。在此實施例中，系以選擇遮光金屬線32a進行修補為例進行說明。接著，對修補點D和E進行激光熔接(laser fusing)，移除部份的絕緣層42，使得由第二層金屬層所定義出之遮光金屬線32a能與由第一層金屬層所定義出之凸塊38a和38b電連接，結(jié)果如圖10B所示。因此，數(shù)據(jù)線DL2可以繞過斷線端點A和B，而改經(jīng)由凸塊38a、遮光金屬線32a和凸塊38b導通形成電連接回路，用以作為數(shù)據(jù)線DL2之修補線。
在此實施例中，修補備用導線38與數(shù)據(jù)線50同時制備，且均來自第一層金屬層；遮光金屬線32與柵極341和柵極線40同時制備，且均來自第二層金屬層。本發(fā)明于數(shù)據(jù)線50延伸出修補備用導線(即凸塊)38，并利用激光技術(shù)使斷線的數(shù)據(jù)線50經(jīng)由數(shù)據(jù)線50本身的延伸部，即凸塊38，與其上方鄰近的金屬遮蔽層32導通，以繞過斷線處而形成電連接回路，用來作為數(shù)據(jù)線50之修補線。
第五實施例請參閱圖11及圖12A至圖12B，其中圖11是顯示本發(fā)明之修補結(jié)構(gòu)的上視圖，圖12A至圖12B顯示沿圖11之切線XII-XII進行修補的剖面示意圖，其中圖12A為修補前的示意圖，圖12B為修補后的示意圖。
在此實施例中，數(shù)組基板30的制造工藝大致與第四實施例相同，不同處在于修補備用導線38的位置。在此，修補備用導線38和遮光金屬線32與柵極341和柵極線40同時制備，且均來自第二層金屬層；數(shù)據(jù)線50系來自第一層金屬層。在此實施例之修補備用導線38為遮光金屬線32的凸出部份，因此，修補備用導線在此亦稱為凸塊38。
同樣地，為說明方便，于數(shù)據(jù)線DL2斷線處鄰近之遮光金屬線系以32a和32b表示，將用于修補的凸塊系以38a和38b表示。
當完成數(shù)組基板30的制備后，會藉由觀察像素區(qū)36的點亮狀態(tài)來判斷是否有數(shù)據(jù)線50在某處發(fā)生線缺陷。舉例來說，當發(fā)現(xiàn)數(shù)據(jù)線DL2于柵極線GL2和GL3之間發(fā)生斷線時，其修補方法如下所述。首先，為了使數(shù)據(jù)線DL2斷線處的端點A、B電連接起來，可以選擇鄰近的遮光金屬線32a或/和32b進行修補。在此實施例中，系以選擇遮光金屬線32a進行修補為例進行說明。接著，對修補點C和F進行激光熔接，移除部份的絕緣層42，使得由第二層金屬層所定義出之凸塊38a和38b能與由第一層金屬層所定義出之數(shù)據(jù)線DL2電連接，結(jié)果如圖12B所示。因此，數(shù)據(jù)線DL2可以繞過斷線端點A和B，而改經(jīng)由凸塊38a、遮光金屬線32a和凸塊38b導通形成電連接回路，用以作為數(shù)據(jù)線DL2之修補線。
第六實施例請參閱圖13及圖14A至圖14B，其中圖13是顯示本發(fā)明之修補結(jié)構(gòu)的上視圖，圖14A至圖14B顯示沿圖13之切線XIV-XIV進行修補的剖面示意圖，其中第13A圖為修補前的示意圖，第13B圖為修補后的示意圖。
在此實施例中，數(shù)組基板30的制造工藝大致與第四實施例相同，不同處在于修補備用導線38和遮光金屬線32的位置。在此，修補備用導線38與柵極341和柵極線40同時制備，且均來自第二層金屬層；遮光金屬線32與數(shù)據(jù)線50同時制備，且均來自第一層金屬層。在未進行任何修補動作前，修補備用導線38和遮光金屬線32均為浮置狀態(tài)。
同樣地，為說明方便，于數(shù)據(jù)線DL2斷線處鄰近之遮光金屬線系以32a和32b表示，將用于修補的修補備用導線系以38a和38b表示。
當完成數(shù)組基板30的制備后，會藉由觀察像素區(qū)36的點亮狀態(tài)來判斷是否有數(shù)據(jù)線50在某處發(fā)生線缺陷。舉例來說，當發(fā)現(xiàn)數(shù)據(jù)線DL2于柵極線GL2和GL3之間發(fā)生斷線時，其修補方法如下所述。首先，為了使數(shù)據(jù)線DL2斷線處的端點A、B電連接起來，可以選擇鄰近的遮光金屬線32a或/和32b進行修補。在此實施例中，系以選擇遮光金屬線32a進行修補為例進行說明。接著，對修補點C、D、E和F進行激光熔接，移除部份的絕緣層42，使得由第二層金屬層所定義出之修補備用導線38a和38b能與由第一層金屬層所定義出之數(shù)據(jù)線DL2電連接，結(jié)果如第13B圖所示。因此，數(shù)據(jù)線DL2可以繞過斷線端點A和B，而改經(jīng)由導線38a、遮光金屬線32a和導線38b導通形成電連接回路，用以作為數(shù)據(jù)線DL2之修補線。
第七實施例上述第一～六實施例中，每一遮光金屬線32均有兩個大致對應于其端點之修補備用導線38，然而，本發(fā)明并不限于此，亦可配置三個甚至以上之修補備用導線38，以增加修補的變通性。
圖15是以每一遮光金屬線32配置三個修補備用導線38為例，并以第一實施例所述之主動數(shù)組基板30的制造方法為例做說明。在此，遮光金屬線32與柵極341和柵極線40同時制備，且均來自第一層金屬層；修補備用導線38與數(shù)據(jù)線50同時制備，且均來自第二層金屬層。
為說明方便，于數(shù)據(jù)線DL2斷線處鄰近之遮光金屬線系以32a和32b表示，對應于將用于修補之遮光金屬線32a的凸塊系以38a、38b和38c表示。
當主動數(shù)組基板30制作完后，藉由觀察像素區(qū)36的點亮狀態(tài)來判斷是否有數(shù)據(jù)線50在某處發(fā)生線缺陷。舉例來說，當發(fā)現(xiàn)數(shù)據(jù)線DL2于柵極線GL2和GL3之間發(fā)生斷線時，可利用其鄰近之遮光金屬線32a或/和32b進行修補。但是，若不巧鄰近之兩條遮光金屬線32a和32b亦發(fā)生斷線時，則無法利用整條遮光金屬線32a或/和32b來進行修補。以圖15的缺陷情形為例，對修補點D和G進行激光熔接，使得由第二層金屬層所定義出之凸塊38a和38c能與由第一層金屬層所定義出之遮光金屬線32a電連接。因此，數(shù)據(jù)線DL2可以繞過斷線端點A和B，而改經(jīng)由凸塊38a、遮光金屬線32a和凸塊38c導通形成電連接回路，因此路徑C→D→G→H即用以作為數(shù)據(jù)線DL2之修補線。
柵極線的斷線修補上述之數(shù)據(jù)線的斷線修補方法亦可適用于柵極線。請參閱圖16，其顯示本發(fā)明修補柵極線方法的電路示意圖。如圖16所示，在像素電極36邊緣和柵極線GL1、GL2和GL3之間設(shè)置許多浮置的遮光金屬線62，用以避免漏光問題的發(fā)生，以及做為修補線。
舉例而言，當柵極線GL2發(fā)生斷線而在端點J、K之間形成開口時，傳輸至柵極線GL2之影像訊號便無法通過端點J、K。本發(fā)明的修補方法是，將端點J和K處的柵極線DL2分別藉由導線68a和68b連接至鄰近之遮光金屬線62。因此，路徑L→M→N→O即構(gòu)成一條修補線，藉此繞過斷線處來修補柵極線GL2之端點J、K間的線缺陷問題。
修補備用導線68a和68b可為延伸自柵極線GL2的凸塊、延伸自遮光金屬線62的凸塊、或自成獨立且浮置之導線。若修補備用導線68a和68b為延伸自柵極線GL2的凸塊，則修補點為M和N；若修補備用導線68a和68b為延伸自遮光金屬線62的凸塊，則修補點為L和O；若修補備用導線68a和68b為自成獨立且浮置之導線，則修補點為M、N、L和O。
本發(fā)明藉由配置于柵極線和數(shù)據(jù)線旁浮置的遮光金屬線以及跨于柵極線/遮光金屬線和數(shù)據(jù)線/遮光金屬線的修補備用導線做為修補線，若是同一條數(shù)據(jù)線和/或門極線中具有多處斷線，均可以就近選擇適當之遮光金屬線和修補備用導線，配合激光熔融，使數(shù)據(jù)線和/或門極線繞過斷線處。因此，修補線并不會受限于空間與面積的影響，也不會有額外增加電阻值與電容值的情形，進而能夠避免增加RC時間延遲。
雖然本發(fā)明已結(jié)合優(yōu)選實施例揭露如上，然而其并非用以限定本發(fā)明，本領(lǐng)域的技術(shù)人員在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，當可作些許的更動與潤飾，因此本發(fā)明的保護范圍應當視后附的權(quán)利要求所界定者為準。
權(quán)利要求
1.一種可修補數(shù)據(jù)線的缺陷的平面顯示器，包括多條柵極線與多條數(shù)據(jù)線，該些柵極訊號線和與該些柵極線相交的該些數(shù)據(jù)線定義出多個像素區(qū)域；多個像素電極，分別位于該些像素區(qū)域內(nèi)；多條第一遮光金屬線，分別設(shè)置于每一像素區(qū)域內(nèi)的像素電極和數(shù)據(jù)線之間，且每一第一遮光金屬線彼此分開；以及多條第一修補備用導線，橫跨于相鄰的第一遮光金屬線和數(shù)據(jù)線，每一第一遮光金屬線至少分配兩對應的第一修補備用導線，該些第一修補備用導線至少與該些數(shù)據(jù)線和該些第一遮光金屬線擇一絕緣。
2.如權(quán)利要求1所述的可修補數(shù)據(jù)線的缺陷的平面顯示器，其中該些第一修補備用導線系延伸自該些數(shù)據(jù)線。
3.如權(quán)利要求2所述的可修補數(shù)據(jù)線的缺陷的平面顯示器，其中該些第一修補備用導線與該些第一遮光金屬線之交錯點為修補點。
4.如權(quán)利要求2所述的可修補數(shù)據(jù)線的缺陷的平面顯示器，其中該些第一遮光金屬線和該些柵極線屬第一層金屬層，該些第一修補備用導線和該些數(shù)據(jù)線屬第二層金屬層。
5.如權(quán)利要求2所述的可修補數(shù)據(jù)線的缺陷的平面顯示器，其中該些第一修補備用導線和該些數(shù)據(jù)線屬第一層金屬層，該些第一遮光金屬線和該些柵極線屬第二層金屬層。
6.如權(quán)利要求1所述的可修補數(shù)據(jù)線的缺陷的平面顯示器，其中該些第一修補備用導線系延伸自該些第一遮光金屬線。
7.如權(quán)利要求6所述的可修補數(shù)據(jù)線的缺陷的平面顯示器，其中該些第一修補備用導線與該些數(shù)據(jù)線之交錯點為修補點。
8.如權(quán)利要求6所述的可修補數(shù)據(jù)線的缺陷的平面顯示器，其中該些第一修補備用導線、該些第一遮光金屬線和該些柵極線屬第一層金屬層，該些數(shù)據(jù)線屬第二層金屬層。
9.如權(quán)利要求6所述的可修補數(shù)據(jù)線的缺陷的平面顯示器，其中該些數(shù)據(jù)線屬第一層金屬層，該些第一修補備用導線、該些第一遮光金屬線和該些柵極線屬第二層金屬層。
10.如權(quán)利要求1所述的可修補數(shù)據(jù)線的缺陷的平面顯示器，其中該些第一修補備用導線與該些數(shù)據(jù)線和該些第一遮光金屬線絕緣。
11.如權(quán)利要求10所述的可修補數(shù)據(jù)線的缺陷的平面顯示器，其中該些第一修補備用導線與該些數(shù)據(jù)線及該些第一遮光金屬線之交錯點為修補點。
12.如權(quán)利要求10所述的可修補數(shù)據(jù)線的缺陷的平面顯示器，其中該些第一修補備用導線和該些柵極線屬第一層金屬層，該些第一遮光金屬線和該些數(shù)據(jù)線屬第二層金屬層。
13.如權(quán)利要求10所述的可修補數(shù)據(jù)線的缺陷的平面顯示器，其中該些第一遮光金屬線和該些數(shù)據(jù)線屬第一層金屬層，該些第一修補備用導線和該些柵極線屬第二層金屬層。
14.如權(quán)利要求1所述的可修補數(shù)據(jù)線的缺陷的平面顯示器，更包括多條第二遮光金屬線，分別設(shè)置于每一像素區(qū)域內(nèi)之像素電極和柵極線之間，且每一第二遮光金屬線彼此分開；以及多條第二修補備用導線，橫跨于相鄰之第二遮光金屬線和柵極線，每一第二遮光金屬線至少分配兩對應之第二修補備用導線，該些第二修補備用導線至少與該些柵極線和該些第二遮光金屬線擇一絕緣。
15.如權(quán)利要求14所述的可修補數(shù)據(jù)線的缺陷的平面顯示器，其中該些第二修補備用導線系延伸自該些柵極線。
16.如權(quán)利要求15所述的可修補數(shù)據(jù)線的缺陷的平面顯示器，其中該些第二修補備用導線與該些第二遮光金屬線之交錯點為修補點。
17.如權(quán)利要求14所述的可修補數(shù)據(jù)線的缺陷的平面顯示器，其中該些第二修補備用導線系延伸自該些第二遮光金屬線。
18.如權(quán)利要求17所述的可修補數(shù)據(jù)線的缺陷的平面顯示器，其中該些第二修補備用導線與該些柵極線之交錯點為修補點。
19.如權(quán)利要求14所述的可修補數(shù)據(jù)線的缺陷的平面顯示器，其中該些第二修補備用導線與該些柵極線和該些第二遮光金屬線絕緣。
20.如權(quán)利要求19所述的可修補數(shù)據(jù)線的缺陷的平面顯示器，其中該些第二修補備用導線與該些柵極線及該些第二遮光金屬線之交錯點為修補點。
21.一種可修補數(shù)據(jù)線的缺陷的平面顯示器的修補方法，其中該可修補數(shù)據(jù)線的缺陷的平面顯示器包括多條柵極線與多條數(shù)據(jù)線，該些柵極訊號線和與該些柵極線相交之該些數(shù)據(jù)線系定義出多個像素區(qū)域；多個像素電極，分別位于該些像素區(qū)域內(nèi)；多條第一遮光金屬線，分別設(shè)置于每一像素區(qū)域內(nèi)之像素電極和數(shù)據(jù)線之間，且每一第一遮光金屬線彼此分開；以及多條第一修補備用導線，橫跨于相鄰之第一遮光金屬線和數(shù)據(jù)線，每一第一遮光金屬線至少分配兩對應之第一修補備用導線，該些第一修補備用導線至少與該些數(shù)據(jù)線和該些第一遮光金屬線擇一絕緣，該修補方法包括當該些數(shù)據(jù)線之一具有一缺陷時，將鄰近之第一遮光金屬線藉由對應之一對第一修補備用導線與具有該缺陷之數(shù)據(jù)線電連接，其中該對第一修補備用導線分別位于該缺陷之兩側(cè)。
22.如權(quán)利要求21所述的可修補數(shù)據(jù)線的缺陷的平面顯示器的修補方法，其中該些第一修補備用導線系延伸自該些數(shù)據(jù)線，該些第一修補備用導線與該些第一遮光金屬線之交錯點為修補點。
23.如權(quán)利要求22所述的可修補數(shù)據(jù)線的缺陷的平面顯示器的修補方法，其中將鄰近之第一遮光金屬線藉由對應之該對第一修補備用導線與具有該缺陷之數(shù)據(jù)線電連接的方法，包括利用激光熔融使該對第一修補備用導線與交錯之第一遮光金屬線電連接。
24.如權(quán)利要求21所述的可修補數(shù)據(jù)線的缺陷的平面顯示器的修補方法，其中該些第一修補備用導線系延伸自該些第一遮光金屬線，該些第一修補備用導線與該些數(shù)據(jù)線之交錯點為修補點。
25.如權(quán)利要求24所述的可修補數(shù)據(jù)線的缺陷的平面顯示器的修補方法，其中將鄰近之第一遮光金屬線藉由對應之該對第一修補備用導線與具有該缺陷之數(shù)據(jù)線電連接的方法，包括利用激光熔融使該對第一修補備用導線與交錯之數(shù)據(jù)線電連接。
26.如權(quán)利要求21所述的可修補數(shù)據(jù)線的缺陷的平面顯示器的修補方法，其中該些第一修補備用導線與該些數(shù)據(jù)線和該些第一遮光金屬線絕緣，該些第一修補備用導線與該些數(shù)據(jù)線及該些第一遮光金屬線之交錯點為修補點。
27.如權(quán)利要求26所述的可修補數(shù)據(jù)線的缺陷的平面顯示器的修補方法，其中將鄰近之第一遮光金屬線藉由對應之該對第一修補備用導線與具有該缺陷之數(shù)據(jù)線電連接的方法，包括利用激光熔融使該對第一修補備用導線與交錯之數(shù)據(jù)線及第一遮光金屬線電連接。
28.一種可修補數(shù)據(jù)線的缺陷的平面顯示器的修補方法，其中該可修補數(shù)據(jù)線的缺陷的平面顯示器包括多條柵極線與多條數(shù)據(jù)線，該些柵極訊號線和與該些柵極線相交之該些數(shù)據(jù)線系定義出多個像素區(qū)域；多個像素電極，分別位于該些像素區(qū)域內(nèi)；多條第一遮光金屬線，分別設(shè)置于每一像素區(qū)域內(nèi)之像素電極和數(shù)據(jù)線之間，且每一第一遮光金屬線彼此分開；多條第一修補備用導線，橫跨于相鄰之第一遮光金屬線和數(shù)據(jù)線，每一第一遮光金屬線至少分配兩對應之第一修補備用導線，該些第一修補備用導線至少與該些數(shù)據(jù)線和該些第一遮光金屬線擇一絕緣；多條第二遮光金屬線，分別設(shè)置于每一像素區(qū)域內(nèi)之像素電極和柵極線之間，且每一第二遮光金屬線彼此分開；以及多條第二修補備用導線，橫跨于相鄰之第二遮光金屬線和柵極線，每一第二遮光金屬線至少分配兩對應之第二修補備用導線，該些第二修補備用導線至少與該些柵極線和該些第二遮光金屬線擇一絕緣，該修補方法包括當該些數(shù)據(jù)線之一具有一第一缺陷時，將鄰近之第一遮光金屬線藉由對應之一對第一修補備用導線與具有該第一缺陷之數(shù)據(jù)線電連接，其中該對第一修補備用導線分別位于該第一缺陷之兩側(cè)；以及當該些柵極線之一具有一第二缺陷時，將鄰近之第二遮光金屬線藉由對應之一對第二修補備用導線與具有該第二缺陷之柵極線電連接，其中該對第二修補備用導線分別位于該第二缺陷之兩側(cè)。
29.如權(quán)利要求28所述的可修補數(shù)據(jù)線的缺陷的平面顯示器的修補方法，其中該些第一修補備用導線系延伸自該些數(shù)據(jù)線，該些第一修補備用導線與該些第一遮光金屬線之交錯點為修補點。
30.如權(quán)利要求29所述的可修補數(shù)據(jù)線的缺陷的平面顯示器的修補方法，其中將鄰近之第一遮光金屬線藉由對應之該對第一修補備用導線與具有該第一缺陷之數(shù)據(jù)線電連接的方法，包括利用激光熔融使該對第一修補備用導線與交錯之第一遮光金屬線電連接。
31.如權(quán)利要求28所述的可修補數(shù)據(jù)線的缺陷的平面顯示器的修補方法，其中該些第一修補備用導線系延伸自該些第一遮光金屬線，該些第一修補備用導線與該些數(shù)據(jù)線之交錯點為修補點。
32.如權(quán)利要求31所述的可修補數(shù)據(jù)線的缺陷的平面顯示器的修補方法，其中將鄰近之第一遮光金屬線藉由對應之該對第一修補備用導線與具有該第一缺陷之數(shù)據(jù)線電連接的方法，包括利用激光熔融使該對第一修補備用導線與交錯之數(shù)據(jù)線電連接。
33.如權(quán)利要求28所述的可修補數(shù)據(jù)線的缺陷的平面顯示器的修補方法，其中該些第一修補備用導線與該些數(shù)據(jù)線和該些第一遮光金屬線絕緣，該些第一修補備用導線與該些數(shù)據(jù)線及該些第一遮光金屬線之交錯點為修補點。
34.如權(quán)利要求33所述的可修補數(shù)據(jù)線的缺陷的平面顯示器的修補方法，其中將鄰近之第一遮光金屬線藉由對應之該對第一修補備用導線與具有該第一缺陷之數(shù)據(jù)線電連接的方法，包括利用激光熔融使該對第一修補備用導線與交錯之數(shù)據(jù)線及第一遮光金屬線電連接。
35.如權(quán)利要求28所述的可修補數(shù)據(jù)線的缺陷的平面顯示器的修補方法，其中該些第二修補備用導線系延伸自該些柵極線，該些第二修補備用導線與該些第二遮光金屬線之交錯點為修補點。
36.如權(quán)利要求35所述的可修補數(shù)據(jù)線的缺陷的平面顯示器的修補方法，其中將鄰近之第二遮光金屬線藉由對應之該對第二修補備用導線與具有該第二缺陷之柵極線電連接的方法，包括利用激光熔融使該對第二修補備用導線與交錯之第二遮光金屬線電連接。
37.如權(quán)利要求28所述的可修補數(shù)據(jù)線的缺陷的平面顯示器的修補方法，其中該些第二修補備用導線系延伸自該些第二遮光金屬線，該些第二修補備用導線與該些柵極線之交錯點為修補點。
38.如權(quán)利要求37所述的可修補數(shù)據(jù)線的缺陷的平面顯示器的修補方法，其中將鄰近之第二遮光金屬線藉由對應之該對第二修補備用導線與具有該第二缺陷之柵極線電連接的方法，包括利用激光熔融使該對第二修補備用導線與交錯之柵極線電連接。
39.如權(quán)利要求28所述的可修補數(shù)據(jù)線的缺陷的平面顯示器的修補方法，其中該些第二修補備用導線與該些柵極線和該些第二遮光金屬線絕緣，該些第二修補備用導線與該些柵極線及該些第二遮光金屬線之交錯點為修補點。
40.如權(quán)利要求39所述的可修補數(shù)據(jù)線的缺陷的平面顯示器的修補方法，其中將鄰近之第二遮光金屬線藉由對應之該對第二修補備用導線與具有該第二缺陷之柵極線電連接的方法，包括利用激光熔融使該對第二修補備用導線與交錯之柵極線及第二遮光金屬線電連接。
全文摘要
一種可修補數(shù)據(jù)線的缺陷的平面顯示器，系藉由配置于數(shù)據(jù)線旁的遮光金屬線以及跨于數(shù)據(jù)線/遮光金屬線的修補備用導線做為修補線，若是同一條數(shù)據(jù)線中具有多處斷線，均可以就近選擇適當之遮光金屬線和修補備用導線，配合激光熔融，使數(shù)據(jù)線繞過斷線處。該平面顯示器更可于柵極線旁配置遮光金屬線以及配置跨于柵極線/遮光金屬線的修補備用導線，如此亦可同時對柵極線斷線處進行修補。
文檔編號G09G3/36GK1527268SQ03106898
公開日2004年9月8日 申請日期2003年3月7日 優(yōu)先權(quán)日2003年3月7日
發(fā)明者李如龍, 林益祥 申請人:友達光電股份有限公司