專利名稱：圖像顯示裝置的制造方法以及光學(xué)顯示組件的制造方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及將包括偏振元件的光學(xué)膜的長條片卷繞而成的在缺陷部位或者缺陷周邊部位形成有標(biāo)記的輥狀卷料。進(jìn)ー步而言，本發(fā)明涉及將該輥狀卷料貼合到液晶単元等光學(xué)顯示組件而制造液晶顯示裝置等圖像顯示裝置的方法。
背景技術(shù)：
近年來，對于在液晶顯示裝置等圖像顯示裝置中使用的偏光板等光學(xué)膜而言，隨著液晶電視等的大畫面化，對于顯示特性要求有所加強(qiáng)，對于光學(xué)的缺陷的要求變得嚴(yán)格。針對該要求，采用利用人工目視或自動檢查裝置對光學(xué)的缺陷進(jìn)行檢測從而去除該缺陷的方法。另外，當(dāng)檢測到缺陷時，若通過對其位置信息進(jìn)行記錄從而將包含缺陷的部分從向光學(xué)顯示組件的貼合中去除，則能夠抑制光學(xué)膜所帯來的缺陷混入到作為最終制品的圖像顯示裝置，因此能夠減少光學(xué)膜的損失、降低進(jìn)行從包含缺陷的不合格品的光學(xué)顯示組件剝離光學(xué)膜的再加工處理的比率，從而能夠有利于提高成品率、降低成本。當(dāng)檢測到缺陷時，作為對其位置信息進(jìn)行記錄的方法，提出了一般利用墨液等對缺陷部位進(jìn)行標(biāo)記而印字的方法(例如，專利文獻(xiàn)I)、將關(guān)于缺陷檢測結(jié)果的信息作為條形碼、文字信息而電碼化井向膜印字的方法(例如，專利文獻(xiàn)2)、或?qū)⑾騃C芯片等記錄媒體記錄的內(nèi)容附加到光學(xué)膜制品上的方法(例如，專利文獻(xiàn)3)等。另外，當(dāng)如專利文獻(xiàn)1、2那樣向光學(xué)膜進(jìn)行印字時，該印字部位會因構(gòu)成標(biāo)記的墨液等的厚度相應(yīng)導(dǎo)致厚度増加(雖然厚度増加微小)。因此，當(dāng)卷繞光學(xué)膜而形成輥狀卷料時，印字部位的厚度的差異即凹凸變形因卷繞向與該印字部位相接的部分轉(zhuǎn)印，這導(dǎo)致產(chǎn)生印痕等變形，從而存在原本為合格品的部分產(chǎn)生新的缺陷的問題。基于抑制這種因轉(zhuǎn)印而產(chǎn)生缺陷的觀點，提出了在光學(xué)膜的有效寬度外即不是貼合到液晶単元等光學(xué)顯示組件上的部分的寬度方向的端部進(jìn)行印字的方法(例如，專利文獻(xiàn)4)。另外，除了對于缺陷的要求之外，對于圖像顯示裝置的成本降低的要求也逐年提高?；跐M足該要求的觀點，提出了如下的制造方法(專利文獻(xiàn)5)，S卩，具備從卷繞有長條的光學(xué)膜的輥狀卷料抽出光學(xué)膜進(jìn)行供給的供給機(jī)構(gòu)、沿輸送方向以規(guī)定間隔切斷光學(xué)膜的切斷機(jī)構(gòu)、將被切斷的光學(xué)膜與光學(xué)顯示組件貼合的貼合機(jī)構(gòu)，利用在連續(xù)的制造產(chǎn)線エ序上配置上述各機(jī)構(gòu)的生產(chǎn)線制造圖像顯示裝置(專利文獻(xiàn)5)。在這種構(gòu)造中，由于能夠從光學(xué)膜的輥狀卷料直接切斷加工成希望的大小，并將被切斷的光學(xué)膜貼合到光學(xué)顯示組件上，因此將以往的技術(shù)中將片狀制品沖裁成規(guī)定大小的光學(xué)膜再將沖裁后的光學(xué)膜嚴(yán)密地梱包、井向面板加工廠商交貨的方式變?yōu)閷⑤仩罹砹现苯訔y包交貨的方式，從而能夠有利于エ時、エ序構(gòu)件的削減。另外，在專利文獻(xiàn)5的制造方法中，若在利用切斷機(jī)構(gòu)切斷光學(xué)膜之前檢查缺陷并且進(jìn)行控制以不便包含缺陷的光學(xué)膜貼合到光學(xué)顯示組件，則能夠提高作為最終制品的圖像顯示裝置的成品率。在上述專利文獻(xiàn)5中提出在進(jìn)行缺陷檢查時，暫時將臨時附著在光學(xué)膜上的脫模膜(隔膜)剝離后進(jìn)行缺陷檢查，再次貼合隔膜。另外，通過事先進(jìn)行缺陷檢查并將該缺陷信息如前述的專利文獻(xiàn)I 4所公開的那樣記錄到輥狀卷料上，從而能夠在不剝離隔膜的狀態(tài)下從光學(xué)膜的輥狀卷料直接切斷加工成希望的大小，并將被切斷的光學(xué)膜貼合到光學(xué)顯示組件上?，F(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)專利文獻(xiàn)專利文獻(xiàn)I :日本特開平9-304295號公報專利文獻(xiàn)2 :日本專利第3974400號公報· 專利文獻(xiàn)3 :日本特開2008-32747號公報專利文獻(xiàn)4 :日本特開2005-62165號公報專利文獻(xiàn)5 W02008/047712號國際公開小冊子如上述專利文獻(xiàn)5所述，在從光學(xué)膜的輥狀卷料直接切斷加工成希望的大小并將被切斷的光學(xué)膜貼合到光學(xué)顯示組件的制造方法中，為了使提供的光學(xué)膜的輥狀卷料適合與光學(xué)顯示組件貼合，一般將其事先切縫成與光學(xué)顯示組件的大小一致的規(guī)定寬度。因此，輥狀卷料的寬度方向的全部與光學(xué)顯示組件貼合，從而構(gòu)成作為最終制品的圖像顯示裝置。因此，如專利文獻(xiàn)4所示，即使在對寬度方向的端部進(jìn)行印字的情況下，由于最終制品包含該部分，所以無法消除產(chǎn)生因轉(zhuǎn)印導(dǎo)致的印痕等問題。另外，如專利文獻(xiàn)3所述，根據(jù)不向光學(xué)膜進(jìn)行印字而將缺陷信息向輥狀卷料附加的方法，則不會出現(xiàn)上述那樣的因轉(zhuǎn)印導(dǎo)致產(chǎn)生缺陷的問題。然而，對于在光學(xué)膜制造時記錄關(guān)于缺陷檢測結(jié)果的位置信息的一方與將光學(xué)膜向光學(xué)顯示組件貼合以制造圖像顯示裝置時讀取關(guān)于缺陷檢測結(jié)果的位置信息的另一方的雙方而言，需要使缺陷檢測結(jié)果與光學(xué)膜的位置關(guān)系嚴(yán)格一致。因此，對于兩者的系統(tǒng)導(dǎo)入、測長器(檢尺計)的維護(hù)等需要很大的勞カ和成本，而且在關(guān)于缺陷檢測結(jié)果的位置信息的記錄與讀取產(chǎn)生不一致的情況下，存在出現(xiàn)合格品部分在未貼合到光學(xué)顯示組件的情況下被廢棄而將缺陷部分錯誤地向光學(xué)顯示組件貼合的問題的風(fēng)險。

發(fā)明內(nèi)容
基于該觀點，本發(fā)明的目的在于提供卷繞有將缺陷信息作為標(biāo)記而印字的光學(xué)膜并且難以因該標(biāo)記部位的凹凸變形的轉(zhuǎn)印而產(chǎn)生缺陷的輥狀卷料。本申請的發(fā)明人們經(jīng)過刻苦研究發(fā)現(xiàn)，在標(biāo)記的厚度與光學(xué)濃度為規(guī)定范圍的情況下，即使在缺陷的檢測精度高并且卷繞成輥狀卷料的情沉下，也難以產(chǎn)生因轉(zhuǎn)印造成印痕等問題，從而得出本發(fā)明。本發(fā)明涉及ー種圖像顯示裝置的制造方法，其將包含偏振元件的光學(xué)膜的單張體連續(xù)貼合在光學(xué)顯示組件上，該圖像顯示裝置的制造方法作為一系列連續(xù)的エ序來執(zhí)行以下エ序準(zhǔn)備通過將光學(xué)膜的長條片卷繞而形成且在至少ー個缺陷部位或者缺陷周邊部位形成有標(biāo)記的輥狀卷料的エ序；從所述輥狀卷料抽出光學(xué)膜的長條片制品的エ序；利用能夠識別所述標(biāo)記的有無的檢查機(jī)構(gòu)進(jìn)行檢測的標(biāo)記檢測エ序；將構(gòu)成所述光學(xué)膜的全部光學(xué)層或一部分光學(xué)層切斷成矩形的光學(xué)膜的單張體的切斷エ序；將所述光學(xué)膜的單張體貼合到光學(xué)顯示組件的基板上的貼合エ序，
所述輥狀卷料具有與所述光學(xué)顯示組件的長邊或短邊的長度對應(yīng)的寬度，而將光學(xué)膜的寬度方向的全部都作為與光學(xué)顯示組件貼合的制品部分供給，在所述切斷エ序中，所述光學(xué)膜的長條片通過按照沿著光學(xué)膜的長度方向的規(guī)定間隔沿著寬度方向切斷，而切斷成與光學(xué)顯示組件的大小一致的規(guī)定大小的矩形的光學(xué)膜的單張體，所述標(biāo)記的光學(xué)濃度為I. 5以上，并且標(biāo)記中央部的厚度為I. 5 μ m以下。另外，本發(fā)明涉及通過將包含偏振元件的光學(xué)膜的長條片卷繞而形成的、在至少一個缺陷部位或者缺陷周邊部位形成有標(biāo)記的輥狀卷料。在本發(fā)明的輥狀卷料中，標(biāo)記的光學(xué)濃度為1.5以上，并且標(biāo)記中央部的厚度為1.5μπι以下。另外，標(biāo)記的每單位厚度的光學(xué)濃度優(yōu)選為2. 5 μ m 1以上。在一個實施方式中，本發(fā)明的輥狀卷料的光學(xué)膜的寬度方向的全部都作為制品部分供給。作為該實施方式的ー個例子，當(dāng)將光學(xué)膜貼合到液晶単元等光學(xué)顯示組件上時，通過切縫等手段在不去除端部的狀態(tài)下將形成輥狀卷料的光學(xué)膜的整個寬度貼合到液晶單元上。發(fā)明效果根據(jù)本發(fā)明，由于標(biāo)記的厚度在規(guī)定范圍以下，所以即使在將光學(xué)膜卷繞成輥狀卷料的情況下，也難以因標(biāo)記部位的凹凸變形的轉(zhuǎn)印而導(dǎo)致產(chǎn)生缺陷。另外，由于標(biāo)記部位具有規(guī)定的光學(xué)濃度，所以標(biāo)記部位容易識別。因此，能夠保持標(biāo)記檢測率高，并且能夠去除包含標(biāo)記部位的光學(xué)膜以使其不與其他構(gòu)件組合，從而能夠有利于提高最終制品的成品率進(jìn)而降低成本。


圖I是表示光學(xué)膜的層疊形態(tài)的例子的簡要剖視圖。圖2是用于說明圖像顯示裝置的制造エ序的一個實施方式的示意圖。圖3是用于說明實施例的標(biāo)記方法以及標(biāo)記機(jī)構(gòu)的結(jié)構(gòu)的示意圖。圖4是用于說明對實施例的印痕產(chǎn)生率進(jìn)行評價時的光學(xué)膜的層疊形態(tài)的示意性首1]視圖。圖5是用于說明用來對實施例的標(biāo)記檢測率進(jìn)行評價的標(biāo)記檢測評價裝置的結(jié)構(gòu)的示意圖。符號說明I光學(xué)膜11偏振元件12a透明膜
12b透明膜13粘合劑層14脫模膜15表面保護(hù)膜21標(biāo)記201輥狀卷料301輥架臺302輸送輥
303標(biāo)記檢測機(jī)構(gòu)304切斷機(jī)構(gòu)305貼合機(jī)構(gòu)3031光源3032相機(jī)3033相機(jī)控制器Fl片狀制品W光學(xué)顯示組件
具體實施例方式〈光學(xué)膜的結(jié)構(gòu)〉以下，在參照適當(dāng)?shù)母綀D的基礎(chǔ)上說明本發(fā)明的優(yōu)選實施方式。圖I是表示構(gòu)成本發(fā)明的輥狀卷料的光學(xué)膜I的層疊形態(tài)的ー個例子的簡要剖視圖。光學(xué)膜I包含偏振元件11。偏振元件是指能夠?qū)⒆匀还狻⑵庾儞Q成任意的偏光的膜。作為在本發(fā)明中使用的偏振元件，雖然能夠采用任意的適當(dāng)?shù)钠裨?，但是?yōu)選采用將自然光或偏光變換成直線偏光的偏振兀件。[偏振元件]作為偏振元件，能夠根據(jù)目的采用任意的適當(dāng)?shù)钠裨??？梢粤信e出例如在聚こ烯醇系膜、部分縮甲醛化聚こ烯醇系膜、こ烯-こ酸こ烯酯共聚物系部分皂化膜等親水性高分子膜上吸附碘或二色性染料等二色性物質(zhì)并進(jìn)行單軸拉伸的膜、聚こ烯醇的脫水處理物或聚氯こ烯的脫鹽酸處理物等聚烯系取向膜等。另外，也可以使用美國專利5523863號等中公開的使含有二色性物質(zhì)和液晶性化合物的液晶性組合物按一定方向取向的客-主型的O型偏振元件、美國專利6049428號等中公開的使溶致液晶按一定方向取向的E型偏振元件等。在這種偏振元件中，基于具有高的偏光度的觀點、從與后述的偏振元件保護(hù)膜等的粘接性的觀點考慮，適合使用含有碘的聚こ烯醇系膜的偏振元件。光學(xué)膜可以包含偏振兀件以外的任意的光學(xué)層。作為這種光學(xué)層，例如可以列舉出在偏振元件11的單面或雙面層疊的作為偏振元件保護(hù)膜的透明膜12a、12b。作為這種透明膜12a、12b的材料，例如適合使用透明性、機(jī)械強(qiáng)度、熱穩(wěn)定性、水分隔斷性、各向同性等優(yōu)越的熱可塑性樹脂。偏振元件與作為偏振元件保護(hù)膜的透明膜優(yōu)選經(jīng)由粘接劑層進(jìn)行層疊。[其他光學(xué)層]
作為除上述以外能夠構(gòu)成光學(xué)膜的光學(xué)層，例如可以列舉出在所述透明膜的未層疊偏振元件11的面上施加硬涂層、反射防止處理、以防止粘連、擴(kuò)散或者防眩為目的的處理后的材料。此外還可列舉出亮度提高膜、反射層、相位差板等(未圖示)。另外，作為偏振元件保護(hù)膜能夠適合使用兼有相位差板的功能的材質(zhì)。(粘合劑層)而且，在光學(xué)膜I的一個主面也能夠設(shè)置用于將光學(xué)顯示組件貼合的粘合劑層
13。對形成粘合劑層13的粘合劑沒有特殊的限制，可以適當(dāng)選擇使用將例如丙烯酸系聚合物、硅酮系聚合物、聚酯、聚氨酷、聚酰胺、聚醚、氟系或橡膠系等聚合物作為基礎(chǔ)聚合物的物質(zhì)。特別是，能夠優(yōu)選使用如丙烯酸系粘合劑那樣的光學(xué)的透明性優(yōu)越、顯示出適度的潤濕性、凝聚性、粘接性的粘合特性且耐候性、耐熱性等優(yōu)越的材料。(脫模膜) 關(guān)于粘合劑層13的露出面，在提供給實際使用之前的期間，基于防止其受到污染等目的優(yōu)選臨時附著覆蓋脫模膜(隔膜)14。由此，能夠防止在通常的處理狀態(tài)下與粘合劑層接觸。作為脫模膜14，能夠使用以往的適當(dāng)?shù)牟牧?，例如根?jù)需要利用硅酮系、長鏈烷基系、氟系、硫化鑰等適當(dāng)?shù)膭冸x劑對塑料膜、橡膠片、紙、布、無紡布、網(wǎng)、泡沫片或金屬片、它們的壓合體等適當(dāng)?shù)谋∑w進(jìn)行涂布處理后的材料等。(表面保護(hù)膜)此外，為了防止在將光學(xué)膜提供到實際使用之前的期間產(chǎn)生光學(xué)膜的損傷等的目的，可以在臨時附著有脫模膜14的部分的相反側(cè)的光學(xué)膜I的主面上臨時附著表面保護(hù)膜15。表面保護(hù)膜15適合使用在由塑料膜構(gòu)成的基材膜的單面具有可剝離地貼附的輕剝離性的弱粘合劑層的材料。對于表面保護(hù)膜的基材膜沒有特殊限制，例如，優(yōu)選能夠使用聚丙烯、聚酯等雙軸拉伸膜。對于基材膜的厚度沒有限制，適合為10 200μπι左右。對于構(gòu)成用于將表面保護(hù)膜臨時附著到光學(xué)膜的弱粘合劑層的粘合劑沒有特殊限制，例如也能夠使用丙烯酸系、合成橡膠系、橡膠系中的任意ー種粘合剤，它們之中優(yōu)選通過組成更容易控制粘合力的丙烯酸系粘合剤。對于粘合劑，根據(jù)需要能夠適當(dāng)使用交聯(lián)齊U、增粘劑、增塑劑、填充劑、氧化防止劑、紫外線吸收劑、硅烷偶合劑等?！礃?biāo)記的形成〉在構(gòu)成本發(fā)明的輥狀卷料的光學(xué)膜上的缺陷部位或缺陷周邊部位形成有標(biāo)記21。缺陷是指例如異物、氣泡或污垢等包含本來不應(yīng)包含于光學(xué)膜上的外來物的部分；或印痕、損傷、凹凸缺陷、扭曲、褶皺等變形部分等，當(dāng)形成將發(fā)光學(xué)膜貼合到光學(xué)顯示組件上的圖像顯示裝置時能夠使其顯示狀態(tài)產(chǎn)生不良的部分。這種缺陷使用例如基于目視的缺陷檢查或使用公知的缺陷檢測裝置等缺陷檢測機(jī)構(gòu)進(jìn)行檢測，在缺陷部位或者缺陷周邊部位形成標(biāo)記21。缺陷部位是指，寬度方向及長度方向的坐標(biāo)與光學(xué)膜的缺陷的位置大致相同的部位。另外，缺陷周邊部位是指，在為了將光學(xué)膜貼合到光學(xué)顯示組件而將其切斷成規(guī)定大小的單張體的情況下，單張體所包含的與缺陷部位相同的范圍。本發(fā)明的輥狀卷料采用從輥狀卷料直接抽出光學(xué)膜以將其切斷加工成希望的大小并將被切斷的光學(xué)膜貼合到光學(xué)顯示組件的制造方法的情況下，缺陷部位與標(biāo)記部位的長度方向的坐標(biāo)的差異優(yōu)選為±200mm以內(nèi)，更加優(yōu)選為± IOOmm以內(nèi)，進(jìn)一步優(yōu)選為± 50mm以內(nèi)，特別優(yōu)選為± IOmm以內(nèi)。需要說明的是,對于寬度方向的坐標(biāo)的差異沒有特殊限制，例如，如寬度方向的端部那樣在從缺陷部位向膜寬度方向移動的規(guī)定位置形成標(biāo)記即可。向光學(xué)膜的標(biāo)記可以在構(gòu)成光學(xué)膜任意的光學(xué)層上形成，也可以在光學(xué)膜制造エ序的任意步驟形成標(biāo)記。例如，可以利用缺陷檢測機(jī)構(gòu)對在層疊成光學(xué)膜之前的各光學(xué)層的缺陷進(jìn)行檢測，并在各光學(xué)層形成標(biāo)記，也可以在層疊各光學(xué)層而形成光學(xué)膜之后在光學(xué)膜的最表面形成標(biāo)記。另外，也能夠利用缺陷檢測機(jī)構(gòu)檢測在將脫模膜或表面保護(hù)膜臨時附著之前的光學(xué)膜的缺陷，在脫模膜或表面保護(hù)膜上形成標(biāo)記之后進(jìn)行臨時附著。這種情況下，以對應(yīng)于光學(xué)膜的缺陷的位置的方式對脫模膜或表面保護(hù)膜形成標(biāo)記。脫模膜或表面保護(hù)膜是為了在與光學(xué)顯示組件貼合時或貼合后被去除而不包含于作為最終制品的圖像顯示裝置中的エ序構(gòu)件。因此，若在將脫模膜或表面保護(hù)膜臨時附著之前檢測缺陷并形成標(biāo)記，由于未對因エ序構(gòu)件導(dǎo)致的缺陷形成標(biāo)記，所以能夠抑制就連在形成圖像顯示裝置時不成為顯示缺 陷的合格品部分也形成標(biāo)記，從而能夠提高光學(xué)膜的成品率。當(dāng)對將脫模膜、表面保護(hù)膜等的エ序構(gòu)件臨時附著之前的光學(xué)膜的缺陷進(jìn)行檢測時，可以在將エ序構(gòu)件臨時附著之前的光學(xué)膜上形成標(biāo)記，也可以在缺陷檢測后臨時附著エ序構(gòu)件并在エ序構(gòu)件上形成標(biāo)記。進(jìn)ー步而言，還可以在將エ序構(gòu)件臨時附著之前所進(jìn)行的光學(xué)膜的缺陷檢測的同時或缺陷檢測之后，在對應(yīng)于缺陷檢測位置的エ序構(gòu)件的部位上形成標(biāo)記。關(guān)于標(biāo)記，例如能夠通過利用與筆等標(biāo)記機(jī)構(gòu)接觸的印字方式、與墨液噴頭等標(biāo)記機(jī)構(gòu)非接觸的印字方式等各種公知的方法形成。另外，在利用缺陷檢測機(jī)構(gòu)檢測到缺陷的情況下，可以利用警報音、光等通知而人工進(jìn)行標(biāo)記，也可以通過利用適當(dāng)?shù)目刂茩C(jī)構(gòu)使缺陷檢測機(jī)構(gòu)與標(biāo)記機(jī)構(gòu)連動，在缺陷部位或者缺陷周邊部位自動地形成標(biāo)記。另外，還可以將它們并用。特別是，基于使標(biāo)記的形狀、厚度保持恒定的觀點考慮，優(yōu)選在缺陷部位或者缺陷周邊部位自動地形成標(biāo)記。在構(gòu)成本發(fā)明的輥狀卷料的光學(xué)膜中，所述標(biāo)記21的中央部的厚度為I. 5μπι以下。標(biāo)記的厚度能夠通過光干渉式表面粗糙度計測定，“標(biāo)記中央部”是指標(biāo)記整體中標(biāo)記厚度最大的部分。另外，“標(biāo)記的中央部的厚度”是指，將通過該標(biāo)記中央部并且與標(biāo)記長邊方向正交的剖面的剖面面積除以該標(biāo)記剖面的底邊(與膜面的交線)的長度后的值。需要說明的是，對于標(biāo)記的厚度的測定方法的詳細(xì)內(nèi)容將在后述的實施例中進(jìn)行說明。若標(biāo)記的厚度過大，在將光學(xué)膜卷繞成輥狀卷料的情況下，由于標(biāo)記部位的變形向因卷繞而與該標(biāo)記部位相接的部分轉(zhuǎn)印，因此產(chǎn)生印痕等變形，從而產(chǎn)生新的缺陷的概率增高?；谠撚^點，標(biāo)記的厚度優(yōu)選為1.2μπι以下，更優(yōu)選為Ι.Ομπι以下，特別優(yōu)選為O. 8 μ m以下?；谝种埔驑?biāo)記部位的變形的轉(zhuǎn)印而導(dǎo)致產(chǎn)生缺陷的觀點，優(yōu)選標(biāo)記的中央部的厚度小，但是若過小則存在后述的光學(xué)濃度降低、標(biāo)記檢測機(jī)構(gòu)的標(biāo)記檢測率降低的傾向。基于該觀點，標(biāo)記的厚度優(yōu)選為O. 3μπι以上，更加優(yōu)選為O. 5μπι以上。對于標(biāo)記的厚度，能夠通過用于形成標(biāo)記的筆、噴墨噴頭等標(biāo)記機(jī)構(gòu)的種類、作為標(biāo)記機(jī)構(gòu)的筆與光學(xué)膜的接觸壓(筆壓)、從作為標(biāo)記機(jī)構(gòu)的墨液噴嘴所噴出的墨液的液滴大小、墨液濃度等進(jìn)行調(diào)整。另外，在邊輸送膜邊形成標(biāo)記的情況下，通過變更膜的輸送速度能夠調(diào)整標(biāo)記的厚度。此外，構(gòu)成本發(fā)明的棍狀卷料的光學(xué)膜中，標(biāo)記的光學(xué)濃度優(yōu)選為I. 5以上。光學(xué)濃度是指，當(dāng)使用微小分光光度計測定標(biāo)記部位的吸收光譜時，吸收峰波長的吸光度。即，“光學(xué)濃度高”是指，標(biāo)記部位的吸收峰波長的吸光度大，若光學(xué)濃度高，則具有標(biāo)記檢測機(jī)構(gòu)的標(biāo)記檢測率增高的傾向?；趯υ跇?biāo)記檢測エ序中膜的輸送速度増大的情況下標(biāo)記檢測率降低進(jìn)行抑制的觀點，標(biāo)記的光學(xué)濃度優(yōu)選為2. O以上，更加優(yōu)選為2. 5以上，進(jìn)ー步優(yōu)選為3. O以上，特別優(yōu)選為3. 5以上。需要說明的是，對光學(xué)濃度的測定方法的詳細(xì)內(nèi)容將在后述的實施例中進(jìn)行說明。標(biāo)記的每單位厚度的光學(xué)濃度是指，將光學(xué)濃度除以所述標(biāo)記的厚度后的值?；谌缜笆瞿菢舆吺箻?biāo)記的厚度為規(guī)定范圍以下邊增大光學(xué)濃度以提高標(biāo)記檢測率的觀點，優(yōu)選標(biāo)記的每單位厚度的光學(xué)濃度高。標(biāo)記的每單位厚度的光學(xué)濃度優(yōu)選為2. 5 μ HT1以上，更加優(yōu)選為2.8 4 1^1以上，進(jìn)ー步優(yōu)選為3.0 μ πΓ1以上，特別優(yōu)選為3. Synr1以上?；?于提高每標(biāo)記的単位厚度的光學(xué)濃度的觀點，優(yōu)選采用適當(dāng)?shù)臉?biāo)記機(jī)構(gòu)。作為這種標(biāo)記機(jī)構(gòu)的材料可以列舉出各種墨液等，但是尤其優(yōu)選使用吸光系數(shù)高的材料。作為這種吸光系數(shù)高的墨液，例如能夠適合使用吸收光譜的吸收峰陡峭且光譜寬度(半值寬度)小的墨液。這種吸光特性能夠通過適當(dāng)?shù)臋C(jī)構(gòu)進(jìn)行評價。例如在使用市場上出售的筆作為標(biāo)記機(jī)構(gòu)的情況下，能夠利用該筆在透明膜上描畫線條并對該描畫部分的吸光光譜進(jìn)行測定以評價吸光特性。在這樣在作為實際制品的光學(xué)膜上形成標(biāo)記之前，若事先評價吸光特性，則能夠在不經(jīng)過過度的嘗試錯誤的前提下形成具有希望的光學(xué)濃度的標(biāo)記。如上所述，本發(fā)明的輥狀卷料中，通過減小光學(xué)膜的標(biāo)記的厚度，可以防止將光學(xué)膜卷繞成輥狀卷料時的轉(zhuǎn)印導(dǎo)致產(chǎn)生印痕等缺陷，并通過提高標(biāo)記的每單位厚度的光學(xué)濃度，能提高標(biāo)記檢測機(jī)構(gòu)的檢測率即抑制漏檢。若標(biāo)記的吸收波長區(qū)域、吸收峰波長是在標(biāo)記檢測機(jī)構(gòu)能夠感知的范圍內(nèi)，則沒有特殊的限制，不僅可以為可視光區(qū)域(380nm 780nm)，也可以是紫外光區(qū)域、紅外光區(qū)域。例如，由于偏振元件吸收可視光捕捉區(qū)間的光，所以對于包含偏振元件的光學(xué)膜而言，存在與透明膜的情況相比標(biāo)記難以被檢測到的傾向，但是若標(biāo)記的吸收波長波峰存在于偏振元件的吸光度小的波長區(qū)域內(nèi)，則能夠提高標(biāo)記檢測靈敏度。另外，關(guān)于標(biāo)記檢測機(jī)構(gòu)，對于廣泛使用的硅系的探測器而言，標(biāo)記的吸收峰波長優(yōu)選在可視光區(qū)域內(nèi)。另外，基于利用目視能夠確認(rèn)標(biāo)記的觀點，也優(yōu)選標(biāo)記的吸收峰波長在可視光區(qū)域內(nèi)。尤其是，基于提高目視的可視性的觀點，標(biāo)記的吸收峰波長優(yōu)選在500nm 600nm的范圍內(nèi)。由于500nm 600nm在光譜中對應(yīng)于藍(lán)綠 綠 黃 橙,所以在該波長區(qū)域具有吸收的情況下，透過光或反射光相當(dāng)于作為其互補(bǔ)色的紅 紫 藍(lán)的光。由于人的視覺對黃 黃綠最為敏感，所以若500 600nm的波長區(qū)域的光的量大，則難以通過目視識別標(biāo)記與沒有吸收的周邊部分的差異。對此，若在該波長區(qū)域存在吸收峰，即使在吸光度即光學(xué)濃度相對小的情況下，也容易通過目視識別標(biāo)記的存在。<輥狀卷料的形成>如此形成有標(biāo)記的光學(xué)膜經(jīng)過卷繞而形成輥狀卷料。更加具體而言，通過以規(guī)定直徑的卷芯為中心且以規(guī)定的張力卷繞片狀制品來制造棍狀卷料。
上述卷芯的外徑一般為70mm以上，優(yōu)選為150mm以上。若該卷芯的外徑過小，由于卷芯附近的曲率變大，所以存在在臨時附著于光學(xué)膜的脫模膜或表面保護(hù)膜上產(chǎn)生剝落等問題的情況。另外，因為卷繞后的輥狀卷料的外徑存在上限，所以若卷芯的外徑過大，會導(dǎo)致能夠卷繞到卷芯的片狀制品的長度變短?；谠撚^點，以使卷繞光學(xué)膜后的輥狀卷料的外徑(卷徑)成為1500mm以下、優(yōu)選為IOOOmm以下的方式選擇卷芯的外徑。向卷芯進(jìn)行卷繞時對光學(xué)膜施加的張カ(纏繞張力)優(yōu)選為50N/m以上，更優(yōu)選為100N/m以上。若張カ過小，則存在無法向卷芯良好地卷繞的情況。反之，若纏繞張カ過大，則由于標(biāo)記的凹凸向因卷繞與標(biāo)記部位相接的部分轉(zhuǎn)印，造成容易產(chǎn)生印痕等變形的傾向，所以纏繞張力優(yōu)選為300N/m以下，進(jìn)ー步優(yōu)選為200N/m以下。而且，本發(fā)明的輥狀卷料優(yōu)選具有與最終制品的大小適合的寬度。所謂最終制品，典型是指以液晶顯示裝置為代表的圖像顯示裝置，通過將從輥狀卷料抽出的光學(xué)膜與液晶単元等圖像顯示単元貼合而形成。一般由于輥狀卷料與光學(xué)顯示組件的大小相比其寬度 大，所以為了形成與最終制品的大小適當(dāng)?shù)膶挾?，要與光學(xué)顯示組件的大小適合地切縫成規(guī)定大小。需要說明的是，用于形成這種規(guī)定大小的切縫，能夠在光學(xué)膜的制造エ序中進(jìn)行，從而形成切縫成所述規(guī)定大小的輥狀卷料。另外，暫時將寬度大的光學(xué)膜作為輥狀卷料卷繞之后，能夠在從寬度大的輥狀卷料抽出光學(xué)膜并切縫成規(guī)定大小之后再次卷繞到卷芯，以作為切縫成規(guī)定大小的輥狀卷料。<圖像顯示裝置的形成>本發(fā)明的輥狀卷料能夠優(yōu)選用于形成液晶顯示裝置、有機(jī)EL顯示裝置、PDP等圖像顯示裝置。對于圖像顯示裝置的形成，能夠基于以往來進(jìn)行。例如，若圖像顯示裝置為液晶顯示裝置，能夠通過將液晶単元(相當(dāng)于光學(xué)顯示組件)與光學(xué)膜以及根據(jù)需要的照明系統(tǒng)等構(gòu)成構(gòu)件適當(dāng)?shù)亟M裝并裝入驅(qū)動電路等而形成。作為液晶単元，能夠使用例如TN型、STN型、π型等任意類型的構(gòu)件。而且，當(dāng)形成液晶顯示裝置時，能夠?qū)⒗缋忡R陣列片、透鏡陣列片、光擴(kuò)散板、背光等適當(dāng)?shù)臉?gòu)件配置在適當(dāng)?shù)奈恢谩Ｓ捎诒景l(fā)明的輥狀卷料在缺陷部位或者缺陷周邊部位形成有標(biāo)記，所以圖像顯示裝置的制造優(yōu)選利用僅將光學(xué)膜的未形成有標(biāo)記的部分貼合到光學(xué)顯示組件的方法。尤其是，根據(jù)削減圖像顯示裝置的制造所花費的成本并提高成品率的觀點，優(yōu)選作為一系列連續(xù)的エ序來執(zhí)行從輥狀卷料抽出光學(xué)膜的長條片制品并利用能夠識別標(biāo)記的有無的檢查機(jī)構(gòu)進(jìn)行檢測的標(biāo)記檢測エ序、使用切斷機(jī)構(gòu)沿光學(xué)膜的寬度方向?qū)⒐鈱W(xué)膜切斷并將光學(xué)膜切斷成用于貼合到光學(xué)顯示組件的基板上的大小的切斷エ序、將被切斷成用于貼合到光學(xué)顯示組件的基板上的大小的光學(xué)膜貼合到所述基板上的貼合エ序。在這種基于連續(xù)的エ序的制造方法中，能夠以從制品中去除在標(biāo)記檢測エ序中檢測到標(biāo)記的部分的方式執(zhí)行切斷エ序，或者通過將檢測到標(biāo)記的部分貼合到光學(xué)顯示組件的基板之外從而僅將未形成有標(biāo)記的部分貼合到光學(xué)顯示組件。圖2是表示本發(fā)明的圖像顯示裝置的制造エ序的一個例子的示意圖。以下，參照適當(dāng)?shù)母綀D依次說明各エ序。(I)標(biāo)記檢測エ序形成有標(biāo)記的光學(xué)膜的輥狀卷料201以自由旋轉(zhuǎn)或以一定的旋轉(zhuǎn)速度旋轉(zhuǎn)的方式設(shè)置在與電動機(jī)等連動的輥架臺301上。從輥狀卷料201抽出光學(xué)膜的片狀制品Fl并向下流側(cè)輸送。作為輸送裝置，適合使用具備多個輸送輥302并沿由這些輸送輥形成的輸送路徑輸送片狀制品Fl的結(jié)構(gòu)。該輸送路徑從輥狀卷料的抽出部分延伸到與光學(xué)顯示組件貼合的部分。被抽出的光學(xué)膜的片狀制品Fl由標(biāo)記檢測機(jī)構(gòu)303檢測標(biāo)記的有無。作為標(biāo)記的檢測方法，適合使用向片狀制品照射光并能夠通過減小在標(biāo)記部位的透過光或者反射光的強(qiáng)度而識別標(biāo)記的有無的結(jié)構(gòu)。在圖2中示出作為標(biāo)記檢測機(jī)構(gòu)303的向片狀制品Fl照射光并通過檢測該透過光強(qiáng)度而檢測標(biāo)記的結(jié)構(gòu)。在該圖示例子中，標(biāo)記檢測機(jī)構(gòu)303具備光源3031、相機(jī)3032、相機(jī)控制器3033。由光源3031射出的光照射到片狀制品Fl上，其透過光入射到相機(jī)3032內(nèi)。相機(jī)3032具備適當(dāng)?shù)耐哥R，是如CXD相機(jī)那樣能夠針對每個位置(像素)檢測入射光的強(qiáng)度的光學(xué)元件。利用相機(jī)檢測到的各像素的入射光強(qiáng)度的信息向相機(jī)控制器3033發(fā)送。相機(jī)控制器將利用相機(jī)檢測到的入射光強(qiáng)度變換為規(guī)定灰度(例如黒白8位=256灰度)的信號。
在光學(xué)膜的形成有標(biāo)記的部分由于具有規(guī)定的光學(xué)濃度，所以與周邊部分相比來自光源3031的光的透過光強(qiáng)度變小。因此，在標(biāo)記部位與其周邊部分，透過光強(qiáng)度的灰度不同。相機(jī)控制器3033，計算透過光強(qiáng)度低的部分的透過光強(qiáng)度的灰度X與其周邊部分的透過光強(qiáng)度的灰度Y的差Y-X，當(dāng)Y-X比預(yù)先設(shè)定的閾值大吋，則將該透過光強(qiáng)度低的部分判定為“具有標(biāo)記”。另外，當(dāng)Y-X比閾值小時，則判定為透過光強(qiáng)度比周邊部分小是由于噪音導(dǎo)致的，將該部分判定為“沒有標(biāo)記”。若將閾值設(shè)定得過高，標(biāo)記檢測率變小，若將閾值設(shè)定得過低，則存在近于噪音的誤檢測(過檢測)増加的傾向，所以閾值優(yōu)選配合光源的光譜特性、相機(jī)的特性等適當(dāng)?shù)卦O(shè)定。并且，相機(jī)控制器3033算出被判定為“具有標(biāo)記”的部分的位置坐標(biāo)。需要說明的是，所算出的位置坐標(biāo)只要是片狀制品的輸送方向的坐標(biāo)即可。通過將該標(biāo)記的位置坐標(biāo)提供給后述的切斷エ序的跳過切斷或排除機(jī)構(gòu)，能夠僅將未形成有標(biāo)記的部分貼合到光學(xué)顯示組件，以形成圖像顯示裝置。當(dāng)使用本發(fā)明的輥狀卷料時，由于光學(xué)膜的標(biāo)記部位具有規(guī)定的光學(xué)濃度，所以標(biāo)記檢測エ序中的標(biāo)記檢測率增高，即標(biāo)記未被檢測到的概率降低，所以能夠事先抑制含有標(biāo)記的光學(xué)膜被貼合到光學(xué)顯不組件上。(2)切斷エ序在標(biāo)記檢測エ序中，在判斷了標(biāo)記的有無之后，片狀制品Fl在切斷エ序中由切斷機(jī)構(gòu)304切斷成與光學(xué)顯示組件的大小一致的規(guī)定大小。作為切斷機(jī)構(gòu)304，例如，可以列舉出激光裝置、切刀、其他的公知的切斷機(jī)構(gòu)等。在此，若輥狀卷料201被事先切縫成適合于光學(xué)顯示組件的大小的規(guī)定寬度即與光學(xué)顯示組件的長邊或短邊對應(yīng)的長度，由于在切斷エ序中沿輸送方向(片狀制品的長度方向)以規(guī)定間隔進(jìn)行切斷，所以能夠?qū)⑵瑺钪破非袛喑蛇m合于光學(xué)顯示組件的大小的規(guī)定大小。(基于全切的切斷)在切斷エ序中，能夠采用將構(gòu)成光學(xué)膜的全部的光學(xué)層完全切斷(全切)的方法。關(guān)于基于全切方式的切斷，是利用吸附裝置等適當(dāng)?shù)墓潭C(jī)構(gòu)(未圖示)將輸送來的片狀制品Fl固定，并利用切斷機(jī)構(gòu)304沿與輥狀卷料的卷芯平行的寬度方向?qū)?gòu)成光學(xué)膜的所有構(gòu)件切斷。在保持被切斷的片狀制品由固定機(jī)構(gòu)固定的狀態(tài)下，將其向貼合機(jī)構(gòu)305輸送。(基于半切的切斷)另外，也可以使一部分的光學(xué)層成為未切斷的狀態(tài)(半切)。作為這種半切的切斷形態(tài)的ー個例子，作為光學(xué)膜1，如圖I所示，以具有在偏振元件11的兩面分別層疊透明膜12a、12b、在其中ー個面上層疊表面保護(hù)膜15而在另一個面上層疊粘合劑層13及脫模膜14的結(jié)構(gòu)的情況為例進(jìn)行說明。切斷機(jī)構(gòu)304在不切斷脫模膜14的狀態(tài)下，沿與輥狀卷料的卷芯平行的寬度方向切斷表面保護(hù)膜15、偏振元件11及在其兩面上層疊的透明膜12a、12b以及粘合劑層13。這樣，由于不切斷作為未貼合 到光學(xué)顯示組件的エ序構(gòu)件的脫模膜，基于輸送裝置的輸送張カ經(jīng)由脫模膜14傳遞到切斷后的片狀制品，所以即使在切斷后也能夠利用輸送張カ向貼合機(jī)構(gòu)305輸送片狀制品。(跳過切斷方式)并且，在標(biāo)記檢測エ序中，當(dāng)以從制品去除被檢測到標(biāo)記的部分的方式進(jìn)行切斷エ序時，利用標(biāo)記檢測機(jī)構(gòu)得到的標(biāo)記的位置坐標(biāo)被提供到切斷エ序，根據(jù)其坐標(biāo)信息，以避開標(biāo)記部位的方式進(jìn)行切斷エ序(跳過切斷)。即，包含缺陷部分的切斷品作為不合格品在后續(xù)エ序中由排除機(jī)構(gòu)排除。由此，光學(xué)膜的成品率能夠大幅度提高。包含標(biāo)記部位的片狀制品Fl由排除機(jī)構(gòu)(未圖示)排除，并且不會被貼合到光學(xué)顯示組件W上。另外，也可以不進(jìn)行上述那樣的跳過切斷，S卩，無視標(biāo)記的存在而將片狀制品Fl連續(xù)地切斷成規(guī)定大小。在這種情況下，在后述的貼合エ序中，優(yōu)選以不將該部分貼合到光學(xué)顯示組件W的方式將其去除。⑶貼合エ序在切斷エ序中切斷成規(guī)定大小的片狀制品F1，在貼合エ序中利用貼合機(jī)構(gòu)305經(jīng)由粘合劑層與光學(xué)顯示組件貼合。當(dāng)在片狀制品Fl上臨時附著有脫模膜時，要事先去除脫模膜或邊去除邊貼合。當(dāng)在前述的切斷エ序中采用全切方式時，從粘合帶的輥抽出粘合帯，并用輥邊壓緊邊將粘合帶貼到脫模膜上，從而能夠通過卷繞粘合帶的方法等將脫模膜去除，以剝離脫模膜。另外，當(dāng)在前述的切斷エ序采用半切方式時，能夠邊利用適當(dāng)?shù)木砝@機(jī)構(gòu)將未被切斷的光學(xué)層(例如脫模膜)卷繞成輥狀邊剝離脫模膜的方法等去除脫模膜。需要說明的是，脫模膜的剝離可以人工進(jìn)行，也可以使用公知的脫模膜剝離裝置進(jìn)行。對于片狀制品Fl向光學(xué)顯示組件的貼合，能夠適合采用通過例如按壓輥、引導(dǎo)輥那樣ー根或多根輥的按壓將片狀制品Fl邊向光學(xué)顯示組件面壓接邊進(jìn)行貼合的方法。通過將包含標(biāo)記部位的片狀制品貼合到例如臨時板単元(未圖示)上，或者通過將其卷繞到適當(dāng)?shù)妮伾?，從而能夠在不貼合到光學(xué)顯示組件的情況下將其去除。另外，當(dāng)采用半切方式時，能夠在保持貼合在未被切斷的光學(xué)層(例如脫模膜)上的狀態(tài)下，通過用于將該光學(xué)層卷繞的卷繞機(jī)構(gòu)將其卷繞。通過以上所述的エ序，無需以光學(xué)膜被切斷成規(guī)定大小的單張體進(jìn)行處理(handling)，從而能夠提高生產(chǎn)效率。另外，能夠?qū)⒃谝酝膱D像顯示裝置的制造過程中在光學(xué)膜制造廠商與面板加工廠商分別進(jìn)行的偏光板的定長切斷和向光學(xué)顯示組件的貼合變?yōu)樵讴`個場所連續(xù)地進(jìn)行，所以無需光學(xué)膜制造廠商的偏光板的端面加工、清潔包裝、運送梱包或面板加工廠商的梱包拆開，從而能夠有利于成本降低及成品率的提高。
(實施例)以下，雖然列舉出實施例對本發(fā)明進(jìn)行說明，但是本發(fā)明不限于下述的實施例。[光學(xué)膜]作為光學(xué)膜，使用卷繞有如下材料的輥狀卷料，S卩，在由碘染色的聚こ烯醇系膜構(gòu)成的偏振元件的兩面上層疊有作為偏振元件保護(hù)膜的透明膜，在偏光板的一側(cè)的偏振元件保護(hù)膜表面設(shè)有丙烯酸系的粘合劑層，在該粘合劑層臨時附著有用硅酮系剝離劑涂布處理過的由聚對苯ニ甲酸こニ醇酯膜構(gòu)成的隔膜(日東電エ公司制商品名“NPF VEG1724DU”)。[標(biāo)記的形成]在光學(xué)膜的未設(shè)有粘合劑層側(cè)的偏振元件保護(hù)膜的表面，使用如圖3所示的標(biāo)記機(jī)構(gòu)403形成有長度20mm的標(biāo)記。在圖3中，使用夾持(nip)驅(qū)動的輥對402以IOm/分鐘的輸送速度從未施加標(biāo)記的光學(xué)膜的棍狀卷料401抽出光學(xué)膜，并將其引導(dǎo)成在200mm 的間隔設(shè)置的支承輥403a及403b上通過光學(xué)膜的粘合層側(cè)。標(biāo)記機(jī)構(gòu)403具備由伺服電動機(jī)驅(qū)動的致動器4031，在致動器4031的前端的保持架4032安置有筆4033。利用致動器的動作，筆4033上下運動，當(dāng)進(jìn)行標(biāo)記時，筆4033以筆尖在距離光學(xué)膜的保護(hù)膜表面的高度為-5mm的高度以60°的角度接觸的方式向下方移動。(比較例I)在圖3的標(biāo)記機(jī)構(gòu)中，作為筆4033，使用“ Pilot (パイロツ卜)”公司制的黑色油性筆(商品名“ V超級色彩(スーパー力ラー)”)形成了寬度5mmX長度20mm的標(biāo)記。該標(biāo)記作為“標(biāo)記A”。(比較例2)在圖3的標(biāo)記機(jī)構(gòu)中，作為筆4033，使用“Shachihata(シヤチハタ)”公司制的黑色油性筆(商品名“潤芯”)形成了寬度5mmX長度20mm的標(biāo)記。該標(biāo)記作為“標(biāo)記B”。(比較例3)在圖3的標(biāo)記機(jī)構(gòu)中，作為筆4033，使用“ Shachihata”公司制的黑色油性筆(商品名“潤芯”)形成了寬度5mmX長度20mm的標(biāo)記。但是，在比較例3中是使用在筆蓋開放的狀態(tài)室溫(22°C )放置48小時后的筆。該標(biāo)記作為“標(biāo)記C”。(實施例I)在圖3的標(biāo)記機(jī)構(gòu)中，作為筆4033，使用“ Staedtler(ステツドラー)’’公司制的黒色油性筆(商品名“ LUMO-Color (ルモカラー)，，形成了寬度5mmX長度20mm的標(biāo)記。該標(biāo)記作為“標(biāo)記D”。[標(biāo)記的厚度的測定]從通過實施例及比較例形成有標(biāo)記的光學(xué)膜剝離隔膜，使用人力壓輥使光學(xué)膜通過在光學(xué)膜上預(yù)先設(shè)置的丙烯酸系粘合劑層貼附到50mmX IOOmm大小的滑動玻璃(MATSUNAMI公司制)上，使用光干涉式表面粗糙度計(vecco公司制制品名“ WYKO N0800”在如下的條件下測定表面形狀?！せ鶞?zhǔn)線設(shè)定在光學(xué)膜的測定裝置側(cè)表面上設(shè)定· Back Scan :30 μ m· Scan Length :40 μ m· Modulation threshold :0. I %
· Sthitching X = 25mm, Y = 8mm根據(jù)得到的表面形狀數(shù)據(jù)，求出通過標(biāo)記長邊方向的中點并且與標(biāo)記長邊方向正交的剖面的面積，并將該剖面面積除以剖面的底邊的長度后的值作為標(biāo)記中央部的厚度。[光學(xué)濃度的測定]使用標(biāo)記帶(日東電エ公司制型號“No. 7235”)，將在實施例以及比較例中得到的形成有標(biāo)記的光學(xué)膜貼附到50mmX IOOmm大小的滑動玻璃(MATSUNAMI公司制)上，使用微小分光光度計(Lambda Vision公司制制品名“LVmicro”),以如下的條件測定標(biāo)記的中央部的微小區(qū)域的吸收光譜，并將吸光度的波峰值作為光學(xué)濃度。·光源齒化氣光源 針孔大小φ 100 μ m·傳感器Multi_detetor·計測模式透過率測定模式關(guān)于實施例以及比較例的光學(xué)膜，標(biāo)記中央部的厚度、光學(xué)濃度、以及每単位厚度的光學(xué)濃度(將光學(xué)濃度除以標(biāo)記中央部的厚度后的值)如表I所示。[表 I]
權(quán)利要求
1.一種圖像顯示裝置的制造方法，其將包含偏振元件的光學(xué)膜的單張體連續(xù)貼合在光學(xué)顯示組件上，該圖像顯示裝置的制造方法作為一系列連續(xù)的工序來執(zhí)行以下工序 準(zhǔn)備通過將光學(xué)膜的長條片卷繞而形成且在至少一個缺陷部位或者缺陷周邊部位形成有標(biāo)記的棍狀卷料的工序； 從所述輥狀卷料抽出光學(xué)膜的長條片制品的工序； 利用能夠識別所述標(biāo)記的有無的檢查機(jī)構(gòu)進(jìn)行檢測的標(biāo)記檢測工序； 將構(gòu)成所述光學(xué)膜的全部光學(xué)層或一部分光學(xué)層切斷成矩形的光學(xué)膜的單張體的切斷工序； 將所述光學(xué)膜的單張體貼合到光學(xué)顯示組件的基板上的貼合工序， 所述輥狀卷料具有與所述光學(xué)顯示組件的長邊或短邊的長度對應(yīng)的寬度，而將光學(xué)膜的寬度方向的全部都作為與光學(xué)顯示組件貼合的制品部分供給， 在所述切斷工序中，所述光學(xué)膜的長條片通過按照沿著光學(xué)膜的長度方向的規(guī)定間隔沿著寬度方向切斷，而切斷成與光學(xué)顯示組件的大小一致的規(guī)定大小的矩形的光學(xué)膜的單張體， 所述標(biāo)記的光學(xué)濃度為I. 5以上，并且標(biāo)記中央部的厚度為I. 5 y m以下。
2.如權(quán)利要求I所述的圖像顯示裝置的制造方法，其中，所述標(biāo)記的每單位厚度的光學(xué)濃度為2. SiinT1以上。
3.如權(quán)利要求I或2所述的圖像顯示裝置的制造方法，其中，所述標(biāo)記的吸收峰的波長為 500nm 600nm。
4.如權(quán)利要求1-3中任一項所述的光學(xué)顯示組件的制造方法，其中， 在所述切斷工序?qū)⑺鰳?biāo)記檢測工序中檢測出標(biāo)記的部分從與光學(xué)顯示組件貼合的制品部分去除。
5.如權(quán)利要求1-4中任一項所述的光學(xué)顯示組件的制造方法，其中， 將包含所述標(biāo)記檢測工序中檢測出標(biāo)記的部分的光學(xué)膜的單張體貼合在光學(xué)顯示組件的基板以外。
全文摘要
一種將包含偏振元件的光學(xué)膜單張體連續(xù)貼合在光學(xué)顯示組件上的圖像顯示裝置的制造方法，作為一系列連續(xù)的工序來執(zhí)行準(zhǔn)備在至少一個缺陷部位或周邊部位形成標(biāo)記并將光學(xué)膜的長條片卷繞形成的輥狀卷料的工序；從輥狀卷料抽出長條片制品的工序；利用可識別標(biāo)記有無的檢查機(jī)構(gòu)檢測的標(biāo)記檢測工序；將光學(xué)膜的全部或一部分光學(xué)層切斷成矩形單張體的切斷工序；將單張體貼合到光學(xué)顯示組件的基板的貼合工序，輥狀卷料具有與光學(xué)顯示組件長邊或短邊的長度對應(yīng)的寬度，將光學(xué)膜寬度方向全部作為與光學(xué)顯示組件貼合的制品部分供給，切斷工序中長條片以沿光學(xué)膜的長度方向的規(guī)定間隔沿寬度方向切成與光學(xué)顯示組件大小一致的規(guī)定大小的矩形單張體。
文檔編號B32B41/00GK102809842SQ20121024578
公開日2012年12月5日 申請日期2010年4月1日 優(yōu)先權(quán)日2009年4月10日
發(fā)明者中園拓矢, 梅本清司, 瀧田智仁, 島江文人, 矢野祐樹, 大澤曜彰 申請人:日東電工株式會社