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軸式力磁傳感器測(cè)試卡具的制作方法

文檔序號(hào):2351136閱讀:344來(lái)源:國(guó)知局
軸式力磁傳感器測(cè)試卡具的制作方法
【專利摘要】軸式力磁傳感器測(cè)試卡具,包括:支撐座,具有圓形豎向通孔,其中支撐座的上部具有與豎向通孔連通的圓形第一橫向通孔,支撐座的下部具有沿豎向通孔的徑向貫通的圓形徑向通孔,其中徑向通孔的中心軸與第一橫向通孔的中心軸相垂直;以及壓桿,從上到下分為固定端、連接桿和壓頭端,固定端、連接桿和壓頭端都為圓柱形并具有共同的中心軸,其中連接桿的直徑小于固定端和壓頭端的直徑,壓頭端能夠在支撐座的豎向通孔中上下活動(dòng),壓頭端具有與支撐座的第一橫向通孔直徑相等的第二橫向通孔。根據(jù)本發(fā)明的測(cè)試卡具不僅能夠保證測(cè)試效率、精度,并且非常安全,可以保證測(cè)試中即使傳感器受到破壞也不會(huì)出現(xiàn)傷人的事故。
【專利說(shuō)明】軸式力磁傳感器測(cè)試卡具
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種測(cè)試軸式力磁傳感器的卡具。
【背景技術(shù)】
[0002]利用永磁體的軸式力磁傳感器在出廠前一般需要進(jìn)行性能測(cè)試,而在目前廣泛使用的拉、壓力試驗(yàn)機(jī)上很少配備針對(duì)軸式力磁傳感器的專用測(cè)試卡具。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明的目的是提供一種軸型力磁傳感器測(cè)試卡具,能夠用于在力學(xué)試驗(yàn)機(jī)上對(duì)軸型力磁傳感器進(jìn)行固定和拉、壓測(cè)試。
[0004]根據(jù)本發(fā)明的軸式力磁傳感器測(cè)試卡具,包括:
[0005]支撐座,具有圓形豎向通孔,其中支撐座的上部具有與豎向通孔連通的圓形第一橫向通孔,支撐座的下部具有沿豎向通孔的徑向貫通的圓形徑向通孔,其中徑向通孔的中心軸與第一橫向通孔的中心軸相垂直;以及
[0006]壓桿,從上到下分為固定端、連接桿和壓頭端,固定端、連接桿和壓頭端都為圓柱形并具有共同的中心軸,其中連接桿的直徑小于固定端和壓頭端的直徑,壓頭端能夠在支撐座的豎向通孔中上下活動(dòng),壓頭端具有與支撐座的第一橫向通孔直徑相等的第二橫向通孔。
[0007]在本發(fā)明的一個(gè)優(yōu)選實(shí)施例中,其中軸式力磁傳感器包括左支撐端、中間受力段和右支撐端,整體長(zhǎng)度與第一橫向通孔的長(zhǎng)度相同,其中中間受力段的長(zhǎng)度與第二橫向通孔的長(zhǎng)度相同。
[0008]在本發(fā)明的又一個(gè)優(yōu)選實(shí)施例中,其中第二橫向通孔位于壓頭端的下部,并且壓頭端下部的左右兩側(cè)各具有豎向缺口,豎向缺口的長(zhǎng)度大于第二橫向通孔的直徑。
[0009]在本發(fā)明的一個(gè)具體實(shí)施例中,其中支撐座和壓桿都分別為一體形成件,連接處都采用圓弧過(guò)渡。
[0010]在本發(fā)明的又一個(gè)優(yōu)選實(shí)施例中,其中支撐座和壓桿都采用Cr系合金鋼或者45號(hào)鋼制成。
[0011]根據(jù)本發(fā)明的測(cè)試卡具不僅能夠保證測(cè)試效率、精度,并且非常安全,可以保證測(cè)試中即使傳感器受到破壞也不會(huì)出現(xiàn)傷人的事故。
【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0012]圖1為根據(jù)本發(fā)明的軸型力磁傳感器測(cè)試卡具整體裝配剖視圖。
【具體實(shí)施方式】
[0013]下面結(jié)合附圖詳細(xì)描述本發(fā)明的軸型力磁傳感器測(cè)試卡具。
[0014]軸式力磁傳感器在出廠前一般需要在拉、壓力試驗(yàn)機(jī)上進(jìn)行性能測(cè)試,軸式力磁傳感器一般為圓柱形,包括左支撐端、中間受力段和右支撐端。
[0015]如圖1所示,根據(jù)本發(fā)明的軸式力磁傳感器測(cè)試卡具包括支撐座2和壓頭I兩部分。其中支撐座2具有圓形豎向通孔3,其中支撐座2的上部具有與豎向通孔3連通的圓形第一橫向通孔4,第一橫向通孔4的長(zhǎng)度與軸式力磁傳感器的整體長(zhǎng)度相同或相近。支撐座2的下部具有沿豎向通孔3的徑向貫通的圓形徑向通孔5,其中徑向通孔5的中心軸與第一橫向通孔4的中心軸相垂直。測(cè)試時(shí),徑向通孔5與試驗(yàn)機(jī)的下底座通過(guò)銷釘進(jìn)行固定連接。
[0016]壓桿I從上到下分為固定端6、連接桿7和壓頭端8,固定端6、連接桿7和壓頭端8都為圓柱形并具有共同的中心軸,其中連接桿7的直徑小于固定端6和壓頭端8的直徑,壓頭端8能夠在支撐座2的豎向通孔3中上下活動(dòng),壓頭端8具有與支撐座2的第一橫向通孔4直徑相等的第二橫向通孔9。測(cè)試時(shí),固定端6與試驗(yàn)機(jī)的上部夾具配合固定,固定端6的設(shè)計(jì)充分考慮試驗(yàn)機(jī)固定的要求,固定端6的下表面需要光滑平整,從而方便與試驗(yàn)機(jī)的卡槽配合,從而保證整個(gè)壓桿I的垂直度,以防止拉壓過(guò)程中跑偏的現(xiàn)象。
[0017]測(cè)試時(shí),將壓桿I的第二橫向通孔9與支撐座2的第一橫向通孔4對(duì)準(zhǔn),然后將軸式力磁傳感器插入到上述通孔中,使傳感器的左右支撐端分別位于支撐座2的第一橫向通孔4的左右兩端,并使傳感器的中間受力段位于第二橫向通孔9中。由于第一橫向通孔4的長(zhǎng)度與傳感器的整體長(zhǎng)度相同或相近,從而使傳感器能夠基本完全位于第一橫向通孔4中,以防止在測(cè)試過(guò)程中傳感器可能碎裂而飛濺傷人。第二橫向通孔9位于壓頭端8的下部,傳感器的中間受力段的長(zhǎng)度與第二橫向通孔9的長(zhǎng)度大致相同,以防止壓頭端8在測(cè)試中壓到傳感器的左右支撐端,進(jìn)而影響測(cè)試精度。如果壓頭端8有壓到傳感器左右支撐端的情況,可以將壓頭端8的垂直于第二橫向通孔9的左右外側(cè)面上加工掉一部分,換句話說(shuō),壓頭端8下部的左右兩側(cè)各具有豎向缺口 10,豎向缺口 10的長(zhǎng)度大于第二橫向通孔9的直徑,以消除壓頭端8可能對(duì)傳感器左右支撐端帶來(lái)的影響。
[0018]支撐座2和壓桿I都分別為一體形成件,連接處都采用圓弧過(guò)渡,以防止應(yīng)力集中。為了保證測(cè)試的順利進(jìn)行,測(cè)試卡具的材料強(qiáng)度應(yīng)該高于傳感器殼體材料的強(qiáng)度,因此支撐座2和壓桿I都采用Cr系合金鋼或者45號(hào)鋼制成。支撐座2和壓桿I都可以分別進(jìn)行熱處理以進(jìn)一步增加剛度,增加測(cè)試的準(zhǔn)確性。
[0019]在實(shí)際測(cè)試中,壓桿I和支撐座2需要分別固定在力學(xué)試驗(yàn)機(jī)的上、下固定位置。將壓桿I的壓頭端8落入支撐座2的豎向通孔3后,將傳感器插入二者的橫向通孔中,并將軸式傳感器受力部位精確置于壓桿I的第二橫向通孔9處,檢驗(yàn)軸式傳感器左右支撐端是否受到壓桿I的壓頭端8的影響。然后緩慢開(kāi)動(dòng)試驗(yàn)機(jī),找到軸式傳感器不受力的位置,再緩慢施加拉力或者壓力,對(duì)傳感器進(jìn)行測(cè)試,這種新型測(cè)試卡具不僅保證了測(cè)試效率、精度,并且非常安全,可以保證測(cè)試中即使傳感器受到破壞也不會(huì)出現(xiàn)傷人的事故。
[0020]本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解,上述圖示內(nèi)容和實(shí)施例僅用來(lái)解釋本發(fā)明而非用來(lái)對(duì)其作出任何限制。
【權(quán)利要求】
1.一種軸式力磁傳感器測(cè)試卡具,包括: 支撐座,具有圓形豎向通孔,其中支撐座的上部具有與豎向通孔連通的圓形第一橫向通孔,支撐座的下部具有沿豎向通孔的徑向貫通的圓形徑向通孔,其中徑向通孔的中心軸與第一橫向通孔的中心軸相垂直;以及 壓桿,從上到下分為固定端、連接桿和壓頭端,固定端、連接桿和壓頭端都為圓柱形并具有共同的中心軸,其中連接桿的直徑小于固定端和壓頭端的直徑,壓頭端能夠在支撐座的豎向通孔中上下活動(dòng),壓頭端具有與支撐座的第一橫向通孔直徑相等的第二橫向通孔。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的軸式力磁傳感器測(cè)試卡具,其中軸式力磁傳感器包括左支撐端、中間受力段和右支撐端,整體長(zhǎng)度與第一橫向通孔的長(zhǎng)度相同,其中中間受力段的長(zhǎng)度與第二橫向通孔的長(zhǎng)度相同。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的軸式力磁傳感器測(cè)試卡具,其中第二橫向通孔位于壓頭端的下部,并且壓頭端下部的左右兩側(cè)各具有豎向缺口,豎向缺口的長(zhǎng)度大于第二橫向通孔的直徑。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的軸式力磁傳感器測(cè)試卡具,其中支撐座和壓桿都分別為一體形成件,連接處都采用圓弧過(guò)渡。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的軸式力磁傳感器測(cè)試卡具,其中支撐座和壓桿都采用Cr系合金鋼或者45號(hào)鋼制成。
【文檔編號(hào)】B25B11/00GK103909482SQ201410112183
【公開(kāi)日】2014年7月9日 申請(qǐng)日期:2014年3月24日 優(yōu)先權(quán)日:2014年3月24日
【發(fā)明者】田豐, 李曦皓, 陳浩渺, 王裕山, 張文胤 申請(qǐng)人:上海理工大學(xué)
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