醫(yī)用圖像處理裝置及x射線計算機(jī)斷層攝影裝置制造方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及醫(yī)用圖像處理裝置及X射線計算機(jī)斷層攝影裝置。實施方式的醫(yī)用圖像處理裝置具備分離部(34b)、重建部(36a)、以及提取部(36b)。分離部(34b)將投影數(shù)據(jù)分離成預(yù)先設(shè)定的至少兩個以上的多個基準(zhǔn)物質(zhì)各自的線積分?jǐn)?shù)據(jù)。重建部(36a)根據(jù)上述多個基準(zhǔn)物質(zhì)各自的線積分?jǐn)?shù)據(jù),來重建各像素的像素值表示存在于該像素中的基準(zhǔn)物質(zhì)的存在率的基準(zhǔn)物質(zhì)圖像數(shù)據(jù)。提取部(36b)基于根據(jù)上述多個基準(zhǔn)物質(zhì)各自的基準(zhǔn)物質(zhì)圖像數(shù)據(jù)所算出的各像素的減弱系數(shù),來提取偽影區(qū)域。
【專利說明】醫(yī)用圖像處理裝置及X射線計算機(jī)斷層攝影裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明的實施方式涉及一種醫(yī)用圖像處理裝置及X射線計算機(jī)斷層攝影裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]以往,有一種通過X射線計算機(jī)斷層攝影(CT:Computed Tomography)裝置并使用多種不同的管電壓進(jìn)行攝影來獲得圖像的方法。在使用兩種不同的管電壓時,相關(guān)方法被稱為“Dual Energy CT:雙能量CT”。另外,在“Dual Energy CT:雙能量CT”中,已知將通過兩種不同的管電壓獲得的兩個投影數(shù)據(jù)分離成預(yù)先設(shè)定的兩個基準(zhǔn)物質(zhì)的各自的投影數(shù)據(jù)(線積分?jǐn)?shù)據(jù)),分別根據(jù)分離得到的兩個數(shù)據(jù)來重建基于基準(zhǔn)物質(zhì)的存在率的圖像(基準(zhǔn)物質(zhì)圖像)的應(yīng)用技術(shù)。相關(guān)應(yīng)用技術(shù)中,通過使用兩個基準(zhǔn)物質(zhì)圖像進(jìn)行加權(quán)計算處理,能夠獲得單色X射線圖像、密度圖像、有效原子序數(shù)圖像等各種圖像。 [0003]上述應(yīng)用技術(shù)對于射束硬化所導(dǎo)致的偽影的校正是有效的。但是,作為偽影,除了射束硬化以外,還有基于高吸收體的投影數(shù)據(jù)的精度惡化所導(dǎo)致的偽影、散亂線所導(dǎo)致的偽影等各種偽影。
[0004]尤其是,偽影多由于基于高吸收體的投影數(shù)據(jù)的精度惡化而產(chǎn)生。這是因為,如果金屬等線吸收系數(shù)大的物質(zhì)存在于攝影對象中,那么在低管電壓的攝影時,檢測器的計數(shù)變得微小,無法得到正確的投影數(shù)據(jù)。這時,無法準(zhǔn)確得到基準(zhǔn)物質(zhì)的投影數(shù)據(jù),其結(jié)果為,得到的單色X射線圖像中,產(chǎn)生例如欠缺高吸收體周邊的信息的偽影等。上述的應(yīng)用技術(shù)中,無法生成去除了射束硬化以外的偽影的影響的單色X射線圖像。
[0005]現(xiàn)有技術(shù)文獻(xiàn)
[0006]專利文獻(xiàn)
[0007]專利文獻(xiàn)1:日本特開2009 - 261942號公報
【發(fā)明內(nèi)容】
[0008]本發(fā)明要解決的課題在于提供一種能夠提取單色X射線圖像中產(chǎn)生的偽影的醫(yī)用圖像處理裝置及X射線CT裝置。
[0009]實施方式的醫(yī)用圖像處理裝置具備分離部、重建部、以及提取部。分離部將投影數(shù)據(jù)分離成預(yù)先設(shè)定的至少兩個以上的多個基準(zhǔn)物質(zhì)各自的線積分?jǐn)?shù)據(jù)。重建部根據(jù)上述多個基準(zhǔn)物質(zhì)各自的線積分?jǐn)?shù)據(jù),來重建各像素的像素值表示存在于該像素中的基準(zhǔn)物質(zhì)的存在率的基準(zhǔn)物質(zhì)圖像數(shù)據(jù)。提取部基于根據(jù)上述多個基準(zhǔn)物質(zhì)各自的基準(zhǔn)物質(zhì)圖像數(shù)據(jù)算出的各像素的減弱系數(shù),來提取偽影區(qū)域。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0010]圖1是表示第I實施方式的X射線CT裝置的整體構(gòu)成例的圖。
[0011]圖2是表示第I實施方式所涉及的前處理部及圖像生成部的構(gòu)成例的圖。
[0012]圖3是用于說明第I實施方式所涉及的提取部的圖。[0013]圖4是表示第I實施方式所涉及的校正部的處理結(jié)果的一個例子的圖。
[0014]圖5是表示第I實施方式的處理的概要的圖。
[0015]圖6是表示第I實施方式所涉及的X射線CT裝置的處理例的流程圖。
[0016]圖7A是用于說明第4實施方式的圖(I)。
[0017]圖7B是用于說明第4實施方式的圖(2)。
【具體實施方式】
[0018]以下,參照所添附的附圖,詳細(xì)說明醫(yī)用圖像處理裝置的實施方式。另外,以下說明中,將作為醫(yī)用圖像處理裝置而發(fā)揮功能的X射線計算機(jī)斷層攝影(CT =ComputedTomography)裝置作為實施方式進(jìn)行說明。
[0019](第I實施方式)
[0020]首先, 使用圖1對于第I實施方式所涉及的X射線CT裝置的整體構(gòu)成的一個例子進(jìn)行說明。圖1是表示第I實施方式的X射線CT裝置的整體構(gòu)成例的圖。如圖1所示,第I實施方式所涉及的X射線CT裝置具備:架臺裝置10、寢臺裝置20、及控制臺裝置30。
[0021]架臺裝置10是對被檢體P照射X射線并收集X射線檢測數(shù)據(jù)的裝置,其具備高電壓產(chǎn)生部11、X射線管12、X射線檢測器13、數(shù)據(jù)收集部14、旋轉(zhuǎn)框架15以及架臺驅(qū)動部16。
[0022]高電壓產(chǎn)生部11是產(chǎn)生高電壓并將所產(chǎn)生的高電壓供給至X射線管12的裝置。X射線管12是利用從高電壓產(chǎn)生部11供給的高電壓來產(chǎn)生X射線的真空管,X射線管12所產(chǎn)生的X射線對被檢體P進(jìn)行照射。
[0023]X射線檢測器13是用于檢測表示從X射線管12照射并透過被檢體P的X射線的強(qiáng)度分布的X射線檢測數(shù)據(jù)的檢測器。即,X射線檢測器13檢測表示在被檢體P的體內(nèi)所產(chǎn)生的X射線吸收的程度的X射線檢測數(shù)據(jù)。例如,X射線檢測器13是沿被檢體P的體軸方向(圖1所示的Z軸方向)多列排列檢測元件列的二維陣列型檢測器,其中,檢測元件列沿通道方向(圖1所示的Y軸方向)排列有多個X射線檢測元件。
[0024]旋轉(zhuǎn)框架15支承X射線管12和X射線檢測器13,以使X射線管12和X射線檢測器13隔著被檢體P而對置。架臺驅(qū)動部16是通過對旋轉(zhuǎn)框架15進(jìn)行旋轉(zhuǎn)驅(qū)動,從而在以被檢體P為中心的圓軌道上使X射線管12及X射線檢測器13旋轉(zhuǎn)的驅(qū)動裝置。
[0025]數(shù)據(jù)收集部14是DAS (Data Acquisition System:數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)),收集通過X射線檢測器13檢測到的X射線檢測數(shù)據(jù)。具體而言,數(shù)據(jù)收集部14收集分別與來自X射線管12的X射線照射方向?qū)?yīng)的X射線檢測數(shù)據(jù)。X射線照射方向也被稱為視角(view)。并且,數(shù)據(jù)收集部14對收集到的每個視角的X射線檢測數(shù)據(jù)進(jìn)行放大處理、A/D轉(zhuǎn)換處理等,并輸出至控制臺裝置30的前處理部34 (后述)。例如,數(shù)據(jù)收集部14輸出將表示每個X射線檢測元件的X射線檢測量的X射線檢測數(shù)據(jù)按每個X射線照射方向時序化而得的數(shù)據(jù)(正弦圖數(shù)據(jù):sinogramdata)。
[0026]寢臺裝置20是載置被檢體P的裝置,如圖1所示,具有頂板22和寢臺驅(qū)動裝置21。頂板22是載置被檢體P的床,寢臺驅(qū)動裝置21通過使頂板22向被檢體P的體軸方向(Z軸方向)移動,使被檢體P向旋轉(zhuǎn)框架15內(nèi)移動。
[0027]控制臺裝置30是接收由操作者進(jìn)行的X射線CT裝置的操作,并且根據(jù)通過架臺裝置10收集到的數(shù)據(jù)組來重建斷層圖像的裝置,如圖1所示,其具有輸入裝置31、顯示裝置32、掃描控制部33、前處理部34、投影數(shù)據(jù)存儲部35、圖像生成部36、圖像存儲部37以及系統(tǒng)控制部38。
[0028]輸入裝置31具有操作X射線CT裝置的醫(yī)師或技師等操作者用于輸入各種指示的鼠標(biāo)、鍵盤、按鈕、軌跡球、操縱桿等,將從操作者接收的各種命令傳送至后述的系統(tǒng)控制部38。
[0029]顯示裝置32具有監(jiān)視器,該監(jiān)視器用于顯示經(jīng)由輸入裝置31從操作者接收指示用的⑶I (Graphical User Interface:圖形用戶界面),或顯示后述的圖像存儲部37存儲的圖像。
[0030]掃描控制部33控制高電壓產(chǎn)生部11、架臺驅(qū)動部16、數(shù)據(jù)收集部14以及寢臺驅(qū)動裝置21的動作。由此,掃描控制部33對使用架臺裝置10進(jìn)行的被檢體P的X射線掃描處理、X射線檢測數(shù)據(jù)組的收集處理及對X射線檢測數(shù)據(jù)組的數(shù)據(jù)處理進(jìn)行控制。
[0031]具體而言,掃描控制部33 —邊使旋轉(zhuǎn)框架15旋轉(zhuǎn),一邊從X射線管12連續(xù)地或者間歇地照射X射線,來執(zhí)行X射線掃描。例如,掃描控制部33執(zhí)行使頂板22移動的同時使旋轉(zhuǎn)框架15連續(xù)旋轉(zhuǎn)并進(jìn)行攝影的螺旋掃描、或者保持固定被檢體P的位置的狀態(tài)地使旋轉(zhuǎn)框架15旋轉(zhuǎn)一周或連續(xù)旋轉(zhuǎn)并進(jìn)行攝影的常規(guī)掃描。
[0032]前處理部34通過對從數(shù)據(jù)收集部14發(fā)送的X射線檢測數(shù)據(jù)進(jìn)行對數(shù)轉(zhuǎn)換處理、偏移校正、或靈敏度校正等校正處理,來生成投影數(shù)據(jù)。另外,對于第I實施方式所涉及的前處理部34進(jìn)行的處理,在后文中詳細(xì)說明。
[0033]投影數(shù)據(jù)存儲部35存儲通過前處理部34生成的投影數(shù)據(jù)。
[0034]圖像生成部36根據(jù)投影數(shù)據(jù)存儲部35存儲的投影數(shù)據(jù)生成各種圖像,并將所生成的圖像保存在圖像存儲部37中。例如,圖像生成部36通過逆投影處理(例如,基于FBP(Filtered Back Projection)法的逆投影處理)將投影數(shù)據(jù)重建為X射線CT圖像,并將重建而成的X射線CT圖像保存在圖像存儲部37中。另外,關(guān)于第I實施方式所涉及的圖像生成部36所進(jìn)行的處理,在后文中詳細(xì)說明。
[0035]系統(tǒng)控制部38通過對架臺裝置10、寢臺裝置20及控制臺裝置30的動作進(jìn)行控制,來進(jìn)行X射線CT裝置的整體控制。具體而言,系統(tǒng)控制部38通過對掃描控制部33進(jìn)行控制,來控制基于架臺裝置10及寢臺裝置20的X射線檢測數(shù)據(jù)組的收集處理。另外,系統(tǒng)控制部38通過控制前處理部34、圖像生成部36,來對控制臺裝置30中的圖像處理進(jìn)行控制。另外,系統(tǒng)控制部38進(jìn)行控制以將圖像存儲部37所存儲的各種圖像顯示于顯示裝置32。
[0036]以上,對于第I實施方式所涉及的X射線CT裝置的整體構(gòu)成進(jìn)行了說明。在相關(guān)構(gòu)成的基礎(chǔ)上,第I實施方式所涉及的X射線CT裝置除了進(jìn)行將管電壓固定為一種的攝影并收集投影數(shù)據(jù),還進(jìn)行多種不同的管電壓的“基于Multi Energy的攝影”并收集投影數(shù)據(jù)。例如,第I實施方式所涉及的X射線CT裝置進(jìn)行使用兩種不同的管電壓的“基于DualEnergy的攝影”并收集投影數(shù)據(jù)。
[0037]“基于Dual Energy的攝影”例如通過以下三種攝影方法進(jìn)行。第I攝影方法是先使用第I管電壓進(jìn)行攝影,接著,使用第2管電壓進(jìn)行攝影的“Slow-kV switching方式(2周旋轉(zhuǎn)方式)”。第2攝影方法是不使用圖1所例示的I個球管的X射線CT裝置,而是用2個球管的X射線CT裝置,并以不同的管電壓進(jìn)行攝影的“Dual Source方式(雙管球方式)”。第3攝影方法是使旋轉(zhuǎn)框架15旋轉(zhuǎn)的同時,按每個視角以高速切換管電壓來進(jìn)行攝影的“Fast-kV switching方式(高速切換方式)”。由此,能夠獲得能量不同的兩種原始數(shù)據(jù)(投影數(shù)據(jù))。
[0038]以下,對通過高速切換方式來進(jìn)行“基于Dual Energy的攝影”的情況進(jìn)行說明。另外,本實施方式也可以應(yīng)用于使用2周旋轉(zhuǎn)方式或雙管球方式進(jìn)行“基于Dual Energy的攝影”的情況。
[0039]近年來,開發(fā)有一種將根據(jù)兩種不同的管電壓獲得的兩個投影數(shù)據(jù)分離成預(yù)先設(shè)定的兩個基準(zhǔn)物質(zhì)各自的投影數(shù)據(jù)(線積分?jǐn)?shù)據(jù)),由此,重建基于基準(zhǔn)物質(zhì)的存在率的圖像(基準(zhǔn)物質(zhì)圖像)的應(yīng)用技術(shù)。相關(guān)應(yīng)用技術(shù)中,通過使用兩個基準(zhǔn)物質(zhì)圖像來進(jìn)行加權(quán)計算處理,能夠獲得單色X射線圖像、密度圖像、有效原子序數(shù)圖像等各種圖像。
[0040]上述的應(yīng)用技術(shù)對于射束硬化所導(dǎo)致的偽影的校正是有效的,例如,能夠生成由相比由以往的連續(xù)X射線構(gòu)成的X射線CT圖像,降低了射束硬化的影響的單色X射線所構(gòu)成的X射線CT圖像(單色X射線圖像或者單色X射線CT圖像)。但是,作為偽影,除了射束硬化以外,還有基于高吸收體的投影數(shù)據(jù)的精度惡化所導(dǎo)致的偽影、散亂線所導(dǎo)致的偽影等各種偽影。
[0041]上述的應(yīng)用技術(shù)中,無法生成除去了射束硬化以外的偽影的影響的單色X射線圖像。因此,第I實施方式中,為了提取單色X射線圖像中產(chǎn)生的偽影,進(jìn)行以下說明的前處理部34及圖像生成部36的處理。
[0042]圖2是表示第I實施方式所涉及的前處理部及圖像生成部的構(gòu)成例的圖。如圖2所例示的那樣,第I實施方式所涉及的前處理部34具有投影數(shù)據(jù)生成部34a及分離部34b。另外,如圖2所例示的那樣,第I實施方式所涉及的圖像生成部36具有重建部36a、提取部36b、及校正部36c。
[0043]投影數(shù)據(jù)生成部34a對從數(shù)據(jù)收集部14發(fā)送的X射線檢測數(shù)據(jù)進(jìn)行對數(shù)轉(zhuǎn)換處理等,來生成投影數(shù)據(jù)。第I實施方式中,投影數(shù)據(jù)生成部34a根據(jù)第I管電壓(例如,130kV)的X射線檢測數(shù)據(jù)生成投影數(shù)據(jù)(以下,記載為高能量投影數(shù)據(jù))。另外,第I實施方式中,投影數(shù)據(jù)生成部34a根據(jù)第2管電壓(例如,80kV)的X射線檢測數(shù)據(jù)生成投影數(shù)據(jù)(以下,低能量投影數(shù)據(jù))。
[0044]分離部34b將投影數(shù)據(jù)分離成預(yù)先設(shè)定的至少兩個以上的多個基準(zhǔn)物質(zhì)的各自的線積分?jǐn)?shù)據(jù)。第I實施方式中,上述投影數(shù)據(jù)是兩種不同的管電壓分別收集的兩個投影數(shù)據(jù)(高能量投影數(shù)據(jù)及低能量投影數(shù)據(jù))。另外,第I實施方式中,上述多個基準(zhǔn)物質(zhì)是兩個基準(zhǔn)物質(zhì),例如,骨和水。以下說明中,將兩個基準(zhǔn)物質(zhì)的一個記載為第I基準(zhǔn)物質(zhì),將另一個記載為第2基準(zhǔn)物質(zhì)。
[0045]即,分離部34b將高能量投影數(shù)據(jù)及低能量投影數(shù)據(jù)分離成第I基準(zhǔn)物質(zhì)的線積分?jǐn)?shù)據(jù)(第I線積分?jǐn)?shù)據(jù))和第2基準(zhǔn)物質(zhì)的線積分?jǐn)?shù)據(jù)(第2線積分?jǐn)?shù)據(jù))。另外,基準(zhǔn)物質(zhì)根據(jù)各種能量下的質(zhì)量減弱系數(shù)已知的物質(zhì)來設(shè)定。
[0046]通過分離部34b分離而得的第I線積分?jǐn)?shù)據(jù)及第2線積分?jǐn)?shù)據(jù)被保存在投影數(shù)據(jù)存儲部35中。
[0047]然后,重建部36a根據(jù)多個基準(zhǔn)物質(zhì)各自的線積分?jǐn)?shù)據(jù),來重建各像素(像元或者體元)的像素值表示存在于該像素中的基準(zhǔn)物質(zhì)的存在率的基準(zhǔn)物質(zhì)圖像數(shù)據(jù)。具體而言,重建部36a通過對第I線積分?jǐn)?shù)據(jù)進(jìn)行逆投影處理,來重建第I基準(zhǔn)物質(zhì)的基準(zhǔn)物質(zhì)圖像數(shù)據(jù)(以下,第I基準(zhǔn)物質(zhì)圖像數(shù)據(jù))。另外,重建部36a通過對第2線積分?jǐn)?shù)據(jù)進(jìn)行逆投影處理,來重建第2基準(zhǔn)物質(zhì)的基準(zhǔn)物質(zhì)圖像數(shù)據(jù)(以下,第2基準(zhǔn)物質(zhì)圖像數(shù)據(jù))。在此,第I基準(zhǔn)物質(zhì)圖像數(shù)據(jù)的像素“i”的像素值為像素“i”中的第I基準(zhǔn)物質(zhì)的存在率“Cl”。另外,第2基準(zhǔn)物質(zhì)圖像數(shù)據(jù)的像素“i”的像素值為像素“i”中的第2基準(zhǔn)物質(zhì)的存在率“C2”。
[0048]在此,與任意的能量“E”下的像素“ i ”對應(yīng)的攝影部位的減弱系數(shù)“ μ (E) ”通過以下的公式(I)來求得。另外,以下的公式(I)中,“ U1(E) ”是第I基準(zhǔn)物質(zhì)的“Ε”下的減弱系數(shù),“ μ 2 (E) ”是第2基準(zhǔn)物質(zhì)的“Ε”下的減弱系數(shù)。
[0049]【公式I】
[0050]μ (E) =C1 μ i (E)+C2 μ 2 (E)*..(1)
[0051 ] 另外,關(guān)于與“Ε”下的像素“ i ”對應(yīng)的攝影部位的CT值“CT# (E) ”通過將公式(I)所求得的“ μ (E) ”和水的“Ε”下的減弱系數(shù)“ μ W(E) ”代入以下的公式(2)中,可以求得。
[0052]【公式2】
【權(quán)利要求】
1.一種醫(yī)用圖像處理裝置,其中,具備: 分離部,其將投影數(shù)據(jù)分離成預(yù)先設(shè)定的至少兩個以上的多個基準(zhǔn)物質(zhì)各自的線積分?jǐn)?shù)據(jù); 重建部,其根據(jù)所述多個基準(zhǔn)物質(zhì)各自的線積分?jǐn)?shù)據(jù),來重建各像素的像素值表示存在于該像素中的基準(zhǔn)物質(zhì)的存在率的基準(zhǔn)物質(zhì)圖像數(shù)據(jù);以及 提取部,其基于根據(jù)所述多個基準(zhǔn)物質(zhì)各自的基準(zhǔn)物質(zhì)圖像數(shù)據(jù)算出的各像素的減弱系數(shù),來提取偽影區(qū)域。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的醫(yī)用圖像處理裝置,其中, 還具備校正部,所述校正部校正所述偽影區(qū)域的減弱系數(shù), 所述重建部使用校正后的減弱系數(shù)來生成單色X射線圖像。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的醫(yī)用圖像處理裝置,其中, 所述校正部獲得根據(jù)所述多個基準(zhǔn)物質(zhì)各自的基準(zhǔn)物質(zhì)圖像數(shù)據(jù)的像素值算出的所述偽影區(qū)域的減弱系數(shù)為大致正確的減弱系數(shù)的能量,并使用偽影區(qū)域的該能量下的減弱系數(shù)和該能量下的規(guī)定物質(zhì)的減弱系數(shù),來進(jìn)行校正處理。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的醫(yī)用圖像處理裝置,其中, 所述校正部獲得 預(yù)先求得的值來作為根據(jù)所述多個基準(zhǔn)物質(zhì)各自的基準(zhǔn)物質(zhì)圖像數(shù)據(jù)的像素值算出的所述偽影區(qū)域的減弱系數(shù)為大致正確的減弱系數(shù)的能量。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的醫(yī)用圖像處理裝置,其中, 所述校正部進(jìn)行將所述偽影區(qū)域的減弱系數(shù)置換為規(guī)定物質(zhì)的減弱系數(shù)的校正處理。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的醫(yī)用圖像處理裝置,其中, 所述提取部根據(jù)對所述多個基準(zhǔn)物質(zhì)各自的基準(zhǔn)物質(zhì)圖像數(shù)據(jù)進(jìn)行了濾波處理后的數(shù)據(jù),來提取所述偽影區(qū)域。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的醫(yī)用圖像處理裝置,其中, 所述提取部在不包含吸收端能量的能量范圍內(nèi),通過比較兩個不同的能量下的減弱系數(shù)來提取所述偽影區(qū)域。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的醫(yī)用圖像處理裝置,其中, 所述提取部提取減弱系數(shù)能夠成為O以下的像素來作為所述偽影區(qū)域。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的醫(yī)用圖像處理裝置,其中, 所述提取部通過對規(guī)定能量下的減弱系數(shù)與預(yù)先設(shè)定的物質(zhì)的該能量下的減弱系數(shù)進(jìn)行比較,來提取所述偽影區(qū)域。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的醫(yī)用圖像處理裝置,其中, 所述提取部通過對兩個不同的能量各自下的減弱系數(shù)的比與預(yù)先設(shè)定的物質(zhì)的該兩個不同的能量各自下的減弱系數(shù)的比進(jìn)行比較,來提取所述偽影區(qū)域。
11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的醫(yī)用圖像處理裝置,其中, 所述提取部在所述多個基準(zhǔn)物質(zhì)各自的基準(zhǔn)物質(zhì)圖像數(shù)據(jù)中,從所述偽影區(qū)域的提取對象中除去同一位置的像素的像素值為規(guī)定范圍的像素。
12.根據(jù)權(quán)利要求1所述的醫(yī)用圖像處理裝置,其中, 所述投影數(shù)據(jù)是兩種不同的管電壓各自收集到的兩個投影數(shù)據(jù)。
13.根據(jù)權(quán)利要求2所述的醫(yī)用圖像處理裝置,其中,還具備控制部,所述控制部進(jìn)行控制以便在使用了所述校正后的減弱系數(shù)的單色X射線圖像或使用了校正前的減弱系數(shù)的單色X射線圖像中,強(qiáng)調(diào)顯示所述偽影區(qū)域。
14.一種X射線計算機(jī)斷層攝影裝置,其中,具備: 分離部,其將投影數(shù)據(jù)分離成預(yù)先設(shè)定的至少兩個以上的多個基準(zhǔn)物質(zhì)各自的線積分?jǐn)?shù)據(jù); 重建部,其根據(jù)所述多個基準(zhǔn)物質(zhì)各自的線積分?jǐn)?shù)據(jù),來重建各像素的像素值表示存在于該像素中的基準(zhǔn)物質(zhì)的存在率的基準(zhǔn)物質(zhì)圖像數(shù)據(jù);以及 提取部,其基于根據(jù)所述多個基準(zhǔn)物質(zhì)各自的基準(zhǔn)物質(zhì)圖像數(shù)據(jù)算出的各像素的減弱系數(shù),來提取偽影區(qū) 域。
【文檔編號】A61B6/03GK103764037SQ201380001694
【公開日】2014年4月30日 申請日期:2013年8月26日 優(yōu)先權(quán)日:2012年8月30日
【發(fā)明者】高松裕子, 田口博基 申請人:株式會社東芝, 東芝醫(yī)療系統(tǒng)株式會社