專利名稱：：放射線斷層攝影裝置、被照射射線量計(jì)算方法以及程序的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
：本發(fā)明涉及放射線斷層攝影裝置、被照射射線量計(jì)算方法以及為此的程序(program)ο
背景技術(shù)：
：在以X射線CT(ComputedTomography)裝置為代表的放射線斷層攝影裝置中，確定為顯示表示每單位切片(slice)厚的被照射射線量的CTDI值、表示I次檢查整體中的被照射射線量的DLP值(例如，參照專利文獻(xiàn)1，圖27等)。由此，能進(jìn)行攝影對(duì)象的被照射評(píng)價(jià)。專利文獻(xiàn)1:日本特開(kāi)2007-54372號(hào)公報(bào)。
發(fā)明內(nèi)容然而，實(shí)際上，被照射射線量的分布并不均勻，在攝影部位的表面最大，越接近中心部越小。另外，放射線感受性高的部位，存在于被檢體的體表面附近。因此，僅用現(xiàn)行那樣的表示每單位切片厚的被照射射線量的CTDI值、表示I次檢查整體的被照射射線量的DLP值，不能夠正確地進(jìn)行攝影對(duì)象的被照射評(píng)價(jià)。由于這樣的情況，希望有提供能進(jìn)行攝影對(duì)象的更正確的被照射評(píng)價(jià)的信息的技術(shù)。第I觀點(diǎn)的發(fā)明提供一種放射線斷層攝影裝置，顯示與攝影對(duì)象的表面附近對(duì)應(yīng)的被照射射線量。第2觀點(diǎn)的發(fā)明提供如上述第I觀點(diǎn)的放射線斷層攝影裝置，其中，具備計(jì)算單元，所述計(jì)算單元基于對(duì)模型(phantom)進(jìn)行放射線照射時(shí)、僅在所述模型的表面附近測(cè)定位置處測(cè)定的放射線射線量，計(jì)算所述被照射射線量。第3觀點(diǎn)的發(fā)明提供如上述第2觀點(diǎn)的放射線斷層攝影裝置，其中，所述計(jì)算單元基于在對(duì)模型進(jìn)行放射線照射時(shí)、在作為所述模型的表面附近的測(cè)定位置的、放射線射線量實(shí)質(zhì)上成為最大的位置處測(cè)定的放射線射線量，計(jì)算所述被照射射線量。第4觀點(diǎn)的發(fā)明提供如上述第3觀點(diǎn)的放射線斷層攝影裝置，其中，所述模型承載于攝影臺(tái)(table)的桌面上，所述放射線實(shí)質(zhì)上成為最大的位置是最接近放射線源的位置。第5觀點(diǎn)的發(fā)明提供如上述第2觀點(diǎn)到第4觀點(diǎn)的任一觀點(diǎn)的放射線斷層攝影裝置，其中，所述計(jì)算單元基于對(duì)所述模型進(jìn)行掃描(scan)時(shí)、在所述表面附近的測(cè)定位置處測(cè)定的第I放射線射線量，計(jì)算所述被照射射線量。第6觀點(diǎn)的發(fā)明提供如上述第2觀點(diǎn)到第4觀點(diǎn)的任一觀點(diǎn)的放射線斷層攝影裝置，其中，所述計(jì)算單元基于將對(duì)所述模型進(jìn)行掃描時(shí)在所述表面附近的測(cè)定位置處測(cè)定的放射線射線量、除以對(duì)所述模型以與該掃描相同的放射線束(beam)寬度進(jìn)行放射線照射時(shí)在該測(cè)定位置處測(cè)定的放射線束寬度方向的射線量曲線(profile)用其峰(peak)射線量值歸一化后的曲線面積而成的第I放射線射線量，計(jì)算所述被照射射線量。第7觀點(diǎn)的發(fā)明提供如上述第6觀點(diǎn)的放射線斷層攝影裝置，其中，所述射線量曲線是將所述放射線源配置于互相不同的多個(gè)觀察(view)角度而進(jìn)行放射線照射時(shí)測(cè)定的多個(gè)射線量曲線平均化的曲線。第8觀點(diǎn)的發(fā)明提供如上述第5觀點(diǎn)到第7觀點(diǎn)的任一觀點(diǎn)的放射線斷層攝影裝置，其中，在設(shè)定螺旋掃描(helicalscan)作為期望掃描條件的情況下，所述計(jì)算單元基于所述第I放射線射線量除以螺旋間距(helicalpitch)而成的放射線射線量,計(jì)算所述被照射射線量。第9觀點(diǎn)的發(fā)明提供如上述第5觀點(diǎn)到第7觀點(diǎn)的任一觀點(diǎn)的放射線斷層攝影裝置，其中，在設(shè)定可變間距螺旋掃描作為期望掃描條件的情況下，所述計(jì)算單元基于所述第I放射線射線量除以使用時(shí)間加權(quán)平均得到的螺旋間距換算值而成的放射線射線量，計(jì)算所述被照射射線量。第10觀點(diǎn)的發(fā)明提供如上述第5觀點(diǎn)到第9觀點(diǎn)的任一觀點(diǎn)的放射線斷層攝影裝置，其中，在設(shè)定照射不足360度的量的放射線的局部掃描(partialscan)作為期望掃描條件的情況下，所述計(jì)算單元基于進(jìn)行所述局部掃描的觀察角度范圍，計(jì)算所述被照射射線量。第11觀點(diǎn)的發(fā)明提供如上述第5觀點(diǎn)到第9觀點(diǎn)的任一觀點(diǎn)的放射線斷層攝影裝置，其中，在設(shè)定照射不足360度的量的放射線的局部掃描作為期望掃描條件的情況下，所述計(jì)算單元基于進(jìn)行所述局部掃描作為對(duì)所述模型的掃描時(shí)所得的所述第I放射線射線量，計(jì)算所述被照射射線量。第12觀點(diǎn)的發(fā)明提供如上述第5觀點(diǎn)到第9觀點(diǎn)的任一觀點(diǎn)的放射線斷層攝影裝置，其中，在設(shè)定照射不足360度的量的放射線的局部掃描作為期望掃描條件的情況下，所述計(jì)算單元基于將在互相不同的多個(gè)觀察角度范圍中進(jìn)行局部掃描作為對(duì)所述模型的掃描時(shí)所得的多個(gè)所述第I放射線射線量平均化的放射線射線量，計(jì)算所述被照射射線量。第13觀點(diǎn)的發(fā)明提供如上述第5觀點(diǎn)到第9觀點(diǎn)的任一觀點(diǎn)的放射線斷層攝影裝置，其中，對(duì)所述模型的掃描是照射360度的量的放射線的全掃描。第14觀點(diǎn)的發(fā)明提供如上述第2觀點(diǎn)到第13觀點(diǎn)的任一觀點(diǎn)的放射線斷層攝影裝置，其中，所述模型是丙烯制的，具有直徑16cm或32cm的圓柱形狀，所述表面附近的測(cè)定位置是距離所述表面0.5cm以上、2cm以下的深度的位置。第15觀點(diǎn)的發(fā)明提供一種被照射射線量計(jì)算方法，基于對(duì)模型進(jìn)行放射線照射時(shí)、僅在所述模型的表面附近的測(cè)定位置處測(cè)定的放射線射線量，計(jì)算利用放射線斷層攝影裝置進(jìn)行攝影的攝影對(duì)象的被照射射線量。第16觀點(diǎn)的發(fā)明提供如上述第15觀點(diǎn)的被照射射線量計(jì)算方法，其中，預(yù)先測(cè)定對(duì)所述模型進(jìn)行掃描時(shí)的所述表面附近的測(cè)定位置處的第I放射線射線量，基于該第I放射線射線量計(jì)算所述被照射射線量。第17觀點(diǎn)的發(fā)明提供如上述第15觀點(diǎn)的被照射射線量計(jì)算方法，其中，預(yù)先測(cè)定對(duì)所述模型進(jìn)行掃描時(shí)的所述表面附近的測(cè)定位置處的放射線射線量、和對(duì)所述模型以與該掃描相同的放射線束寬度進(jìn)行放射線照射時(shí)的該測(cè)定位置處的放射線束寬度方向的射線量曲線用其峰射線量值歸一化后的曲線面積，基于所述表面附近的測(cè)定位置處的放射線射線量除以所述曲線面積而成的第I放射線射線量，計(jì)算所述被照射射線量。第18觀點(diǎn)的發(fā)明提供一種用于使計(jì)算機(jī)作為計(jì)算單元起作用的程序，所述計(jì)算單元基于對(duì)模型進(jìn)行放射線照射時(shí)僅在所述模型的表面附近的測(cè)定位置處測(cè)定的放射線射線量，計(jì)算利用放射線斷層攝影裝置進(jìn)行攝影的攝影對(duì)象的被照射射線量。第19觀點(diǎn)的發(fā)明提供如上述第18觀點(diǎn)的程序，其中，所述計(jì)算單元基于對(duì)所述模型進(jìn)行掃描時(shí)在所述表面附近的測(cè)定位置處測(cè)定的第I放射線射線量，計(jì)算所述被照射射線量。第20觀點(diǎn)的發(fā)明提供如上述第18觀點(diǎn)的程序，其中，所述計(jì)算單元基于對(duì)所述模型進(jìn)行掃描時(shí)在所述表面附近的測(cè)定位置處測(cè)定的放射線射線量、除以對(duì)所述模型以與該掃描相同的放射線束寬度進(jìn)行放射線照射時(shí)在該測(cè)定位置處測(cè)定的放射線束寬度方向的射線量曲線用其峰射線量值歸一化后的曲線面積而成的第I放射線射線量，計(jì)算所述被照射射線量。依據(jù)上述觀點(diǎn)的發(fā)明，能夠算出被照射射線量實(shí)質(zhì)上成為最大的、與攝影對(duì)象的表面附近對(duì)應(yīng)的被照射射線量，能夠提供能進(jìn)行攝影對(duì)象的更正確的被照射評(píng)價(jià)的信息。圖1是概略地示出根據(jù)發(fā)明的實(shí)施方式的X射線CT裝置的結(jié)構(gòu)的圖。圖2是根據(jù)第I實(shí)施方式的X射線CT裝置中的被照射射線量計(jì)算處理的執(zhí)行所涉及的部分的功能塊(block)圖。圖3是示出被照射射線量計(jì)算部所存儲(chǔ)的第一及第二表的圖。圖4是示出標(biāo)準(zhǔn)模型及X射線傳感器的一個(gè)例子的圖。圖5是示出將攝影對(duì)象承載于托架上而進(jìn)行全掃描的情況的圖。圖6是示出根據(jù)第I實(shí)施方式的X射線CT裝置中的被照射射線量計(jì)算處理的流程的流程圖。圖7是示出算出的被照射射線量的顯示例的圖。圖8是示出射線量曲線的一個(gè)例子的圖。圖9是在概念上示出將射線量曲線歸一化而求取曲線面積的情況的圖。圖10是示出X射線射線量V與射線量曲線PF的面積一致的情況的圖。圖11是示出對(duì)攝影對(duì)象進(jìn)行局部掃描的情況的圖。標(biāo)號(hào)說(shuō)明I操作控制臺(tái)；2輸入裝置；3中央處理裝置；5數(shù)據(jù)收集緩沖器；6監(jiān)視器；7存儲(chǔ)裝置；10攝影臺(tái)；12托架；15旋轉(zhuǎn)部；20掃描門(mén)架；21X射線管；22X射線控制器；23準(zhǔn)直器；24X射線檢測(cè)器；25數(shù)據(jù)收集裝置；26旋轉(zhuǎn)部控制器；29控制控制器；30滑環(huán)；40被檢體；50標(biāo)準(zhǔn)模型；51X射線傳感器；81X射線；100X射線CT裝置；101掃描條件設(shè)定部；102被照射射線量計(jì)算部(計(jì)算單元)；103圖像顯示控制部。具體實(shí)施例方式以下，對(duì)發(fā)明的實(shí)施方式進(jìn)行說(shuō)明。(第I實(shí)施方式)圖1是概略地示出根據(jù)本實(shí)施方式的X射線CT裝置的結(jié)構(gòu)的圖。X射線CT裝置100具備:操作控制臺(tái)(console)1、攝影臺(tái)(table)10以及掃描門(mén)架(gantry)20。操作控制臺(tái)I具備:接受來(lái)自操作者的輸入的輸入裝置2，用于進(jìn)行作為攝影對(duì)象的被檢體的攝影的各部的控制、進(jìn)行用于生成圖像的數(shù)據(jù)處理等的中央處理裝置3，收集在掃描門(mén)架20中取得的數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)收集緩沖器(buffer)5，顯示圖像的監(jiān)視器(monitor)6，以及存儲(chǔ)程序、數(shù)據(jù)等的存儲(chǔ)裝置7。攝影臺(tái)10具備承載被檢體40并輸送到掃描門(mén)架20的開(kāi)口部的托架(cradle)12。由內(nèi)置于攝影臺(tái)10的馬達(dá)(motor)升降及水平直線移動(dòng)托架12。此外，在此，將被檢體40的身體軸方向即托架12的水平直線移動(dòng)方向設(shè)定為z方向,將鉛直方向設(shè)定為y方向，將與z方向及y方向垂直的水平方向設(shè)定為X方向。掃描門(mén)架20具有旋轉(zhuǎn)部15和能對(duì)旋轉(zhuǎn)部15進(jìn)行旋轉(zhuǎn)地支撐的主體部20a。在旋轉(zhuǎn)部15中搭載有:X射線管21，控制X射線管21的X射線控制器(controller)22，對(duì)從X射線管21產(chǎn)生的X射線束(beam)81進(jìn)行準(zhǔn)直(collimate)的準(zhǔn)直器(collimator)23,檢測(cè)透射被檢體40的X射線束81的X射線檢測(cè)器24，將X射線檢測(cè)器24的輸出轉(zhuǎn)換為投影數(shù)據(jù)并收集的數(shù)據(jù)收集裝置(DAS；DataAcquisitionSystem)25,進(jìn)行X射線控制器22、準(zhǔn)直器23、DAS25的控制的旋轉(zhuǎn)部控制器26。主體部20a具備與操作控制臺(tái)1、攝影臺(tái)10進(jìn)行控制信號(hào)等的通信的控制控制器29。旋轉(zhuǎn)部15和主體部20a經(jīng)由滑環(huán)(slipring)30電連接。圖2是根據(jù)本實(shí)施方式的X射線CT裝置中的被照射射線量計(jì)算處理所涉及的部分的功能塊圖。如圖2所示，根據(jù)本實(shí)施方式的X射線CT裝置具備:掃描條件設(shè)定部101、被照射射線量計(jì)算部102以及圖像顯示控制部103。掃描條件設(shè)定部101按照操作者的操作而設(shè)定用于主掃描的期望掃描條件。作為掃描條件，能舉出攝影部位、掃描范圍、X射線管的管電壓、管電流、門(mén)架I的旋轉(zhuǎn)時(shí)間、掃描模式(scanmode)等。掃描模式是螺旋模式的情況下的螺旋間距、使用自動(dòng)露出機(jī)構(gòu)的情況下的圖像噪聲(noise)的指標(biāo)值等也包含于該掃描條件。此外，從這些掃描條件確定對(duì)攝影對(duì)象進(jìn)行主掃描時(shí)的設(shè)定管電壓set_KV和作為管電流與X射線照射時(shí)間的積的設(shè)定射線量setjnAs。設(shè)攝影部位為例如從“頭部/兒童”、“身體部”等中選擇。被照射射線量計(jì)算部102基于設(shè)定的期望掃描條件來(lái)計(jì)算攝影對(duì)象的被照射射線量。在本例中，計(jì)算現(xiàn)有CTDI值conv_CTD1、現(xiàn)有DLP值conv_DLP、體表面CTDI等效值skin_CTDI以及體表面DLP等效值skin_DLP共4種被照射射線量。以下，對(duì)利用被照射射線量計(jì)算部102的計(jì)算處理詳細(xì)地進(jìn)行說(shuō)明。被照射射線量計(jì)算部102存儲(chǔ)用于現(xiàn)有CTDI值conv_CTDI的計(jì)算的現(xiàn)有基準(zhǔn)被照射射線量c0nV_ref_D0Se所涉及的第一表Tl、以及用于體表面CTDI等效值skin_CTDI的計(jì)算的體表面基準(zhǔn)被照射射線量skin_ref_Dose所涉及的第二表T2。圖3示出第一及第二表的一個(gè)例子。第一表Tl表示的現(xiàn)有基準(zhǔn)被照射射線量conv_ref_Dose是在射線量(mAs)為既定基準(zhǔn)射線量ref_mAs的掃描條件下，對(duì)標(biāo)準(zhǔn)模型進(jìn)行X射線管的I個(gè)旋轉(zhuǎn)的量的掃描時(shí)所得的CTDIw值。圖4示出標(biāo)準(zhǔn)模型及X射線傳感器的一個(gè)例子。圖4(a)是在軸方向觀看標(biāo)準(zhǔn)模型的圖，圖4(b)是立體圖。標(biāo)準(zhǔn)模型50例如是丙烯(acrylic)制的,如圖4所示,具有圓柱形狀。另外，在標(biāo)準(zhǔn)模型50中，在其中心部A和位于其表面附近的深部B、C、D、E沿著圓柱軸方向設(shè)有測(cè)定用孔。通常將作為長(zhǎng)度IOOmm的電離箱的棒狀X射線傳感器51插入這些中心部A、深部B、C、D、E的孔，并掃描標(biāo)準(zhǔn)模型50中的掃描位置Zs，由此進(jìn)行用于求取CTDIw值的X射線射線量的測(cè)定。關(guān)于標(biāo)準(zhǔn)模型50，主要有直徑16cm的頭部模型和直徑32cm的身體部模型這2種。作為標(biāo)準(zhǔn)模型50的深部位置，能夠認(rèn)為是距離其表面0.5cm以上、2cm以下的既定深度的位置，但最一般的是距離表面Icm的深度的位置?，F(xiàn)有基準(zhǔn)被照射射線量conv_ref_Dose、即CTDIw值能夠基于在標(biāo)準(zhǔn)模型50的中心和表面附近位置處測(cè)定的X射線射線量求取，如下式那樣地定義。(數(shù)學(xué)式I)現(xiàn)有基準(zhǔn)被照射射線量c0nV_ref_D0Se=CTDIw=I/3CTDImcenter+2/3CTDI100；edge；aveCl)在此，CTDI100；center是在標(biāo)準(zhǔn)模型50的中心部A插入棒狀X射線傳感器51并測(cè)定的每單位切片厚的X射線射線量。另外，CTDIltltlefeave是在作為標(biāo)準(zhǔn)模型50的表面附近的測(cè)定位置的深部B、C、D、E插入棒狀X射線傳感器51并測(cè)定的每單位切片厚的X射線射線量的平均值。如圖3所示，第一表Tl將基于標(biāo)準(zhǔn)模型的種類(lèi)即尺寸(size)與掃描該標(biāo)準(zhǔn)模型50時(shí)的管電壓的組合的條件、與在該條件下求取的現(xiàn)有基準(zhǔn)被照射射線量conv_ref_Dose,對(duì)每個(gè)該條件進(jìn)行對(duì)應(yīng)并表示。另一方面，體表面基準(zhǔn)被照射射線量skin_ref_D0Se是在射線量(mAs)為基準(zhǔn)射線量refjnAs的掃描條件下，對(duì)標(biāo)準(zhǔn)模型50進(jìn)行X射線管的I個(gè)旋轉(zhuǎn)的量的掃描時(shí)所得的、與標(biāo)準(zhǔn)模型50的表面附近對(duì)應(yīng)的CTDI等效值。將棒狀X射線傳感器51插入作為標(biāo)準(zhǔn)模型50的表面附近的測(cè)定位置的深部的孔，并掃描標(biāo)準(zhǔn)模型，由此進(jìn)行用于求取該體表面基準(zhǔn)被照射射線量Skin_ref_DoSe的X射線射線量的測(cè)定。第二表T2表示的體表面基準(zhǔn)被照射射線量skin_ref_D0Se是基于“僅”在標(biāo)準(zhǔn)模型50的表面附近的測(cè)定位置處測(cè)定的X射線射線量而求取的，在本例中，如下式那樣地定義。(數(shù)學(xué)式2)體表面基準(zhǔn)被照射射線量skin_ref_D0Se=CTDI100；edge(2)在此，CTDImedge是在作為標(biāo)準(zhǔn)模型50的表面附近的測(cè)定位置的深部處，使用基于長(zhǎng)度IOOmm的電離箱的棒狀X射線傳感器51測(cè)定的X射線射線量。但是，在此處的CTDIltltledge中，優(yōu)選使用在作為標(biāo)準(zhǔn)模型50的表面附近的測(cè)定位置的、測(cè)定的X射線射線量實(shí)質(zhì)上成為最大的位置處測(cè)定的量。例如，如圖5所示，在標(biāo)準(zhǔn)模型50承載于托架12上而進(jìn)行掃描的情況下，由于X射線81通過(guò)托架12時(shí)強(qiáng)度減弱，所以使用將X射線傳感器51插入位于最接近X射線管21的位置、即標(biāo)準(zhǔn)模型50的最上的測(cè)定位置的深部B而測(cè)定的數(shù)據(jù)。由此，作為體表面CTDI等效值skin_CTDI，能夠求取與標(biāo)準(zhǔn)模型50的表面附近對(duì)應(yīng)的被照射射線量中最大的被照射射線量，能夠防止對(duì)攝影對(duì)象的被照射的過(guò)小評(píng)價(jià)。如圖3所示，第二表T2將基于標(biāo)準(zhǔn)模型50的種類(lèi)(尺寸)和掃描該標(biāo)準(zhǔn)模型50時(shí)的管電壓的組合的條件、與在該條件下求取的體表面基準(zhǔn)被照射射線量skin_ref_Dose、對(duì)每個(gè)該條件進(jìn)行對(duì)應(yīng)并表示。這樣，被照射射線量計(jì)算部102將在射線量(mAs)為基準(zhǔn)射線量refjnAs的掃描條件下掃描標(biāo)準(zhǔn)模型50而求取的基準(zhǔn)被照射射線量，對(duì)應(yīng)每次掃描時(shí)的管電壓、標(biāo)準(zhǔn)模型的種類(lèi)以及X射線射線量測(cè)定位置(中心&表面/僅表面)進(jìn)行存儲(chǔ)。被照射射線量計(jì)算部102首先從在第一及第二表Tl、T2登記的條件中，確定基于與設(shè)定管電壓set_KV相同或最接近的管電壓、和與設(shè)定攝影部位set_obj大小接近一方的標(biāo)準(zhǔn)模型的種類(lèi)(尺寸)的組合的條件。接著，參照第一表Tl，讀出與該確定的條件對(duì)應(yīng)的現(xiàn)有基準(zhǔn)被照射射線量conv_ref_Dose。然后,通過(guò)將該讀出的現(xiàn)有基準(zhǔn)被照射射線量conv_ref_Dose乘以用(設(shè)定射線量set_mAs/基準(zhǔn)射線量ref_mAs)表示的因數(shù)(factor),算出現(xiàn)有CTDI值conv_CTDI。(數(shù)學(xué)式3)現(xiàn)有CTDI值conv_CTDI=conv_ref_Dose.(set_mAs/ref_mAs)(3)另外，被照射射線量計(jì)算部102參照第二表T2，讀出與上述確定的條件對(duì)應(yīng)的體表面基準(zhǔn)被照射射線量Skin_ref_DoSe。然后，通過(guò)將該讀出的現(xiàn)有基準(zhǔn)被照射射線量skin_ref_Dose乘以用(設(shè)定射線量set_mAs/基準(zhǔn)射線量ref_mAs)表示的因數(shù)，算出體表面CTDI等效值skin_CTDI。(數(shù)學(xué)式4)體表面CTDI等效值skin_CTDI=skin_ref_Dose.(set_mAs/ref_mAs)(4)此外，在設(shè)定螺旋模式作為掃描模式的情況下，通過(guò)用數(shù)學(xué)式(3)、(4)算出的值進(jìn)一步除以螺旋間距hp，分別求取現(xiàn)有CTDI值conv_CTD1、體表面CTDI等效值skin_CTDI。螺旋間距hp是在X射線管的每I個(gè)旋轉(zhuǎn)中，被檢體對(duì)X射線管21的相對(duì)移動(dòng)距離與X射線束寬度之比。另外，在設(shè)定可變間距螺旋模式作為掃描模式的情況下，通過(guò)用數(shù)學(xué)式(3)、(4)算出的值進(jìn)一步除以按時(shí)間加權(quán)相加的螺旋間距換算值hp’，分別求取現(xiàn)有CTDI值conv_CTD1、體表面CTDI等效值skin_CTDI。另外，被照射射線量計(jì)算部102通過(guò)將算出的現(xiàn)有CTDI值conv_CTDI及體表面CTDI等效值skin_CTDI乘以設(shè)定的掃描范圍的寬度L，分別求取現(xiàn)有DLP值conv_DLP及體表面DLP等效值skin_DLP。圖像顯示控制部103控制監(jiān)視器6來(lái)按照需要在畫(huà)面顯示各種圖像、信息。在本例中，圖像顯示控制部103將利用被照射射線量計(jì)算部102計(jì)算出的被照射射線量顯示于監(jiān)視器6的畫(huà)面。由此，對(duì)根據(jù)本實(shí)施方式的X射線CT裝置中的動(dòng)作進(jìn)行說(shuō)明。圖6是示出根據(jù)本實(shí)施方式的X射線CT裝置中的被照射射線量計(jì)算處理的流程的流程圖。在步驟(step)SI中，操作者參照預(yù)先取得的被檢體的偵察(scout)像并且輸入掃描條件。掃描條件設(shè)定部101將輸入的掃描條件設(shè)定為主掃描的掃描條件。設(shè)定的掃描條件包括攝影部位、掃描范圍、X射線管的管電壓、管電流、掃描模式等。由此，確定設(shè)定管電壓set_KV、設(shè)定射線量set_mAs等。在步驟S2中，被照射射線量計(jì)算部102確定基于與設(shè)定管電壓set_KV相同或最接近的管電壓、和與設(shè)定攝影部位set_obj大小接近一方的標(biāo)準(zhǔn)模型的種類(lèi)(尺寸)的組合的條件。在步驟S3中，被照射射線量計(jì)算部102，參照第一表Tl，讀出與該確定的條件對(duì)應(yīng)的現(xiàn)有基準(zhǔn)被照射射線量conv_ref_Dose。在步驟S4中，被照射射線量計(jì)算部102通過(guò)將該讀出的現(xiàn)有基準(zhǔn)被照射射線量conv_ref_Dose乘以用(設(shè)定射線量set_mAs/基準(zhǔn)射線量ref_mAs)表示的因數(shù),算出現(xiàn)有CTDI值COnv_CTDI。在掃描模式為螺旋模式、可變間距螺旋模式的情況下，考慮螺旋間距hp、螺旋間距換算值hp’進(jìn)行算出。在步驟S5中，被照射射線量計(jì)算部102參照第二表T2，讀出與該確定的條件對(duì)應(yīng)的體表面基準(zhǔn)被照射射線量skin_ref_Dose。在步驟S6中，被照射射線量計(jì)算部102通過(guò)將該讀出的體表面基準(zhǔn)被照射射線量skin_ref_Dose乘以用(設(shè)定射線量set_mAs/基準(zhǔn)射線量ref_mAs)表示的因數(shù),算出體表面CTDI等效值skin_CTDI。在掃描模式是螺旋模式、可變間距螺旋模式的情況下，考慮螺旋間距hp、螺旋間距換算值hp’進(jìn)行算出。在步驟S7中，被照射射線量計(jì)算部102，通過(guò)將算出的現(xiàn)有CTDI值conv_CTDI及體表面CTDI等效值skin_CTDI乘以設(shè)定的掃描范圍的寬度L，分別求取現(xiàn)有DLP值conv_DLP及體表面DLP等效值skin_DLP。在步驟S8中，圖像顯示控制部103將利用被照射射線量計(jì)算部102計(jì)算出的被照射射線量顯示于監(jiān)視器6的畫(huà)面。在圖7示出算出的被照射射線量的顯示例。依據(jù)這樣的第I實(shí)施方式，能夠算出與被照射射線量實(shí)質(zhì)上成為最大的、攝影對(duì)象的表面或其附近對(duì)應(yīng)的被照射射線量，能夠提供能進(jìn)行攝影對(duì)象的更正確的被照射評(píng)價(jià)的信息。此外,被照射射線量的現(xiàn)行的提供方法由國(guó)際電氣標(biāo)準(zhǔn)會(huì)議(IECJnternationalElectrotechnicalCommission)60601確定,但沒(méi)有規(guī)定提供這樣的與攝影對(duì)象的表面對(duì)應(yīng)的被照射射線量的信息這一內(nèi)容。然而，與攝影對(duì)象的表面對(duì)應(yīng)的被照射射線量表示攝影對(duì)象中的實(shí)質(zhì)的最大被照射射線量，并且表示與放射線感受性高的部位存在的位置對(duì)應(yīng)的被照射射線量。因此，依據(jù)本實(shí)施方式提供的被照射射線量的信息，在進(jìn)行攝影對(duì)象的被照射評(píng)價(jià)上價(jià)值非常高。(第2實(shí)施方式)在第I實(shí)施方式中，在計(jì)算體表面CTDI等效值skin_CTD`I時(shí)，使用利用基于長(zhǎng)度IOOmm的電離箱的棒狀X射線傳感器而測(cè)定的X射線射線量。在該情況下，計(jì)算出的被照射射線量在z方向上平均化，未考慮被照射射線量的z方向的分布。在本例中，也考慮被照射射線量的z方向的分布，能夠以更好的精度計(jì)算與標(biāo)準(zhǔn)模型50的表面附近對(duì)應(yīng)的被照射射線量中最大的被照射射線量作為體表面CTDI等效值。一般而言，基于長(zhǎng)度IOOmm的電離箱的棒狀X射線傳感器(例如，RadCal社制的放射線監(jiān)視器Radcal9015)存在著從其輸出所得的射線量值的精度高，但難以測(cè)定射線量的z方向的分布這一'I"生質(zhì)。另一方面，基于半導(dǎo)體的小型X射線傳感器(例如，RTI社制的X射線分析儀Barracuda)存在著從其輸出所得的射線量值的精度下降，但對(duì)射線量的線性好這一性質(zhì)，適合于射線量的z方向的分布的測(cè)定。因此，在本例中，利用這些X射線傳感器的各自的優(yōu)點(diǎn)，如以下那樣確定體表面基準(zhǔn)被照射射線量skin_ref_Dose。首先，在射線量(mAs)為基準(zhǔn)射線量refjnAs的掃描條件下，對(duì)標(biāo)準(zhǔn)模型50進(jìn)行X射線管的I個(gè)旋轉(zhuǎn)的量的掃描，測(cè)定標(biāo)準(zhǔn)模型50的表面附近的測(cè)定位置處的X射線射線量V。將基于長(zhǎng)度IOOmm的電離箱的棒狀X射線傳感器51插入作為標(biāo)準(zhǔn)模型50的最上的測(cè)定位置的深部B而進(jìn)行X射線射線量V的測(cè)定。另外，為了求取被照射射線量的z方向的最大值，對(duì)相同標(biāo)準(zhǔn)模型以與該掃描相同的X射線束寬度進(jìn)行X射線照射，測(cè)定與該表面附近的測(cè)定位置相同的位置處的Z方向的射線量曲線PF。例如，將檢測(cè)射線量的小型半導(dǎo)體傳感器插入標(biāo)準(zhǔn)模型50的表面附近的測(cè)定位置的深部B，并承載于托架12。X射線管21配置于觀察角度O度即最上。而且，逐漸在z方向上移動(dòng)托架12，并且反復(fù)進(jìn)行從X射線管21對(duì)該標(biāo)準(zhǔn)模型50的X射線束照射，采樣(sampling)半導(dǎo)體傳感器的輸出。米樣的值描繪于以橫軸為z方向的坐標(biāo)的圖表。由此，求取如圖8所示的射線量曲線PF。此外，為了精度良好地求取射線量曲線PF，需要充分減小采樣的z方向的間隔，例如，到0.5mm以內(nèi)。另外，射線量曲線PF例如測(cè)定距離X射線束的中心在z方向上±5cm的量即共IOcm的量。另外，射線量曲線PF也可以是將X射線管21變?yōu)榛ハ嗖煌亩鄠€(gè)觀察角度，將用每次用上述方法測(cè)定的射線量曲線平均化后的曲線。若測(cè)定得射線量曲線PF，則如圖9所示，以其峰射線量值為I的方式將其歸一化，生成歸一化完成射線量曲線PFnorm，求取該歸一化完成射線量曲線PFnorm的曲線面積Snorm0(數(shù)學(xué)式5)權(quán)利要求1.一種放射線斷層攝影裝置，顯示與攝影對(duì)象的表面附近對(duì)應(yīng)的被照射射線量。2.如權(quán)利要求1所述的放射線斷層攝影裝置，其中，具備計(jì)算單元，所述計(jì)算單元基于對(duì)模型進(jìn)行放射線照射時(shí)、僅在所述模型的表面附近的測(cè)定位置處測(cè)定的放射線射線量，計(jì)算所述被照射射線量。3.如權(quán)利要求2所述的放射線斷層攝影裝置，其中，所述計(jì)算單元基于在對(duì)模型進(jìn)行放射線照射時(shí)、在作為所述模型的表面附近的測(cè)定位置的、放射線射線量實(shí)質(zhì)上成為最大的位置處測(cè)定的放射線射線量，計(jì)算所述被照射射線量。4.如權(quán)利要求3所述的放射線斷層攝影裝置，其中，所述模型承載于攝影臺(tái)的桌面上，所述放射線實(shí)質(zhì)上成為最大的位置是最接近放射線源的位置。5.如權(quán)利要求2到4的任一項(xiàng)所述的放射線斷層攝影裝置，其中，所述計(jì)算單元基于對(duì)所述模型進(jìn)行掃描時(shí)、在所述表面附近的測(cè)定位置處測(cè)定的第I放射線射線量，計(jì)算所述被照射射線量。6.如權(quán)利要求2到4的任一項(xiàng)所述的放射線斷層攝影裝置，其中，所述計(jì)算單元基于將對(duì)所述模型進(jìn)行掃描時(shí)、在所述表面附近的測(cè)定位置處測(cè)定的放射線射線量、除以對(duì)所述模型以與該掃描相同的放射線束寬度進(jìn)行放射線照射時(shí)在該測(cè)定位置處測(cè)定的放射線束寬度方向的射線量曲線用其峰射線量值歸一化后的曲線面積而成的第I放射線射線量，計(jì)算所述被照射射線量。7.如權(quán)利要求6所述的放射線斷層攝影裝置，其中，所述射線量曲線是將放射線源配置于互相不同的多個(gè)觀察角度而進(jìn)行放射線照射時(shí)測(cè)定的多個(gè)射線量曲線平均化后的曲線。8.如權(quán)利要求5到7的任一項(xiàng)所述的放射線斷層攝影裝置，其中，在設(shè)定螺旋掃描作為期望掃描條件的情況下，所述計(jì)算單元基于所述第I放射線射線量除以螺旋間距而成的放射線射線量，計(jì)算所述被照射射線量。9.如權(quán)利要求5到7的任一項(xiàng)所述的放射線斷層攝影裝置，其中，在設(shè)定可變間距螺旋掃描作為期望掃描條件的情況下，所述計(jì)算單元基于所述第I放射線射線量除以使用時(shí)間加權(quán)平均得到的螺旋間距換算值而成的放射線射線量，計(jì)算所述被照射射線量。10.如權(quán)利要求5到9的任一項(xiàng)所述的放射線斷層攝影裝置，其中，在設(shè)定照射不足360度的量的放射線的局部掃描作為期望掃描條件的情況下，所述計(jì)算單元基于進(jìn)行所述局部掃描的觀察角度范圍，計(jì)算所述被照射射線量。11.如權(quán)利要求5到9的任一項(xiàng)所述的放射線斷層攝影裝置，其中，在設(shè)定照射不足360度的量的放射線的局部掃描作為期望掃描條件的情況下，所述計(jì)算單元基于進(jìn)行所述局部掃描作為對(duì)所述模型的掃描時(shí)所得的所述第I放射線射線量，計(jì)算所述被照射射線量。12.如權(quán)利要求5到9的任一項(xiàng)所述的放射線斷層攝影裝置，其中，在設(shè)定照射不足360度的量的放射線的局部掃描作為期望掃描條件的情況下，所述計(jì)算單元基于將在互相不同的多個(gè)觀察角度范圍中進(jìn)行局部掃描作為對(duì)所述模型的掃描時(shí)所得的多個(gè)所述第I放射線射線量平均化后的放射線射線量，計(jì)算所述被照射射線量。13.如權(quán)利要求5到9的任一項(xiàng)所述的放射線斷層攝影裝置，其中，對(duì)所述模型的掃描是照射360度的量的放射線的全掃描。14.如權(quán)利要求2到13的任一項(xiàng)所述的放射線斷層攝影裝置，其中，所述模型是丙烯制的，具有直徑16cm或32cm的圓柱形狀，所述表面附近的測(cè)定位置是距離所述表面0.5cm以上、2cm以下的深度的位置。15.一種被照射射線量計(jì)算方法，基于對(duì)模型進(jìn)行放射線照射時(shí)、僅在所述模型的表面附近的測(cè)定位置處測(cè)定的放射線射線量，計(jì)算利用放射線斷層攝影裝置進(jìn)行攝影的攝影對(duì)象的被照射射線量。16.如權(quán)利要求15所述的被照射射線量計(jì)算方法，其中，預(yù)先測(cè)定對(duì)所述模型進(jìn)行掃描時(shí)的所述表面附近的測(cè)定位置處的第I放射線射線量，基于該第I放射線射線量計(jì)算所述被照射射線量。17.如權(quán)利要求15所述的被照射射線量計(jì)算方法，其中，預(yù)先測(cè)定對(duì)所述模型進(jìn)行掃描時(shí)的所述表面附近的測(cè)定位置處的放射線射線量、和對(duì)所述模型以與該掃描相同的放射線束寬度進(jìn)行放射線照射時(shí)的該測(cè)定位置處的放射線束寬度方向的射線量曲線用其峰射線量值歸一化后的曲線面積，基于所述表面附近的測(cè)定位置處的放射線射線量除以所述曲線面積而成的第I放射線射線量，計(jì)算所述被照射射線量。18.一種用于使計(jì)算機(jī)作為計(jì)算單元起作用的程序，所述計(jì)算單元基于對(duì)模型進(jìn)行放射線照射時(shí)僅在所述模型的表面附近的測(cè)定位置處測(cè)定的放射線射線量，計(jì)算利用放射線斷層攝影裝置進(jìn)行攝影的攝影對(duì)象的被照射射線量。19.如權(quán)利要求18所述的程序，其中，所述計(jì)算單元基于對(duì)所述模型進(jìn)行掃描時(shí)在所述表面附近的測(cè)定位置處測(cè)定的第I放射線射線量，計(jì)算所述被照射射線量。20.如權(quán)利要求18所述的程序，其中，所述計(jì)算單元基于對(duì)所述模型進(jìn)行掃描時(shí)在所述表面附近的測(cè)定位置處測(cè)定的放射線射線量、除以對(duì)所述模型以與該掃描相同的放射線束寬度進(jìn)行放射線照射時(shí)在該測(cè)定位置處測(cè)定的放射線束寬度方向的射線量曲線用其峰射線量值歸一化后的曲線面積而成的第I放射線射線量，計(jì)算所述被照射射線量。全文摘要本發(fā)明涉及放射線斷層攝影裝置、被照射射線量計(jì)算方法以及程序。其顯示與攝影對(duì)象的表面或其附近對(duì)應(yīng)的被照射射線量。例如，基于在對(duì)CTDI測(cè)定用標(biāo)準(zhǔn)模型(50)進(jìn)行掃描時(shí)在其表面的附近位置處使用X傳感器(51)測(cè)定的放射線射線量來(lái)計(jì)算該被照射射線量。測(cè)定放射線射線量的位置，例如是為使顯示的被照射射線量為與表面對(duì)應(yīng)的被照射射線量中最大的被照射射線量，而設(shè)定為不受到托架(12)導(dǎo)致的X射線(81)的減弱的影響的、模型(50)的正上方側(cè)的表面附近位置(B)。從而提供能進(jìn)行攝影對(duì)象的更正確的被照射評(píng)價(jià)的信息。文檔編號(hào)A61B6/03GK103142243SQ20121049740公開(kāi)日2013年6月12日申請(qǐng)日期2012年11月29日優(yōu)先權(quán)日2011年11月29日發(fā)明者石原陽(yáng)太郎申請(qǐng)人:Ge醫(yī)療系統(tǒng)環(huán)球技術(shù)有限公司