專利名稱：一種放射攝影探測器光路系統(tǒng)測試裝置及測試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及放射攝影探測器技術(shù)領(lǐng)域，具體涉及一種放射攝影探測 器光路系統(tǒng)測試裝置及測試方法。
背景技術(shù)：
如圖1和圖2所示，放射攝影探測器成像原理是放射線穿透物體 (人體、行李包、工業(yè)零件等)后，這種具有物體內(nèi)部結(jié)構(gòu)影像信息的 射線投照在特殊材料制作的閃爍屏上，閃爍屏把X射線這種不可見光轉(zhuǎn) 換成可見光，然后這種可見光直接被相機(jī)接收或經(jīng)反射鏡反射后^皮相機(jī) 接收，光信號經(jīng)轉(zhuǎn)接處理傳輸?shù)接跋窆ぷ髡緝Υ婕帮@示出來。
放射影像探測器在研制與生產(chǎn)過程中，其光路系統(tǒng)的測試是所有測 試中最基本的也是最重要的測試，要反復(fù)地測試相4幾相對于閃爍屏的座 標(biāo)值，以取得最佳圖像質(zhì)量。在沒有測試裝置的情況下，則產(chǎn)品經(jīng)過X 射線反復(fù)投照，不斷調(diào)整相機(jī)座標(biāo)位亙，直到調(diào)整到圖像最佳狀態(tài)為止。 這沖羊測試調(diào)整，要頻繁地進(jìn)行X射線投照，對人及設(shè)備損害較大，再就 是產(chǎn)品內(nèi)零部件較多，操作調(diào)整非常繁瑣，效率4氐下。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是提供一種放射4聶影探測器光路系統(tǒng)測 :武裝置及測試方法，克服現(xiàn)有技術(shù)在進(jìn)行放射攝影探測器光路系統(tǒng)測試 時(shí)，必須利用放射攝影探測器實(shí)體進(jìn)行測試，設(shè)備及人員容易受到X射
線傷害，以及測試過程中的部件調(diào)整非常繁瑣，測試效率低下的缺陷。
本發(fā)明為解決上述技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案為
一種放射攝影探測器光路系統(tǒng)測試裝置，包括放置在一支架上的光 源、閃爍屏或毛玻璃、反射鏡、相機(jī)，所述光源設(shè)置于所述閃爍屏或毛 玻璃的上端，所述反射鏡設(shè)置于所述閃爍屏或毛玻璃的下端，并與所述 閃爍屏或毛玻璃呈45度角，所述相機(jī)設(shè)置于所述反射鏡鏡面的對端。
所述放射攝影探測器光路系統(tǒng)測試裝置的進(jìn)一步優(yōu)化是還包括燈 箱罩，所述光源位于所述燈箱罩的內(nèi)部，所述燈箱罩的敞口對接所述閃 爍屏或毛玻璃。
所述放射攝影探測器光路系統(tǒng)測試裝置的進(jìn)一步優(yōu)化是還包括光 線轉(zhuǎn)換箱，所述光線轉(zhuǎn)換箱的敞口對接所述閃爍屏或毛玻璃，所述反射
4免^:置于所述光線轉(zhuǎn)換箱內(nèi)的對角線上，所述光線4爭換箱相對于所述相
^a的箱面上設(shè)置透光孔。
所述力文射攝影探測器光路系統(tǒng)測試裝置的進(jìn)一步優(yōu)化是還包括相 才;l暗箱，所述相才幾位于所述相一/l暗箱內(nèi)部，所述相4幾暗箱的敞口^H妻所 迷光線轉(zhuǎn)換箱。
所述i文射攝影探測器光路系統(tǒng)測試裝置的進(jìn)一步優(yōu)化是還包括調(diào) 整支架，所述相機(jī)放置于所述調(diào)整支架上，所述調(diào)整支架置于所述相機(jī) 暗箱內(nèi)部。
所述》文射攝影探測器光路系統(tǒng)測試裝置的進(jìn)一 步優(yōu)化是所述光源 i殳為日光燈。
一種放射攝影探測器光路系統(tǒng)測試方法，設(shè)置如權(quán)利要求1至6任 一所述的ii:射攝影探測器光路系統(tǒng)測試裝置并執(zhí)行如下步驟 Al、啟動(dòng)所述測試裝置，使用所述光源照射所述反射鏡；
A2、調(diào)整相機(jī)鏡頭光軸與反射鏡的交點(diǎn)到相機(jī)鏡頭的距離D,直到
所述相機(jī)顯示清晰的影像； A3、記錄相機(jī)鏡頭光軸與反射鏡的交點(diǎn)到相機(jī)鏡頭的距離D; A4、將所述相機(jī)安放到放射攝影探測器光路系統(tǒng)中以后，根據(jù)所述
距離D調(diào)整相機(jī)位置。
本發(fā)明的有益效果為由于本發(fā)明放射攝影探測器光路系統(tǒng)測試裝 置使用普通光源替代X射線，并且將放射攝影探測器光路系統(tǒng)的測試調(diào) 整簡化為對相機(jī)的位置調(diào)整，將放射攝影探測器光路系統(tǒng)的測試分離到 測試裝置上進(jìn)行，因此避免了 X射線才人員及設(shè)備的傷害，大大提高了 放射攝影探測器光路系統(tǒng)的測試效率，本發(fā)明放射攝影探測器光路系統(tǒng) 測試裝置還可以作為閃爍屏質(zhì)量品質(zhì)的檢測工具，這同樣節(jié)約了成本， 提高了檢測效率。


圖1為現(xiàn)有技術(shù)放射攝影探測器成像原理示意圖之一；
圖2為現(xiàn)有技術(shù)放射攝影探測器成像原理示意圖之二；
圖3為本發(fā)明放射攝影探測器光路系統(tǒng)示意圖4為本發(fā)明放射攝影探測器光路系統(tǒng)測試裝置示意圖5為本發(fā)明放射攝影探測器光路系統(tǒng)測試裝置燈箱示意圖6為本發(fā)明放射攝影探測器光路系統(tǒng)測試裝置光線轉(zhuǎn)換箱示意
圖7為本發(fā)明放射攝影探測器光路系統(tǒng)測試裝置調(diào)整支架示意圖； 圖8為本發(fā)明放射攝影探測器光路系統(tǒng)測試裝置相機(jī)暗箱示意圖。
具體實(shí)施例方式
下面根據(jù)附圖和實(shí)施例對本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)"^兌明
如圖3所示，放射攝影探測器光路系統(tǒng)工作時(shí)X光線入射到探測區(qū) 咸，穿過被測物體后被閃爍體轉(zhuǎn)換成可見光，可見光再被反射鏡(45°傾 鈄)反射，經(jīng)相機(jī)光學(xué)鏡頭聚焦在CCD芯片上成^象，就可以得到人體 部位的影像。其中d:平面反射鏡軸向尺寸，dl:鏡頭光軸到探測平 面的垂直距離，d2:鏡頭光軸與反射鏡的交點(diǎn)到鏡頭中心的距離， 鏡頭視場角，L:物距，L，像距，參數(shù)計(jì)算如果鏡頭焦距為f，探測 區(qū)域尺寸為axa mm , CCD芯片尺寸為bxb mm ， 則物距 L=dl+d2=f(l+a/b)，像距L，=f(l+b/a)。再通過鏡頭一見場角6>和三角形幾何 知識可計(jì)算得到d, dl, d2。在放射攝影探測器中，探測平面和反射鏡 的位置關(guān)系是固定的，在實(shí)際光路調(diào)試中，可通過調(diào)整鏡頭光軸與反射 鏡的交點(diǎn)到鏡頭的距離D來獲得清晰的影像，一般距離D的調(diào)整數(shù)值都 在d2理論值附近。根據(jù)上述分析，現(xiàn)在將放射攝影探測器光路系統(tǒng)設(shè) 昱在本發(fā)明放射攝影探測器光路系統(tǒng)測試裝置中，4吏用普通光源替代X 光進(jìn)行測試，并記錄測量的d2值，然后在將相機(jī)裝到放射攝影探測器 上以后，根據(jù)d2值確定相機(jī)的安放位置，很快就可以完成放射攝影探 測器光路系統(tǒng)調(diào)試工作。
如圖4、圖5、圖6、圖7和圖8所示，本發(fā)明放射攝影探測器光路 系統(tǒng)測試裝置包括日光燈5、閃爍屏或毛玻璃9、反射鏡12、相機(jī)13， 日光燈5設(shè)置于閃爍屏或毛玻璃9的上端，反射鏡12設(shè)置于閃爍屏或 毛玻璃9的下端，并與閃爍屏或毛玻璃9呈45度角，相機(jī)13設(shè)置于反 樸鏡12鏡面的對端。
本發(fā)明放射攝影探測器光路系統(tǒng)測試裝置的實(shí)施例包括燈箱罩1 、 iL線轉(zhuǎn)換箱2、調(diào)整支架3和相機(jī)暗箱4,調(diào)整支架3位于相機(jī)暗箱4 內(nèi)部，燈箱罩1、光線轉(zhuǎn)換箱2和相機(jī)暗箱4的箱體邊沿通過螺釘固定 在一起，燈箱罩1內(nèi)設(shè)置4只日光燈5，燈箱罩1外部設(shè)置燈開關(guān)6和
電源線及插頭7。燈箱罩1的敞口對接閃爍屏或毛玻璃9。光線轉(zhuǎn)換箱2 包括閃爍屏或毛玻璃壓蓋8、光線轉(zhuǎn)換箱2的敞口對接閃爍屏或毛玻璃 9,光線轉(zhuǎn)換箱2又分為轉(zhuǎn)換箱10和轉(zhuǎn)換箱ll'，反射鏡12設(shè)置于轉(zhuǎn)換 箱IO和轉(zhuǎn)換箱ll對接后形成的對角幾上，光線轉(zhuǎn)換箱2相對于相機(jī)的 箱面上設(shè)置透光孔。相機(jī)暗箱4的敞口對接光線轉(zhuǎn)換箱2。調(diào)整支架3 上3文置相才幾13。
本測試裝置把其中的光路系統(tǒng)的部件和光路測試移植到具有相同 空間結(jié)構(gòu)的測試裝置來完成。并用燈箱可見光代替x射線，測試相機(jī)圖 像，得到最佳圖像的測試結(jié)果，人和設(shè)備的安全得到保證，并簡化了操 作。本發(fā)明放射攝影探測器光路系統(tǒng)則試裝置還可以作為閃爍屏質(zhì)量品 質(zhì)的檢測工具，這同樣節(jié)約了成本，提高了檢測效率。
本發(fā)明根據(jù)上述放射攝影探測器光路系統(tǒng)測試裝置在進(jìn)行測試時(shí) 4丸4于如下步驟
Al、啟動(dòng)所述測試裝置，使用所述光源照射所述反射鏡；
A2、調(diào)整相機(jī)鏡頭光軸與反射鏡的交點(diǎn)到相機(jī)鏡頭的距離D,直到
所述相機(jī)顯示清晰的影^^; A3、記錄相機(jī)鏡頭光軸與反射鏡的交點(diǎn)到相機(jī)鏡頭的距離D; A4、將所述相機(jī)安放到放射攝影探測器光路系統(tǒng)中以后，根據(jù)所述
距離D調(diào)整相機(jī)位置。
本領(lǐng)域技術(shù)人員不脫離本發(fā)明的實(shí)質(zhì)和精神，可以有多種變形方案 實(shí)玉見本發(fā)明，以上所述僅為本發(fā)明較佳可行的實(shí)施例而已，并非因此局 限本發(fā)明的權(quán)利范圍，凡運(yùn)用本發(fā)明說明書及附圖內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu)
變化，均包含于本發(fā)明的權(quán)利范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種放射攝影探測器光路系統(tǒng)測試裝置，其特征在于:包括放置在一支架上的光源、閃爍屏或毛玻璃、反射鏡、相機(jī)，所述光源設(shè)置于所述閃爍屏或毛玻璃的上端，所述反射鏡設(shè)置于所述閃爍屏或毛玻璃的下端，并與所述閃爍屏或毛玻璃呈45度角，所述相機(jī)設(shè)置于所述反射鏡鏡面的對端。
2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的放射攝影探測器光路系統(tǒng)測試裝置，，其 特征在于還包括燈箱罩，所述光源位于所述燈箱罩的內(nèi)部，所述燈箱 罩的敞口對接所述閃爍屏或毛玻璃。
3、 根據(jù)權(quán)利要求2所述的放射攝影探測器光路系統(tǒng)測試裝置，其 特征在于還包括光線轉(zhuǎn)換箱，所述光線轉(zhuǎn)換箱的敞口對接所述閃爍屏 或毛玻璃，所述反射鏡設(shè)置于所述光線轉(zhuǎn)換箱內(nèi)的對角線上，所述光線 轉(zhuǎn)換箱相對于所述相機(jī)的箱面上設(shè)置透光孔。
4、 根據(jù)權(quán)利要求3所述的放射攝影探測器光路系統(tǒng)測試裝置，其 特4正在于還包括相機(jī)暗箱，所述相機(jī)位于所述相機(jī)暗箱內(nèi)部，所述相 才幾暗箱的敞口對接所述光線轉(zhuǎn)換箱。
5、 根據(jù)權(quán)利要求4所述的放射攝影探測器光^各系統(tǒng)測試裝置，其 特;f正在于還包括調(diào)整支架，所述相機(jī)放置于所述調(diào)整支架上，所述調(diào) 整支架置于所述相機(jī)暗箱內(nèi)部。
6、 根據(jù)權(quán)利要求1至5任一所述的放射攝影探測器光路系統(tǒng)測試 裝置，其特征在于所述光源設(shè)為日光燈。
7、 一種放射攝影探測器光路系統(tǒng)測試方法，其特征在于，設(shè)置如 權(quán)利要求1至6任一所述的放射攝影探測器光路系統(tǒng)測試裝置并執(zhí)行如下步驟Al、啟動(dòng)所述測試裝置，使用所迷光源照射所述反射鏡；A2、調(diào)整相機(jī)鏡頭光軸與反射鏡的交點(diǎn)到相機(jī)^:頭的距離D，直到所述相機(jī)顯示清晰的影像； A3、記錄相機(jī)鏡頭光軸與反射鏡的交點(diǎn)到相機(jī)鏡頭的距離D; A4、將所述相機(jī)安放到放射攝影探測器光路系統(tǒng)中以后，根據(jù)所述距離D調(diào)整相才幾位置。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種放射攝影探測器光路系統(tǒng)測試裝置，包括光源、閃爍屏或毛玻璃、反射鏡、相機(jī)，所述光源設(shè)置于所述閃爍屏或毛玻璃的上端，所述反射鏡設(shè)置于所述閃爍屏或毛玻璃的下端，并與所述閃爍屏或毛玻璃呈45度角，所述相機(jī)設(shè)置于所述反射鏡鏡面的對端。由于本發(fā)明放射攝影探測器光路系統(tǒng)測試裝置使用普通光源替代X射線，并且將放射攝影探測器光路系統(tǒng)的測試調(diào)整簡化為對相機(jī)的位置調(diào)整，將放射攝影探測器光路系統(tǒng)的測試分離到測試裝置上進(jìn)行，因此避免了X射線對人員及設(shè)備的傷害，大大提高了放射攝影探測器光路系統(tǒng)的測試效率。
文檔編號A61B6/00GK101371787SQ200710076619
公開日2009年2月25日 申請日期2007年8月24日 優(yōu)先權(quán)日2007年8月24日
發(fā)明者吳定漢, 滕久宏 申請人:深圳市藍(lán)韻實(shí)業(yè)有限公司