一種可配置的開關(guān)仿真器模塊的制作方法
【專利摘要】本發(fā)明涉及一種目標(biāo)檢測組件，其包括適于產(chǎn)生第一輸入信號的檢測構(gòu)件，以及可移除地固定到檢測構(gòu)件的仿真器模塊。該仿真器模塊包括可移除地固定到檢測構(gòu)件的仿真器殼體組件，以及設(shè)置在仿真器殼體組件上的選擇部分。選擇部分被配置為定向在第一和第二選擇模式。在第一選擇模式，設(shè)置在仿真器殼體組件內(nèi)的第一仿真電路接收第一輸入信號、處理第一輸入信號，并輸出與第一輸入信號不同的第一輸出信號。在第二選擇模式，設(shè)置在仿真器殼體組件內(nèi)的第二仿真電路接收第一輸入信號、處理第一輸入信號，并輸出與第一輸入信號和第一輸出信號不同的第二輸出信號。
【專利說明】—種可配置的開關(guān)仿真器模塊

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明大致涉及控制閥，并且更具體地涉及用于確定控制閥的關(guān)閉件的位置的位置檢測器。

【背景技術(shù)】
[0002]控制閥用在過程控制系統(tǒng)中以通過響應(yīng)于接收源自一個(gè)或多個(gè)閥控制器的信號而完全地或部分地開啟或封閉從而控制諸如流量、壓力、溫度和/或液位的狀態(tài)。典型地，閥控制器可操作地耦接至設(shè)置在系統(tǒng)內(nèi)的一個(gè)或多個(gè)傳感器或開關(guān)上，或者閥控制器包括設(shè)置在系統(tǒng)內(nèi)的一個(gè)或多個(gè)傳感器或開關(guān)，因此，這允許閥控制器將一個(gè)或多個(gè)“設(shè)定點(diǎn)”與對應(yīng)的“過程變量”相比較，其中，該“過程變量”的值由開關(guān)或傳感器提供。典型地，控制閥的開啟或閉合通過電子的、液壓的或氣動的致動器自動完成。此外，例如基于接收源自閥控制器的電子的或氣動的信號，定位器可以用來控制致動器的開啟和閉合。
[0003]在典型的控制閥組件中，閥控制器的或其他傳感器一個(gè)或多個(gè)開關(guān)(諸如接近開關(guān))適于檢測耦接到閥(例如閥桿)的一部分的目標(biāo)(諸如磁鐵)以確定控制閥的一個(gè)或多個(gè)運(yùn)行參數(shù)，諸如控制閥的關(guān)閉件的位置。該一個(gè)或多個(gè)開關(guān)或其他傳感器通常固定到控制閥的固定部分，諸如，閥蓋的一部分，并且目標(biāo)被連接到關(guān)閉件的可移置的桿上。選擇該一個(gè)或多個(gè)開關(guān)或其他傳感器用于獨(dú)特的應(yīng)用。例如，在需要時(shí)即當(dāng)目標(biāo)在那慕爾(Namur)型傳感器的預(yù)定范圍內(nèi)而阻抗輸出從低到高增加時(shí)，可以使用那慕爾型傳感器。作為另一個(gè)例子，在存在易燃?xì)怏w的環(huán)境中，開關(guān)或其他傳感器必須不能輸出高于能點(diǎn)燃該易燃?xì)怏w的閾值的電壓(或電流)。因?yàn)閷?yīng)獨(dú)特的輸出類型需要獨(dú)特的開關(guān)和/或傳感器(或包括開關(guān)和/或傳感器的電路)，所以較大存貨的開關(guān)是必要的以適應(yīng)客戶應(yīng)用。此夕卜，如果希望不同輸出類型的輸出，必須采購和安裝完全不同的開關(guān)或傳感器。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)不例性方面，目標(biāo)檢測組件包括適于產(chǎn)生第一輸入信號的檢測構(gòu)件以及可移除地固定到所述檢測構(gòu)件并通信地耦接到所述檢測構(gòu)件的仿真器模塊。該仿真器模塊包括可移除地固定到所述檢測構(gòu)件上的仿真器殼體組件和設(shè)置在所述仿真器殼體組件上的選擇部分，所述選擇部分被配置為定向在第一選擇模式和第二選擇模式。在所述第一選擇模式，設(shè)置在仿真器殼體組件內(nèi)的第一仿真電路接收第一輸入信號、處理第一輸入信號，并且輸出不同于所述第一輸入信號的第一輸出信號。在第二選擇模式中，設(shè)置在仿真器殼體組件內(nèi)的第二仿真電路接收第一輸入信號、處理第一輸入信號，并且輸出與所述第一輸入信號和第一輸出信號不同的第二輸出信號。
[0005]根據(jù)本發(fā)明的另一個(gè)示例性方面，控制閥組件包括具有限定閥內(nèi)部的閥殼體的控制閥，并且可移置的關(guān)閉件至少部分地設(shè)置在所述閥內(nèi)部中。所述關(guān)閉件被固定到可移置的閥軸的第一部分上，并且目標(biāo)被固定到所述閥軸的第二部分上。目標(biāo)檢測組件被固定到所述閥殼體上，并且所述目標(biāo)檢測組件包括當(dāng)目標(biāo)處于所述檢測構(gòu)件的預(yù)定距離內(nèi)或者處于所述檢測構(gòu)件的預(yù)定距離之外時(shí)適于產(chǎn)生第一輸入信號的檢測構(gòu)件。仿真器模塊可移除地固定到檢測構(gòu)件上并且通信地耦接到所述檢測構(gòu)件。所述仿真器模塊包括可移除地固定到所述檢測構(gòu)件上的仿真器殼體組件以及設(shè)置在所述仿真器殼體組件上的選擇部分，所述選擇部分被配置為定向在第一選擇模式和第二選擇模式。在所述第一選擇模式，設(shè)置在仿真器殼體組件內(nèi)的第一仿真電路接收所述第一輸入信號、處理所述第一輸入信號，并輸出不同于所述第一輸入信號的第一輸出信號。在所述第二選擇模式，設(shè)置在所述仿真器殼體組件內(nèi)的第二仿真電路接收所述第一輸入信號、處理所述第一輸入信號，并輸出與所述第一輸入信號和所述第一輸出信號不同的第二輸出信號。
[0006]根據(jù)本發(fā)明的進(jìn)一步的示例性方面，一種適于檢測目標(biāo)何時(shí)處于目標(biāo)檢測組件的預(yù)定范圍內(nèi)的配置目標(biāo)檢測組件的輸出的方法包括將檢測構(gòu)件固定到仿真器模塊的仿真器殼體組件上。所述方法還包括選擇第一選擇模式，其中，所述檢測構(gòu)件通信地耦接到設(shè)置在所述仿真器殼體組件內(nèi)的第一仿真電路上，并且所述第一仿真電路適于接收所述第一輸入信號、處理所述第一輸入信號，并輸出不同于所述第一輸入信號的第一輸出信號。所述方法還包括選擇第二選擇模式，其中所述檢測構(gòu)件通信地耦接到設(shè)置在所述仿真器殼體組件內(nèi)的第二仿真電路上，并且所述第二仿真電路適于接收所述第一輸入信號、處理所述第一輸入信號，并輸出與所述第一輸入信號和所述第一輸出信號不同的第二輸出信號。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0007]圖1為目標(biāo)檢測組件的立體圖；
[0008]圖2A為適于用在圖1的目標(biāo)檢測組件中的檢測構(gòu)件的一個(gè)實(shí)施例的截面圖，該檢測構(gòu)件處于第一位置；
[0009]圖2B為圖2A的檢測構(gòu)件的一個(gè)實(shí)施例的截面圖，該檢測構(gòu)件處于第二位置；
[0010]圖3為目標(biāo)檢測組件的仿真器模塊16的一個(gè)實(shí)施例的側(cè)視圖；
[0011]圖4A為圖3的仿真器模塊16的俯視圖，示出了選擇部分20的實(shí)施例，其第一多個(gè)槽以實(shí)線示出并且第二多個(gè)槽和第三多個(gè)槽以虛線示出；
[0012]圖4B為圖3的仿真器模塊16的俯視圖，示出了圖4A所示的選擇部分的實(shí)施例，其第二多個(gè)槽以實(shí)線示出并且第一多個(gè)槽和第三多個(gè)槽以虛線示出；
[0013]圖4C為圖3的仿真器模塊16的俯視圖，示出了圖4A所示的選擇部分的實(shí)施例，其第三多個(gè)槽以實(shí)線示出并且第一多個(gè)槽和第二多個(gè)槽以虛線示出；
[0014]圖5為仿真器模塊的實(shí)施例的示意圖；
[0015]圖6A為包括控制閥和目標(biāo)檢測組件的實(shí)施例的控制閥組件的截面?zhèn)纫晥D，其控制閥處于開啟位置；以及
[0016]圖6B為圖6A的控制閥組件的截面?zhèn)纫晥D，其控制閥處于閉合位置。

【具體實(shí)施方式】
[0017]如圖1和圖5所不，目標(biāo)檢測組件10包括適于產(chǎn)生第一輸入信號14的檢測構(gòu)件
12。如圖1和圖3所示，該目標(biāo)檢測組件10還包括仿真器模塊16，其可移除地固定到檢測構(gòu)件12上并通信地耦接到該檢測構(gòu)件12。如圖3、圖4A、圖4B和圖4C所示，仿真器模塊16包括適于耦接到檢測構(gòu)件12上的仿真器殼體組件18和設(shè)置在該仿真器殼體組件18上或耦接到該仿真器殼體組件18上的選擇部分20。該選擇部分20被配置成在第一選擇模式22(參見圖4A和圖5)和第二選擇模式24 (參見圖4B和圖5)定向。在該第一選擇模式22中，如圖5所不,設(shè)置在該仿真器殼體組件18內(nèi)的第一仿真電路26接收第一輸入信號14、處理該第一輸入信號14并輸出與該第一輸入信號14不同的第一輸出信號28。在第二選擇模式24中，如圖5所示，設(shè)置在該仿真器殼體組件18內(nèi)的第二仿真電路30接收第一輸入信號14、處理該第一輸入信號14并輸出與該第一輸入信號14和第一輸出信號28不同的第二輸出信號32。此外，如圖1、圖3和圖5所示，指示器元件33可以被耦接到仿真器殼體組件18上并且可以與該第一仿真電路26和第二仿真電路30通信，并且該指示器元件33可以被配置為若選擇部分20處于第一選擇模式22則顯不第一標(biāo)記并且若選擇部分20處于第二選擇模式24則顯示第二標(biāo)記。
[0018]這樣配置后，該目標(biāo)檢測組件10的檢測構(gòu)件12可包括單一類型的開關(guān)，這種磁力觸發(fā)的接近開關(guān)可以提供模擬不同類型開關(guān)的輸出。具體地，當(dāng)該選擇部分20定向在第一選擇模式22時(shí),該檢測構(gòu)件12與第一仿真電路26配合以提供輸出信號,其與多個(gè)不同的開關(guān)或傳感器(諸如那慕爾型常開(“N/0”)開關(guān)或那慕爾型常閉(“N/C”)開關(guān))之一相同。如果需要不同的輸出信號，該選擇部分20可以定向在第二選擇模式24，其中該檢測構(gòu)件12與第二仿真電路30配合以提供與所需開關(guān)或傳感器的輸出對應(yīng)的輸出。通過將檢測構(gòu)件12 (參見圖2A和圖2B)的多個(gè)接觸臂58插入到在仿真器殼體組件18 (參見圖4A)內(nèi)或在仿真器殼體組件18上形成的第一多個(gè)槽36，選擇部分20可以定向在第一選擇模式，并且通過將檢測構(gòu)件12的多個(gè)接觸臂58插入到在仿真器殼體組件18 (參見圖4B)中形成的第二多個(gè)槽38內(nèi)，選擇部分20可以定向在第二選擇模式24。指示器元件33可以自動地并且清楚地指示該選擇部分20是否定向在第一選擇模式22、第二選擇模式24或其他選擇模式。因此，單一的檢測構(gòu)件12，諸如磁力觸發(fā)的接近開關(guān)，可以替換各種開關(guān)和/或傳感器(諸如那慕爾型N/C、那慕爾型N/0和/或SPDT型開關(guān))，從而避免為了客戶應(yīng)用而保持較大開關(guān)存貨的需求。而且，因?yàn)橐子趯z測構(gòu)件12的多個(gè)接觸臂58移除和替換到第一和第二多個(gè)槽36、38中，所以目標(biāo)檢測組件10可以在現(xiàn)場迅速和成本低廉地改進(jìn)。
[0019]回來細(xì)述目標(biāo)檢測組件10，該目標(biāo)檢測組件10包括檢測構(gòu)件12，如圖1、圖2A和圖2B所不。該檢測構(gòu)件12產(chǎn)生第一輸入信號14,該第一輸入信號可以對應(yīng)于例如控制閥(諸如圖6A和圖6B示出的控制閥42)的運(yùn)行參數(shù)，這種運(yùn)行參數(shù)將在下面更詳細(xì)地予以敘述。檢測構(gòu)件12可以為現(xiàn)有技術(shù)已知的任何開關(guān)或傳感器，其能夠基于例如控制閥的運(yùn)行參數(shù)而改變狀態(tài)和/或能夠檢測可由磁性材料或黑色金屬材料制成的目標(biāo)44的存在。例如，檢測構(gòu)件12可以為接近開關(guān)，其適于當(dāng)目標(biāo)44處于檢測構(gòu)件12的第一端46的預(yù)定距離內(nèi)時(shí)檢測一個(gè)或多個(gè)目標(biāo)44的存在，如圖2B所示。
[0020]因?yàn)橐粋€(gè)或多個(gè)目標(biāo)44中的每一個(gè)都可以被固定到閥桿48上，該閥桿自身被固定到如圖6A和6B所示的控制閥42的關(guān)閉件49上，所以檢測構(gòu)件12能夠檢測或能夠與其他開關(guān)或傳感器配合以確定關(guān)閉件49的位置。檢測構(gòu)件12可以為任何合適類型的限位開關(guān)，諸如磁力觸發(fā)的接近開關(guān)(諸如在美國專利號8，400，241以及美國申請序列號13/802, 150中公開的磁力觸發(fā)的接近開關(guān)，這兩篇文件均以引證的方式合并于此)。例如，如圖2A和圖2B所示，檢測構(gòu)件12可以包括開關(guān)殼體50，該開關(guān)殼體可以為縱長的并沿著縱向軸線51從第一端53a延伸到縱向相對的第二端53b。開關(guān)殼體12的第一端53a可以與檢測構(gòu)件12的第一端46對應(yīng)。該開關(guān)殼體50可以具有圓筒形的形狀并可具有側(cè)壁55，該側(cè)壁具有圓形的橫截面形狀，并且側(cè)壁47的所有部分或一部分可以設(shè)有螺紋的。開關(guān)殼體50可以限定內(nèi)部部分，該內(nèi)部部分圍繞耦接到可樞轉(zhuǎn)臂54上的可活動的磁鐵52，并且該可活動磁鐵52可被靜止磁鐵56偏置到第一開關(guān)位置(圖2A所示)，其中該靜止磁鐵施加磁力到可活動磁鐵52上。在第一開關(guān)位置，可樞轉(zhuǎn)臂54的端部的觸點(diǎn)可以接合主臂58a的端部處的觸點(diǎn)以使得在主臂58a和公共臂58b (耦接到可樞轉(zhuǎn)臂54上)之間的電路閉合。主臂58a和公共臂58b中的每一個(gè)可以被包括在從開關(guān)殼體12的第二端53b延伸的多個(gè)接觸臂58中。更具體地，主臂58a可以具有從開關(guān)殼體12的第二端53b縱向延伸的端部部分60a,并且公共臂58b可以具有從開關(guān)殼體12的第二端53b縱向延伸的端部部分60b。在第一開關(guān)位置，電流可以在公共臂58b和主臂58a之間流通，并且該電流可以指示該檢測構(gòu)件12處于第一開關(guān)位置。
[0021]當(dāng)一個(gè)或多個(gè)目標(biāo)44之一移動到檢測構(gòu)件12的第一端46的預(yù)定范圍時(shí)，如圖2B所示，在目標(biāo)44和可活動磁鐵52之間的磁力比可活動磁鐵52和靜止磁鐵56之間的磁力更強(qiáng)。結(jié)果，可活動磁鐵52遠(yuǎn)離靜止磁鐵56并朝著磁鐵44直線移動，因此繞著公共臂58b的端部轉(zhuǎn)動可樞轉(zhuǎn)臂54。相應(yīng)地，可樞轉(zhuǎn)臂54的端部處的觸點(diǎn)與主臂58a脫開并轉(zhuǎn)動到與輔助臂58c的端部處的觸點(diǎn)接合，該輔助臂可以是從開關(guān)殼體12的第二端53b延伸的多個(gè)接觸臂58的其中之一。更具體地，輔助臂58c可以具有從開關(guān)殼體12的第二端53b縱向延伸的端部部分60c。端部部分60c可以具有平坦的、矩形的形狀，并且輔助臂58c的端部部分60c可以與公共臂58b的端部部分60b和主臂58a的端部部分60a平行或者與公共臂58b的端部部分60b和主臂58a的端部部分60a偏移開。當(dāng)沿著縱向軸線51觀察時(shí)，主臂58a的端部部分60a和公共臂58b的端部部分60b之間的距離可以與輔助臂58c的端部部分60c和公共臂58b的端部部分60b之間的距離相等或大體上相等。
[0022]隨著可樞轉(zhuǎn)臂54的端部處的觸點(diǎn)與輔助臂58c的端部處的觸點(diǎn)接合，如圖2B所示，在輔助臂58c和公共臂58b之間電路閉合從而限定了第二開關(guān)位置。在該第二開關(guān)位置，電流可以在公共臂58b和輔助臂58c之間流通，并且該電流可以指示檢測構(gòu)件12處于第二開關(guān)位置。
[0023]如圖1和圖3所示，目標(biāo)檢測組件10還包括仿真器模塊16，其包括仿真器殼體組件18。該仿真器殼體組件18可以包括任何合適的形狀或尺寸以圍繞、容納或以其他方式保護(hù)第一仿真電路26、第二仿真電路30以及任何其他的仿真電路。例如，如圖3所示，該仿真器殼體組件18可以具有縱長的管狀形狀，其沿著殼體縱向軸線62從第一端64a延伸到縱向相對的第二端64b，并且第一端64a可以適于被耦接到檢測構(gòu)件12上。該殼體縱向軸線62可以與圖1和圖3提供的參考坐標(biāo)系的Y軸平行。仿真器殼體組件18可以具有圓筒狀側(cè)壁66或可以具有不同直徑的兩個(gè)或多個(gè)圓筒狀部分，它們配合形成側(cè)壁66。側(cè)壁66可以具有任何合適的厚度或各種厚度的組合，并且側(cè)壁66的內(nèi)表面68可以至少部分地限定內(nèi)部部分70。該第一仿真電路26和第二仿真電路30可以以任何合適的方式設(shè)置在內(nèi)部部分70內(nèi)。仿真器殼體組件18可以由任何合適的材料(諸如塑料或任何其他非磁性和/或非黑色金屬材料)形成。
[0024]目標(biāo)檢測組件10的仿真器模塊16還包括選擇部分20，其耦接到仿真器殼體組件18上，或者設(shè)置在仿真器殼體組件18上，或者至少部分地通過仿真器殼體組件18。該選擇部分20可以是可被定向或以其他方式配置在第一選擇模式22和第二選擇模式24 (以及其他選擇模式，如果需要的話)的任何零件或組件。例如，如圖4A和圖4B所示,選擇部分20可包括形成在仿真器殼體組件18中的兩個(gè)或多個(gè)槽36、38，兩個(gè)或多個(gè)槽36、38中的每一個(gè)適于容納檢測構(gòu)件12 (參見圖2A和圖2B)的多個(gè)接觸臂58中的相對應(yīng)的一個(gè)。更具體地，選擇部分20可以包括在或鄰近仿真器殼體組件18的第一端64a處形成的第一多個(gè)槽36 (參見圖4A的實(shí)線和圖4B和圖4C的虛線)和在或鄰近仿真器殼體組件18的第一端64a處形成的第二多個(gè)槽38 (參見圖4A和圖4C的虛線和圖4B的實(shí)線)。該選擇部分20還可以包括在或鄰近仿真器殼體組件18的第一端64a處形成的第三多個(gè)槽72 (參見圖4C的實(shí)線和圖4A和圖4B的虛線)。選擇部分20可以進(jìn)一步包括任何合適數(shù)量的其他多個(gè)槽。
[0025]參見圖3和圖4A，第一多個(gè)槽36可以形成在設(shè)置在仿真器殼體組件18的第一端64a的平坦的端部表面74上，并且該端部表面74可以與殼體縱向軸線62正交(S卩，與圖3和圖4A提供的參考坐標(biāo)系的X-Z平面平行)。第一多個(gè)槽36可以對應(yīng)于第一選擇模式22,如圖4A和圖5所不。第一多個(gè)槽36中的每一個(gè)可以沿著殼體縱向軸線62朝著仿真器殼體組件18的第二端64b延伸，并且第一多個(gè)槽36中的每一個(gè)可以以一定的大小和尺寸構(gòu)造從而容納檢測構(gòu)件12的多個(gè)接觸臂58的相應(yīng)一個(gè)。例如，第一多個(gè)槽36可以包括適于容納主臂58a的端部部分60a的全部部分或一部分的主槽36a，并且主槽36a可以具有矩形的橫截面形狀。第一多個(gè)槽36還可以包括適于容納公共臂58b的端部部分60b的全部部分或一部分的公共槽36b，并且公共槽36b可以具有矩形的橫截面形狀。第一多個(gè)槽36可以進(jìn)一步包括適于容納輔助臂58c的端部部分60c的全部部分或一部分的輔助槽36c，并且輔助槽36c可以具有矩形的橫截面形狀。沿著主槽36a、公共槽36b以及輔助槽36c的每一個(gè)的矩形的橫截面形狀(當(dāng)沿著殼體縱向軸線62觀察時(shí))的長度方向而延伸的縱向參考軸線可以與圖4A的參考坐標(biāo)系的Z軸平行。
[0026]參見圖3和圖4B，第二多個(gè)槽38可以在設(shè)置在仿真器殼體組件18的第一端64a處的平坦的端部表面74上形成，并且第二多個(gè)槽38中的每一個(gè)可以沿著殼體縱向軸線62朝著仿真器殼體組件18的第二端64b延伸。第二多個(gè)槽38可以對應(yīng)于第二選擇模式24，如圖4B和圖5所示。第二多個(gè)槽38中的每一個(gè)可以以一定的尺寸和大小構(gòu)造從而容納檢測構(gòu)件12的多個(gè)接觸臂58的對應(yīng)的一個(gè)。例如,第二多個(gè)槽38可以包括適于容納主臂58a的端部部分60a的全部部分或一部分的主槽38a，并且主槽38a可以具有矩形的橫截面形狀。第二多個(gè)槽38還可以包括適于容納公共臂58b的端部部分60b的全部部分或一部分的公共槽38b，并且公共槽38b可以具有矩形的橫截面形狀。第二多個(gè)槽38可以進(jìn)一步包括適于容納輔助臂58c的端部部分60c的全部部分或一部分的輔助槽36c，并且輔助槽38c可以具有矩形的橫截面形狀。沿著主槽38a、公共槽38b和輔助槽38c的每一個(gè)的矩形的橫截面形狀(當(dāng)沿著殼體縱向軸線62的方向觀察時(shí))的長度方向而延伸的縱向參考軸線可以以第一角度A成角度地偏離開圖4B的參考坐標(biāo)系的Z軸。
[0027]參見圖3和圖4C，第三多個(gè)槽72可以在設(shè)置于仿真器殼體組件18的第一端64a處的平坦的端部表面74上形成，并且第三多個(gè)槽72中的每一個(gè)可以沿著殼體縱向軸線62朝著仿真器殼體組件18的第二端64b延伸。第三多個(gè)槽72可以對應(yīng)于第三選擇模式78，如圖4C和圖5所示。第三多個(gè)槽72中的每一個(gè)可以以一定的尺寸和大小構(gòu)造從而容納檢測構(gòu)件12的多個(gè)接觸臂58的對應(yīng)一個(gè)。例如，第三多個(gè)槽72可以包括適于容納主臂58a的端部部分60a的全部部分或一部分的主槽72a，并且主槽72a可以具有矩形的橫截面形狀。第三多個(gè)槽72還可以包括適于容納公共臂58b的端部部分60b的全部部分或一部分的公共槽72b，并且公共槽72b可以具有矩形的橫截面形狀。第三多個(gè)槽72可以進(jìn)一步包括適于容納輔助臂58c的端部部分60c的全部部分或一部分的輔助槽72c，并且輔助槽72c可以具有矩形的橫截面形狀。沿著主槽72a、公共槽72b以及輔助槽72c的每一個(gè)的矩形的橫截面形狀(當(dāng)沿著殼體縱向軸線62的方向觀察時(shí))的長度方向而延伸的縱向參考軸線可以以第二角度B成角度地偏離開圖4C的參考坐標(biāo)系的Z軸，該第二角度B可以等于第一角度A或者與第一角度A相對應(yīng)。與第四選擇模式(未示出)對應(yīng)的第四多個(gè)槽(未示出)可以與第三多個(gè)槽72相同，除了第四多個(gè)槽可以以第三角度成角度地偏離開圖4C的參考坐標(biāo)系的Z軸外，其中該第三角度與角度B或角度A不相等。還可以設(shè)置任何數(shù)量的其他多個(gè)槽。
[0028]目標(biāo)檢測組件10的仿真器模塊16還包括設(shè)置在仿真器殼體組件18內(nèi)(即，在仿真器殼體組件18的內(nèi)部部分70內(nèi))的第一仿真電路26,并且該第一仿真電路26在圖5中被示意性地示出。例如，如圖4和圖5所示，當(dāng)選擇部分20處于第一選擇模式22時(shí)，第一仿真電路26可以通信地耦接到檢測構(gòu)件12上。在第一選擇模式22，設(shè)置在仿真器殼體組件18內(nèi)的第一仿真電路26接收第一輸入信號14、處理第一輸入信號14并輸出與第一輸入信號14不同的第一輸出信號28。當(dāng)選擇部分20以任何合適的方式處于第一選擇模式22時(shí)，第一仿真電路26可以通信地耦接到檢測構(gòu)件12上。也就是說，檢測構(gòu)件12可以在檢測構(gòu)件12和第一仿真電路26之間以任何現(xiàn)有技術(shù)已知的方式傳送(或可以配合來傳送，如果采用多于一根導(dǎo)線或線路時(shí))第一輸入信號14(即，表明檢測構(gòu)件12處于圖2A的第一開關(guān)位置或者處于圖2B的第二開關(guān)位置的信號)。例如，觸點(diǎn)(未示出)可以設(shè)置在第一多個(gè)槽36中的每一個(gè)內(nèi)并且每個(gè)觸點(diǎn)可以以任何合適的方式，諸如通過一根或多根導(dǎo)線或通過形成在印刷電路板(“PCB”)上的一個(gè)或多個(gè)導(dǎo)電線路，而通信地耦接到第一仿真電路26上。也就是說，當(dāng)主臂58a的端部部分60a設(shè)置在主槽36a中時(shí)，主槽36a的觸點(diǎn)與主臂58a接觸以使得主臂58a通信地耦接到第一仿真電路26上。此外，當(dāng)公共臂58b的端部部分60b設(shè)置在公共槽36b中時(shí)，公共槽36b的觸點(diǎn)與公共臂58b接觸從而公共臂58b通信地耦接到第一仿真電路26上。進(jìn)一步地，當(dāng)輔助臂58c的端部部分60c設(shè)置在輔助槽36c中時(shí)，輔助槽36c的觸點(diǎn)與輔助臂58b接觸從而輔助臂58c通信地耦接到第一仿真電路26。任何或全部觸點(diǎn)可以為由導(dǎo)電材料(例如，銅或銅合金)制成的片簧元件，該片簧元件形狀提供了在第一多個(gè)槽36的對應(yīng)一個(gè)和觸點(diǎn)之間保持接觸的偏置力。
[0029]第一仿真電路26可以安裝到和/或形成在可設(shè)置在仿真器殼體組件18的內(nèi)部部分70內(nèi)的一塊或多塊PCB上。第一仿真電路26可以以允許第一仿真電路26從檢測構(gòu)件12接收第一輸入信號14、處理或以第一輸入信號14為條件并輸出第一輸出信號28的任何合適的方式安裝到和/或形成在一塊或多塊PCB上，其中第一輸出信號28具有與第一輸入信號14不同的一個(gè)或多個(gè)不同特征。第一仿真電路26可以包括任何合適的元器件，諸如例如一個(gè)或多個(gè)微處理器、限流電路和/或限流電路，從而以期望的方式處理第一輸入信號14。
[0030]在預(yù)期的實(shí)施例中，可以處理或限制第一輸入信號14以使得第一輸出信號28可以具有比與第一輸入信號14相關(guān)聯(lián)的阻抗更高或更低的阻抗。例如，可以處理或限制第一輸入信號14以模擬所需開關(guān)(諸如那慕爾型N/0(“常開”)開關(guān)或那慕爾型N/C(“常閉”)開關(guān))的輸出。在這些實(shí)施方式中，磁力觸發(fā)的接近開關(guān)可以替換那慕爾N/C和/或那慕爾N/0開關(guān)中的任一個(gè)。在其他實(shí)施方式中，可以處理或限制第一輸入信號14以使得第一輸出信號28可以對應(yīng)STOT(單極、雙擲)開關(guān)的輸出，因此允許磁力觸發(fā)的接近開關(guān)來模擬SPDT開關(guān)的輸出。在進(jìn)一步的實(shí)施方式中，第一輸入信號14可以具有或?qū)?yīng)于第一電壓并且第一輸出信號28可以具有或?qū)?yīng)于與第一電壓不相等的第二電壓。在其他實(shí)施方式中，第一輸入信號14可以具有或?qū)?yīng)于第一電流并且第一輸出信號28可以具有或?qū)?yīng)于與第一電流不相等的第二電流。第一輸出信號28的電壓或電流電平可以低于第一輸入信號14的電壓或電流電平。這種更低的電壓或更低的電流輸出信號26可以低于電壓或電流閾值以允許在危險(xiǎn)環(huán)境(諸如易燃環(huán)境)中真正安全的操作。在其他的實(shí)施方式中，第一輸出信號28的電壓或電流電平可以高于第一輸出信號14的電壓或電流電平。
[0031]第一輸入信號14可以是例如從檢測構(gòu)件12中輸出的信號。具體地，當(dāng)檢測構(gòu)件12處于第一開關(guān)位置(參見圖2A)時(shí)，該第一輸入信號14可以為由檢測構(gòu)件12的主臂58a和公共臂58b中的一個(gè)或兩個(gè)發(fā)出或傳導(dǎo)的信號。作為可選擇的實(shí)施例，當(dāng)檢測構(gòu)件12處于第二開關(guān)位置(參見圖2B)時(shí)，第一輸入信號14可以為由檢測構(gòu)件12的輔助臂58c和公共臂58b的一個(gè)或兩個(gè)發(fā)出或傳導(dǎo)的信號。
[0032]第一輸出信號28可以為對應(yīng)第一輸入信號14但與第一輸入信號14不同的信號。例如，通過第一仿真電路26可以接收并處理和/或限制第一輸入信號14，并且第一仿真電路26可以輸出第一輸出信號28。例如，在第一開關(guān)位置(參見圖2A)，電壓可以橫跨檢測構(gòu)件12的主臂58a和公共臂58b存在。如之前所解釋的，電壓可以高于預(yù)定的極限電壓，并且第一仿真電路26可以以低于或處于預(yù)定的極限電壓的電壓而輸出第一輸出信號28從而允許在危險(xiǎn)環(huán)境(諸如易燃環(huán)境)中真正安全的操作。
[0033]目標(biāo)檢測組件10的仿真器模塊16還包括設(shè)置在仿真器殼體組件18內(nèi)(即，在仿真器殼體組件18的內(nèi)部部分70內(nèi))的第二仿真電路30，如圖5示意性地示出。例如，如圖4B和圖5所示，當(dāng)選擇部分20處于第二選擇模式24時(shí)，第二仿真電路30可以通信地耦接到檢測構(gòu)件12上。在第二選擇模式24，設(shè)置在仿真器殼體組件18內(nèi)的第二仿真電路30接收第一輸入信號14、處理第一輸入信號14并輸出與第一輸入信號14和第一輸出信號28不同的第二輸出信號32。當(dāng)選擇部分20以任何合適的方式處于第一選擇模式24時(shí)，第二仿真電路30可以通信地耦接到檢測構(gòu)件12上。也就是說，檢測構(gòu)件12可以以現(xiàn)有技術(shù)已知的方式在檢測構(gòu)件12和第二仿真電路30之間傳送(或可以配合來傳送，如果采用超過一個(gè)導(dǎo)電線路時(shí))第一輸入信號14 ( S卩，指示檢測構(gòu)件12處于第一開關(guān)位置或處于第二開關(guān)位置的信號)。例如，觸點(diǎn)(未示出)可以設(shè)置在第二多個(gè)槽38的每一個(gè)內(nèi)并且每個(gè)觸點(diǎn)可以以任何合適的方式，諸如通過一根或多根導(dǎo)線或通過形成在PCB上的一個(gè)或多個(gè)導(dǎo)電線路，通信地耦接到第二仿真電路30上。也就是說，當(dāng)主臂58a的端部部分60a設(shè)置在主槽38a中時(shí)，主槽38a中的觸點(diǎn)與主臂58a接觸以使得主臂58a通信地耦接到第二仿真電路30。此外，當(dāng)公共臂58b的端部部分60b設(shè)置在公共槽38b中時(shí)，公共槽38b的觸點(diǎn)與公共臂58b接觸以使得公共臂58b通信地耦接到第二仿真電路30。進(jìn)一步地，當(dāng)輔助臂58c的端部部分60c設(shè)置在輔助槽38c中時(shí)，輔助槽38c的觸點(diǎn)與輔助臂58b接觸以使得輔助臂58c通信地耦接到第二仿真電路30。任何或所有觸點(diǎn)可以為由導(dǎo)電材料(例如，銅或者銅合金)制成的片簧元件，該片簧形狀提供了在第二多個(gè)槽38的對應(yīng)一個(gè)和觸點(diǎn)之間保持接觸的偏置力。
[0034]第二仿真電路30可以以任何合適的方式安裝到和/或形成在PCB (諸如支持第一仿真電路26的相同的PCB)上，前述任何合適的方式允許第二仿真電路30從檢測構(gòu)件12接收第一輸入信號14、處理第一輸入信號14或限制第一輸入信號14，并輸出第二輸出信號32，其中第二輸出信號32具有一個(gè)或多個(gè)與第一輸入信號14和第一輸出信號26不同的特征。該第二仿真電路30可以包括任何合適的元器件從而以期望的方式處理第一輸入信號14，例如，諸如一個(gè)或多個(gè)微處理器、限流電路和/或限流電路。
[0035]在預(yù)期的實(shí)施方式中，可以處理或限制第一輸入信號14以使得第二輸出信號32與第一輸入信號14相關(guān)聯(lián)的阻抗相比可以具有更高或更低的阻抗。例如，可以處理或限制第一輸入信號14來模擬所需開關(guān)(諸如那慕爾型N/0( “常開”)或那慕爾型N/C(常閉)開關(guān))的輸出。在這些實(shí)施方式中，磁力觸發(fā)的接近開關(guān)可以替換那慕爾型N/C和/或那慕爾型N/0開關(guān)中的任一個(gè)。在其他實(shí)施方式中，可以處理或限制第一輸入信號14以使得第二輸出信號32可以對應(yīng)STOT(單極、雙擲)開關(guān)的輸出，因此允許磁力觸發(fā)的接近開關(guān)來模擬SPDT開關(guān)的輸出。在進(jìn)一步的實(shí)施方式中，第一輸入信號14可以具有或?qū)?yīng)第一電壓并且第二輸出信號32可以具有或?qū)?yīng)與第一電壓不相等的第二電壓。在其他實(shí)施方式中，第一輸入信號14可以具有或?qū)?yīng)第一電流并且第二輸出信號32可以具有或?qū)?yīng)與第一電流不相等的第二電流。第二輸出信號32的電壓或電流電平可以低于第一輸入信號14的電壓或電流電平。這種更低的電壓或更低的電流輸出信號32可以低于允許在諸如易燃環(huán)境的危險(xiǎn)環(huán)境中真正安全操作的電壓或電流閾值。在其他實(shí)施方式中，第二輸出信號32的電壓或電流電平可以高于第一輸入信號14的電壓或電流電平。
[0036]第二輸出信號32可以為對應(yīng)于第一輸入信號14但不同于第一輸入信號14的信號。例如，通過第二仿真電路30可以接收并處理和/或限制第一輸入信號14，并且第二仿真電路30可以輸出第二輸出信號32。例如，在第一開關(guān)位置，電壓可以橫跨檢測構(gòu)件12的主臂58a和公共臂58b存在。如之前所解釋的，電壓可以高于預(yù)定的極限電壓，并且第二仿真電路30可以在低于或處于預(yù)定極限電壓的電壓輸出第二輸出信號32從而允許在諸如易燃環(huán)境的危險(xiǎn)環(huán)境中真正安全的操作。
[0037]該目標(biāo)檢測組件10的仿真器模塊16還可以包括設(shè)置在仿真器殼體組件18內(nèi)(即，仿真器殼體組件18的內(nèi)部部分70中)的第三仿真電路76，如圖5示意性所示。例如，如圖4C和圖5所示，當(dāng)選擇部分20處于第三選擇模式78時(shí)，第三仿真電路76可以通信地耦接到檢測構(gòu)件12。在第三選擇模式78，設(shè)置在仿真器殼體組件18中的該第三仿真電路76接收第一輸入信號14、處理該第一輸入信號14并輸出與第一輸入信號14、第一輸出信號28和第二輸出信號32不同的第三輸出信號80。當(dāng)選擇部分20以任何合適的方式處于第三選擇模式78時(shí)，第三仿真電路76可以通信地耦接到檢測構(gòu)件12。也就是說，檢測構(gòu)件12可以在檢測構(gòu)件12和第三仿真電路76之間以現(xiàn)有技術(shù)已知的任何方式傳送(或者可以配合以傳送，如果采用多于一條導(dǎo)電線路)第一輸入信號14 (例如，表示檢測構(gòu)件12處于第一開關(guān)位置或處于第二開關(guān)位置的信號)。例如，觸點(diǎn)(未示出)可以設(shè)置在第三多個(gè)槽72的每一個(gè)內(nèi)并且每個(gè)觸點(diǎn)可以以任何合適的方式，諸如通過一根或多根導(dǎo)線或通過形成在PCB上的一條或多條導(dǎo)電線路，通信地耦接到第三仿真電路76。也就是說，當(dāng)主臂58a的端部部分60a設(shè)置在主槽72a中，主槽72a內(nèi)的觸點(diǎn)與主臂58a接觸以使得主臂58a通信地耦接到第三仿真電路76。此外，當(dāng)公共臂58b的端部部分60b設(shè)置在公共槽72b中，該公共槽72b的觸點(diǎn)與公共臂58b接觸以使得公共臂58b通信地耦接到第三仿真電路76。進(jìn)一步地，當(dāng)輔助臂58c的端部部分60c設(shè)置在輔助槽72c中時(shí)，輔助槽72c的觸點(diǎn)與輔助臂58b接觸以使得輔助臂58c通信地耦接到第三仿真電路76。任何或全部觸點(diǎn)可以為由導(dǎo)電材料(例如，銅或銅合金)制成的片簧元件，該片簧形狀提供了在第二多個(gè)槽38的相應(yīng)一個(gè)和觸點(diǎn)之間保持接觸的偏置力。
[0038]第三仿真電路76可以以任何合適的方式安裝到和/或形成在PCB (諸如承載第一仿真電路26和第二仿真電路30的相同的PCB)上，前述任何合適的方式允許第三仿真電路76從檢測構(gòu)件12接收第一輸入信號14，處理第一輸入信號14或限制第一輸入信號14，并輸出第三輸出信號80,其中第三輸出信號80具有與第一輸入信號14、第一輸出信號26和第二輸出信號32不同的一個(gè)或多個(gè)特征。第三仿真電路76可以包括任何合適的元器件來以期望的方式處理第一輸入信號14，例如，諸如一個(gè)或多個(gè)微處理器、限流電路和/或限流電路。
[0039]在預(yù)期的實(shí)施方式中，可以處理或限制第一輸入信號14以使得第三輸出信號80可以具有比與第一輸入信號14關(guān)聯(lián)的阻抗更高或更低的阻抗。例如，可以處理或限制第一輸入信號14來模擬所需開關(guān)(諸如那慕爾型N/0(“常開”)開關(guān)或那慕爾型N/C(“常閉”)開關(guān))的輸出。在這些實(shí)施方式中，磁力觸發(fā)的接近開關(guān)可以替換那慕爾型N/C和/或那慕爾型N/0開關(guān)的中的任一個(gè)。在其他實(shí)施方式中，可以處理或限制第一輸入信號14以使得第三輸出信號80可以對應(yīng)STOT (單極、雙擲)開關(guān)的輸出，因此允許磁力觸發(fā)的接近開關(guān)模擬SPDT開關(guān)的輸出。在進(jìn)一步的實(shí)施方式中，第一輸入信號14可以具有或?qū)?yīng)第一電壓并且第三輸出信號80可以具有或?qū)?yīng)與第一電壓不相等的第二電壓。在其他實(shí)施方式中，第一輸入信號14可以具有或?qū)?yīng)第一電流并且第三輸出信號80可以具有或?qū)?yīng)與第一電流不相等的第二電流。第三輸出信號80的電壓或電流電平可以比第一輸入信號14的電壓或電流電平更低。這種更低的電壓或更低的電流輸出信號80可以低于允許在諸如易燃環(huán)境的危險(xiǎn)環(huán)境中真正安全操作的電壓或電流閾值。在其他實(shí)施方式中，第三輸出信號80的電壓或電流電平可以比第一輸入信號14的電壓或電流電平更高。
[0040]第三輸出信號80可以為對應(yīng)于第一輸入信號14但與第一輸入信號14不同的信號。例如，通過第三仿真電路76可以接收并處理第一輸入信號14和/或限制第一輸入信號14,并且第三仿真電路76可以輸出第三輸出信號80。例如,在第一開關(guān)位置，電壓可以橫跨檢測構(gòu)件12的公共臂58b和主臂58a存在。如之前所解釋的，電壓可以高于預(yù)定極限電壓，并且第三仿真電路76可以在低于或處于預(yù)定極限電壓的電壓下輸出第三輸出信號80從而允許在諸如易燃環(huán)境的危險(xiǎn)環(huán)境中真正安全的操作。
[0041]與第一多個(gè)槽和第二多個(gè)槽不同，選擇部分20可以包括具有兩個(gè)或多個(gè)開關(guān)位置的開關(guān)(未示出)，并且開關(guān)可以設(shè)置在仿真器殼體組件18上。具體地，檢測構(gòu)件12的多個(gè)接觸臂58可以被容納在第一(并且唯一的)多個(gè)槽36內(nèi)。在第一開關(guān)位置，任一的或全部的接觸臂58可以如之前所述通信地耦接到第一仿真電路26。當(dāng)開關(guān)移動到第二開關(guān)位置，任一的或者全部的接觸臂58可以如之前所述通信地耦接到第二仿真電路30。此夕卜，當(dāng)開關(guān)移動到第三開關(guān)位置，任一的或者全部的接觸臂58可以如之前所述通信地耦接到第三仿真電路76。
[0042]如圖1、圖3和圖5所示，該目標(biāo)檢測組件10的仿真器模塊16還可以包括指示器元件33，其可以耦接到仿真器殼體組件18上并且可以與第一仿真電路26、第二仿真電路30、第三仿真電路76以及任何其他仿真電路中的任一個(gè)或全部通信。指示器元件33可以被配置為若選擇部分20處于與第一仿真電路26關(guān)聯(lián)的第一選擇模式22則顯不第一標(biāo)記(例如，第一證書)，若該選擇部分20處于與第二仿真電路30關(guān)聯(lián)的第二選擇模式24則顯示第二標(biāo)記(例如，第二證書)，和/或若選擇部分20處于與第三仿真電路76關(guān)聯(lián)的第三選擇模式78則顯示第三標(biāo)記(例如第三證書)?？梢燥@示用于相應(yīng)的其他選擇模式的其他
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[0043]指示器元件33可以為窗口或屏幕(例如IXD屏或LED屏)，其設(shè)置在、固定到或以其他方式耦接到仿真器殼體組件18的合適部分(諸如側(cè)壁66)上。指示器元件33可以被配置以顯示文本和/或數(shù)字，并且第一標(biāo)記、第二標(biāo)記和第三標(biāo)記可以為允許使用者識別在用的選擇模式和/或在用的仿真電路的任何合適的文本和/或數(shù)字。指示器元件33可以顯示第一標(biāo)記、第二標(biāo)記、第三標(biāo)記等中的對應(yīng)一個(gè)，同時(shí)隱藏與被選選擇模式不對應(yīng)的第一標(biāo)記、第二標(biāo)記、第三標(biāo)記等中的其他標(biāo)記。如圖5所示，指示器元件33可以通信地耦接到可包括(或可通信地耦接到)存儲器的控制器82，并且該控制器82 (以及存儲器)可以通信地耦接到第一仿真電路26、第二仿真電路30、第三仿真電路76以及任何其他仿真電路。可選擇地，指示器元件33可以直接通信地耦接到第一仿真電路26、第二仿真電路30、第三仿真電路76和任何其他仿真電路中的任一個(gè)或全部。指示器元件33可以通過任何合適的手段，諸如通過一根或多根導(dǎo)線和/或通過形成在PCB上的導(dǎo)電路徑，通信地耦接到控制器82 (或直接通信地耦接到第一仿真電路26、第二仿真電路30、第三仿真電路76和任何其他仿真電路中的任一個(gè)或全部)。
[0044]如圖5所示，該第一仿真電路26、第二仿真電路30、第三仿真電路76和任何其他仿真電路可以通信地耦接到至少一個(gè)控制器82，并且該控制器82可以接收第一輸出信號28、第二輸出信號32和第三輸出信號80。此外，控制器82可以通信地耦接到一根或多根通信線路84。參見圖1，一根或多根通信線路84可以從仿真器殼體組件18的第二端64b延伸，并且該一根或多根通信線路84可以端接于連接器模塊86。如圖5所示，連接器模塊86適于耦接(例如，可移除地耦接)到相應(yīng)的連接器模塊88，該連接器模塊88自身通信地耦接(例如，通過電線或無線連接)到遠(yuǎn)程的處理器或控制器，諸如遠(yuǎn)程電腦90。因此，該遠(yuǎn)程處理器或控制器通信地耦接到第一仿真電路26、第二仿真電路30、第三仿真電路76和任何其他仿真電路中的每一個(gè)上以使得遠(yuǎn)程處理器或控制器接收第一輸出信號28、第二輸出信號32和第三輸出信號80。
[0045]可選擇地，該第一仿真電路26、第二仿真電路30、第三仿真電路76和任何其他仿真電路可以通信地耦接到一根或多根通信線路84以使得一根或多根通信線路84接收和傳送第一輸出信號28、第二輸出信號32和第三輸出信號80。該一根或多根通信線路84可以端接在連接器模塊86上，并且連接器模塊86可以耦接到相應(yīng)的連接器模塊88，該連接器模塊88自身通信地耦接(例如，通過電線或無線連接)到遠(yuǎn)程處理器或控制器，諸如遠(yuǎn)程電腦90,如上所述。
[0046]第一輸出信號28、第二輸出信號32、第三輸出信號80和/或與其他仿真電路關(guān)聯(lián)的任何進(jìn)一步的輸出信號可以通過任何數(shù)量的通信線路提供到任何合適的位置或裝置，如現(xiàn)有技術(shù)已知的那樣。例如，可以提供輸出信號28、32、80到適于調(diào)整致動器的閥定位器(未示出)從而線性地移動控制閥42 (參見圖6A和圖6B)的關(guān)閉件49?？梢灶~外地(或可選擇地)提供該輸出信號28、32、80到適于與例如諸如處理器或電腦的遠(yuǎn)程裝置通信的通信模塊(未示出)。可以額外地(或可選擇地)提供輸出信號28、32、80到一個(gè)或多個(gè)裝置，例如諸如處理器或電腦90 (參見圖5)。該裝置可以遠(yuǎn)離控制閥42位于或直接地或間接地固定到控制閥42。
[0047]本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以理解，那慕爾型N/C、那慕爾型N/0、SPDT和/或其他專門的開關(guān)中的任一個(gè)或全部可以由諸如磁力觸發(fā)的接近開關(guān)的單一開關(guān)替代，因此避免維護(hù)不同開關(guān)的單獨(dú)存貨的需要。此外，因?yàn)榈谝环抡骐娐?6、第二仿真電路30、第三仿真電路76和對應(yīng)于不同開關(guān)輸出的任何其他仿真電路被容納在仿真器模塊16內(nèi)，所以重新配置目標(biāo)檢測組件10以具有期望開關(guān)的輸出只需要將檢測構(gòu)件12重新定位在仿真器殼體組件18上。相應(yīng)地，替換整個(gè)目標(biāo)檢測組件以改變開關(guān)類型不再是必要的，因此減少了維護(hù)時(shí)間和成本。因?yàn)閮H需要單一類型的開關(guān)來提供各種類型開關(guān)的輸出，所以開關(guān)的整體存貨也能夠減少，進(jìn)一步降低了成本。
[0048]如所述那樣被配置后，該目標(biāo)檢測組件10可以被固定到第一物體上以檢測目標(biāo)44相對于目標(biāo)檢測組件10的運(yùn)動。該目標(biāo)檢測組件10因而能夠在待檢測相對運(yùn)動的各種各樣的應(yīng)用中被用作位置傳感器，諸如在閥和致動器應(yīng)用中、核應(yīng)用(即，確定燃料棒的位置)以及在機(jī)器應(yīng)用(即，確定起重機(jī)位置)中。例如，如圖6A所示，控制閥42可以包括閥殼體92，并且該閥殼體92可以包括入口 94、出口 96以及設(shè)置在入口 94和出口 96之間的閥座98。閥蓋99可以被固定到閥殼體92的頂部部分。閥殼體92可以限定閥內(nèi)部100，并且關(guān)閉件49可以被至少部分地設(shè)置在閥內(nèi)部100內(nèi)。關(guān)閉件49可以被設(shè)置在閥桿48的第一端處，并且該閥桿48可以延伸通過閥蓋99或閥殼體92的一部分或者由閥蓋99或閥殼體92的一部分環(huán)繞。閥桿48和關(guān)閉件49可以由致動器(未示出)從第一位置(如圖6A所示的開啟位置)到第二位置(如圖6B所示的閉合位置)縱向地移置，其中，在第一位置，工藝流體(process fluid)從入口 94流到出口 96，在第二位置，關(guān)閉件49防止工藝流體從入口 94流到出口 96。目標(biāo)檢測組件10可以通過轉(zhuǎn)動檢測構(gòu)件12被固定到閥殼體92或閥蓋99的一部分(諸如環(huán)繞閥桿48的閥殼體92的一部分，或固定到閥殼體92的支架)以使得設(shè)有螺紋的側(cè)壁55接合形成在閥蓋99或閥殼體92上的螺紋孔口。同樣地，檢測構(gòu)件12的縱向軸線51可以正交于閥桿48的縱向軸線。此外，目標(biāo)44可以被固定到閥桿48上。從仿真器殼體組件18的第二端64b延伸的一條或多條通信線路84可以通信地耦接到遠(yuǎn)程電腦90上，如前所述。
[0049]當(dāng)控制閥42處于如圖6A所示的第一位置時(shí)，目標(biāo)44并未處于設(shè)置在殼體12內(nèi)的檢測構(gòu)件12的預(yù)定范圍內(nèi)。相應(yīng)地,檢測構(gòu)件12的靜止磁鐵56和可活動磁鐵52之間的磁力大于可活動磁鐵52和目標(biāo)44之間的磁力，并且檢測構(gòu)件12處于第一開關(guān)位置(如圖2A所示)。結(jié)果，主臂58a和公共臂58b之間的電路接通，并且由第一開關(guān)位置而形成的閉合電路可以通過如前所述的遠(yuǎn)程電腦90檢測。
[0050]然而，當(dāng)控制閥42處于圖2B的第二位置(例如，由于緊急關(guān)閉狀態(tài))時(shí)，磁性目標(biāo)44被移動到檢測構(gòu)件12的預(yù)定范圍內(nèi)的位置。結(jié)果，目標(biāo)44和可活動磁鐵52之間的磁力比可活動磁鐵52和靜止磁鐵56之間的磁力更大。更大的力將可樞轉(zhuǎn)臂54移置到第二開關(guān)位置(如圖2B所示)，并且由第二開關(guān)位置而形成的閉合電路可以由如前所述的遠(yuǎn)程電腦90檢測。
[0051]雖然各種實(shí)施方式已經(jīng)敘述于上，但是本發(fā)明并不旨在限制于此。對公開的實(shí)施方式可做的變型仍然落入到所附的權(quán)利要求書的范圍內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種目標(biāo)檢測組件，其包括: 檢測構(gòu)件，其適于產(chǎn)生第一輸入信號； 仿真器模塊，其可移除地固定到所述檢測構(gòu)件并通信地耦接到所述檢測構(gòu)件，所述仿真器模塊包括: 仿真器殼體組件，其可移除地固定到所述檢測構(gòu)件；以及 選擇部分，其設(shè)置在所述仿真器殼體組件上，所述選擇部分被配置為定向在第一選擇模式和第二選擇模式， 其中，在所述第一選擇模式，設(shè)置在所述仿真器殼體組件內(nèi)的第一仿真電路接收所述第一輸入信號、處理所述第一輸入信號并輸出與所述第一輸入信號不同的第一輸出信號，以及 在所述第二選擇模式，設(shè)置在所述仿真器殼體組件內(nèi)的第二仿真電路接收所述第一輸入信號、處理所述第一輸入信號并輸出與所述第一輸入信號和所述第一輸出信號不同的第二輸出信號。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的目標(biāo)檢測組件，其中，所述選擇部分被配置為定向在第三選擇模式，其中，在所述第三選擇模式，設(shè)置在所述仿真器殼體組件內(nèi)的第三仿真電路接收所述第一輸入信號、處理所述第一輸入信號并輸出與所述第一輸入信號、所述第一輸出信號和所述第二輸出信號不同的第三輸出信號，并且其中，所述指示器元件被配置為若所述選擇部分處于所述第三選擇模式則顯示第三標(biāo)記。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的目標(biāo)檢測組件，其中，所述檢測構(gòu)件包括開關(guān)殼體和從所述開關(guān)殼體的端部縱向延伸的多個(gè)接觸臂，其中，所述仿真器殼體組件包括適于容納開關(guān)的所述多個(gè)接觸臂的第一多個(gè)槽，并且其中，所述仿真器殼體組件包括適于容納所述開關(guān)的所述多個(gè)接觸臂的第二多個(gè)槽。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的目標(biāo)檢測組件，其中，當(dāng)所述開關(guān)的多個(gè)接觸臂中的每個(gè)容納在所述第一多個(gè)槽的對應(yīng)一個(gè)內(nèi)時(shí)選擇所述第一選擇模式并且當(dāng)所述開關(guān)的所述多個(gè)接觸臂中的每個(gè)容納在所述第二多個(gè)槽的對應(yīng)一個(gè)內(nèi)時(shí)選擇所述第二選擇模式。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的目標(biāo)檢測組件，其中，所述仿真器殼體組件包括適于容納所述開關(guān)的所述多個(gè)接觸臂的第三多個(gè)槽，并且其中，所述選擇部分被配置為定向在第三選擇模式，在所述第三選擇模式中所述開關(guān)的所述多個(gè)接觸臂中的每個(gè)容納在所述第三多個(gè)槽的對應(yīng)一個(gè)內(nèi)，并且其中，在所述第三選擇模式，設(shè)置在所述仿真器殼體組件內(nèi)的第三仿真電路接收所述第一輸入信號、處理所述第一輸入信號，并輸出與所述第一輸入信號、所述第一輸出信號和所述第二輸出信號不同的第三輸出信號。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的目標(biāo)檢測組件，所述仿真器模塊還包括耦接到所述仿真器殼體組件并與所述第一仿真電路和所述第二仿真電路通信的指示器元件，所述指示器元件被配置為若所述選擇部分處于所述第一選擇模式則顯示第一標(biāo)記以及若所述選擇部分處于所述第二選擇模式則顯示第二標(biāo)記。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的目標(biāo)檢測組件，其中，所述選擇部分為耦接到所述仿真器殼體組件的開關(guān)，其中，第一開關(guān)位置對應(yīng)于所述第一選擇模式并且第二開關(guān)位置對應(yīng)于所述第二選擇模式。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的目標(biāo)檢測組件，其中，所述檢測構(gòu)件為磁力致動的接近開關(guān)。
9.一種控制閥組件，其包括: 控制閥，其具有限定閥內(nèi)部的閥殼體； 可移置的關(guān)閉件，其至少部分地設(shè)置在所述閥內(nèi)部中，所述關(guān)閉件固定到可移置的閥桿； 目標(biāo)，其固定到所述閥桿； 目標(biāo)檢測組件，其固定到所述閥殼體，所述目標(biāo)檢測組件包括: 檢測構(gòu)件，其適于當(dāng)所述目標(biāo)處于所述檢測構(gòu)件的預(yù)定距離內(nèi)或處于所述檢測構(gòu)件的所述預(yù)定距離之外時(shí)產(chǎn)生第一輸入信號； 仿真器模塊，其可移除地固定到所述檢測構(gòu)件并通信地耦接到所述檢測構(gòu)件，所述仿真器模塊包括: 仿真器殼體組件，其可移除地固定到所述檢測構(gòu)件；以及 選擇部分，其設(shè)置在所述仿真器殼體組件上，所述選擇部分被配置為定向在第一選擇模式和第二選擇模式， 其中，在所述第一選擇模式，設(shè)置在所述仿真器殼體組件內(nèi)的第一仿真電路接收所述第一輸入信號、處理所述第一輸入信號并輸出與所述第一輸入信號不同的第一輸出信號，以及 在所述第二選擇模式，設(shè)置在所述仿真器殼體組件內(nèi)的第二仿真電路接收所述第一輸入信號、處理所述第一輸入信號并輸出與所述第一輸入信號和所述第一輸出信號不同的第二輸出信號。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的目標(biāo)檢測組件，其中，所述選擇部分被配置為定向在第三選擇模式，其中，在所述第三選擇模式，設(shè)置在所述仿真器殼體組件內(nèi)的第三仿真電路接收所述第一輸入信號、處理所述第一輸入信號并輸出與所述第一輸入信號、所述第一輸出信號和所述第二輸出信號不同的第三輸出信號，并且其中，所述指示器元件被配置為若所述選擇部分處于所述第三選擇模式則顯示第三標(biāo)記。
11.根據(jù)權(quán)利要求9所述的目標(biāo)檢測組件，其中，所述檢測構(gòu)件包括開關(guān)殼體和從所述開關(guān)殼體的端部縱向延伸的多個(gè)接觸臂，其中，所述仿真器殼體組件包括適于容納開關(guān)的所述多個(gè)接觸臂的第一多個(gè)槽，并且其中，所述仿真器殼體組件包括適于容納所述開關(guān)的所述多個(gè)接觸臂的第二多個(gè)槽。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的目標(biāo)檢測組件，其中，當(dāng)所述開關(guān)的所述多個(gè)接觸臂中的每個(gè)容納在所述第一多個(gè)槽的對應(yīng)一個(gè)內(nèi)時(shí)選擇所述第一選擇模式并且當(dāng)所述開關(guān)的所述多個(gè)接觸臂中的每個(gè)容納在所述第二多個(gè)槽的對應(yīng)一個(gè)內(nèi)時(shí)選擇第二選擇模式。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的目標(biāo)檢測組件，其中，所述仿真器殼體組件包括適于容納所述開關(guān)的所述多個(gè)接觸臂的第三多個(gè)槽，并且其中，所述選擇部分被配置為定向在第三選擇模式，在所述第三選擇模式中所述開關(guān)的所述多個(gè)接觸臂中的每個(gè)容納在所述第三多個(gè)槽的對應(yīng)一個(gè)內(nèi)，并且其中，在所述第三選擇模式，設(shè)置在所述仿真器殼體組件內(nèi)的第三仿真電路接收所述第一輸入信號、處理所述第一輸入信號并輸出與所述第一輸入信號、所述第一輸出信號和所述第二輸出信號不同的第三輸出信號。
14.根據(jù)權(quán)利要求9所述的目標(biāo)檢測組件，所述仿真器模塊還包括耦接到所述仿真器殼體組件并與所述第一仿真電路和第二仿真電路通信的指示器元件，所述指示器元件被配置為若所述選擇部分處于第一選擇模式則顯示第一標(biāo)記并且若所述選擇部分處于第二選擇模式時(shí)則顯示第二標(biāo)記。
15.根據(jù)權(quán)利要求9所述的目標(biāo)檢測組件，其中，所述選擇部分為耦接到所述仿真器殼體組件的開關(guān)，其中，第一開關(guān)位置對應(yīng)于所述第一選擇模式并且第二開關(guān)位置對應(yīng)于所述第二選擇模式。
16.根據(jù)權(quán)利要求9所述的目標(biāo)檢測組件，其中，所述檢測構(gòu)件為磁力致動的接近開關(guān)。
17.—種配置目標(biāo)檢測組件的輸出的方法，其適于檢測目標(biāo)何時(shí)處于所述目標(biāo)檢測組件的預(yù)定范圍內(nèi)，所述方法包括: 將檢測構(gòu)件固定到仿真器模塊的仿真器殼體組件； 選擇第一選擇模式，在所述第一選擇模式中所述檢測構(gòu)件通信地耦接到設(shè)置在所述仿真器殼體組件內(nèi)的第一仿真電路，所述第一仿真電路適于接收所述第一輸入信號、處理所述第一輸入信號并輸出與所述第一輸入信號不同的第一輸出信號； 選擇第二選擇模式，在所述第二選擇模式中所述檢測構(gòu)件通信地耦接到設(shè)置在所述仿真器殼體組件內(nèi)的第二仿真電路，所述第二仿真電路適于接收所述第一輸入信號、處理所述第一輸入信號并輸出與所述第一輸入信號和所述第一輸出信號不同的第二輸出信號。
18.根據(jù)權(quán)利要求17所述的方法，其還包括: 選擇第三選擇模式，在所述第三選擇模式中所述檢測構(gòu)件通信地耦接到設(shè)置在所述仿真器殼體組件內(nèi)的第三仿真電路，所述第三仿真電路適于接收所述第一輸入信號、處理所述第一輸入信號并輸出與所述第一輸入信號、所述第一輸出信號和所述第二輸出信號不同的第三輸出信號。
19.根據(jù)權(quán)利要求17所述的方法，其中，選擇第一選擇模式包括將所述檢測構(gòu)件12的多個(gè)接觸臂插入到在所述仿真器殼體組件中形成的第一多個(gè)槽內(nèi)，并且其中，選擇第一選擇模式包括將所述檢測構(gòu)件12的多個(gè)接觸臂插入到在所述仿真器殼體組件中形成的第一多個(gè)槽內(nèi)。
20.根據(jù)權(quán)利要求17所述的方法，其還包括: 當(dāng)選擇所述第一選擇模式時(shí)，在耦接到所述仿真器殼體組件的指示器元件上顯示第一標(biāo)記；以及 當(dāng)選擇所述第二選擇模式時(shí)，在耦接到所述仿真器殼體組件的所述指示器元件上顯示第二標(biāo)記。
【文檔編號】F16K37/00GK104344065SQ201410380517
【公開日】2015年2月11日 申請日期:2014年7月31日 優(yōu)先權(quán)日:2013年8月1日
【發(fā)明者】R·L·拉方丹, S·卡佩恩特爾 申請人:通用設(shè)備和制造公司