技術(shù)編號：9996130
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。PID效應(yīng)(Potential Induced Degradat1n)又稱電勢誘導(dǎo)衰減。晶娃光伏組件在高溫、高濕和負電壓作用下，組件中太陽電池與玻璃、封裝材料之間存在漏電流，大量電荷聚集在電池片表面，導(dǎo)致太陽電池的光電轉(zhuǎn)換效率降低，最終使光伏組件性能嚴重低于設(shè)計標準?？梢姡琍ID效應(yīng)嚴重影響光伏電站的發(fā)電功率，這對客戶來說是難以接受的。一些國家和地區(qū)已逐步開始把抗PID效應(yīng)作為組件的關(guān)鍵要求。提升晶硅光伏組件抗PID效應(yīng)的方法有多種。提升晶硅電池表面氮化硅...
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