技術(shù)編號(hào)：9910863
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。 測(cè)試性指標(biāo)是系統(tǒng)測(cè)試中的常用數(shù)據(jù)，包括故障檢測(cè)率(FDR)、故障隔離率(FIR) 等，測(cè)試性指標(biāo)分配就是把系統(tǒng)要求的指標(biāo)按照一定方法合理地分配給系統(tǒng)中的各級(jí)模 塊，如子系統(tǒng)、設(shè)備、可更換單元或組件等。在現(xiàn)有技術(shù)中，系統(tǒng)模型多采用多信號(hào)模型，其 測(cè)試性指標(biāo)分配也是基于多信號(hào)模型的，主要是將上層系統(tǒng)或模塊的測(cè)試性指標(biāo)分配到下 層的子系統(tǒng)或子模塊，模塊和系統(tǒng)的劃分之間并不存在交叉與重疊，測(cè)試性指標(biāo)的分配比 較簡(jiǎn)單。而對(duì)于復(fù)雜的系統(tǒng)級(jí)模塊或多任務(wù)模型而言，由于一...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。
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