技術(shù)編號(hào):9665580
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。斜入射光反射差法是近年來發(fā)展起來的一種非接觸、無損傷的高靈敏度探測(cè)新方法,利用在樣品表面反射的光,不僅可同時(shí)獲得實(shí)部和虛部?jī)陕沸盘?hào),具有很高的靈敏度,而且具有很高的空間分辨率和時(shí)間分辨率。但是由于傳統(tǒng)斜入射光反射差方法是用反射光只能探測(cè)樣品的表面信息,不能探測(cè)到樣品的內(nèi)部信息,這使得斜入射光反射差法在實(shí)際應(yīng)用中受到了一定的限制。發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明的目的是克服現(xiàn)有斜入射光反射差測(cè)量技術(shù)的缺陷,從而提供一種基于斜入射光反射差方法的CT裝置和方法,該方法具有操作簡(jiǎn)單...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。