技術編號:9551631
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術詳細信息。目前,在進行圖像拍攝時,一般只考慮到圖像的焦距問題,并沒有考慮到對于圖像的曝光過度部位和暗處部位如何處理。然而,想要清晰地看到圖像的細節(jié),曝光正常和對焦清晰是必不可少的兩個條件,因此,只考慮到圖像的焦距問題使用戶無法查看到圖像的曝光過度部位和/或暗處部位的細節(jié)。因此,如何獲取圖像以使用戶可以查看到圖像的曝光過度部位和/或暗處部位的細節(jié),成為目前亟待解決的問題。發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明正是基于上述技術問題,提出了一種新的技術方案,使用戶可以查看到圖像的曝光過度部位和/...
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該專利適合技術人員進行技術研發(fā)參考以及查看自身技術是否侵權,增加技術思路,做技術知識儲備,不適合論文引用。