技術(shù)編號(hào)：9452968
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)和網(wǎng)絡(luò)技術(shù)的快速發(fā)展，每時(shí)每刻都在產(chǎn)生大量的數(shù)據(jù)。硬盤作為存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的最常用的介質(zhì)，數(shù)據(jù)在各個(gè)設(shè)備之間傳輸時(shí)，需要快速的從硬盤讀取數(shù)據(jù)和向硬盤寫入數(shù)據(jù)，用戶對(duì)硬盤的性能的要求越來越高。為了保證硬盤的性能能夠滿足用戶的要求，需要對(duì)硬盤進(jìn)行檢測(cè)?，F(xiàn)有技術(shù)中，常用的硬盤性能檢測(cè)方法中，一般只是對(duì)硬盤本身的一些參數(shù)進(jìn)行檢測(cè)，例如硬盤的轉(zhuǎn)速等。而硬盤在實(shí)際應(yīng)用中，除了受到硬盤本身的性能的影響，還要受到周圍環(huán)境的影響，隨著周圍環(huán)境的不同，硬盤在應(yīng)用中的性能...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。
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