技術(shù)編號(hào)：9373752
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶(hù)請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。 探測(cè)射線粒子并提取其基本性質(zhì)是人類(lèi)藉以深入微觀世界的一種主要途徑與手 段，伴隨著輻射探測(cè)技術(shù)的發(fā)展，其應(yīng)用也日趨廣泛。其中粒子徑跡的測(cè)量是輻射探測(cè)領(lǐng)域 很重要的一種探測(cè)方法，根據(jù)粒子徑跡的粗細(xì)、稀密、長(zhǎng)度、分布角度、徑跡彎曲程度和徑跡 數(shù)量分布等，可以獲得粒子的強(qiáng)度、劑量、能量、能量分布、發(fā)射角分布及時(shí)間等信息，進(jìn)而 可鑒別粒子的種類(lèi)。 在實(shí)際應(yīng)用中，對(duì)射線粒子的探測(cè)方法和探測(cè)器大都基于電子記錄，例如多絲正 比室、漂移室、氣體電子倍增器、半導(dǎo)體探測(cè)器及閃...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專(zhuān)利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專(zhuān)利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專(zhuān)利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。