技術編號：9373459
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。集成電路芯片的測試過程中，測試集成電路芯片的頻率是一個必需的環(huán)節(jié)，否則無法進行完整的測試。目前，測試機測量頻率的方法一般是通過TMU模塊先在一段時間內看有多少次信號能超過所規(guī)定的閾值電壓，然后計算從開始時間到結束時間超過閾值電壓的個數，然后通過公式計算出期望頻率。但針對美國HILEVEL公司的G150測試機來說，由于其本身沒有TMU模塊，所以無法進行頻率的測量。發(fā)明內容本發(fā)明的目的是克服現有技術中存在的不足，提供一種，其操作方便，能有效實現集成電路芯片的頻...
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