技術編號：9239914
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。離子迀移譜測定涉及能夠被用于分離和識別諸如分子和原子的電離材料的分析技術。基于載體緩沖氣體中的迀移率，電離材料能夠在氣相中被識別。因此，離子迀移率譜儀(MS)能夠通過對材料進行電離并測量產生的離子到達檢測器的時間來識別來自感興趣樣品的材料。離子的渡越時間與它的離子迀移率相關，而離子迀移率與被電離的材料的質量和幾何結構有關。IMS檢測器的輸出能夠被直觀地表示為峰值高度相對于漂移時間的譜。在一些實例中，頂S檢測在提高的溫度(例如，在一百攝氏度(100°C)以上...
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