技術(shù)編號：9014330
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本實用新型涉及測試領(lǐng)域，特別是涉及集成電路芯片測試范疇，可以廣泛應(yīng)用于教學、科研、產(chǎn)品研發(fā)時低電壓供電中規(guī)模時序邏輯集成芯片的邏輯功能測試和芯片功能驗證。技術(shù)背景教學科研中廣泛運用到類似觸發(fā)器、計數(shù)器、移位寄存器等中規(guī)模時序邏輯集成芯片，這類芯片是否能正常使用牽涉到其邏輯功能的驗證。然而，時序電路邏輯功能的測試，既需要脈沖作為觸發(fā)時鐘，也需要有預置控制電平或復位控制電平，而且測試狀態(tài)比較多，這些要求既給測試環(huán)境(如電源、脈沖發(fā)生信號源、示波器、萬用表、邏輯...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。