技術(shù)編號：8451660
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。通常情況下，粒子會堆放在檢驗臺上進行檢驗，檢驗員通過觀察粒子表面，挑揀出表面有缺陷的粒子，現(xiàn)有技術(shù)中，檢驗員需要動手將堆放的粒子攤開再進行一一檢驗，粒子數(shù)量龐大，攤開也雜亂無章，檢驗起來費力，檢驗效率和檢驗精度不能同時兼顧。發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明所要解決的問題是提供一種分選粒子機，提高粒子表面缺陷檢驗的效率和精度。為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用如下技術(shù)方案一種分選粒子機，包括機架、料倉、平整機構(gòu)和輸送機構(gòu)，所述料倉、平整機構(gòu)和輸送機構(gòu)分別安裝在機架上，所述料倉和...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。